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      一種超表面單元及微納光子器件

      文檔序號:40237571發(fā)布日期:2024-12-06 17:00閱讀:21來源:國知局
      一種超表面單元及微納光子器件

      本發(fā)明涉及微納光子學,特別是涉及一種超表面單元及微納光子器件。


      背景技術(shù):

      1、微納光子器件是指在微米或納米尺度上實現(xiàn)光子功能的器件。這些器件在通信、傳感、生物醫(yī)學成像、信息處理等領(lǐng)域具有廣泛的應用前景。盡管微納光子器件在諸多領(lǐng)域展現(xiàn)出巨大的潛力,但由于微納光子器件涉及大量微型結(jié)構(gòu),而這些微型結(jié)構(gòu)常常存在高深寬比的幾何特性,這將帶來較差的力學穩(wěn)定性,這嚴重影響器件的加工良品率和在實際場景中的應用。

      2、超表面(metasurface)近年來在納米光學和光子學領(lǐng)域崛起的一項前沿技術(shù),也是一種典型的微納光子器件。與傳統(tǒng)的三維光學材料不同,超表面由二維平面上的人工微結(jié)構(gòu)陣列組成,這些微結(jié)構(gòu)可以精確地操控光波的相位、振幅和偏振狀態(tài),從而實現(xiàn)對光的任意操控,在光學成像、顯示、傳感、光通信等領(lǐng)域展現(xiàn)出巨大的應用潛力。與其他類型的微納光子器件一樣,超表面的核心在于其最小幾何單元的設(shè)計。每個超表面單元通常是亞波長尺寸的納米結(jié)構(gòu),其幾何形狀、尺寸和材料特性決定了它對入射光的相位和振幅的調(diào)控能力。常見的超表面單元包括納米天線、納米柱、納米孔等,這些單元可以通過微納制造技術(shù)在襯底上進行加工。通過合理的設(shè)計和排列,這些單元可以實現(xiàn)對光波的相位、振幅、透過率、角動量等全方位調(diào)控,從而實現(xiàn)所需的光學功能。

      3、目前大多數(shù)超表面單元為柱狀單元,由于其幾何特性,在實際應用環(huán)境下容易受到機械應力、熱應力等外界因素的影響,導致其結(jié)構(gòu)發(fā)生形變甚至破壞。這種力學穩(wěn)定性的不足嚴重限制了單元的深寬比,也就是限制了單元的相位調(diào)制能力;還影響了超表面的使用壽命,進而影響了其在實際應用中的可靠性。因此,如何提高超表面單元的力學穩(wěn)定性,同時保證不損害其光學性能,成為超表面從實驗室走向?qū)嶋H應用的一個關(guān)鍵問題。


      技術(shù)實現(xiàn)思路

      1、本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種超表面單元及微納光子器件,能夠在不損害光學性能的情況下,提高力學穩(wěn)定性。

      2、本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:提供一種超表面單元,包括:

      3、襯底;

      4、微納結(jié)構(gòu),設(shè)置在所述襯底的上表面;其中,所述微納結(jié)構(gòu)為上窄下寬的幾何構(gòu)型。

      5、所述微納結(jié)構(gòu)為圓臺形幾何構(gòu)型。

      6、所述圓臺形幾何構(gòu)型的側(cè)壁傾斜角大于0°且小于8°。

      7、所述圓臺形幾何構(gòu)型的頂面直徑的取值范圍為400nm~1400nm。

      8、所述微納結(jié)構(gòu)為圓錐形幾何構(gòu)型。

      9、所述圓錐形幾何構(gòu)型的頂角大于11°且小于18°。

      10、所述圓錐形幾何構(gòu)型的底面直徑的取值范圍為400nm~1400nm,高度取值范圍為2000nm~4500nm。

      11、本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:提供一種微納光子器件,包括多個按照預設(shè)規(guī)則以陣列形式排列的上述的超表面單元。

      12、有益效果

      13、由于采用了上述的技術(shù)方案,本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比,具有以下的優(yōu)點和積極效果:本發(fā)明提出了一種上窄下寬型幾何構(gòu)型的微納結(jié)構(gòu),其能夠在保證電磁波調(diào)控性能的同時,帶來更好的力學穩(wěn)定性,從而解決現(xiàn)有微納光子器件中柱狀幾何單元力學穩(wěn)定性差的問題。



      技術(shù)特征:

      1.一種超表面單元,其特征在于,包括:

      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超表面單元,其特征在于,所述微納結(jié)構(gòu)為圓臺形幾何構(gòu)型。

      3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的超表面單元,其特征在于,所述圓臺形幾何構(gòu)型的側(cè)壁傾斜角大于0°且小于8°。

      4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的超表面單元,其特征在于,所述圓臺形幾何構(gòu)型的頂面直徑的取值范圍為400nm~1400nm。

      5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超表面單元,其特征在于,所述微納結(jié)構(gòu)為圓錐形幾何構(gòu)型。

      6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的超表面單元,其特征在于,所述圓錐形幾何構(gòu)型的頂角大于11°且小于18°。

      7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的超表面單元,其特征在于,所述圓錐形幾何構(gòu)型的底面直徑的取值范圍為400nm~1400nm,高度取值范圍為2000nm~4500nm。

      8.一種微納光子器件,其特征在于,包括多個按照預設(shè)規(guī)則以陣列形式排列的如權(quán)利要求1-7中任一所述的超表面單元。


      技術(shù)總結(jié)
      本發(fā)明涉及一種超表面單元及微納光子器件,其中,超表面單元包括:襯底;微納結(jié)構(gòu),設(shè)置在所述襯底的上表面;其中,所述微納結(jié)構(gòu)為上窄下寬的幾何構(gòu)型。其中,微納結(jié)構(gòu)可以為圓臺形幾何構(gòu)型,也可以為圓錐形幾何構(gòu)型。本發(fā)明能夠在不損害光學性能的情況下,提高力學穩(wěn)定性。

      技術(shù)研發(fā)人員:李偉,商祥爍,黃海陽,李娜,李順堯
      受保護的技術(shù)使用者:中國科學院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所
      技術(shù)研發(fā)日:
      技術(shù)公布日:2024/12/5
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