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      一種基于激光干涉光刻技術(shù)制備納米圖形的方法

      文檔序號(hào):8498432閱讀:315來(lái)源:國(guó)知局
      一種基于激光干涉光刻技術(shù)制備納米圖形的方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001] 本發(fā)明涉及半導(dǎo)體領(lǐng)域,尤其是一種基于激光干涉光刻技術(shù)制備納米圖形的方 法。
      【背景技術(shù)】
      [0002] 納米圖形有廣泛的應(yīng)用,例如在LED、太陽(yáng)能電池、量子點(diǎn)以及探測(cè)器方面等,可用 來(lái)制作圖形襯底,以提高器件的各種性能。制備圖形的光刻技術(shù)有很多種,像紫外曝光、電 子束曝光、激光干涉等等,而利用激光干涉制備圖形具有更高的優(yōu)勢(shì)。
      [0003] 激光干涉光刻技術(shù)是一種高效、低成本的光刻技術(shù),其能夠制備大面積的光刻膠 圖形,并且制得的圖形有較好的均勻性。激光干涉光刻是利用兩束激相干光進(jìn)行干涉,利用 其明暗相見(jiàn)干涉條紋進(jìn)行光刻。并且,根據(jù)以下公式,圖形的周期是可調(diào)的,這就意味著可 以得到不同尺寸的光刻圖形。
      [0004]
      【主權(quán)項(xiàng)】
      1. 一種基于激光干涉光刻技術(shù)制備納米圖形的方法,其特征在于:包括有以下步驟: A、 將硅片依次用酒精、丙酮、去離子水循環(huán)超聲清洗,然后用氮?dú)鈽尨蹈桑? B、 在熱板上烘烤,去除表面殘余水分; C、 利用光刻膠處理,膠厚為IOOnm; D、 在熱板上烘烤,去除多余的有機(jī)溶劑; E、 利用激光干涉光刻系統(tǒng)進(jìn)行曝光,激光的入射角為20.7°,得到圖形的周期為 460nm; F、 配置顯影液,利用顯影液顯影; G、 用去離子水沖洗,氮?dú)鈽尨蹈伞?br>2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于激光干涉光刻技術(shù)制備納米圖形的方法,其特征在 于:所述步驟A中將硅片依次用酒精、丙酮、去離子水循環(huán)超聲清洗各5分鐘。
      3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于激光干涉光刻技術(shù)制備納米圖形的方法,其特征在 于:所述步驟B具體為:在180°C的熱板上烘烤2分鐘,去除表面殘余水分。
      4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于激光干涉光刻技術(shù)制備納米圖形的方法,其特征在 于:所述步驟C中使用的光刻膠為AR-P3840光刻膠,所述光刻膠的稀釋比例為光刻膠:稀 釋劑=1 :3. 5。
      5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種基于激光干涉光刻技術(shù)制備納米圖形的方法,其特征在 于:所述步驟C中利用光刻膠處理的甩膠速度為每分鐘4000轉(zhuǎn),持續(xù)時(shí)間為2分鐘。
      6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于激光干涉光刻技術(shù)制備納米圖形的方法,其特征在 于:所述步驟D具體為:在90°C的熱板上烘烤2分鐘,去除多余的有機(jī)溶劑。
      7. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于激光干涉光刻技術(shù)制備納米圖形的方法,其特征在 于:所述步驟E中激光的波長(zhǎng)為325nm。
      8. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于激光干涉光刻技術(shù)制備納米圖形的方法,其特征在 于:所述步驟E中曝光時(shí),曝光時(shí)間為290秒一次,隨后旋轉(zhuǎn)樣品90°進(jìn)行第二次曝光。
      9. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于激光干涉光刻技術(shù)制備納米圖形的方法,其特征在 于:所述步驟F中使用的為KMPPD3600-II型顯影液,配置比例為顯影液:去離子水=3:2, 顯影時(shí)間為30秒。
      【專利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種基于激光干涉光刻技術(shù)制備納米圖形的方法,包括以下步驟:將硅片超聲清洗,然后用氮?dú)鈽尨蹈桑缓婵救ニ?;利用光刻膠處理;烘烤去除多余的有機(jī)溶劑;曝光;顯影;用去離子水沖洗,氮?dú)鈽尨蹈?。本發(fā)明方法采用薄膠方法,通過(guò)激光干涉光刻平臺(tái)在硅片上制備出高均勻性的納米圖形,這種方法有效地避免了駐波效應(yīng),并能夠?yàn)楦煞涛g提供很好的掩膜圖形,制作大面積的點(diǎn)陣或者孔陣材料提供很好的基礎(chǔ),從而利用薄膠方法使用相對(duì)廉價(jià)的系統(tǒng),減小了成本壓力,而且也為實(shí)現(xiàn)產(chǎn)業(yè)化提供了很好的基礎(chǔ)。本發(fā)明作為一種基于激光干涉光刻技術(shù)制備納米圖形的方法可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體領(lǐng)域。
      【IPC分類】B82Y40-00, H01L21-027, G03F7-00
      【公開(kāi)號(hào)】CN104820341
      【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510155551
      【發(fā)明人】何苗, 楊帆, 鄭樹(shù)文, 宿世臣
      【申請(qǐng)人】華南師范大學(xué)
      【公開(kāi)日】2015年8月5日
      【申請(qǐng)日】2015年4月2日
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