顯示面板及測試方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種顯示面板。顯示面板包括：基板、設(shè)置于基板上的多個測試墊以及分別與對應(yīng)的測試墊電連接的走線，其中多個測試墊中的一部分測試墊所電連接的走線在基板上的投影貫穿另一部分測試墊在基板上的投影。通過以上方式，本發(fā)明能夠最大化利用顯示面板空間，提升產(chǎn)品性能和研發(fā)效率。
【專利說明】
顯示面板及測試方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種顯示面板及測試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]測試墊(Cell test pad)是面板設(shè)計中用來測試cell里各項性能的扎針用的一組大小均一的層疊導(dǎo)體塊，由第一金屬Ml，第二金屬M2及ITO三層通過打孔交叉混合組成。由于占據(jù)面積較大，如何優(yōu)化pad的空間分布，最大化利用面板(pane I)空間，使之能更多的檢測cell的性能，以達到更好的提升產(chǎn)品質(zhì)量和研發(fā)效率。
[0003]現(xiàn)有的cell test pad布局有兩種，一種是采用pad與并排排列，如圖la，，這樣的排列方式造成空間占用過大，利用率較低。另一種是采用品字形布局方式，如圖lb，在兩個pad之間，下方擺放第三個pad，第三個pad的走線在上方兩個pad之間，這種設(shè)計，在一定程度上節(jié)省了一些空間，然而這并不是最佳的方案。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明實施例提供了一種顯示面板及測試方法，能夠最大化利用顯示面板空間，提升廣品性能和研發(fā)效率。
[0005]本發(fā)明提供一種顯示面板，包括:基板、設(shè)置于基板上的多個測試墊以及分別與對應(yīng)的測試墊電連接的走線，其中多個測試墊中的一部分測試墊所電連接的走線在基板上的投影貫穿另一部分測試墊在基板上的投影。
[0006]其中，測試墊包括疊層設(shè)置于基板上且彼此電連接的下導(dǎo)電層和上導(dǎo)電層以及介于下導(dǎo)電層和上導(dǎo)電層之間的絕緣層，走線與下導(dǎo)電層同層設(shè)置且與下導(dǎo)電層電連接，一部分測試墊所電連接的走線經(jīng)由另一部分測試墊的上導(dǎo)電層的下方延伸且與另一部分測試墊的上導(dǎo)電層和下導(dǎo)電層及其所電連接的走線保持電絕緣。
[0007]其中，絕緣層上設(shè)置有通孔，測試墊的下導(dǎo)電層和上導(dǎo)電層經(jīng)由通孔電連接，一部分測試墊所電連接的走線通過絕緣層與另一部分測試墊的上導(dǎo)電層保持電絕緣，且通過與另一部分測試墊的下導(dǎo)電層及其所電連接的走線間隔預(yù)定距離而保持電絕緣。
[0008]其中，另一部分測試墊的下導(dǎo)電層設(shè)置有開槽，一部分測試墊所電連接的走線經(jīng)由開槽延伸。
[0009]其中，一部分測試墊所電連接的走線經(jīng)由另一部分測試墊的下導(dǎo)電層的一側(cè)延伸。
[0010]其中，測試墊進一步包括介于下導(dǎo)電層和上導(dǎo)電層之間且分別與下導(dǎo)電層和上導(dǎo)電層電連接的中間導(dǎo)電層，一部分測試墊所電連接的走線進一步經(jīng)由另一部分測試墊的中間導(dǎo)電層的下方延伸且保持電絕緣。
[0011]其中，絕緣層包括介于上導(dǎo)電層和中間導(dǎo)電層之間的第一絕緣層以及介于中間導(dǎo)電層和下導(dǎo)電層之間的第二絕緣層，其中第一絕緣層設(shè)置有第一通孔，上導(dǎo)電層和中間導(dǎo)電層通過第一通孔電連接，第二絕緣層設(shè)置有第二通孔，中間導(dǎo)電層和下導(dǎo)電層通過第二通孔電連接，一部分測試墊所電連接的走線通過另一部分測試墊的中間導(dǎo)電層保持電絕緣。
[0012]其中，另一部分測試墊的中間導(dǎo)電層對一部分測試墊所電連接的走線所形成覆蓋區(qū)域大于另一部分測試墊的上導(dǎo)電層對一部分測試墊所電連接的走線所形成覆蓋區(qū)域。
[0013]其中，另一部分測試墊的中間導(dǎo)電層在基板上的投影沿一部分測試墊所電連接的走線的延伸方向突出于另一部分測試墊的上導(dǎo)電層在基板上的投影。
[0014]其中，多個測試墊以陣列方式排布，且測試墊的上導(dǎo)電層的外邊緣沿行方向和/或列方向?qū)R。
[0015]通過上述方案，本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明的顯示面板包括基板、設(shè)置于基板上的多個測試墊以及分別與對應(yīng)的測試墊電連接的走線，其中多個測試墊中的一部分測試墊所電連接的走線在基板上的投影貫穿另一部分測試墊在基板上的投影，能夠最大化利用顯示面板空間，提升產(chǎn)品性能和研發(fā)效率。
【附圖說明】
[0016]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。其中:
[0017]圖1a是現(xiàn)有技術(shù)中顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0018]圖1b是現(xiàn)有技術(shù)中又一顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0019]圖2是本發(fā)明第一實施例的顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0020]圖3是圖2中的測試墊12的橫截面結(jié)構(gòu)示意圖；
[0021 ]圖4是本發(fā)明第二實施例的顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0022]下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部實施例。基于本發(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性的勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0023]圖2是本發(fā)明第一實施例的顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖2所示，顯示面板10包括:基板11、設(shè)置于基板11上的多個測試墊12以及分別與對應(yīng)的測試墊12電連接的走線13，其中多個測試墊12中的一部分測試墊14所電連接的走線15在基板11上的投影貫穿另一部分測試墊12在基板11上的投影。本發(fā)明實施例將通過一部分測試墊14所電連接的走線15在基板11上的投影貫穿另一部分測試墊12在基板11上的投影，節(jié)省了一部分測試墊14所電連接的走線15的走線空間，最大化利用顯示面板空間，提升產(chǎn)品性能和研發(fā)效率。
[0024]進一步地參見圖2和圖3，測試墊12包括疊層設(shè)置于基板11上且彼此電連接的下導(dǎo)電層Ml和上導(dǎo)電層ITO以及介于下導(dǎo)電層Ml和上導(dǎo)電層ITO之間的絕緣層16、17。走線13與下導(dǎo)電層Ml同層設(shè)置且與下導(dǎo)電層Ml電連接。一部分測試墊14所電連接的走線15經(jīng)由另一部分測試墊12的上導(dǎo)電層ITO的下方延伸且與另一部分測試墊12的上導(dǎo)電層ITO和下導(dǎo)電層Ml及其所電連接的走線13保持電絕緣。
[0025]絕緣層16、17上設(shè)置有通孔18、19。測試墊12的下導(dǎo)電層Ml和上導(dǎo)電層ITO經(jīng)由通孔18、19電連接。另一部分測試墊12的下導(dǎo)電層Ml設(shè)置有開槽，一部分測試墊14所電連接的走線15經(jīng)由開槽延伸。一部分測試墊14所電連接的走線15通過絕緣層16、17與另一部分測試墊12的上導(dǎo)電層ITO保持電絕緣，且通過與另一部分測試墊12的下導(dǎo)電層Ml及其所電連接的走線13間隔預(yù)定距離a或b而保持電絕緣。在本發(fā)明實施例中，在不同的另一部分測試墊12的下導(dǎo)電層Ml中，不同的走線15與下導(dǎo)電層Ml間隔預(yù)定距離也可以是c或d，a、b、c、d的具體值并不固定，只要制程能夠做到即可。
[0026]進一步地，測試墊12進一步包括介于下導(dǎo)電層Ml和上導(dǎo)電層ITO之間且分別與下導(dǎo)電層Ml和上導(dǎo)電層電ITO連接的中間導(dǎo)電層M2，一部分測試墊14所電連接的走線15進一步經(jīng)由另一部分測試墊12的中間導(dǎo)電層M2的下方延伸且保持電絕緣。本發(fā)明實施例的一部分測試墊14所電連接的走線15經(jīng)由另一部分測試墊12的下導(dǎo)電層Ml的中間延伸，即一部分測試墊14所電連接的走線15從中間貫穿另一部分測試墊12的下導(dǎo)電層Ml。對應(yīng)地，另一部分測試墊12的走線13設(shè)置在測試墊12的一側(cè)。
[0027 ] 對應(yīng)地，絕緣層包括介于上導(dǎo)電層ITO和中間導(dǎo)電層M2之間的第一絕緣層16以及介于中間導(dǎo)電層M2和下導(dǎo)電層Ml之間的第二絕緣層17，其中第一絕緣層16設(shè)置有第一通孔18，上導(dǎo)電層ITO和中間導(dǎo)電層M2通過第一通孔18電連接，第二絕緣層17設(shè)置有第二通孔19，中間導(dǎo)電層M2和下導(dǎo)電層Ml通過第二通孔19電連接，一部分測試墊14所電連接的走線15通過另一部分測試墊12的中間導(dǎo)電層M2保持電絕緣。
[0028]另一部分測試墊12的中間導(dǎo)電層M2對一部分測試墊14所電連接的走線15所形成覆蓋區(qū)域大于另一部分測試墊12的上導(dǎo)電層ITO對一部分測試墊14所電連接的走線15所形成覆蓋區(qū)域。另一部分測試墊12的中間導(dǎo)電層M2在基板11上的投影沿一部分測試墊14所電連接的走線15的延伸方向突出于另一部分測試墊12的上導(dǎo)電層ITO在基板11上的投影。如圖2中的橢圓部分，能夠在測試時防止將扎針搓到走線15，極大的保護了走線。
[0029]參見圖2，多個測試墊以陣列方式排布，且測試墊的上導(dǎo)電層的外邊緣沿行方向和/或列方向?qū)R。橫向相鄰的兩個測試墊之間的距離為h，其值可以不是一個固定不變的值，可根據(jù)實際情況變化。優(yōu)選地，為200μηι。
[0030]測試時，在測試墊上進行扎針，進行從扎針輸入信號至測試墊，觀察顯示面板的顯示情況，對顯示面板進行測試。
[0031]圖4是本發(fā)明第二實施例的顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖。與圖2中的區(qū)別在于，在圖4中的顯示面板20中，一部分測試墊24所電連接的走線25經(jīng)由另一部分測試墊22的下導(dǎo)電層Ml的一側(cè)延伸。即一部分測試墊24所電連接的走線25從另一部分測試墊12的一側(cè)貫穿另一部分測試墊12的下導(dǎo)電層Ml。對應(yīng)地，另一部分測試墊12的走線13設(shè)置在測試墊12的另一側(cè)。
[0032]以上各實施例中，在制作顯示面板時，下導(dǎo)電層Ml與第一金屬應(yīng)用同一掩膜板，SP與薄膜晶體管的柵極同時進行制作。上導(dǎo)電層ITO與頂層ITO同步完成制作。中間導(dǎo)電層M2與第二金屬應(yīng)用同一掩膜板，即與薄膜晶體管的源/漏極同時進行制作。
[0033]綜上所述，本發(fā)明實施例的顯示面板包括基板、設(shè)置于基板上的多個測試墊以及分別與對應(yīng)的測試墊電連接的走線，其中多個測試墊中的一部分測試墊所電連接的走線在基板上的投影貫穿另一部分測試墊在基板上的投影，能夠最大化利用顯示面板空間，提升產(chǎn)品性能和研發(fā)效率。
[0034]以上所述僅為本發(fā)明的實施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護范圍內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種顯示面板，其特征在于，所述顯示面板包括基板、設(shè)置于所述基板上的多個測試墊以及分別與對應(yīng)的所述測試墊電連接的走線，其中所述多個測試墊中的一部分測試墊所電連接的走線在所述基板上的投影貫穿另一部分所述測試墊在所述基板上的投影。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板，其特征在于，所述測試墊包括疊層設(shè)置于所述基板上且彼此電連接的下導(dǎo)電層和上導(dǎo)電層以及介于所述下導(dǎo)電層和上導(dǎo)電層之間的絕緣層，所述走線與所述下導(dǎo)電層同層設(shè)置且與所述下導(dǎo)電層電連接，所述一部分測試墊所電連接的走線經(jīng)由所述另一部分測試墊的上導(dǎo)電層的下方延伸且與所述另一部分測試墊的上導(dǎo)電層和下導(dǎo)電層及其所電連接的走線保持電絕緣。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顯示面板，其特征在于，所述絕緣層上設(shè)置有通孔，所述測試墊的下導(dǎo)電層和上導(dǎo)電層經(jīng)由所述通孔電連接，所述一部分測試墊所電連接的走線通過所述絕緣層與所述另一部分測試墊的上導(dǎo)電層保持電絕緣，且通過與所述另一部分測試墊的下導(dǎo)電層及其所電連接的走線間隔預(yù)定距離而保持電絕緣。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的顯示面板，其特征在于，所述另一部分測試墊的下導(dǎo)電層設(shè)置有開槽，所述一部分測試墊所電連接的走線經(jīng)由所述開槽延伸。5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的顯示面板，其特征在于，所述一部分測試墊所電連接的走線經(jīng)由所述另一部分測試墊的下導(dǎo)電層的一側(cè)延伸。6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的顯示面板，其特征在于，所述測試墊進一步包括介于所述下導(dǎo)電層和上導(dǎo)電層之間且分別與所述下導(dǎo)電層和上導(dǎo)電層電連接的中間導(dǎo)電層，所述一部分測試墊所電連接的走線進一步經(jīng)由所述另一部分測試墊的中間導(dǎo)電層的下方延伸且保持電絕緣。7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的顯示面板，其特征在于，所述絕緣層包括介于所述上導(dǎo)電層和所述中間導(dǎo)電層之間的第一絕緣層以及介于所述中間導(dǎo)電層和所述下導(dǎo)電層之間的第二絕緣層，其中所述第一絕緣層設(shè)置有第一通孔，所述上導(dǎo)電層和所述中間導(dǎo)電層通過所述第一通孔電連接，所述第二絕緣層設(shè)置有第二通孔，所述中間導(dǎo)電層和所述下導(dǎo)電層通過所述第二通孔電連接，所述一部分測試墊所電連接的走線通過所述另一部分測試墊的中間導(dǎo)電層保持電絕緣。8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的顯示面板，其特征在于，所述另一部分測試墊的中間導(dǎo)電層對所述一部分測試墊所電連接的走線所形成覆蓋區(qū)域大于所述另一部分測試墊的上導(dǎo)電層對所述一部分測試墊所電連接的走線所形成覆蓋區(qū)域。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的顯示面板，其特征在于，所述另一部分測試墊的中間導(dǎo)電層在所述基板上的投影沿所述一部分測試墊所電連接的走線的延伸方向突出于所述另一部分測試墊的上導(dǎo)電層在所述基板上的投影。10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板，其特征在于，所述多個測試墊以陣列方式排布，且所述測試墊的上導(dǎo)電層的外邊緣沿行方向和/或列方向?qū)R。
【文檔編號】G02F1/13GK105954898SQ201610514871
【公開日】2016年9月21日
【申請日】2016年7月1日
【發(fā)明人】李亞鋒, 彭香藝
【申請人】武漢華星光電技術(shù)有限公司