光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備的制造方法
【專利摘要】一種光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備，用以校正一光學(xué)準(zhǔn)直測量儀所投射出之一光學(xué)準(zhǔn)直線于一準(zhǔn)直位置，包含：光電檢測裝置包括第一太陽能板與第二太陽能板，且第一太陽能板與第二太陽能板于基線上的偏移位置之受光面長度之長度差值隨著自基線偏移之偏移幅度而不同，以在光學(xué)準(zhǔn)直線投射時，而由第一太陽能板與第二太陽能板分別輸出不同的對應(yīng)電流；分析裝置接收并處理其二對應(yīng)電流而分析出光學(xué)準(zhǔn)直線與基線之間的偏移位置信息；以及輸出裝置輸出偏移位置信息，以供校正者調(diào)整光學(xué)準(zhǔn)直線；藉由偏移位置信息之電路分辨率取代影像分辨率，而提高精密度并縮短設(shè)備占用之空間。
【專利說明】
光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實(shí)用新型關(guān)于一種光學(xué)準(zhǔn)直測量儀，特別是關(guān)于一種光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備?！颈尘凹夹g(shù)】
[0002]在工程施作時，因設(shè)計或功能的需求常需要測量準(zhǔn)直線。目前最常見的是建筑或土木工程工程開始時的放樣及定位，因建筑物的主架構(gòu)及地面的平整，而需要精確測量水平準(zhǔn)直線或垂直準(zhǔn)直線。傳統(tǒng)測量準(zhǔn)直線的方式則是施作人員使用測量工具分別在不同位置劃線定位而形成一條準(zhǔn)直線，但這種方式測量十分費(fèi)時也時常產(chǎn)生誤差。而今科技日新月異，測量直線的方式隨著發(fā)展而替代為使用光學(xué)準(zhǔn)直測量儀投射出光學(xué)準(zhǔn)直線，不用多點(diǎn)測量及注記而省下繁復(fù)的傳統(tǒng)準(zhǔn)直線量測，也較為精準(zhǔn)。目前光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的種類有很多，有發(fā)射一條或多條光學(xué)準(zhǔn)直線之光學(xué)準(zhǔn)直測量儀，如:水平儀(水平光學(xué)準(zhǔn)直線)、垂線儀(垂直光學(xué)準(zhǔn)直線)、十字儀(水平光學(xué)準(zhǔn)直線及垂直光學(xué)準(zhǔn)直線十字交錯于單面)等， 最后發(fā)展出結(jié)合水平與垂直之功能而能投射在四面且包含多條垂直及水平之光學(xué)準(zhǔn)直線的墨線儀。目前光學(xué)準(zhǔn)直測量儀因準(zhǔn)直的需求而延伸至各種用途，甚至包括精準(zhǔn)設(shè)備的設(shè)置之用途，故光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的精準(zhǔn)度相對也變的非常重要。因此，光學(xué)準(zhǔn)直測量儀在出廠前必須將光學(xué)準(zhǔn)直線調(diào)校至準(zhǔn)直位置，也必須要定期保養(yǎng)檢查及定期校正光學(xué)準(zhǔn)直測量儀之光學(xué)準(zhǔn)直線的準(zhǔn)直位置。
[0003]目前光學(xué)準(zhǔn)直測量儀校正方式為將光學(xué)準(zhǔn)直線調(diào)校于準(zhǔn)直位置之基線上，而精密度的標(biāo)準(zhǔn)為20角秒。在習(xí)知技術(shù)中，使用CCD感光檢測裝置的校正設(shè)備，以CCD檢測板體配置于基線上而受光學(xué)準(zhǔn)直線投射而感光，而直接擷取光學(xué)準(zhǔn)直線與CCD檢測板體之基線的位置影像，而以人眼辨識光學(xué)準(zhǔn)直線與CCD檢測板體之基線的偏移，而調(diào)整至光學(xué)準(zhǔn)直線與 (XD檢測板體之基線的位置幾乎無誤差。然而，光學(xué)準(zhǔn)直線與基線的誤差距離至少要達(dá)到 0.48mm人眼才能在影像上辨識；而光學(xué)準(zhǔn)直線與基線在精密度為20角秒的狀況下，誤差距離要達(dá)到0.48mm，則CCD檢測板體與光學(xué)準(zhǔn)直線的距離至少要有5m以上。再者，如果光學(xué)準(zhǔn)直測量儀投射出多條光學(xué)準(zhǔn)直線于二維空間或三維空間，則(XD檢測板體必須至少分別設(shè)置在25m2或125m3的平面或空間上。若有比標(biāo)準(zhǔn)更高的精密度需求或具有多項(xiàng)配置的光學(xué)準(zhǔn)直線(如墨線儀)，則需要更大的空間來放置校正設(shè)備，而造成極大的浪費(fèi)。但是，如果沒有寬敞的空間設(shè)置校正設(shè)備，則對于光學(xué)準(zhǔn)直測量儀之校正的精密度相對也會降低而無法達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)?！緦?shí)用新型內(nèi)容】
[0004]鑒于以上所述，習(xí)知技術(shù)中之光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備，以CCD擷取光學(xué)準(zhǔn)直線之影像位置，而有占用空間及精密度無法兼顧之缺點(diǎn)，實(shí)有改良之必要。[〇〇〇5]緣此，本實(shí)用新型的目的在于提供一種光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備，能夠兼顧空間之節(jié)省與精密度之維持。
[0006]本實(shí)用新型為解決習(xí)知技術(shù)之問題所采用之技術(shù)手段系提供一種光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備，用以校正一光學(xué)準(zhǔn)直測量儀所投射出之一光學(xué)準(zhǔn)直線于一準(zhǔn)直位置，該校正設(shè)備包含:一光電檢測裝置，包括一第一太陽能板及一第二太陽能板，該第一太陽能板與該第二太陽能板系依據(jù)作為該準(zhǔn)直位置的一基線而設(shè)置，該基線系為一水平基線及/或一垂直基線，而使該第一太陽能板與該第二太陽能板于該基線上之受光面長度系為相等，以及該第一太陽能板與該第二太陽能板于偏移于該基線的偏移位置上之受光面長度系為不相等，且該第一太陽能板與該第二太陽能板于該偏移位置上之受光面長度之長度差值系隨著自該基線偏移之偏移幅度而互不相同，以在該光學(xué)準(zhǔn)直線投射于該第一太陽能板與該第二太陽能板時，隨著各受光位置上之受光長度之不同而由該第一太陽能板與該第二太陽能板分別發(fā)電輸出對應(yīng)電流大小的一第一電力及一第二電力；一分析裝置，具有一訊號處理單元及一計算分析單元，該訊號處理單元電連接于該光電檢測裝置，而接收并處理該第一電力及該第二電力而得到關(guān)于該第一太陽能板與該第二太陽能板之發(fā)電差信息，該計算分析單元電連接于該訊號處理單元，而根據(jù)該發(fā)電差信息以及該第一太陽能板與該第二太陽能板于不同的受光位置上之受光面長度之長度差值而計算分析出該光學(xué)準(zhǔn)直線與該準(zhǔn)直位置之間的一偏移位置信息；以及一輸出裝置，訊號連接于該處理單元，而輸出該處理單元之該偏移位置信息，以供校正者調(diào)整該光學(xué)準(zhǔn)直測量儀所投射出之光學(xué)準(zhǔn)直線。
[0007]在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中系提供一種光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備，該第一太陽能板與該第二太陽能板系經(jīng)設(shè)置而隨著自該基線偏移之偏移幅度愈大，該第一太陽能板與該第二太陽能板于該偏移位置上之受光面長度之長度差值之絕對值愈大。
[0008]在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中系提供一種光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備，該第一太陽能板與該第二太陽能板系經(jīng)設(shè)置而隨著自該基線偏移之偏移方向之不同，該第一太陽能板與該第二太陽能板于該偏移位置上之受光面長度之長度差值具有相反之正負(fù)符號。
[0009]在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中系提供一種光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備，該第一太陽能板與該第二太陽能板系為相同大小之直角三角形板體且斜邊相互連接而形成長方形板體之一檢測板體。
[0010]在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中系提供一種光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備，該第一太陽能板與該第二太陽能板相互連接而形成一檢測板體，以及該光電檢測裝置系具有復(fù)數(shù)個該檢測板體，該復(fù)數(shù)個檢測板體系依據(jù)同一基線而設(shè)置，且該復(fù)數(shù)個檢測板體在該基線上系為相互間隔。
[0011]在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中系提供一種光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備，該第一太陽能板與該第二太陽能板相互連接而形成一檢測板體，以及該光電檢測裝置系具有復(fù)數(shù)個該檢測板體，該復(fù)數(shù)個檢測板體系分別依據(jù)該水平基線及該垂直基線而設(shè)置。
[0012]在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中系提供一種光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備，該水平基線系為水平環(huán)繞360度之基線，該垂直基線系為垂直環(huán)繞360度之基線，該復(fù)數(shù)個檢測板體系分別設(shè)置在該水平基線及該垂直基線的不同環(huán)繞角度位置。
[0013]在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中系提供一種光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備，其中該第一太陽能板與該第二太陽能板相互連接而形成一檢測板體，該檢測板體更包括一濾光板，該濾光板覆蓋于該第一太陽能板與該第二太陽能板之一受光表面，用以過濾向該第一太陽能板與該第二太陽能板投射的該光學(xué)準(zhǔn)直線。
[0014]在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中系提供一種光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備，該訊號處理單元包括一訊號放大單元、一差值放大單元及一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換單元;該訊號放大單元電連接于該光電檢測裝置，而接收該第一電力及該第二電力，而轉(zhuǎn)換電力為電壓且放大輸出一第一電壓放大訊號及一第二電壓放大訊號；該差值放大單元訊號連接于該訊號放大單元， 用以計算差值而放大，而得到一電壓差訊號；該模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換單元訊號連接于該差值放大單元，用以將模擬訊號轉(zhuǎn)換至數(shù)字訊號，而根據(jù)該電壓差訊號而得到關(guān)于該第一太陽能板與該第二太陽能板之發(fā)電差信息而傳輸于該處理單元。
[0015]在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中系提供一種光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備，該輸出裝置系為一無線訊號輸出裝置。
[0016]本實(shí)用新型的目的在于提供一種光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備，能夠以光電檢測裝置之第一太陽能板與第二太陽能板在不同受光位置，而產(chǎn)生的發(fā)電差信息，而計算分析出光學(xué)準(zhǔn)直線之偏移位置信息，藉由第一太陽能板與第二太陽能板之發(fā)電差信息及分析設(shè)備之偏移位置信息取代影像信息，即為以電路分辨率取代需要以距離提高精密度之影像分辨率，而達(dá)成空間之節(jié)省與精密度之維持?！靖綀D說明】
[0017]圖1為顯示根據(jù)本實(shí)用新型的一實(shí)施例的光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備的立體圖。
[0018]圖2為顯示根據(jù)本實(shí)用新型的實(shí)施例的光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備的電路方塊示意圖。
[0019]圖3為顯示根據(jù)本實(shí)用新型的實(shí)施例的光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備之檢測板體的使用示意圖。
[0020]圖4a為顯示根據(jù)本實(shí)用新型的實(shí)施例的光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備之檢測板體于垂直基線的位置配置圖。
[0021]圖4b為顯示根據(jù)本實(shí)用新型的實(shí)施例的光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備之檢測板體于水平基線的位置配置圖。[〇〇22]其中，100、光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備，1、光電檢測裝置，11、第一太陽能板，12、 第二太陽能板，13、檢測板體，131、濾光片，2、分析裝置，21、訊號處理單元，211、訊號放大單元，212、差值放大單元，213、模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換單元，22、計算分析單元，3、輸出裝置，B、基線， 〇1、偏移距離，1、11、12、13、光學(xué)準(zhǔn)直線兒1、12、13、14、受光面長度肩、光學(xué)準(zhǔn)直測量儀?！揪唧w實(shí)施方式】
[0023]以下根據(jù)圖1至圖4,而說明本實(shí)用新型的實(shí)施方式。該說明并非為限制本實(shí)用新型的實(shí)施方式，而為本實(shí)用新型之實(shí)施例的一種。[〇〇24]如圖1及圖3所示，依據(jù)本實(shí)用新型的一實(shí)施例的一光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備 100,用以校正一光學(xué)準(zhǔn)直測量儀所投射出之一光學(xué)準(zhǔn)直線于一準(zhǔn)直位置，該校正設(shè)備100 包含:一光電檢測裝置1、一分析裝置2以及一輸出裝置3。本實(shí)施例中，該光學(xué)準(zhǔn)直測量儀M 為一雷射墨線儀，該雷射墨線儀投射出多條垂直光學(xué)準(zhǔn)直線及多條水平光學(xué)準(zhǔn)直線，而在三維空間之四面墻上相互連接形成一圈水平環(huán)繞360度之光學(xué)準(zhǔn)直線(13)及二圈該垂直環(huán)繞360度之光學(xué)準(zhǔn)直線(11、12)(如圖4a及圖4b)。當(dāng)然，本實(shí)用新型不以此為限，可以為任何可投射出一條或多條光學(xué)準(zhǔn)直線之光學(xué)準(zhǔn)直測量儀。
[0025]如圖1及圖3所示所示，該光電檢測裝置I包括一第一太陽能板11及一第二太陽能板12。該第一太陽能板11與該第二太陽能板12系依據(jù)作為該準(zhǔn)直位置的一基線B(如圖3)而設(shè)置。該基線B系為一水平基線及/或一垂直基線，且該水平基線為絕對水平之基線及該垂直基線為絕對垂直之基線，或依需求而另行設(shè)置之特殊基線。而以該基線B為準(zhǔn)，使該第一太陽能板11與該第二太陽能板于該基線B上之受光面長度(如圖3，L1 = L2)系為相等，以及該第一太陽能板11與該第二太陽能板12于偏移于該基線B的偏移位置上之受光面長度系為不相等(如圖3之L3、L4)，且該第一太陽能板11與該第二太陽能板12于該偏移位置上之受光面長度之長度差值系隨著自該基線B偏移之偏移幅度而互不相同。
[0026]詳細(xì)來說，在本實(shí)施例中，該第一太陽能板11與該第二太陽能板12為系為相同大小之直角三角形之板體且斜邊相互連接而形成長方形板體之一檢測板體13。較佳地，該檢測板體13更包括一濾光片131，該濾光片131覆蓋于該第一太陽能板11與該第二太陽能板12之一受光表面，用以過濾向該第一太陽能板11與該第二太陽能板12投射的該光學(xué)準(zhǔn)直線I，以過濾噪聲而加強(qiáng)亮度于太陽能板之受光部分。如圖3所示，該檢測板體13之中線設(shè)置于該基線B，以該水平基線B為基準(zhǔn)，該第一太陽能板與該第二太陽能板于該基線B上之受光面長度(L1 = L2)系為相等;而自該基線B的平行向上偏移之長度位置為該第一太陽能板11之受光面長度則為漸增而該第二太陽能板12之受光面長度則為漸減;而自該基線B的平行向下偏移之長度位置為相反設(shè)置，該第一太陽能板11之受光面長度則為漸減而該第二太陽能板12之受光面長度則為漸增。故，該第一太陽能板11與該第二太陽能板12于不同偏移位置上受同一直線照射之受光長度之差值皆不相同，即該第一太陽能板11之受光長度減該第二太陽能板12之受光長度的差值(含正負(fù)號)在每個位置上都不相同。進(jìn)一步說，該第一太陽能板I與該第二太陽能板12系經(jīng)設(shè)置而隨著自該基線B偏移之偏移幅度愈大，該第一太陽能板11與該第二太陽能板12于該偏移位置上之受光面長度之長度差值之絕對值愈大。
[0027]再者，該第一太陽能板11與該第二太陽能板12系經(jīng)設(shè)置而隨著自該基線B偏移之偏移方向之不同，該第一太陽能板11與該第二太陽能板12于該偏移位置上之受光面長度之長度差值具有相反之正負(fù)符號。即，在該基線B水平向上偏移距離同等于水平向下偏移距離的地方，該第一太陽能板11之受光面長度減該第二太陽能板12之受光面長度的差值為值相同但正負(fù)號相反。若該基線為垂直基線，則該第一太陽能板與該第二太陽能板于該基線B上之受光面長度(L1 = L2)系為相等;而自基線的平行向左偏移之長度位置為該第一太陽能板11之受光面長度則為漸增而該第二太陽能板12之受光面長度則為漸減;而自該基線的平行向右偏移之長度位置為相反設(shè)置，該第一太陽能板11之受光面長度則為漸減而該第二太陽能板12之受光面長度則為漸增。當(dāng)然，本實(shí)用新型不以此為限，該第一太陽能板11板與該第二太陽能板12也可用其他形狀依據(jù)作為該準(zhǔn)直位置的該基線而設(shè)置，而使該第一太陽能板11與該第二太陽能板12于該基線上之受光面長度系為相等，以及該第一太陽能板11與該第二太陽能板12于偏移于該基線的偏移位置上之受光面長度系為不相等，且該第一太陽能板11與該第二太陽能板12于該偏移位置上之受光長度之長度差值系隨著自該基線偏移之偏移幅度而互不相同。如以圖3為例，光學(xué)準(zhǔn)直線I在自基線B向上偏移距離為Dl處，該第一太陽能板11之受光位置之受光長度L3>該第二太陽能板12之受光位置之受光長度L4，也就是受光長度之長度差值L3-L4為一正值。如準(zhǔn)直線自基線B越向上偏移則該第一太陽能板11之受光位置之受光長度越來越長，而該第二太陽能板12之受光位置之受光長度越來越短。 反之，若光學(xué)準(zhǔn)直線I自基線B向下偏移則受光長度之長度差值為一負(fù)值。
[0028]藉由該第一太陽能板11與該第二太陽能板12于該偏移位置上之受光面長度之長度差值系隨著自該基線B偏移之偏移幅度而互不相同，以在該光學(xué)準(zhǔn)直線I投射于該第一太陽能板11與該第二太陽能板12時，隨著各受光位置上之受光長度(L3、L4)之不同，而由該第一太陽能板11與該第二太陽能板12分別發(fā)電輸出對應(yīng)電流大小的一第一電力及一第二電力。[〇〇29]如圖1及圖2所示，該分析裝置2具有一訊號處理單元21及一計算分析單元22。本實(shí)施例中，該分析裝置2與該光電檢測裝置1設(shè)置為一個主機(jī)。該訊號處理單元21電連接于該光電檢測裝置1，而接收并處理該第一電力及該第二電力。經(jīng)由該訊號處理單元21分析處理且放大計算該第一電力及該第二電力，而得到關(guān)于該第一太陽能板與該第二太陽能板之發(fā)電差信息。較佳地，該訊號處理單元21包括一訊號放大單元211、一差值放大單元212及一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換單元213。該訊號放大單元211電連接于該光電檢測裝置1，而接收該第一電力及該第二電力，而轉(zhuǎn)換電力為電壓且放大輸出一第一電壓放大訊號及一第二電壓放大訊號。該差值放大單元212訊號連接于該訊號放大單元211，用以計算該第一電壓放大訊號及該第二電壓放大訊號之差值而放大，而得到一電壓差訊號。該模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換單元213訊號連接于該該差值放大單元211，用以將模擬訊號轉(zhuǎn)換至數(shù)字訊號，而根據(jù)該電壓差訊號而得到關(guān)于該第一太陽能板11與該第二太陽能板12之發(fā)電差信息而傳輸于該計算分析單元22。藉由太陽能板的受光長度于不同受光位置之受光面長度差的變化量，以及該分析裝置2之該訊號處理單元21之該訊號放大單元211、該差值放大單元212及該模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換單元213之信息放大，而以不須拉大空間的方式，利用發(fā)電差信息之電路分辨率達(dá)到高精確度且得到可放大5-10倍之發(fā)電差信息。
[0030]如圖1及圖2所示，該計算分析單元22電連接于該訊號處理單元21，而根據(jù)該發(fā)電差信息以及該第一太陽能板11與該第二太陽能板12于不同的受光位置上之受光面長度之長度差值，即為受光面長度之長度差值脂數(shù)值大小及正負(fù)號差異，而推算出該光學(xué)準(zhǔn)直線于該基線B之偏移幅度及偏移方向，而計算分析出該光學(xué)準(zhǔn)直線I與該準(zhǔn)直位置之間的一偏移位置信息，該偏移位置信息可以數(shù)值的方式呈現(xiàn)或是以數(shù)值換算成圖示的方式來呈現(xiàn)。 例如:坐標(biāo)、相對位置圖等。
[0031]如圖1及圖2所示，該輸出裝置3訊號連接于該計算分析單元22,而輸出該計算分析單元22之該偏移位置信息，以供校正者調(diào)整該光學(xué)準(zhǔn)直測量儀M所投射出之光學(xué)準(zhǔn)直線I。 本實(shí)施例中，以一墨線儀作為該光學(xué)準(zhǔn)直測量儀M，校正者可依數(shù)值來調(diào)整可以控制該光學(xué)準(zhǔn)直線之位置的四顆螺絲而使該光學(xué)準(zhǔn)直線I迭至該基線B之位置。在本實(shí)施例中，該輸出裝置3系為一液晶屏幕顯示器，以一無線訊號連接該計算分析單元22而以數(shù)值或圖示的方式呈現(xiàn)該偏移位置信息，以供校正者調(diào)整該光學(xué)準(zhǔn)直線I之位置。
[0032]該光電檢測裝置1根據(jù)不同的光學(xué)準(zhǔn)直測量儀M，而有多種配置，且具有復(fù)數(shù)個該第一太陽能板11與該第二太陽能板12相互連接而形成該檢測板體13。該光電檢測裝置1可以為而該復(fù)數(shù)個檢測板體13系依據(jù)同一基線而設(shè)置，且該復(fù)數(shù)個檢測板體13在該基線B上系為相互間隔。該光電檢測裝置1也可以為具有復(fù)數(shù)個該檢測板體13,該復(fù)數(shù)個檢測板體13 系分別依據(jù)該水平基線及該垂直基線而設(shè)置。
[0033]本實(shí)施例中，以一墨線儀作為該光學(xué)準(zhǔn)直測量儀M，如圖4a及圖4b所示，該墨線儀以投射多條水平光學(xué)準(zhǔn)直線及多條垂直基線，而相互連結(jié)形成二圈垂直環(huán)繞360度之光學(xué)準(zhǔn)直線(11、12)及一圈水平環(huán)繞360度之光學(xué)準(zhǔn)直線(13)。如圖4a及圖4b所示，該光電檢測裝置1具有十個復(fù)數(shù)個檢測板體13。該十個復(fù)數(shù)個檢測板體13依據(jù)作為該準(zhǔn)直位置的一條水平環(huán)繞360度之基線及二條垂直環(huán)繞360度之基線，分別設(shè)置在該水平基線(如圖4a)及該垂直基線(如圖4b)的不同環(huán)繞角度位置。該復(fù)數(shù)個檢測板體13分別受該光學(xué)準(zhǔn)直線投射， 而產(chǎn)生發(fā)電差信息，并以該分析裝置2計算分析出光學(xué)準(zhǔn)直線與基線之間的偏移位置信息而輸出，以供校正者調(diào)整光學(xué)準(zhǔn)直線至一水平環(huán)繞360度之基線及二垂直環(huán)繞360度之基線。
[0034]藉由上述結(jié)構(gòu)，該光學(xué)準(zhǔn)直線投射于該光電檢測裝置1之該第一太陽能板11與該第二太陽能板12于該偏移位置上之受光面長度之長度差值系隨著自該基線B偏移之偏移幅度而互不相同，而以分析裝置2計算分析發(fā)電差信息，而產(chǎn)生該光學(xué)準(zhǔn)直線I與該準(zhǔn)直位置之間的一偏移位置信息，藉由發(fā)電差信息之電路解析取代影像信息之解析，而以節(jié)省空間的方式達(dá)到高精確度，而大幅縮短校正設(shè)備占用之空間。
[0035]以上之?dāng)⑹鲆约罢f明僅為本實(shí)用新型之較佳實(shí)施例之說明，對于此項(xiàng)技術(shù)具有通常知識者當(dāng)可依據(jù)以下所界定申請專利范圍以及上述之說明而作其他之修改，惟此些修改仍應(yīng)是為本實(shí)用新型之實(shí)用新型精神而在本實(shí)用新型之權(quán)利范圍中。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備，用以校正一光學(xué)準(zhǔn)直測量儀所投射出之一光學(xué)準(zhǔn)直線于一準(zhǔn)直位置，該校正設(shè)備包含: 一光電檢測裝置，包括一第一太陽能板及一第二太陽能板，該第一太陽能板與該第二太陽能板系依據(jù)作為該準(zhǔn)直位置的一基線而設(shè)置，該基線系為一水平基線及/或一垂直基線，而使該第一太陽能板與該第二太陽能板于該基線上之受光面長度系為相等，以及該第一太陽能板與該第二太陽能板于偏移于該基線的偏移位置上之受光面長度系為不相等，且該第一太陽能板與該第二太陽能板于該偏移位置上之受光面長度之長度差值系隨著自該基線偏移之偏移幅度而互不相同，以在該光學(xué)準(zhǔn)直線投射于該第一太陽能板與該第二太陽能板時，隨著各受光位置上之受光長度之不同而由該第一太陽能板與該第二太陽能板分別發(fā)電輸出對應(yīng)電流大小的一第一電力及一第二電力； 一分析裝置，具有一訊號處理單元及一計算分析單元，該訊號處理單元電連接于該光電檢測裝置，而接收并處理該第一電力及該第二電力而得到關(guān)于該第一太陽能板與該第二太陽能板之發(fā)電差信息，該計算分析單元電連接于該訊號處理單元，而根據(jù)該發(fā)電差信息以及該第一太陽能板與該第二太陽能板于不同的受光位置上之受光面長度之長度差值而計算分析出該光學(xué)準(zhǔn)直線與該準(zhǔn)直位置之間的一偏移位置信息；以及 一輸出裝置，訊號連接于該計算分析單元，而輸出該計算分析單元之該偏移位置信息，以供校正者調(diào)整該光學(xué)準(zhǔn)直測量儀所投射出之光學(xué)準(zhǔn)直線。2.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備，其中該第一太陽能板與該第二太陽能板系經(jīng)設(shè)置而隨著自該基線偏移之偏移幅度愈大，該第一太陽能板與該第二太陽能板于該偏移位置上之受光面長度之長度差值之絕對值愈大。3.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備，其中該第一太陽能板與該第二太陽能板系經(jīng)設(shè)置而隨著自該基線偏移之偏移方向之不同，該第一太陽能板與該第二太陽能板于該偏移位置上之受光面長度之長度差值具有相反之正負(fù)符號。4.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備，其中該第一太陽能板與該第二太陽能板系為相同大小之直角三角形板體且斜邊相互連接而形成長方形板體之一檢測板體。5.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備，其中該第一太陽能板與該第二太陽能板相互連接而形成一檢測板體，以及該光電檢測裝置系具有復(fù)數(shù)個該檢測板體，該復(fù)數(shù)個檢測板體系依據(jù)同一基線而設(shè)置，且該復(fù)數(shù)個檢測板體在該基線上系為相互間隔。6.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備，其中該第一太陽能板與該第二太陽能板相互連接而形成一檢測板體，以及該光電檢測裝置系具有復(fù)數(shù)個該檢測板體，該復(fù)數(shù)個檢測板體系分別依據(jù)該水平基線及該垂直基線而設(shè)置。7.如權(quán)利要求5所述的光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備，其中該水平基線系為水平環(huán)繞360度之基線，該垂直基線系為垂直環(huán)繞360度之基線，該復(fù)數(shù)個檢測板體系分別設(shè)置在該水平基線及該垂直基線的不同環(huán)繞角度位置。8.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備，其中，其中該第一太陽能板與該第二太陽能板相互連接而形成一檢測板體，該檢測板體更包括一濾光片，該濾光片覆蓋于該第一太陽能板與該第二太陽能板之一受光表面，用以過濾向該第一太陽能板與該第二太陽能板投射的該光學(xué)準(zhǔn)直線。9.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備，其中該訊號處理單元包括一訊號放大單元、一差值放大單元及一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換單元;該訊號放大單元電連接于該光電檢測 裝置，而接收該第一電力及該第二電力，而轉(zhuǎn)換電力為電壓且放大輸出一第一電壓放大訊 號及一第二電壓放大訊號；該差值放大單元訊號連接于該訊號放大單元，用以計算差值而 放大，而得到一電壓差訊號;該模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換單元訊號連接于該差值放大單元，用以將模擬 訊號轉(zhuǎn)換至數(shù)字訊號，而根據(jù)該電壓差訊號而得到關(guān)于該第一太陽能板與該第二太陽能板 之發(fā)電差信息而傳輸于該計算分析單元。10.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)準(zhǔn)直測量儀的校正設(shè)備，其中該輸出裝置系為一無線訊號輸出裝置。
【文檔編號】G02B27/62GK205656373SQ201620058075
【公開日】2016年10月19日
【申請日】2016年1月21日 公開號201620058075.X, CN 201620058075, CN 205656373 U, CN 205656373U, CN-U-205656373, CN201620058075, CN201620058075.X, CN205656373 U, CN205656373U
【發(fā)明人】吳有勝, 簡戴鎮(zhèn)
【申請人】上輝精密儀器有限公司