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      面板的電極圖形試驗(yàn)用短路棒的制作方法

      文檔序號:2952845閱讀:316來源:國知局
      專利名稱:面板的電極圖形試驗(yàn)用短路棒的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及面板的電極圖形試驗(yàn)用短路棒,更詳細(xì)地說,涉及用于在面板上形成了電極圖形之后,為了判定電極圖形是否良好,在所有的單元上外加電壓之際,不在水平方向上根據(jù)上下板玻璃的電極圖形按壓彈簧金屬絲,而在垂直方向上變形,且能與上下板玻璃平面的均勻性和電極圖形的高度差沒有關(guān)系地均勻地接觸的面板的電極圖形試驗(yàn)用短路棒。
      背景技術(shù)
      一般地,作為電子顯示裝置,有多種形式,其中有用等離子體顯示面板(以下記作PDP)的電子顯示裝置。該P(yáng)DP由上板玻璃和下板玻璃及在該上下板玻璃之間形成的隔板形成密封的區(qū)域(單元)。在該區(qū)域中注入Ne+Ar、Ne+Xe等氣體,形成許多單元。然后,通過在該單元的上下板玻璃之間外加電壓,使每個單元發(fā)氖光,作為顯示光進(jìn)行利用。
      因而,等離子體顯示是將在對置的上板玻璃和下板玻璃上分別形成的縱向電極與橫向電極之間形成的交點(diǎn)作為放電單元的同時(shí),利用該放電單元的開關(guān)放電來顯示各種文字和圖形而構(gòu)成。
      PDP由于是發(fā)光型的,能鮮明地大型顯示,因此在FA(工廠自動化)機(jī)器領(lǐng)域中一直被廣泛使用,但是現(xiàn)在,在顯示裝置的小型輕型化和高性能化的同時(shí),在計(jì)算機(jī)等OA(辦公自動化)機(jī)器等領(lǐng)域中被廣泛利用。另外,伴隨著顯示裝置的大型化,作為大型面板,由于顯示質(zhì)量和響應(yīng)速度的原因,隨著其作為壁掛用TV中的大型面板被采用,其需求激增。
      象這樣地,因?yàn)镻DP中在上板玻璃和下板玻璃上分別形成的電極圖形的交點(diǎn)使等離子體放電、發(fā)光而構(gòu)成,所以根據(jù)在上板玻璃和下板玻璃上分別形成的電極圖形的電氣特性能決定成品的合格率。


      圖1a~圖1b是表示現(xiàn)有的一般的PDP的分別在上板玻璃和下板玻璃上形成的電極圖形的圖,圖1a表示上板玻璃上形成的電極圖形,圖1b表示下板玻璃上形成的電極圖形。
      如圖1a和圖1b所示,在上板玻璃10和下板玻璃11上分別形成電極圖形10a、10b和電極圖形11a、11b之后,所謂形成上板玻璃10的電極圖形10a和10b的面在相反面上形成構(gòu)成總線電極的由介質(zhì)層和MgO層。然后,在下板玻璃11上形成隔板,涂布熒光體和密封材料。象這樣地形成PDP的上板玻璃和下板玻璃之后,上下板玻璃的各個電極圖形10a、10b、11a、11b相互在垂直方向相交重合形成單元,之后,進(jìn)行排氣和氣體的注入。
      像這樣完成PDP組件之后,為了除去工作中有可能發(fā)生的某些問題,進(jìn)行老化和篩選試驗(yàn)。
      此外,排氣和注入氣體之后,向所有的單元外加電壓,使等離子體發(fā)生的同時(shí),為了除去發(fā)生的氣體,在PDP組件的上板玻璃和下板玻璃的所有電極圖形上外加電壓使其工作。在該工作狀態(tài)下,在試驗(yàn)電極圖形有無異常的同時(shí),能夠由通常的PDP組件的制造工序中封入的吸氣劑除去在生成等離子體時(shí)發(fā)生的氣體。
      在此,如上述的等離子體顯示面板,作為在上板和下板玻璃上形成電極圖形的元件,有STNLCD(Super Twisted Nematic Liquid Crystal Display)即和EL(Electro Luminescense)等,但用于試驗(yàn)這樣元件的電極圖形的裝置和方法與用于等離子體顯示面板的電極圖形試驗(yàn)的裝置和方法相比,兩者除代替有源元件僅由無源圖形構(gòu)成這一點(diǎn)之外,分別用于試驗(yàn)元件的電極圖形和等離子體顯示面板的電極圖形的裝置和方法全部相同。因此,本申請對等離子體顯示面板進(jìn)行說明。
      圖2是表示進(jìn)行PDP組件工作試驗(yàn)的情況下的插接件電極的圖,為了能夠在電極圖形20上外加均勻的電壓,電極圖形25的尖端25a相互連結(jié)。因而,不論從電極圖形25的哪個位置外加電壓,所有的電極圖形20上都外加了均勻的電壓,從所有的單元進(jìn)行等離子體發(fā)生。因而,在單元發(fā)光時(shí),在能檢測不發(fā)光的單元的同時(shí),也能控制發(fā)生的氣體。這樣的試驗(yàn)結(jié)束之后,用激光沿線“A”切斷相互連結(jié)的電極圖形25的尖端25a,之后,既形成了基板,制品也完成了。
      象這樣地使電極圖形相互連結(jié)形成之后,在試驗(yàn)結(jié)束后再切斷的方法,存在著雖然能向所有的電極圖形外加電源,但是制造工序卻變得復(fù)雜的問題。
      圖3是用于說明根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)用短路棒的PDP組件的工作試驗(yàn)的圖,導(dǎo)電體的短路棒30靠緊在面板31上形成的電極圖形32上外加電壓。此時(shí),如圖3所示,電極圖形32的高度一定的A部分中,能均勻地外加電壓,但在電極圖形32的高度不同的情況下,不僅沒接觸的電極圖形B部分發(fā)生,而且在因熱工序使面板的平面圖變化的情況下,即使電極圖形的高度相同,沒接觸的B部分也發(fā)生,因此就存在不能正確地進(jìn)行試驗(yàn)的問題。
      此外,電極圖形32的高度高的情況下,還存在因短路棒30使電極圖形的尖端受損傷的C部分也發(fā)生的問題。
      作為用于解決這些問題的一例,現(xiàn)有本申請人首先在韓國特許請求第2000-28083號(2000.05.24)中所公開的“等離子體顯示面板試驗(yàn)用短路棒”。該短路棒通過卷成環(huán)形的彈簧金屬絲與電極圖形接觸的情況下,用弱力按壓使之接觸時(shí)就能夠得到良好的效果,但用強(qiáng)力按壓短路棒30使之與電極圖形接觸的情況下,如圖4所示,由于彈簧金屬絲46在水平方向(彈簧金屬絲的情況下是軸向)上變寬,因此,因?yàn)槊姘?0上發(fā)生沒與彈簧金屬絲46接觸的電極圖形52,所以存在不能在該電極圖形52上外加電壓的問題。
      即,用弱力在垂直方向(彈簧金屬絲的情況下是徑向)上按壓短路棒的情況下,由于所有的按壓力都加在彈簧金屬絲的徑向上,因此該按壓力作用在使彈簧金屬絲的環(huán)形歪斜的方向上,彈簧金屬絲的環(huán)形就變得歪斜。因此,短路棒與電極圖形的高度和上下板玻璃的平面的均勻性無關(guān),而能夠通過彈簧金屬絲均勻地與電極圖形接觸。
      另一方面,在用強(qiáng)力按壓短路棒的情況和電極圖形的高度上有極端的差異,或上下板玻璃平面的均勻性非常差的情況下,作用在使彈簧金屬絲的環(huán)形歪斜的方向,即,作用在徑向的彈性系數(shù)沿軸向按壓彈簧金屬絲的方向上。在此之際,按壓力由于與軸向的彈性系數(shù)相比相對較大,因此在軸向上發(fā)生過度的變形,彈簧金屬絲就在軸向上變寬。因此,彈簧金屬絲沒與電極圖形接觸的地方就發(fā)生了,就產(chǎn)生了不能正確地試驗(yàn)等離子體顯示面板的問題。
      因而,作為用于解決這樣問題的一例,現(xiàn)有本申請人在已申請的韓國特許請求第2000-42496號(2000.07.24)中所公開的“面板的電極圖形試驗(yàn)用短路棒”。該短路棒40如圖5所示,其構(gòu)成包括在下方形成了延伸的長溝44的主體42;具有軸向長度比徑向長度長的矩形剖面的導(dǎo)電體按一定間隔排列的彈簧或環(huán)形金屬絲46;用直徑比這些彈簧或環(huán)形金屬絲46的內(nèi)徑小的構(gòu)件形成的在彈簧或環(huán)形金屬絲的內(nèi)側(cè)與主體42固定的管48。
      象這樣地,將彈簧或環(huán)形金屬絲的剖面形成為軸向長度比徑向長度長的形狀,由于與面板50的電極圖形52接觸,根據(jù)上下板的電極圖形,不在軸向上按壓彈簧或環(huán)形金屬絲,而僅使之在徑向上變形,因此與下板玻璃的平面和電極圖形的高度差沒有關(guān)系,能夠均勻地接觸。
      但是,象這樣地,將彈簧和環(huán)形金屬絲的剖面形成為軸向長度比徑向長度長的形狀的情況下,由于在彈簧和環(huán)形金屬絲的內(nèi)側(cè),與使彈簧和環(huán)形金屬絲固定在主體上的管的間隔過大,因此給予彈簧和環(huán)形金屬絲過度的按壓力的情況下,因?yàn)閺椈珊铜h(huán)形金屬絲的軸向移動的自由度大,所以仍舊存在在軸向上變寬的問題。并且,由于用管使彈簧和環(huán)形金屬絲固定在主體的過程非常困難,因此,操作效率低下,也成為制造成本變高的原因。

      發(fā)明內(nèi)容
      因而,為了解決這樣的問題,本發(fā)明的目的是提供一種面板的電極圖形試驗(yàn)用短路棒,在面板上形成了電極圖形之后,在用于判定電極圖形是否良好的試驗(yàn)中,在所有的單元上外加電壓之際,根據(jù)上下板玻璃的電極圖形,不在左右按壓彈簧金屬絲而在徑向上變形,且與上下板玻璃的均勻度和電極圖形的高度差沒有關(guān)系,能夠均勻接觸地進(jìn)行。
      有關(guān)的本發(fā)明1的“面板的電極圖形試驗(yàn)用短路棒”的特征在于,其構(gòu)成包括在與電極圖形對置的側(cè)面上形成一部分開放的筒形的長溝的主體;在該筒形的長溝中埋設(shè)的,多個凸部和凹部從長溝的開放部位突出的,其外周面與主體的長溝的內(nèi)側(cè)面對接的彈簧金屬絲;在彈簧金屬絲的多個凸部和凹部的內(nèi)側(cè),保持一定間隔形成多個凸部和凹部的同時(shí),在主體的長溝的內(nèi)部與彈簧金屬絲的內(nèi)側(cè)面接觸的管。
      有關(guān)本發(fā)明2的特征在于,彈簧金屬絲的剖面是軸向長度比徑向長度長的形狀。
      由于象這樣地構(gòu)成,因此本發(fā)明不僅從主體的開放部位突出的彈簧金屬絲的多個凸部部分與電極圖形接觸,而且因?yàn)橛晒苁箯椈山饘俳z與主體固定靠緊,所以彈簧金屬絲的軸向移動的自由度變小,即使在給予強(qiáng)壓力的情況下,也不在軸向上按壓。此外,在管上卷彈簧金屬絲的狀態(tài)下形成短路棒的情況能夠提高制作的方便性和效率。
      附圖的簡單說明圖1a表示現(xiàn)有的實(shí)施例,是表示分別在一般的PDP的上板玻璃和下板玻璃上形成的電極圖形的圖,是表示上板玻璃上形成的電極圖形的圖。
      圖1b表示現(xiàn)有的實(shí)施例,是表示分別在一般的PDP的上板玻璃和下板玻璃上形成的電極圖形的圖,是表示下板玻璃上形成的電極圖形的圖。
      圖2表示現(xiàn)有的實(shí)施例,是表示進(jìn)行PDP組件的工作試驗(yàn)情況下的連接電極的圖。
      圖3是用于說明用根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)的短路棒的PDP組件的工作試驗(yàn)的圖。
      圖4表示其它的現(xiàn)有實(shí)施例,是用于說明非接觸狀態(tài)的剖面圖。
      圖5表示另外的其它現(xiàn)有的實(shí)施例,是表示面板的電極圖形試驗(yàn)用短路棒的斜視圖。
      圖6a是本發(fā)明的實(shí)施例,表示面板的電極圖形試驗(yàn)用短路棒,是表示將短路棒的開放部位向著下方的狀態(tài)的斜視圖。
      圖6b是本發(fā)明的實(shí)施例,表示面板的電極圖形試驗(yàn)用短路棒,是表示將短路棒的開放部位向著上方的狀態(tài)的斜視圖。
      圖7是本發(fā)明的實(shí)施例,是表示面板的電極圖形試驗(yàn)用短路棒的使用狀態(tài)的剖面圖。
      具體實(shí)施例方式
      基于圖6a、圖6b和圖7說明本發(fā)明的最佳實(shí)施方式。
      此外,本發(fā)明以及除此之外相關(guān)的目的和特征可以基于附圖讀下述說明書和權(quán)利要求的范圍中指出的新事項(xiàng)來明確。
      再有,在本實(shí)施方式中,與現(xiàn)有的結(jié)構(gòu)相同的部分使用相同符號和相同名稱。
      圖6a和6b是表示與本發(fā)明有關(guān)的面板的電極圖形試驗(yàn)用短路棒的斜視圖,圖6a是表示短路棒的開放部位向下的狀態(tài)的斜視圖,圖6b是表示短路棒的開放部位向上的狀態(tài)的斜視圖。
      在此,如圖6a和圖6b所示,其構(gòu)成包括在與電極圖形52對置的側(cè)面上形成一部分開放的筒形的長溝44的主體42;在筒形的長溝44中埋設(shè)的,多個凸部46a和凹部46b從開放部位突出的,其外周面與主體42的長溝44的內(nèi)側(cè)面對接的彈簧金屬絲46;在該彈簧金屬絲46的多個凸部46a和凹部46b的內(nèi)側(cè),保持一定間隔形成多個凸部48a和凹部48b的同時(shí),在主體42的長溝44的內(nèi)部與彈簧金屬絲46的內(nèi)側(cè)面對接的管48。
      在此,彈簧金屬絲46將兩端作為自由端,在管48的外周面上以一定的間隔卷起,同時(shí),剖面由具有軸向長度比徑向長度長的形狀的矩形和橢圓形構(gòu)成。
      此外,其構(gòu)成還包括,在與筒形長溝44的開放部位對置的相反側(cè)上形成與長溝44平行的長凹部45,從主體42的兩個側(cè)面向長的凹部45插過螺柱43a之后,由于用螺母擰緊,使筒形的長溝與管48更靠緊,因此使卷在管48上的彈簧金屬絲46的軸向移動的自由度更小。
      象這樣形成長凹部的情況下,由于在開始裝配時(shí),松弛筒形長溝44與管48的靠緊狀態(tài),裝配之后,擰緊螺柱43a與螺母43b,使其靠緊,因此能夠提高制作的效率。
      圖7是表示與本發(fā)明有關(guān)的面板的電極圖形試驗(yàn)用短路棒的使用狀態(tài)的側(cè)向剖面圖,在彈簧金屬絲46上施加按壓力的情況下,為了使該按壓力不作用在彈簧金屬絲46的軸向,而僅加在徑向上,從而使環(huán)的形狀變形的同時(shí),均勻地與電極圖形對接,用剖面的形狀是軸向長度比徑向長度長的矩形的彈簧金屬絲46的情況下,必須是矩形剖面的長邊為軸向這樣地排列。
      此外,不從短路棒40的主體42的開放部位突出的位于主體42的內(nèi)部的彈簧金屬絲46的部分因?yàn)橛晒?8與主體42靠緊,所以即使與電極圖形52強(qiáng)接觸,在軸向移動的自由度也變小,另一方面,從開放部位突出的彈簧金屬絲46的部分的變形,不在軸向上變寬,而在徑向上移動,而使環(huán)的形狀歪斜。
      因而,若將短路棒40載置在面板50的電極圖形52上,就成為從短路棒40的主體42的開放部位突出的彈簧金屬絲46的多個凸部46a的外周面與電極圖形52的外周面對接的狀態(tài)。在該狀態(tài)下規(guī)定位置的彈簧金屬絲46上一外加電壓,與彈簧金屬絲46接觸的所有的電極圖形52上就被外加上電壓。
      在此之際,彈簧金屬絲46與電極圖形52對接時(shí),由于彈簧金屬絲46突出了的凸部46a部分與電極圖形52的高度對應(yīng)柔軟地歪斜,所以即使在電極圖形52的高度不同的情況下,如圖7所示,因?yàn)閺椈山饘俳z46在徑向上壓縮而上升,或者伸張而下降的狀態(tài)下,兩者自然地接觸,所以將電極圖形52的高度低的部分作為標(biāo)準(zhǔn)即使使短路棒40固定,也不引起高的部分的電極圖形損傷的事情發(fā)生。
      此外,在面板50的平面不均勻的情況下,因?yàn)閺椈山饘俳z46也與上述一樣地變形,所以,即使是面板50上形成的電極圖形的高度上有偏差時(shí),彈簧金屬絲46也能夠均勻地與所有的電極圖形52接觸。
      如上所述,與權(quán)利要求1有關(guān)的發(fā)明,因?yàn)槠錁?gòu)成包括在與電極圖形對置的側(cè)面上形成其一部分開放的筒形的長溝的主體;在筒形的長溝中埋設(shè)的,多個凸部和凹部從長溝的開放部位突出的,其外周面與主體的長溝的內(nèi)側(cè)面對接的彈簧金屬絲;在彈簧金屬絲的多個凸部和凹部的內(nèi)側(cè),保持一定間隔形成多個凸部和凹部的同時(shí),在主體的長溝的內(nèi)部與彈簧金屬絲的內(nèi)側(cè)面接觸的管,所以,在面板上形成了電極圖形之后,判定電極圖形是否良好的情況下,在所有的單元上外加電壓之際,因?yàn)橛脧亩搪钒舻拈_放部位突出的柔軟的彈簧金屬絲的凸部與電極圖形接觸,所以即使通過短路棒強(qiáng)力地按壓上下板玻璃的電極圖形的情況下,也不在軸向上按壓彈簧金屬絲,而在徑向上變形且接觸,與上下板玻璃平面的均勻性和電極圖形的高度的偏差沒有關(guān)系,能夠均勻地接觸,正確地進(jìn)行試驗(yàn)。因而,具有成品的合格率和性能提高的效果。
      權(quán)利要求
      1.一種面板的電極圖形試驗(yàn)用短路棒,特征在于,其構(gòu)成包括在與電極圖形對置的側(cè)面上形成其一部分開放的筒形的長溝的主體;在該筒形的長溝中埋設(shè)的同時(shí),多個凸部和凹部從長溝的開放部位突出的,其外周面與主體的長溝的內(nèi)側(cè)面對接的彈簧金屬絲;在彈簧金屬絲的多個凸部和凹部的內(nèi)側(cè),保持一定間隔形成多個凸部和凹部,在主體的長溝的內(nèi)部與彈簧金屬絲的內(nèi)側(cè)面接觸的管。
      2.如權(quán)利要求1所述的面板的電極圖形試驗(yàn)用短路棒,其特征在于,上述彈簧金屬絲的剖面是軸向長度比徑向長度長的形狀。
      全文摘要
      一種可提高制品的合格率和性能的面板的電極圖形試驗(yàn)用短路棒。其包括在與電極圖形對置的側(cè)面上形成一部分開放的筒形的長溝的主體;在筒形的長溝中埋設(shè)的,多個凸部和凹部從開放部位突出的,其外周面與主體42的長溝44的內(nèi)側(cè)面對接的彈簧金屬絲46;在該彈簧金屬絲46的多個凸部46a和凹部46b的內(nèi)側(cè),保持一定間隔形成多個凸部48a和凹部48b的同時(shí),在主體42的長溝44的內(nèi)部與彈簧金屬絲46的內(nèi)側(cè)面接觸的管48。在判定面板的電極圖形是否良好的情況下,在所有的單元上外加電壓之際,根據(jù)上下板玻璃的電極圖形,不在水平方向上按壓彈簧金屬絲,而在垂直方向上變形,且與上下板玻璃平面的均勻性和電極圖形的高度的偏差沒有關(guān)系,能夠均勻地接觸。
      文檔編號H01J11/22GK1400468SQ0213150
      公開日2003年3月5日 申請日期2002年7月31日 優(yōu)先權(quán)日2001年7月31日
      發(fā)明者殷琸 申請人:微探測株式會社
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