專利名稱：一種等離子顯示屏缺陷檢查方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種等離子顯示屏缺陷檢查方法，用于檢查等離子顯示屏制作過程中出現(xiàn)的圖形缺陷。
背景技術(shù)：
作為傳統(tǒng)的用于檢查顯示面板圖像缺陷的方法，通常是采用CCD攝像機(jī)獲取基板表面圖形圖像。如基板上某一處出現(xiàn)了圖形缺陷，即電極斷路或相鄰電極間出現(xiàn)短路等，故障點(diǎn)的灰度值將和相鄰正常點(diǎn)的灰度值出現(xiàn)差別。采用周期性的比對(duì)和相鄰點(diǎn)的灰度值差別即可以將缺陷點(diǎn)檢查出來(lái)。
目前等離子顯示屏的電極包括電極部分和引線部分，傳統(tǒng)的檢測(cè)方法只能用于檢測(cè)具有周期性排布的圖形區(qū)域的圖形缺陷，而對(duì)于不具有周期性排布的圖形區(qū)域，如引線部分出現(xiàn)的圖形缺陷，即附圖1中的A點(diǎn)缺陷，此種檢查方法無(wú)法進(jìn)行檢查。

發(fā)明內(nèi)容
為了克服以上現(xiàn)有技術(shù)存在的缺點(diǎn)和不足，本發(fā)明的目的在于提供一種無(wú)需進(jìn)行多次重復(fù)計(jì)算，可以快速檢測(cè)出等離子顯示屏上的圖形缺陷的等離子顯示屏缺陷檢查方法。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是，一種等離子顯示屏缺陷的檢查方法，首先用攝像機(jī)獲取基板表面的圖像，并將獲取到的圖像進(jìn)行閾值化處理即按照灰度值差別描繪出基板表面圖像的邊緣；其次，定義用于圖形比對(duì)的檢測(cè)用標(biāo)準(zhǔn)圖像，將基板圖形上的對(duì)位標(biāo)記，與檢測(cè)用標(biāo)準(zhǔn)圖像上的相對(duì)應(yīng)的對(duì)位標(biāo)記進(jìn)行比對(duì)，確定攝像機(jī)獲取的圖像和檢測(cè)用標(biāo)準(zhǔn)圖像間存在的位移和旋轉(zhuǎn)量，并根據(jù)位移和旋轉(zhuǎn)量對(duì)攝取到的圖像進(jìn)行相應(yīng)校正；再次，將閾值化處理后的基板表面圖像數(shù)據(jù)和定義的檢測(cè)用標(biāo)準(zhǔn)圖像進(jìn)行差值相減處理，得到包含有缺陷點(diǎn)數(shù)據(jù)的二值化圖像；將得到的二值化圖像按照檢查條件進(jìn)行篩選，檢查條件的設(shè)定可以根據(jù)允許缺陷的大小設(shè)定閾值，超出此閾值的點(diǎn)判斷為缺陷，也可以設(shè)定為灰度值閾值，差值相減后的二值化圖像超過該灰度值閾值即判斷為缺陷點(diǎn)，由此即可以檢查出缺陷點(diǎn)。
和傳統(tǒng)檢查方法相比較，采用本檢查方法無(wú)需進(jìn)行多次重復(fù)計(jì)算，可以快速檢測(cè)出等離子顯示屏上的圖形缺陷。同時(shí)，對(duì)于傳統(tǒng)方法無(wú)法檢查的非周期性圖形部分，采用本方法可以進(jìn)行缺陷檢查。


圖1為等離子顯示屏部分匯流電極示意圖。
圖2是攝像機(jī)獲取到的含有缺陷點(diǎn)的等離子顯示屏上基板匯流電極圖像截取部分。
圖3是將圖2進(jìn)行閾值化處理后的閾值化圖像。
圖4是從檢測(cè)用標(biāo)準(zhǔn)圖像上截取的和圖2在基板上相同位置的部分。
圖5是將附圖3和附圖4進(jìn)行對(duì)位后并進(jìn)行差值相減最終得到的二值圖。
圖6是本發(fā)明的缺陷檢查的步驟圖。
具體實(shí)施例方式
以下結(jié)合附圖以及發(fā)明人提供的實(shí)施例對(duì)本發(fā)明所述的方法做進(jìn)一步說明。
以檢查60寸等離子顯示屏上基板的匯流電極為例對(duì)本檢查方法進(jìn)行進(jìn)一步說明。
首先采用CCD攝像機(jī)拍攝圖1所示的等離子顯示屏部分匯流電極的表面圖像。拍攝時(shí)照明光源的亮度控制的原則是在拍攝的圖像上能夠清晰看到匯流電極線條，并且線條部分和沒有覆蓋線條的玻璃基板的灰度值有明顯差別，便于后期進(jìn)行閾值化處理，同時(shí)對(duì)整個(gè)基板表面光照均勻。本實(shí)例中采用了段位式亮度可控高頻率熒光燈管作為照明光源。
拍攝到基板表面圖像后，對(duì)拍攝到的圖像進(jìn)行閾值化處理，描繪出電極線條的邊緣信息。圖2是攝像機(jī)獲取到的含有缺陷點(diǎn)的等離子顯示屏上基板匯流電極圖像截取部分，從圖中可見匯流電極包含缺陷點(diǎn)，將圖像2進(jìn)行閾值化處理后得到如圖3的閾值化圖像，。
定義檢測(cè)用標(biāo)準(zhǔn)圖像。本實(shí)例中的檢測(cè)用標(biāo)準(zhǔn)圖像采用無(wú)缺陷的匯流電極閾值化處理后的圖像。圖4是從檢測(cè)用標(biāo)準(zhǔn)圖像上截取的和圖2在基板上相同位置的部分。
檢測(cè)用標(biāo)準(zhǔn)圖像上和基板表面閾值化圖像上有對(duì)位標(biāo)記，根據(jù)二者的對(duì)位標(biāo)記位置調(diào)整基板表面閾值化圖像的位置，以使得二者的對(duì)位標(biāo)記重合。將檢測(cè)用標(biāo)準(zhǔn)圖像和基板表面閾值化圖像進(jìn)行差值相減，得到附圖5的二值圖。
根據(jù)檢查要求進(jìn)行篩選。本實(shí)例中缺陷篩選標(biāo)準(zhǔn)是缺陷大小。本實(shí)例設(shè)定檢查閾值為30象素面積。二值圖上超過此閾值的點(diǎn)將判斷為缺陷點(diǎn)。本附圖中缺陷點(diǎn)大小為8×4＝32象素面積，此點(diǎn)面積超過檢查閾值，因此判斷此點(diǎn)為缺陷點(diǎn)。
權(quán)利要求
1.一種等離子顯示屏缺陷的檢查方法，用CCD攝像機(jī)獲取基板表面圖形圖像，其特征在于，將獲取到的圖像進(jìn)行閾值化處理，按照灰度值差別描繪出基板表面圖像的邊緣，將基板圖形上的對(duì)位標(biāo)記與定義的用于圖形比對(duì)的檢測(cè)用標(biāo)準(zhǔn)圖像上相對(duì)應(yīng)的對(duì)位標(biāo)記進(jìn)行比對(duì)，確定攝像機(jī)獲取的圖像和檢測(cè)用標(biāo)準(zhǔn)圖像間存在的位移和旋轉(zhuǎn)量，并根據(jù)位移和旋轉(zhuǎn)量對(duì)攝取到的圖像進(jìn)行相應(yīng)校正，其次，將閾值化處理后的基板表面圖像數(shù)據(jù)和定義的檢測(cè)用標(biāo)準(zhǔn)圖像進(jìn)行差值相減處理，得到包含有缺陷點(diǎn)數(shù)據(jù)的二值化圖像，將得到的二值化圖像按照與缺陷的大小設(shè)定的閾值相比較，超出此閾值的點(diǎn)判斷為缺陷點(diǎn)，也可以與設(shè)定的灰度值閾值相比較，差值相減后的二值化圖像超過該灰度值閾值即判斷為缺陷點(diǎn)。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于采用CCD攝像機(jī)拍攝基板表面圖像時(shí)照明光源的亮度控制是在拍攝的圖像上能夠清晰看到匯流電極線條，并且線條部分和沒有覆蓋線條的玻璃基板的灰度值有明顯差別，同時(shí)對(duì)整個(gè)基板表面光照均勻。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所采用的照明光源為段位式亮度可控高頻率熒光燈管照明光源。
全文摘要
一種檢查等離子顯示屏圖形缺陷的方法，采用高分辨率攝像機(jī)獲取等離子顯示屏基板表面圖像，將獲取到的圖像進(jìn)行閾值化處理，將閾值化處理后得到的閾值化圖像和預(yù)置的檢測(cè)用標(biāo)準(zhǔn)圖像進(jìn)行差值相減處理，根據(jù)檢查條件進(jìn)行篩選，從而檢查缺陷點(diǎn)，采用本檢查方法無(wú)需進(jìn)行多次重復(fù)計(jì)算，可以快速檢測(cè)出等離子顯示屏上的圖形缺陷，同時(shí)，對(duì)于傳統(tǒng)方法無(wú)法檢查的非周期性圖形部分，采用本方法也可以進(jìn)行缺陷檢查。
文檔編號(hào)H01J9/42GK1801433SQ20061004164
公開日2006年7月12日 申請(qǐng)日期2006年1月11日 優(yōu)先權(quán)日2006年1月11日
發(fā)明者陳超 申請(qǐng)人:彩虹集團(tuán)電子股份有限公司