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      一種電化學(xué)機(jī)械拋光設(shè)備的制作方法

      文檔序號(hào):40275994發(fā)布日期:2024-12-11 13:10閱讀:11來源:國知局
      一種電化學(xué)機(jī)械拋光設(shè)備的制作方法

      本發(fā)明屬于半導(dǎo)體制造,具體涉及一種電化學(xué)機(jī)械拋光設(shè)備。


      背景技術(shù):

      1、碳化硅(sic)作為第三代半導(dǎo)體材料的代表,是一種綜合性能優(yōu)異的半導(dǎo)體材料,具有高熱導(dǎo)率、高臨界擊穿電場、高飽和電子漂移速率、高鍵合能、寬禁帶燈特點(diǎn),是高頻、高溫、大功率、抗輻照電子器件及傳感器件的優(yōu)選材料,在航空、航天、雷達(dá)、通信領(lǐng)域具有重要應(yīng)用前景。

      2、本實(shí)由于碳化硅晶體本身的高硬度、高脆性、高穩(wěn)定性等特點(diǎn),使得碳化硅晶圓拋光效率難以保證,而傳統(tǒng)的化學(xué)機(jī)械拋光技術(shù)由于拋光壓力較大,晶圓易發(fā)生變形,從而導(dǎo)致晶圓表面損傷,且晶圓拋光效率低。


      技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

      1、本發(fā)明實(shí)施例提供一種電化學(xué)機(jī)械拋光設(shè)備,旨在解決傳統(tǒng)的化學(xué)機(jī)械拋光技術(shù)由于拋光壓力大,晶圓易發(fā)生變形,從而導(dǎo)致晶圓表面損傷,且晶圓的拋光效率低的技術(shù)問題。

      2、為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:提供一種電化學(xué)機(jī)械拋光設(shè)備,包括:

      3、拋光臺(tái),頂部凹陷形成凹槽;

      4、拋光組件,包括位于上方的拋光墊和位于下方的陰極板,所述拋光墊和所述陰極板均位于所述凹槽內(nèi),且所述拋光墊的頂面低于所述拋光臺(tái)的頂面;

      5、拋光頭,位于所述拋光臺(tái)的上方,所述拋光頭用于吸附晶圓;

      6、電源,負(fù)極與所述陰極板電連接;

      7、其中,所述拋光臺(tái)的外表面、所述凹槽的內(nèi)表面、所述拋光頭的外表面均設(shè)有絕緣層,所述凹槽內(nèi)盛裝有沒過晶圓的電解液,所述電源的陽極與晶圓電連接,所述拋光臺(tái)帶動(dòng)所述拋光組件旋轉(zhuǎn)的同時(shí),所述拋光頭吸附晶圓抵接于拋光墊并帶動(dòng)晶圓旋轉(zhuǎn),以實(shí)現(xiàn)晶圓的拋光。

      8、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述拋光臺(tái)包括:

      9、第一電機(jī);

      10、下盤,與所述第一電機(jī)的輸出軸固定連接;

      11、上盤,同軸設(shè)于所述下盤的頂部;

      12、其中,所述凹槽位于所述上盤。

      13、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述上盤和所述下盤均設(shè)有沿上下方向貫穿的通孔,且兩個(gè)所述通孔的軸向重合,所述上盤的通孔內(nèi)還設(shè)有導(dǎo)電件,所述導(dǎo)電件的頂端與所述陰極板導(dǎo)電接觸,所述電源負(fù)極的導(dǎo)線貫穿所述下盤的通孔與所述導(dǎo)電件的底端電連接。

      14、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述導(dǎo)電件的頂端設(shè)有用于與所述陰極板導(dǎo)電接觸的導(dǎo)電凸起;或者,所述陰極板上連接有導(dǎo)電螺栓,所述導(dǎo)電件的頂端設(shè)有與所述導(dǎo)電螺栓配合的內(nèi)螺紋孔。

      15、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述導(dǎo)電件包括:

      16、導(dǎo)電棒;

      17、絕緣套,套設(shè)于所述導(dǎo)電棒的外周。

      18、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述陰極板的頂面設(shè)有凹陷的第一沉孔,所述第一沉孔用于容納所述導(dǎo)電螺栓的頭部;

      19、所述上盤的底面設(shè)有與所述上盤的通孔同軸的第二沉孔,所述導(dǎo)電件的底部設(shè)有位于所述第二沉孔內(nèi)的底盤;

      20、所述第一沉孔和所述導(dǎo)電螺栓之間、所述第二沉孔和所述底盤之間均設(shè)有密封圈。

      21、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述電化學(xué)機(jī)械拋光設(shè)備還包括:

      22、冷卻水道,設(shè)于所述拋光臺(tái)內(nèi),所述冷卻水道與外界的冷卻水源連通,所述冷卻水道用于對(duì)拋光組件進(jìn)行降溫。

      23、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述電化學(xué)機(jī)械拋光設(shè)備還包括補(bǔ)液管,所述補(bǔ)液管用于向晶圓外周的拋光墊上噴淋電解液。

      24、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述電化學(xué)機(jī)械拋光設(shè)備還包括修整組件,所述修整組件包括:

      25、第一驅(qū)動(dòng)件;

      26、第二驅(qū)動(dòng)件;

      27、研磨頭,分別與所述第一驅(qū)動(dòng)件和所述第二驅(qū)動(dòng)件傳動(dòng)連接,所述研磨頭用于抵接至所述拋光墊的頂面;

      28、其中,所述第一驅(qū)動(dòng)件用于帶動(dòng)研磨頭旋轉(zhuǎn),所述第二驅(qū)動(dòng)件用于帶動(dòng)研磨頭上下移動(dòng)。

      29、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述拋光頭上還設(shè)有:

      30、第三驅(qū)動(dòng)件,具有可轉(zhuǎn)動(dòng)的擺桿;

      31、升降模組,設(shè)于所述擺桿的端部,所述升降模組具有可上下移動(dòng)的升降部;

      32、第二電機(jī),固接于所述升降部,所述第二電機(jī)的輸出軸與所述拋光頭固接;

      33、其中,所述擺桿用于帶動(dòng)所述拋光頭靠近或遠(yuǎn)離所述拋光臺(tái)的中心移動(dòng)。

      34、本申請(qǐng)實(shí)施例所示的方案,與現(xiàn)有技術(shù)相比,在拋光的過程中,晶圓連接電源的正極作為陽極,陰極板連接電源的負(fù)極作為陰極,電解液作為介質(zhì)起催化作用,電化學(xué)作用發(fā)生在晶圓與電解液接觸的表面,使得晶圓表面生成氧化物,隨后被拋光墊打磨平整,因?yàn)榫A表面的氧化物的生成主要依靠電化學(xué)作用,故調(diào)節(jié)拋光頭的壓力時(shí)可以比傳統(tǒng)的拋光壓力小,減小晶圓的變形和表面損傷,提高晶圓的拋光質(zhì)量;電源的負(fù)極只與陰極板導(dǎo)電連接,正極只與晶圓導(dǎo)電連接,通過在拋光臺(tái)的外表面、凹槽的內(nèi)表面、拋光頭的外表面設(shè)置絕緣層,可避免設(shè)備整體帶電,提高使用的安全性。



      技術(shù)特征:

      1.一種電化學(xué)機(jī)械拋光設(shè)備,其特征在于,包括:

      2.如權(quán)利要求1所述的電化學(xué)機(jī)械拋光設(shè)備,其特征在于,所述拋光臺(tái)包括:

      3.如權(quán)利要求2所述的電化學(xué)機(jī)械拋光設(shè)備,其特征在于,所述上盤和所述下盤均設(shè)有沿上下方向貫穿的通孔,且兩個(gè)所述通孔的軸向重合,所述上盤的通孔內(nèi)還設(shè)有導(dǎo)電件,所述導(dǎo)電件的頂端與所述陰極板導(dǎo)電接觸,所述電源負(fù)極的導(dǎo)線貫穿所述下盤的通孔與所述導(dǎo)電件的底端電連接。

      4.如權(quán)利要求3所述的電化學(xué)機(jī)械拋光設(shè)備,其特征在于,所述導(dǎo)電件的頂端設(shè)有用于與所述陰極板導(dǎo)電接觸的導(dǎo)電凸起;或者,所述陰極板上連接有導(dǎo)電螺栓,所述導(dǎo)電件的頂端設(shè)有與所述導(dǎo)電螺栓配合的內(nèi)螺紋孔。

      5.如權(quán)利要求3或4所述的電化學(xué)機(jī)械拋光設(shè)備,其特征在于,所述導(dǎo)電件包括:

      6.如權(quán)利要求4所述的電化學(xué)機(jī)械拋光設(shè)備,其特征在于,所述陰極板的頂面設(shè)有凹陷的第一沉孔,所述第一沉孔用于容納所述導(dǎo)電螺栓的頭部;

      7.如權(quán)利要求1所述的電化學(xué)機(jī)械拋光設(shè)備,其特征在于,所述電化學(xué)機(jī)械拋光設(shè)備還包括:

      8.如權(quán)利要求1所述的電化學(xué)機(jī)械拋光設(shè)備,其特征在于,所述電化學(xué)機(jī)械拋光設(shè)備還包括補(bǔ)液管,所述補(bǔ)液管用于向晶圓外周的拋光墊上噴淋電解液。

      9.如權(quán)利要求1所述的電化學(xué)機(jī)械拋光設(shè)備,其特征在于,所述電化學(xué)機(jī)械拋光設(shè)備還包括修整組件,所述修整組件包括:

      10.如權(quán)利要求1所述的電化學(xué)機(jī)械拋光設(shè)備,其特征在于,所述拋光頭上還設(shè)有:


      技術(shù)總結(jié)
      本發(fā)明提供了一種電化學(xué)機(jī)械拋光設(shè)備,屬于半導(dǎo)體制造技術(shù)領(lǐng)域,所述電化學(xué)機(jī)械拋光設(shè)備包括拋光臺(tái)、拋光組件、拋光頭以及電源,所述拋光臺(tái)頂部凹陷形成凹槽;所述拋光組件包括位于上方的拋光墊和位于下方的陰極板,所述拋光墊和所述陰極板均位于所述凹槽內(nèi),且所述拋光墊的頂面低于所述拋光臺(tái)的頂面;所述拋光頭位于所述拋光臺(tái)的上方,所述拋光頭用于吸附晶圓;所述電源負(fù)極與所述陰極板電連接;其中,所述拋光臺(tái)的外表面、所述凹槽的內(nèi)表面、所述拋光頭的外表面均設(shè)有絕緣層,所述凹槽內(nèi)盛裝有沒過晶圓的電解液,所述電源的陽極與晶圓電連接,所述拋光臺(tái)帶動(dòng)所述拋光組件旋轉(zhuǎn)的同時(shí),所述拋光頭吸附晶圓抵接于拋光墊并帶動(dòng)晶圓旋轉(zhuǎn)。

      技術(shù)研發(fā)人員:吳尚東,史霄,劉福強(qiáng),尹影,李婷
      受保護(hù)的技術(shù)使用者:北京晶亦精微科技股份有限公司
      技術(shù)研發(fā)日:
      技術(shù)公布日:2024/12/10
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