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      加熱器的制備工藝的制作方法

      文檔序號:8938185閱讀:923來源:國知局
      加熱器的制備工藝的制作方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及一種加熱器的制備工藝,屬于加熱器制備領(lǐng)域。
      【背景技術(shù)】
      [0002]半導(dǎo)體工藝通常需要在較高的溫度范圍內(nèi)進行,而加熱器是實現(xiàn)所需工藝溫度的關(guān)鍵器件。以CVD為例,加熱器通常位于載盤的下方。通過給加熱器輸入功率,加熱器發(fā)熱所產(chǎn)生的熱量傳輸?shù)捷d盤,使得其達到所需的工藝溫度。在這些應(yīng)用中,加熱器和載盤通常沒有直接的接觸,所以傳熱方式以輻射和氣流對流為主,在高溫的時候更主要通過輻射的方式對載盤等部件進行加熱。加熱器中的發(fā)熱體部分通常由片狀、棒狀或絞絲狀的具有一定電阻的材料構(gòu)成。通過給發(fā)熱體通電,使發(fā)熱體達到較高的溫度,呈現(xiàn)紅熱狀態(tài),產(chǎn)生熱量向外輻射。發(fā)熱體熱輻射能力的高低對加熱器的整體效率最為重要。
      [0003]發(fā)熱體的熱輻射能力以熱發(fā)射率來表征。物體的熱發(fā)射率在O到I之間,熱發(fā)射率越高越接近1,發(fā)射率越低越接近O。物體的熱發(fā)射率的大小由其材料和表面形貌等因素決定。已有的提高加熱器發(fā)熱體熱發(fā)射率的方法包括給發(fā)熱體主體材料表面覆蓋一層具有更高熱輻射率的材料。但是這種方法通常需要使用昂貴的鍍膜設(shè)備。并且所覆蓋材料在主體材料上的粘附能力通常不佳。由于主體材料和所鍍材料常常存在熱膨脹系數(shù)的差異,在加熱器使用的過程中容易造成鍍層的開裂和脫落。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0004]本發(fā)明針對現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述問題而提供了一種提高加熱體熱發(fā)射率的方法。通過將掩模和刻蝕相結(jié)合的方法提高加熱體的表面積,以達到提高加熱體熱發(fā)射率的目的。
      [0005]本發(fā)明技術(shù)方案,包括以下步驟:
      a、在加熱體表面涂敷掩模;
      b、去除加熱體表面積10%?90%的掩模,
      C、刻蝕加熱體暴露表面,形成具有刻蝕深度的圖案; d、去除加熱體表面剩余掩模。
      [0006]與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的有益效果是:不需要使用鍍膜工藝和設(shè)備,降低了生產(chǎn)成本;避免了鍍膜的黏附性較差,鍍膜與加熱體主體材料熱膨脹系數(shù)通常存在差異的問題;采用掩模與刻蝕相結(jié)合的方法來增加加熱器的表面積,提高了加熱體發(fā)熱能力,且散熱效果良好,有效地提高了產(chǎn)品的使用壽命和使用溫度范圍;同時,通過選擇合適的掩模去除比例,可以準(zhǔn)確地控制刻蝕時暴露表面的大小,有利于嚴(yán)格控制刻蝕后發(fā)熱體熱發(fā)射率的大小,提尚了廣品性能的穩(wěn)定性。
      [0007]本發(fā)明優(yōu)選方案:
      所述掩模為光刻膠或懸濁液固體顆粒。
      [0008]所述掩模涂敷厚度為0.3?1.5微米。
      [0009]步驟b中,采用曝光顯影光刻膠的方式去除掩模。
      [0010]所述懸濁液中的固體顆粒粒徑為I?300微米。
      [0011]所述懸濁液中的液體成分通過揮發(fā)去除,固體顆粒覆蓋加熱體的表面。
      [0012]步驟c中,采用等離子體干法刻蝕或化學(xué)溶液濕法刻蝕加熱體暴露的表面,增加加熱體的表面積。
      [0013]通過干法或濕法去膠去除加熱體表面的光刻膠。
      [0014]步驟d中,通過在溶液中超聲清洗被刻蝕后的加熱體,去除加熱體表面的固體顆粒。
      [0015]所述刻蝕深度在I?10微米,最大深度不得超過壁厚的20%。
      【附圖說明】
      [0016]圖1是加熱體上涂有光刻膠的示意圖(主視剖面圖)。
      [0017]圖2是加熱體上將光刻膠去除一部分的示意圖。
      [0018]圖3是對加熱體進行刻蝕后的結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0019]圖4是最后廣品的結(jié)構(gòu)不意圖。
      [0020]圖5是將加熱體上涂有懸濁液的示意圖。
      [0021]圖6是懸濁液揮發(fā)后的示意圖。
      [0022]圖7是對加熱體進行刻蝕的結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0023]圖8是去除固體顆粒后的最后廣品的結(jié)構(gòu)不意圖。
      具體實施例
      [0024]下面結(jié)合實施例及其附圖對本發(fā)明作進一步說明。
      [0025]以下實施例中均以鎢加熱體為例。
      [0026]實施例1
      本實施例,參見附圖1至附圖4,光刻膠1,加熱體2。
      [0027]—種加熱器的制備工藝,按照如下步驟實施:
      通過旋轉(zhuǎn)涂膠的方式將正性光刻膠I涂敷在鎢加熱體2的上表面,光刻膠I的厚度在I微米。
      [0028]采用曝光顯影光刻膠的方式按規(guī)律以去除部分光刻膠I,暴露部分區(qū)域的鎢加熱體2表面,如圖所示,形成棋盤狀圖形。
      [0029]使用質(zhì)量濃度為10%硝酸溶液濕法刻蝕方法,對加熱體2暴露區(qū)域進行刻蝕,刻蝕深度在1.5微米,產(chǎn)生的圖形橫向特征尺寸在I微米,可形成棋盤狀的圖形(從俯視圖上看是棋盤狀的,是為了增加刻蝕面積而設(shè)置的橫縱交錯的結(jié)構(gòu)形式)。
      [0030]刻蝕結(jié)束后,可使用光刻膠剝離液(剝離液有多很種,其中一種是硫酸、雙氧水和水的混合液)去除加熱體2表面覆蓋的光刻膠I。
      [0031]實施例2:
      本實施例,參見附圖1至附圖4,光刻膠1,加熱體2。
      [0032]—種加熱器的制備工藝,按照如下步驟實施:
      通過旋轉(zhuǎn)涂膠的方式將負(fù)性光刻膠I涂敷在鎢加熱體2表面,光刻膠I的厚度在1.5微米。
      [0033]采用曝光顯影光刻膠的方式以去除部分光刻膠1,暴露部分區(qū)域的鎢加熱體2表面,形成棋盤狀圖形。
      [0034]使用質(zhì)量濃度10%硝酸溶液濕法刻蝕方法,對加熱體2暴露區(qū)域進行刻蝕,刻蝕深度在3微米,產(chǎn)生的圖形橫向特征尺寸在10微米,可形成如圖3所示的棋盤狀的圖形。
      [0035]刻蝕結(jié)束后,可使用紫外光/臭氧干法去除加熱體2表面覆蓋的光刻膠I。
      [0036]實施例3
      本實施例,參見附圖5至附圖8,懸濁液1,加熱體2,固體顆粒3、容器4。
      [0037]—種加熱器的制備工藝,按照如下步驟實施:
      選擇固液體積比為20%的懸濁液1,其固體顆粒3可以是單分散二氧化硅微球,顆粒粒徑在I?300微米之間,采用旋涂的方式將懸濁液均勻地涂敷在鎢加熱體2的表面,加熱體2置于容器4中。
      [0038]在懸濁液I液體成分揮發(fā)后,可以將加熱體2從容器4取出,利于下一步對加熱體的暴露區(qū)域進行刻蝕;固體顆粒3即可覆蓋加熱體2的部分表面,被覆蓋部分固體顆粒的厚度為0.3?1.5微米。
      [0039]使用SF6氣體等離子體干法刻蝕,對加熱體2暴露區(qū)域進行刻蝕,刻蝕深度在3?7微米,產(chǎn)生的圖形橫向特征尺寸在I?500微米之間。
      [0040]刻蝕結(jié)束后,在凈水中超聲清洗被刻蝕后的加熱體2,去除殘留在加熱體2表面的固體顆粒3。
      [0041]實施例4
      本實施例,參見附圖5至附圖8,懸濁液1,加熱體2,固體顆粒3、容器4。
      [0042]—種加熱器的制備工藝,按照如下步驟實施:
      選擇固液體積比為30%的懸濁液1,其固體顆粒3可以是單分散二氧化硅微球,顆粒粒徑在I?300微米之間,采用旋涂的方式將懸濁液均勻地涂敷在鎢加熱體2的表面,加熱體2置于容器4中。
      [0043]在懸濁液I液體成分揮發(fā)后,可以將加熱體2從容器4取出,利于下一步對加熱體的暴露區(qū)域進行刻蝕;固體顆粒3即可覆蓋加熱體2的部分表面,被覆蓋部分固體顆粒的厚度為0.3?1.5微米。
      [0044]使用SF6氣體等離子體干法刻蝕,對加熱體2暴露區(qū)域進行刻蝕,刻蝕深度在3?8微米,產(chǎn)生的圖形橫向特征尺寸在I?500微米之間。
      [0045]刻蝕結(jié)束后,在凈水中超聲清洗被刻蝕后的加熱體2,去除殘留在加熱體2表面的固體顆粒3。
      [0046]實施例5
      本實施例,參見附圖5至附圖8,懸濁液1,加熱體2,固體顆粒3、容器4。
      [0047]—種加熱器的制備工藝,按照如下步驟實施:
      選擇固液體積比為35%懸濁液1,其固體顆粒3可以是單分散三氧化二鋁微球,顆粒粒徑在I?300微米之間,采用旋涂的方式將懸濁液均勻地涂敷在鎢加熱體2的表面,加熱體2置于容器4中。
      [0048]在懸濁液I液體成分揮發(fā)后,可以將加熱體2從容器4取出,利于下一步對加熱體的暴露區(qū)域進行刻蝕;固體顆粒3即可覆蓋加熱體2的部分表面,被覆蓋部分固體顆粒的厚度為0.3?1.5微米。
      [0049]使用SF6氣體等離子體干法刻蝕,對加熱體2暴露區(qū)域進行刻蝕,刻蝕深度在5?10微米,產(chǎn)生的圖形橫向特征尺寸在I?500微米之間。
      [0050]刻蝕結(jié)束后,在凈水中超聲清洗被刻蝕后的加熱體2,去除殘留在加熱體2表面的固體顆粒3。
      【主權(quán)項】
      1.一種加熱器的制備工藝,包括以下步驟: a、在加熱體表面涂敷掩模; b、去除加熱體表面積10%?90%的掩模; C、刻蝕加熱體暴露表面,形成具有刻蝕深度的圖案; d、去除加熱體表面剩余掩模。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的加熱器的制備工藝,其特征在于,所述掩模為光刻膠或懸濁液固體顆粒。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的加熱器的制備工藝,其特征在于,所述掩模涂敷厚度為0.3?1.5微米。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的加熱器的制備工藝,其特征在于,步驟b中,采用曝光顯影光刻膠的方式去除掩模。5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的加熱器的制備工藝,其特征在于,所述懸濁液中的固體顆粒粒徑為I?300微米。6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的加熱器的制備工藝,其特征在于,所述懸濁液中的液體成分通過揮發(fā)去除,固體顆粒覆蓋加熱體的表面。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的加熱器的制備工藝,其特征在于,步驟c中,采用等離子體干法刻蝕或化學(xué)溶液濕法刻蝕加熱體暴露的表面,增加加熱體的表面積。8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的加熱器的制備工藝,其特征在于,通過干法或濕法去膠去除加熱體表面的光刻膠。9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的加熱器的制備工藝,其特征在于,步驟d中,通過在溶液中超聲清洗被刻蝕后的加熱體,去除加熱體表面的固體顆粒。10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的加熱器的制備工藝,其特征在于,所述刻蝕深度在I?10微米,最大深度不得超過壁厚的20%。
      【專利摘要】本發(fā)明涉及一種加熱器的制備工藝,屬于加熱器制備領(lǐng)域。該制備工藝,包括以下步驟:在加熱體表面涂敷掩模;去除加熱體表面部分掩模;刻蝕加熱體暴露表面,形成一定的刻蝕深度;去除加熱體表面剩余掩模。本發(fā)明的有益效果是:降低了生產(chǎn)成本;提高了加熱體發(fā)熱能力,且散熱效果良好,提高了產(chǎn)品的使用壽命和使用溫度范圍;同時,通過選擇合適的掩模去除比例,可以準(zhǔn)確地控制刻蝕時暴露表面的大小,有利于嚴(yán)格控制刻蝕后發(fā)熱體熱發(fā)射率的大小,提高了產(chǎn)品性能的穩(wěn)定性。
      【IPC分類】C23C16/46
      【公開號】CN105154855
      【申請?zhí)枴緾N201510619326
      【發(fā)明人】黎靜, 田青林, 黎子蘭
      【申請人】唐山實為半導(dǎo)體科技有限公司
      【公開日】2015年12月16日
      【申請日】2015年9月25日
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