新的化合物半導(dǎo)體及其用途
【專利摘要】本發(fā)明公開了可用于太陽能電池或用作熱電材料的新型化合物半導(dǎo)體及其用途。本發(fā)明的化合物半導(dǎo)體可以由如下化學(xué)式1表示：[化學(xué)式1]InxMyCo4-m-aAmSb12-n-z-bXnQz，其中M為選自Ca、Sr、Ba、Ti、V、Cr、Mn、Cu、Zn、Ag、Cd、Sc、Y、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb和Lu中的至少一種，A為選自Fe、Ni、Ru、Rh、Pd、Ir和Pt中的至少一種，X為選自Si、Ga、Ge和Sn中的至少一種，Q為選自O(shè)、S、Se和Te中的至少一種，0<x<1，0≤y<1，0≤m≤1，0≤a≤1，0≤n<9，0≤z≤4，0≤b≤3，0<n+z+b。
【專利說明】新的化合物半導(dǎo)體及其用途
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本公開內(nèi)容涉及一種可用于太陽能電池或用作熱電材料的新型化合物半導(dǎo)體材料，以及該材料的制備方法和用途。
[0002]本申請(qǐng)要求在韓國于2011年5月13日提交的韓國專利申請(qǐng)N0.10-2011-0045348、于 2011 年 5 月 13 日提交的韓國專利申請(qǐng) N0.10-2011-0045349、于2011年5月25日提交的韓國專利申請(qǐng)N0.10-2011-0049609和于2012年5月11日提交的韓國專利申請(qǐng)N0.10-2012-0050460的優(yōu)先權(quán)，這些專利申請(qǐng)的全部內(nèi)容通過引用并入本說明書中。
【背景技術(shù)】
[0003]化合物半導(dǎo)體并非例如硅和鍺的單一元素，而是含有兩種或更多種復(fù)合元素用作半導(dǎo)體的化合物。多種化合物半導(dǎo)體已經(jīng)被開發(fā)出并使用于許多領(lǐng)域中。例如，化合物半導(dǎo)體可以用于利用Peltier效應(yīng)的熱電轉(zhuǎn)換裝置、利用光電轉(zhuǎn)換效應(yīng)的發(fā)光裝置(如發(fā)光二極管和激光二極管)或者太陽能電池等。
[0004]在這些用途中，熱電轉(zhuǎn)換裝置可以應(yīng)用于熱電轉(zhuǎn)換發(fā)電或熱電轉(zhuǎn)換冷卻等。此處，在熱電轉(zhuǎn)換發(fā)電中，利用向熱電轉(zhuǎn)換裝置施加溫度差所產(chǎn)生的溫差電動(dòng)勢來進(jìn)行熱能向電能的轉(zhuǎn)換。
[0005]熱電轉(zhuǎn)換裝置的能量轉(zhuǎn)換效率取決于熱電轉(zhuǎn)換材料的性能指標(biāo)ZT。此處，ZT根據(jù)Seebeck系數(shù)、電導(dǎo)率、熱導(dǎo)率等來確定。更詳細(xì)而言，ZT與Seebeck系數(shù)的平方和電導(dǎo)率成正比，與熱導(dǎo)率成反比。因此， 為了增強(qiáng)熱電轉(zhuǎn)換裝置的能量轉(zhuǎn)換效率，需要開發(fā)出具有高Seebeck系數(shù)、高電導(dǎo)率或低熱導(dǎo)率的熱電轉(zhuǎn)換材料。
[0006]同時(shí)，太陽能電池由于其無需太陽光線以外的能源而具有環(huán)境友好的性質(zhì)，因此作為未來替代能源正在被積極地研究。太陽能電池通?？梢苑诸悶?利用單一硅元素的硅太陽能電池，利用化合物半導(dǎo)體的化合物半導(dǎo)體太陽能電池，以及堆疊有至少兩個(gè)具有不同帶隙能的太陽能電池的串聯(lián)太陽能電池。
[0007]在這些太陽能電池中，化合物半導(dǎo)體太陽能電池在吸收太陽光線并產(chǎn)生電子-空穴對(duì)的光吸收層中使用化合物半導(dǎo)體，并且特別可以使用II1-V族中的化合物半導(dǎo)體如GaAs、InP、GaAlAs和GalnAs，I1-VI族中的化合物半導(dǎo)體如CdS、CdTe和ZnS，以及由CuInSe2表示的1-1I1-VI族中的化合物半導(dǎo)體。
[0008]太陽能電池的光吸收層要求優(yōu)異的長期電、光穩(wěn)定性和較高的光電轉(zhuǎn)換效率，并且易于通過改變組成或摻雜而對(duì)帶隙能或傳導(dǎo)率進(jìn)行控制。另外，例如生產(chǎn)成本和產(chǎn)量的條件也應(yīng)滿足實(shí)際應(yīng)用的需要。然而，許多常規(guī)的化合物半導(dǎo)體無法同時(shí)滿足所有這些條件。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0009]技術(shù)問題[0010]本公開內(nèi)容旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中的問題，因此，本公開內(nèi)容的目的在于提供一種新型化合物半導(dǎo)體材料、該化合物半導(dǎo)體材料的制備方法以及使用該化合物半導(dǎo)體材料的熱電轉(zhuǎn)換裝置或太陽能電池，所述化合物半導(dǎo)體材料可以以多種方式用于熱電轉(zhuǎn)換裝置的熱電轉(zhuǎn)換材料、太陽能電池等。
[0011]本公開內(nèi)容的其它目的和優(yōu)勢將從下面的描述中得到理解，并通過本公開內(nèi)容的實(shí)施方案而變得顯而易見。另外，應(yīng)該理解，本公開內(nèi)容的目的和優(yōu)勢可以通過所附權(quán)利要求書中限定的組分或其組合而加以實(shí)現(xiàn)。
[0012]技術(shù)方案
[0013]一方面，在對(duì)化合物半導(dǎo)體進(jìn)行反復(fù)研究后，本公開內(nèi)容的發(fā)明人成功地合成了由化學(xué)式I表示的化合物半導(dǎo)體，并發(fā)現(xiàn)該化合物可以用于熱電轉(zhuǎn)換裝置的熱電轉(zhuǎn)換材料或太陽能電池的光吸收層。
[0014]化學(xué)式I
[0015]InxMyCo4言人Sb12_n_z_bXnQz
[0016]其中，M為選自 Ca、Sr、Ba、T1、V、Cr、Mn、Cu、Zn、Ag、Cd、Sc、Y、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb 和 Lu 中的至少一種，A 為選自 Fe、N1、Ru、Rh、Pd、Ir 和 Pt 中的至少一種，X為選自S1、Ga、Ge和Sn中的至少一種，Q為選自O(shè)、S、Se和Te中的至少一種，0〈χ〈1，O ^ y<l, O ^ m ^ I, O ^ a ^ 1,0^ n<9,0 ^z^4,0^b^ 3，0〈n+z+b。
[0017]優(yōu)選地，在化學(xué)式I中，0〈x+y ( I。
[0018]還優(yōu)選地，在化學(xué)式I中，0〈n+z+b ( 9。
[0019]還優(yōu)選地，在化學(xué)式I中，0〈x < 0.5。
[0020]還優(yōu)選地，在化學(xué)式I中，0〈z≤2。
[0021]另一方面，本公開內(nèi)容也提供一種化合物半導(dǎo)體的制備方法，其包括:形成含有In和Co的混合物；以及熱處理該混合物，從而制備由化學(xué)式I表示的化合物半導(dǎo)體。
[0022]優(yōu)選地，所述混合物還含有選自O(shè)、S、Se、Te、In的氧化物和Co的氧化物中的至少一種。
[0023]并且優(yōu)選地，所述混合物還含有選自Ca、Sr、Ba、T1、V、Cr、Mn、Cu、Zn、Ag、Cd、Sc、Y、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu 及其氧化物中的至少一種。
[0024]并且優(yōu)選地，所述混合物還含有選自Fe、N1、Ru、Rh、Pd、Ir、Pt及其氧化物中的至少一種。
[0025]并且優(yōu)選地，所述混合物還含有Sb。
[0026]并且優(yōu)選地，所述混合物還含有選自S1、Ga、Ge、Sn及其氧化物中的至少一種。
[0027]優(yōu)選地，在所述化合物半導(dǎo)體的制備方法中，所述熱處理步驟在400°C至800°C下進(jìn)行。
[0028]并且優(yōu)選地，所述熱處理步驟包括至少兩個(gè)熱處理階段。
[0029]另一方面，本公開內(nèi)容還提供一種熱電轉(zhuǎn)換裝置，其包括上述化合物半導(dǎo)體。
[0030]另一方面，本公開內(nèi)容還提供一種太陽能電池，其包括上述化合物半導(dǎo)體。
[0031]有益效果
[0032]根據(jù)本公開內(nèi)容，提供一種新型化合物半導(dǎo)體材料。
[0033]一方面，所述新型化合物半導(dǎo)體可以替代常規(guī)化合物半導(dǎo)體，或除常規(guī)化合物半導(dǎo)體外該新型化合物半導(dǎo)體也可用作另一種材料。[0034]此外，在本公開內(nèi)容的一方面中，由于所述化合物半導(dǎo)體具有良好的熱電轉(zhuǎn)換性能，因此其可以用于熱電轉(zhuǎn)換裝置。特別是，本公開內(nèi)容的化合物半導(dǎo)體具有較低的熱導(dǎo)率和較高的電導(dǎo)率。故而本公開內(nèi)容的化合物半導(dǎo)體可以具有增大的ZT值(熱電性能指數(shù))。因此，本公開內(nèi)容的化合物半導(dǎo)體可以合適地用作熱電轉(zhuǎn)換裝置的熱電轉(zhuǎn)換材料。
[0035]另外，在本公開內(nèi)容的另一方面中，所述化合物半導(dǎo)體可以用于太陽能電池。特別是，本公開內(nèi)容的化合物半導(dǎo)體可以用作太陽能電池的光吸收層。
[0036]此外，在本公開內(nèi)容的另一方面中，所述化合物半導(dǎo)體可以用于選擇性透過IR線的IR窗或IR傳感器、磁性裝置、存儲(chǔ)器等。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0037]參照附圖對(duì)實(shí)施方案進(jìn)行下面的描述，將使本公開內(nèi)容的其它目的和方面變得顯而易見，其中:
[0038]圖1為顯示了根據(jù)本公開內(nèi)容的實(shí)施例1至4和比較例的化合物半導(dǎo)體的熱導(dǎo)率值隨溫度變化的曲線圖；
[0039]圖2為顯示了根據(jù)本公開內(nèi)容的實(shí)施例1至4和比較例的化合物半導(dǎo)體的ZT值隨溫度變化的曲線圖；
[0040]圖3為顯示了根據(jù)本公開內(nèi)容的實(shí)施例5至7和比較例的化合物半導(dǎo)體的電導(dǎo)率值隨溫度變化的曲線圖；
[0041]圖4為顯示了根據(jù)本公開內(nèi)容的實(shí)施例5至7和比較例的化合物半導(dǎo)體的熱導(dǎo)率值隨溫度變化的曲線圖；
[0042]圖5為顯示了根據(jù)本公開內(nèi)容的實(shí)施例5至7和比較例的化合物半導(dǎo)體的ZT值隨溫度變化的曲線圖；
[0043]圖6為顯示了根據(jù)本公開內(nèi)容的實(shí)施例8和比較例的化合物半導(dǎo)體的電導(dǎo)率值隨溫度變化的曲線圖；
[0044]圖7為顯示了根據(jù)本公開內(nèi)容的實(shí)施例8和比較例的化合物半導(dǎo)體的功率因數(shù)值隨溫度變化的曲線圖；
[0045]圖8為顯示了根據(jù)本公開內(nèi)容的實(shí)施例9和10以及比較例的化合物半導(dǎo)體的熱擴(kuò)散系數(shù)值隨溫度變化的曲線圖；
[0046]圖9至17為顯示了根據(jù)本公開內(nèi)容的實(shí)施例11至19和比較例的化合物半導(dǎo)體的熱導(dǎo)率值隨溫度變化的曲線圖。
【具體實(shí)施方式】
[0047]在下文中，將參照附圖詳細(xì)地描述本公開內(nèi)容的優(yōu)選實(shí)施方案。在進(jìn)行描述之前，應(yīng)該理解，在本說明書和所附權(quán)利要求書中使用的術(shù)語不應(yīng)解釋為限于普通及字典釋義，而應(yīng)在允許發(fā)明人定義術(shù)語的原則的基礎(chǔ)上，基于與本公開內(nèi)容的技術(shù)方面相對(duì)應(yīng)的含義和概念來進(jìn)行解釋。
[0048]因此，在此處所提出的描述僅為用于舉例說明目的的優(yōu)選實(shí)施例，而并非用來限制本公開內(nèi)容的范圍，因此應(yīng)當(dāng)理解，在不背離本公開內(nèi)容的精神和范圍的情況下，可以對(duì)其做出其它的等效替換和修改。
[0049]本公開內(nèi)容提供一種由下面化學(xué)式I表示的新型化合物半導(dǎo)體。
[0050]化學(xué)式I
[0051 ] InxMyCo4言人Sb12_n_z_bXnQz
[0052]其中，M為選自 Ca、Sr、Ba、T1、V、Cr、Mn、Cu、Zn、Ag、Cd、Sc、Y、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb 和 Lu 中的至少一種，A 為選自 Fe、N1、Ru、Rh、Pd、Ir 和 Pt 中的至少一種，X為選自S1、Ga、Ge和Sn中的至少一種，Q為選自O(shè)、S、Se和Te中的至少一種，0〈χ〈1，O ≤y<l, O ≤m ≤I, O ≤a ≤1,0≤n<9,0 ^z^4,0^b≤3，0〈n+z+b。
[0053]優(yōu)選地，在化學(xué)式I中，0≤m≤0.5。
[0054]還優(yōu)選地，在化學(xué)式I中，O≤a≤0.5。
[0055]還優(yōu)選地，在化學(xué)式I中，O≤b≤0.5。
[0056]還優(yōu)選地，在化學(xué)式I中，0〈x+y ≤I。
[0057]還優(yōu)選地，在化學(xué)式I中，0〈n+z+b ≤9。
[0058]更優(yōu)選地，在化學(xué)式I中，0〈n+z+b ≤5。
[0059]最優(yōu)選地，在化學(xué)式I中，0〈n+z+b ≤3。
[0060]還優(yōu)選地，在化學(xué)式I中，0〈x≤ 0.5。
[0061]更優(yōu)選地，在化學(xué)式I中，0〈x≤ 0.25。
[0062]還優(yōu)選地，在化學(xué)式I中，0〈z≤2。
[0063]同時(shí)，由化學(xué)式I表示的化合物半導(dǎo)體可以包含第二相，且所述第二相的量可以根據(jù)熱處理?xiàng)l件而變化。
[0064]上述化合物半導(dǎo)體可以通過如下方法制備，包括:形成含有In和Co的混合物；和熱處理該混合物，由此制備由化學(xué)式I表示的化合物半導(dǎo)體。
[0065]優(yōu)選地，所述混合物還可以含有選自O(shè)、S、Se、Te、In的氧化物和Co的氧化物中的
至少一種。
[0066]并且優(yōu)選地，所述混合物還可以含有選自Ca、Sr、Ba、T1、V、Cr、Mn、Cu、Zn、Ag、Cd、Sc、Y、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu 及其氧化物中的至少一種。
[0067]并且優(yōu)選地，所述混合物還可以含有選自Fe、N1、Ru、Rh、Pd、Ir、Pt及其氧化物中的至少一種。
[0068]并且優(yōu)選地，所述混合物還可以含有Sb。
[0069]并且優(yōu)選地，所述混合物還可以含有選自S1、Ga、Ge、Sn及其氧化物中的至少一種。
[0070]同時(shí)，在上述混合物形成步驟中使用的每種材料可以為粉末的形式，但本公開內(nèi)容并不局限于這些材料的具體形式。
[0071]并且優(yōu)選地，所述熱處理步驟可以在真空中或者部分含氫氣或不含氫氣的氣體如Ar、He和N2中進(jìn)行。
[0072]此時(shí)，熱處理溫度可以為400°C至800°C。優(yōu)選地，熱處理溫度可以為450°C至700°C。更優(yōu)選地，熱處理溫度可以為500°C至650°C。
[0073]同時(shí)，所述熱處理步驟可以包括至少兩個(gè)熱處理階段。例如，可以在第一溫度下對(duì)在混合物形成步驟中(即在混合材料的步驟中)得到的混合物進(jìn)行第一熱處理，并可以在第二溫度下對(duì)該混合物進(jìn)行第二熱處理。
[0074]此處，一些熱處理階段可以在對(duì)材料進(jìn)行混合的混合物形成步驟中進(jìn)行。
[0075]例如，所述熱處理步驟可以包括由第一熱處理階段、第二熱處理階段和第三熱處理(燒結(jié))階段組成的三個(gè)熱處理階段。另外，所述第一熱處理階段可以在400°C至600°C的溫度范圍內(nèi)進(jìn)行，所述第二和第三熱處理階段可以在600°C至800°C的溫度范圍內(nèi)進(jìn)行。第一熱處理階段可以在混合物形成 步驟中進(jìn)行，第二和第三熱處理階段可以在混合物形成步驟之后依次進(jìn)行。
[0076]根據(jù)本公開內(nèi)容的熱電轉(zhuǎn)換裝置可以包括上述化合物半導(dǎo)體。換句話說，根據(jù)本公開內(nèi)容的化合物半導(dǎo)體可以用作熱電轉(zhuǎn)換裝置的熱電轉(zhuǎn)換材料。特別是，根據(jù)本公開內(nèi)容的化合物半導(dǎo)體具有較大的ZT值，ZT值是熱電轉(zhuǎn)換材料的性能指標(biāo)。另外，根據(jù)本公開內(nèi)容的化合物半導(dǎo)體由于熱導(dǎo)率低、Seebeck系數(shù)高和電導(dǎo)率高而具有優(yōu)異的熱電轉(zhuǎn)換性能。因此，根據(jù)本公開內(nèi)容的化合物半導(dǎo)體可以替代常規(guī)的熱電轉(zhuǎn)換材料，或除常規(guī)化合物半導(dǎo)體外該化合物半導(dǎo)體也可以用于熱電轉(zhuǎn)換裝置。
[0077]另外，根據(jù)本公開內(nèi)容的太陽能電池可以包括上述化合物半導(dǎo)體。換句話說，根據(jù)本公開內(nèi)容的化合物半導(dǎo)體可以用于太陽能電池，特別是用作太陽能電池的光吸收層。
[0078]上述太陽能電池可以以如下結(jié)構(gòu)制造，其中:前表面透明電極、緩沖層、光吸收層、后表面電極和基底從太陽光線入射的一側(cè)依次層合。位于最底部的基底可以由玻璃制成，在其整個(gè)表面上的后表面電極可以通過沉積金屬例如Mo來形成。
[0079]接下來，可以通過電子束沉積法、溶膠-凝膠法或PLD(脈沖激光沉積)法將根據(jù)本公開內(nèi)容的化合物半導(dǎo)體層合在所述后表面電極上，形成光吸收層。在所述光吸收層上可以存在緩沖層，其用于緩沖用作前表面透明電極的ZnO層與光吸收層之間在晶格常數(shù)和帶隙上的差異。所述緩沖層可以通過CBD (化學(xué)浴沉積)法等沉積例如CdS的材料來形成。接下來，可以通過濺射法等以ZnO膜或ZnO與ITO的層合片的方式在緩沖層上形成前表面透明電極。
[0080]根據(jù)本公開內(nèi)容的太陽能電池可以以多種方式進(jìn)行改變。例如，可以制造串聯(lián)太陽能電池，其中使用根據(jù)本公開內(nèi)容的化合物半導(dǎo)體作為光吸收層的太陽能電池被層疊。另外，如上所述被層疊的太陽能電池可以采用使用硅或另一種已知化合物半導(dǎo)體的太陽能電池。
[0081]另外，可以改變根據(jù)本公開內(nèi)容的化合物半導(dǎo)體的帶隙，并且可以層疊多個(gè)使用具有不同帶隙的化合物半導(dǎo)體作為光吸收層的太陽能電池。根據(jù)本公開內(nèi)容的化合物半導(dǎo)體的帶隙可以通過改變化合物的組分特別是Te的組成比例來進(jìn)行調(diào)節(jié)。
[0082]另外，根據(jù)本公開內(nèi)容的化合物半導(dǎo)體也可以應(yīng)用于選擇性透過IR線的IR窗或IR傳感器。
[0083]在下文中，將詳細(xì)地描述本公開內(nèi)容的實(shí)施方案。然而，本公開內(nèi)容的實(shí)施方案可以采取若干其它的形式，且本公開內(nèi)容的范圍不應(yīng)解釋僅限于下面的實(shí)施例。提供本公開內(nèi)容的實(shí)施方案以用于向本公開內(nèi)容所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員更加充分地解釋本公開內(nèi)容。
[0084]實(shí)施例1
[0085]準(zhǔn)備In、Co和Sb作為試劑，并使用研缽進(jìn)行混合，制備顆粒形式的組成為Ina25Co4Sb11的混合物。將該混合物在H2氣(1.94%)和N2氣下于500°C加熱15小時(shí)。升溫至500°C所用的時(shí)間為I小時(shí)30分鐘。
[0086]接下來，將Te作為試劑加入Ina25Co4Sb11中，制備Ina25Co4Sb11Te1混合物。該混合物在充滿Ar的簡易封閉手套箱(glove bag)中進(jìn)行制備。
[0087]將如上混合的材料放入石英管中并真空密封，然后在650°C下加熱36小時(shí)。升溫至650°C所用的時(shí)間為I小時(shí)30分鐘，制得Ina25Co4Sb11Te1粉末。[0088]使以上所制備的復(fù)合材料中的一部分形成直徑為4_、長度為15_的圓柱，另一部分形成直徑為10mm、厚度為1mm的圓盤。其后，采用CIP (冷等靜壓制)向它們施加200MPa的壓力。接下來，將所得產(chǎn)物放入石英管中并真空燒結(jié)12小時(shí)。
[0089]對(duì)于燒結(jié)后的圓盤，使用TC-7000(UlvaC-RiCO，Inc)以預(yù)先設(shè)定的溫度間隔測量上面制備的材料的熱導(dǎo)率U )。測量結(jié)果作為實(shí)施例1示于圖1中。
[0090]對(duì)于燒結(jié)后的圓柱，使用ZEM-3(UlvaC-RiC0，Inc)以預(yù)先設(shè)定的溫度間隔測量上面制備的材料的電導(dǎo)率和Seebeck系數(shù)。此外，使用各個(gè)測量的值計(jì)算ZT值。計(jì)算結(jié)果作為實(shí)施例1示于圖2中。
[0091]實(shí)施例2
[0092]準(zhǔn)備In、Co和Sb作為試劑，并使用研缽進(jìn)行混合，制備顆粒形式的組成為Ina25Co4Sbltl和Ina25Co4Sb11的混合物。將這兩種混合物在H2氣(1.94%)和N2氣下于500°C加熱15小時(shí)。升溫至500°C所用的時(shí)間為I小時(shí)30分鐘。
[0093]接下來，將Te作為試劑加入Ina25Co4Sbltl中，制備Ina25Co4SbltlTe2混合物。另外，將此混合物與Ina25Co4Sb11適當(dāng)混合,制備Ina25Co4Sbia75Teh25混合物。該混合物在充滿Ar的簡易封閉手套箱中進(jìn)行制備。
[0094]將如上混合的材料放入石英管中并真空密封，然后在650°C下加熱36小時(shí)。升溫至650°C所用的時(shí)間為I小時(shí)30分鐘，制得In0.25Co4Sb10.75TeL25粉末。
[0095]使以上所制備的材料中的一部分形成直徑為4mm、長度為15mm的圓柱,另一部分形成直徑為10mm、厚度為1mm的圓盤。其后，采用CIP向它們施加200MPa的壓力。接下來，將所得產(chǎn)物放入石英管中并真空燒結(jié)12小時(shí)。
[0096]對(duì)于燒結(jié)后的圓盤，使用TC-7000(UlvaC-RiCO，Inc)測量上面制備的材料的熱導(dǎo)率U)。測量結(jié)果作為實(shí)施例2示于圖1中。
[0097]對(duì)于燒結(jié)后的圓柱，使用ZEM-3(UlvaC-RiC0，Inc)以預(yù)先設(shè)定的溫度間隔測量上面制備的材料的電導(dǎo)率和Seebeck系數(shù)。此外，使用各個(gè)測量的值計(jì)算ZT值。計(jì)算結(jié)果作為實(shí)施例2示于圖2中。
[0098]實(shí)施例3
[0099]準(zhǔn)備In、Co和Sb作為試劑，并使用研缽進(jìn)行混合，制備顆粒形式的組成為Ina25Co4Sbltl和Ina25Co4Sb11的混合物。將這兩種混合物在H2氣(1.94%)和N2氣下于500°C加熱15小時(shí)。升溫至500°C所用的時(shí)間為I小時(shí)30分鐘。
[0100]接下來，將Te作為試劑加入Ina25Co4Sbltl中，制備Ina25Co4SbltlTe2混合物。另外，將此混合物與Ina25Co4Sb11適當(dāng)混合,制備Ina25Co4Sbia5Te^混合物。該混合物在充滿Ar的簡易封閉手套箱中進(jìn)行制備。
[0101]將如上混合的材料放入石英管中并真空密封，然后在650°C下加熱36小時(shí)。此處，升溫時(shí)間為I小時(shí)30分鐘，制得Ina25C04Sb1(l.5Te1.5粉末。
[0102] 使以上所制備的材料中的一部分形成直徑為4mm、長度為15mm的圓柱,另一部分形成直徑為10mm、厚度為1mm的圓盤。其后，采用CIP向它們施加200MPa的壓力。接下來，將所得產(chǎn)物放入石英管中并真空燒結(jié)12小時(shí)。
[0103]對(duì)于燒結(jié)后的圓盤，使用TC-7000(UlvaC-RiCO，Inc)測量上面制備的材料的熱導(dǎo)率U)。測量結(jié)果作為實(shí)施例3示于圖1中。
[0104]對(duì)于燒結(jié)后的圓柱，使用ZEM-3(UlvaC-RiC0，Inc)以預(yù)先設(shè)定的溫度間隔測量上面制備的材料的電導(dǎo)率和Seebeck系數(shù)。此外，使用各個(gè)測量的值計(jì)算ZT值。計(jì)算結(jié)果作為實(shí)施例3示于圖2中。
[0105]實(shí)施例4
[0106]準(zhǔn)備In、Co和Sb作為試劑，并使用研缽進(jìn)行混合，制備顆粒形式的組成為Ina25Co4Sbltl的混合物。將該混合物在H2氣(1.94%)和N2氣下于500°C加熱15小時(shí)。升溫至500°C所用的時(shí)間為I小時(shí)30分鐘。
[0107]接下來，將Te作為試劑加入Ina25Co4Sbltl中，制備Ina25Co4Sb1Je2混合物。該混合物在充滿Ar的簡易封閉手套箱中進(jìn)行制備。
[0108]將如上混合的材料放入石英管中并真空密封，然后在650°C下加熱36小時(shí)。此處，升溫至650°C所用的時(shí)間為I小時(shí)30分鐘，制得Ina25Co4Sb1Je2粉末。
[0109]使以上所制備的材料中的一部分形成直徑為4mm、長度為15mm的圓柱,另一部分形成直徑為10mm、厚度為1mm的圓盤。其后，采用CIP向它們施加200MPa的壓力。接下來，將所得產(chǎn)物放入石英管中并真空燒結(jié)12小時(shí)。
[0110]對(duì)于燒結(jié)后的圓盤，使用TC-7000(UlvaC-RiCO，Inc)測量上面制備的材料的熱導(dǎo)率U)。測量結(jié)果作為實(shí)施例4示于圖1中。
[0111]對(duì)于燒結(jié)后的圓柱，使用ZEM-3(UlvaC-RiC0，Inc)以預(yù)先設(shè)定的溫度間隔測量上面制備的材料的電導(dǎo)率和Seebeck系數(shù)。此外，使用各個(gè)測量的值計(jì)算ZT值。計(jì)算結(jié)果作為實(shí)施例4示于圖2中。
[0112]實(shí)施例5
[0113]準(zhǔn)備In、Co、Zn、Sb和Te作為試劑，并使用研缽進(jìn)行混合，制備顆粒形式的組成為Ina25ZnaiCo4Sb11Te的混合物。將如上混合的材料放入石英管中并真空密封，然后在650°C下加熱36小時(shí)。升溫至650°C所用的時(shí)間為I小時(shí)30分鐘，制得Ina25ZnaiCo4Sb11Te粉末。
[0114]使以上所制備的復(fù)合材料中的一部分形成直徑為4_、長度為15mm的圓柱,另一部分形成直徑為10mm、厚度為1mm的圓盤。其后，采用CIP向它們施加200MPa的壓力。接下來，將所得產(chǎn)物放入石英管中并真空燒結(jié)12小時(shí)。
[0115]對(duì)于燒結(jié)后的圓盤，使用TC-7000(UlvaC-RiCO，Inc)以預(yù)先設(shè)定的溫度間隔測量上面制備的材料的熱導(dǎo)率U )。測量結(jié)果作為實(shí)施例5示于圖4中。
[0116]對(duì)于燒結(jié)后的圓柱，使用ZEM-3(UlvaC-RiC0，Inc)以預(yù)先設(shè)定的溫度間隔測量上面制備的材料的電導(dǎo)率和Seebeck系數(shù)。此時(shí)，電導(dǎo)率(σ)的測量結(jié)果作為實(shí)施例5示于圖3中。此外，使用各個(gè)測量的值計(jì)算ZT值。計(jì)算結(jié)果作為實(shí)施例5示于圖5中。
[0117]實(shí)施例6
[0118]準(zhǔn)備In、Co、Zn、Cd、Sb和Te作為試劑，并使用研缽進(jìn)行混合，制備顆粒形式的組成為1% 25Zn0.1Cd0.!Co4Sb11Te的混合物。將如上混合的材料放入石英管中并真空密封，然后在650 °C下加熱36小時(shí)。升溫至650 °C所用的時(shí)間為I小時(shí)30分鐘，制得Ina25ZnaiCdaiCo4Sb11Te 粉末。
[0119]使以上所制備的復(fù)合材料中的一部分形成直徑為4_、長度為15mm的圓柱,另一部分形成直徑為10mm、厚度為1mm的圓盤。其后，采用CIP向它們施加200MPa的壓力。接下來，將所得產(chǎn)物放入石英管中并真空燒結(jié)12小時(shí)。
[0120]對(duì)于燒結(jié)后的圓盤，使用TC-7000(UlvaC-RiCO，Inc)以預(yù)先設(shè)定的溫度間隔測量上面制備的材料的熱導(dǎo)率。測量結(jié)果作為實(shí)施例6示于圖4中。
[0121]對(duì)于燒結(jié)后的圓柱，使用ZEM-3(UlvaC-RiC0，Inc)以預(yù)先設(shè)定的溫度間隔測量上面制備的材料的電導(dǎo)率和Seebeck系數(shù)。此時(shí)，電導(dǎo)率的測量結(jié)果作為實(shí)施例6示于圖3中。此外，使用各個(gè)測量的值計(jì)算ZT值。計(jì)算結(jié)果作為實(shí)施例6示于圖5中。
[0122]實(shí)施例7
[0123]準(zhǔn)備In、Co、Zn、Cd、Sb、Ni和Te作為試劑,并使用研缽進(jìn)行混合,制備顆粒形式的組成為Ina25ZnaiCdaiCc^98Niatl2Sb11Te的混合物。將如上混合的材料放入石英管中并真空密封，然后在650°C下加熱36小時(shí)。此處，升溫至650°C所用的時(shí)間為I小時(shí)30分鐘，制得In0.25Zn0.1Cd0.!Co3.98Ni0.02SbnTe i).^。
[0124]使以上所制備的復(fù)合材料中的一部分形成直徑為4mm、長度為15mm的圓柱,另一部分形成直徑為10mm、厚 度為1mm的圓盤。其后，采用CIP向它們施加200MPa的壓力。接下來，將所得產(chǎn)物放入石英管中并真空燒結(jié)12小時(shí)。
[0125]對(duì)于燒結(jié)后的圓盤，使用TC-7000(UlvaC-RiCO，Inc)以預(yù)先設(shè)定的溫度間隔測量上面制備的材料的熱導(dǎo)率。測量結(jié)果作為實(shí)施例7示于圖4中。
[0126]對(duì)于燒結(jié)后的圓柱，使用ZEM-3(UlvaC-RiC0，Inc)以預(yù)先設(shè)定的溫度間隔測量上面制備的材料的電導(dǎo)率和Seebeck系數(shù)。此時(shí)，電導(dǎo)率的測量結(jié)果作為實(shí)施例7示于圖3中。此外，使用各個(gè)測量的值計(jì)算ZT值。計(jì)算結(jié)果作為實(shí)施例7示于圖5中。
[0127]實(shí)施例8
[0128]準(zhǔn)備In、Co、Sb和Te作為試劑，并使用研缽進(jìn)行混合，制備顆粒形式的組成為In0.25Co3.88SbnTe的混合物。將如上混合的材料放入石英管中并真空密封，然后在650°C下加熱36小時(shí)。升溫至650°C所用的時(shí)間為I小時(shí)30分鐘，制得In0.25Co3.88SbnTe粉末。
[0129]使以上所制備的復(fù)合材料中的一部分形成直徑為4mm、長度為15mm的圓柱。其后，采用CIP向該圓柱施加200MPa的壓力。接下來，將所得產(chǎn)物放入石英管中并真空燒結(jié)12小時(shí)。
[0130]對(duì)于燒結(jié)后的圓柱，使用ZEM-3(UlvaC-RiC0，Inc)以預(yù)先設(shè)定的溫度間隔測量上面制備的材料的電導(dǎo)率(O)。測量結(jié)果作為實(shí)施例8示于圖6中。另外，使用ZEM-3 (Ulvac-Rico, Inc)測量Seebeck系數(shù)(S)，然后使用各個(gè)測量的值計(jì)算功率因數(shù)(PF)值。計(jì)算結(jié)果作為實(shí)施例8示于圖7中。此處，PF可以表示為S20。
[0131]實(shí)施例9
[0132]準(zhǔn)備In、Co和Sb作為試劑，并使用研缽進(jìn)行混合，制備顆粒形式的組成為Ina25Co4SbjP Ina25Co4Sbia5的混合物。將這兩種混合物在比氣(1.94%)和隊(duì)氣下于500°C加熱15小時(shí)。升溫至500°C所用的時(shí)間為I小時(shí)30分鐘。[0133]接下來，將Se作為試劑加入Ina25Co4Sbia5中，制備Ina25Co4Sbia5Seh5混合物，將其與以上所制的Ina25Co4Sb12混合，使所得混合物的組成為Ina25Co4Sblh75Sea25t5
[0134]將如上混合的材料放入石英管中并真空密封，然后在650°C下加熱36小時(shí)。升溫至650°C所用的時(shí)間為I小時(shí)30分鐘，制得Ina25Co4SV75Sea25粉末。
[0135]使以上所制備的復(fù)合材料中的一部分形成直徑為10mm、厚度為1mm的圓盤。其后，采用CIP向該圓盤施加200MPa的壓力。接下來，將所得產(chǎn)物放入石英管中并真空燒結(jié)12小時(shí)。
[0136]對(duì)于燒結(jié)后的圓盤，使用LFA457(NetZSch，Inc)以預(yù)先設(shè)定的溫度間隔測量熱擴(kuò)散系數(shù)(T.D.)。測量結(jié)果作為實(shí)施例9示于圖8中。
[0137]實(shí)施例10
[0138]準(zhǔn)備In、Co和Sb作為試劑，并使用研缽進(jìn)行混合，制備顆粒形式的組成為Ina25Co4SbjP Ina25Co4Sbia5的混合物。將這兩種混合物在比氣(1.94%)和隊(duì)氣下于500°C加熱15小時(shí)。升溫至500°C所用的時(shí)間為I小時(shí)30分鐘。
[0139]接下來，將Se作為試劑加入Ina25Co4Sb10.5中，制備Ina 25Co4Sb10.5SeL 5混合物，將其與以上所制的Ina25Co4Sb12混合，使所得混合物的組成為Ina25Co4Sblh5Sea5t5
[0140]將如上混合的材料放入石英管中并真空密封，然后在650°C下加熱36小時(shí)。升溫至650°C所用的時(shí)間為I小時(shí)30分鐘，制得Ina25Co4Sblh5Sea5粉末。
[0141]使以上所制備的復(fù)合材料中的一部分形成直徑為10mm、厚度為1mm的圓盤。其后，采用CIP向該圓盤施加200MPa的壓力。接下來，將所得產(chǎn)物放入石英管中并真空燒結(jié)12小時(shí)。
[0142]對(duì)于燒結(jié)后的圓盤，使`用LFA457(NetZSch，Inc)以預(yù)先設(shè)定的溫度間隔測量熱擴(kuò)散系數(shù)(T.D.)。測量結(jié)果作為實(shí)施例10示于圖8中。
[0143]實(shí)施例11
[0144]準(zhǔn)備0.0510g In、0.3873g Co、2.2923g Sb、0.0428g Co3O4 和 127.6g Te 作為試劑，并使用研缽進(jìn)行混合。將如上混合的材料放入石英管中并真空密封，然后在650°C下加熱36小時(shí)。升溫至650°C所用的時(shí)間為I小時(shí)30分鐘，制得Ina25Co4Sbia6Oa4Te粉末。
[0145]使以上所制備的復(fù)合材料中的一部分形成直徑為10mm、厚度為1mm的圓盤。其后，采用CIP向該圓盤施加200MPa的壓力。接下來，將所得產(chǎn)物放入石英管中并真空燒結(jié)12小時(shí)。對(duì)于燒結(jié)后的圓盤，使用LFA457(NetZSch，Inc)以預(yù)先設(shè)定的溫度間隔測量熱導(dǎo)率。測量結(jié)果作為實(shí)施例11示于圖9中。
[0146]實(shí)施例12
[0147]準(zhǔn)備0.1727g In、1.3121g Co,8.1329g Sb,0.2375g Se 和 0.1449g Co3O4 作為試劑，并使用研缽進(jìn)行混合。將如上混合的材料放入石英管中并真空密封，然后在650°C下加熱36小時(shí)。升溫至650°C所用的時(shí)間為I小時(shí)30分鐘，制得Ina25Co4Sb11Oa5Sea5粉末。
[0148]使以上所制備的復(fù)合材料中的一部分形成直徑為10mm、厚度為1mm的圓盤。其后，采用CIP向該圓盤施加200MPa的壓力。接下來，將所得產(chǎn)物放入石英管中并真空燒結(jié)12小時(shí)。
[0149]對(duì)于燒結(jié)后的圓盤，使用LFA457(NetZSch，Inc)以預(yù)先設(shè)定的溫度間隔測量熱導(dǎo)率U)。測量結(jié)果作為實(shí)施例12示于圖10中。[0150]實(shí)施例13
[0151]準(zhǔn)備0.0681g In、0.5452g Co、3.2353g Sb 和 0.1514g Te 作為試劑，并使用研缽進(jìn)行混合。將如上混合的材料放入石英管中并真空密封，然后在650°C下加熱36小時(shí)。升溫至650°C所用的時(shí)間為I小時(shí)30分鐘，制得Ina25Cc^9SV2Tea5粉末。
[0152]使以上所制備的復(fù)合材料中的一部分形成直徑為10mm、厚度為1mm的圓盤。其后，采用CIP向該圓盤施加200MPa的壓力。接下來，將所得產(chǎn)物放入石英管中并真空燒結(jié)12小時(shí)。
[0153]對(duì)于燒結(jié)后的圓盤，使用LFA457(NetZSch，Inc)以預(yù)先設(shè)定的溫度間隔測量熱導(dǎo)率。測量結(jié)果作為實(shí)施例13示于圖11中。
[0154]實(shí)施例14 [0155]準(zhǔn)備0.0494g In、0.0112g Ζη、0.3648g Co、0.0531g Rh、2.2612g Sb、0.0408g Sn和0.2194g Te作為試劑，并使用研缽進(jìn)行混合。將如上混合的材料放入石英管中并真空密封，然后在650°C下加熱36小時(shí)。升溫至650°C所用的時(shí)間為I小時(shí)30分鐘，制得Ina25Znc1.1Co3.6RhQ.3Sb1(l.8SnQ.2Te 粉末。
[0156]使以上所制備的復(fù)合材料中的一部分形成直徑為10mm、厚度為1mm的圓盤。其后，采用CIP向該圓盤施加200MPa的壓力。接下來，將所得產(chǎn)物放入石英管中并真空燒結(jié)12小時(shí)。
[0157]對(duì)于燒結(jié)后的圓盤，使用LFA457(NetZSch，Inc)以預(yù)先設(shè)定的溫度間隔測量熱導(dǎo)率U)。測量結(jié)果作為實(shí)施例14示于圖12中。
[0158]實(shí)施例15
[0159]準(zhǔn)備0.0504g In、0.0115g Ζη、0.3728g Co、0.0543g Rh,2.1825g Sb、0.1043g Sn和0.2242g Te作為試劑，并使用研缽進(jìn)行混合。將如上混合的材料放入石英管中并真空密封，然后在650°C下加熱36小時(shí)。升溫至650°C所用的時(shí)間為I小時(shí)30分鐘，制得Ina25Znc1.1Co3.6RhQ.3Sb1(l.2SnQ.5Te 粉末。
[0160]使以上所制備的復(fù)合材料中的一部分形成直徑為10mm、厚度為1mm的圓盤。其后，采用CIP向該圓盤施加200MPa的壓力。接下來，將所得產(chǎn)物放入石英管中并真空燒結(jié)12小時(shí)。對(duì)于燒結(jié)后的圓盤，使用LFA457(NetZSch，Inc)以預(yù)先設(shè)定的溫度間隔測量熱導(dǎo)率。測量結(jié)果作為實(shí)施例15示于圖13中。
[0161]實(shí)施例16
[0162]準(zhǔn)備0.0497g In、0.0113g Ζη、0.3522g Co、0.0713g Rh、2.2149g Sb、0.1028g Sn、0.1768g Te和0.0209g Co3O4作為試劑，并使用研缽進(jìn)行混合。將如上混合的材料放入石英管中并真空密封，然后在650°C下加熱36小時(shí)。升溫至650°C所用的時(shí)間為I小時(shí)30分鐘，制得 Ina25ZnaiCoi6Rha4Sbia5Sna5Oa2Tea8 粉末。
[0163]使以上所制備的復(fù)合材料中的一部分形成直徑為10mm、厚度為1mm的圓盤。其后，采用CIP向該圓盤施加200MPa的壓力。接下來，將所得產(chǎn)物放入石英管中并真空燒結(jié)12小時(shí)。對(duì)于燒結(jié)后的圓盤，使用LFA457(NetZSch，Inc)以預(yù)先設(shè)定的溫度間隔測量熱導(dǎo)率。測量結(jié)果作為實(shí)施例16示于圖14中。
[0164]實(shí)施例17
[0165]準(zhǔn)備0.0502g In、0.0114g Ζη、0.3708g Co、0.0540g Rh、2.3409g Sb、0.1037g Sn和0.0690g Se作為試劑，并使用研缽進(jìn)行混合。將如上混合的材料放入石英管中并真空密封，然后在650°C下加熱36小時(shí)。升溫至650°C所用的時(shí)間為I小時(shí)30分鐘，制得Ina25Znο.1。03.6他0.3SbnSn0 5Se0.5 張(末。
[0166]使以上所制備的復(fù)合材料中的一部分形成直徑為10mm、厚度為1mm的圓盤。其后，采用CIP向該圓盤施加200MPa的壓力。接下來，將所得產(chǎn)物放入石英管中并真空燒結(jié)12小時(shí)。對(duì)于燒結(jié)后的圓盤，使用LFA457(NetZSch，Inc)以預(yù)先設(shè)定的溫度間隔測量熱導(dǎo)率。測量結(jié)果作為實(shí)施例17示于圖15中。
[0167]實(shí)施例18
[0168]準(zhǔn)備0.0520g In、0.0119g Ζη、0.3844g Co、0.0559g Rh、2.3167g Sb、0.1076g Sn和0.0715g Se作為試劑，并使用研缽進(jìn)行混合。將如上混合的材料放入石英管中并真空密封，然后在650°C下加熱36小時(shí)。升溫至650°C所用的時(shí)間為I小時(shí)30分鐘，制得Ina25Znο.1。03.6他0.3Sb10.5Sn0.5Se0.5 張(末。
[0169]使以上所制備的復(fù)合材料中的一部分形成直徑為10mm、厚度為1mm的圓盤。其后，采用CIP向該圓盤施加200MPa的壓力。接下來，將所得產(chǎn)物放入石英管中并真空燒結(jié)12小時(shí)。對(duì)于燒結(jié)后的圓盤，使用LFA457(NetZSch，Inc)以預(yù)先設(shè)定的溫度間隔測量熱導(dǎo)率。測量結(jié)果作為實(shí)施例18示于圖16中。
[0170]實(shí)施例19
[0171]準(zhǔn)備0.0498g In、0.0113g Ζη、0.4037g Co、0.0020g N1、2.3078g Sb、0.0041g Sn和0.2213g Te作為試劑，并使 用研缽進(jìn)行混合。將如上混合的材料放入石英管中并真空密封，然后在650°C下加熱36小時(shí)。升溫至650°C所用的時(shí)間為I小時(shí)30分鐘，制得Ina25Zn
0.lCo3.95N10.02Sb10.93Sn0.02
Te粉末。
[0172]使以上所制備的復(fù)合材料中的一部分形成直徑為10mm、厚度為1mm的圓盤。其后，采用CIP向該圓盤施加200MPa的壓力。接下來，將所得產(chǎn)物放入石英管中并真空燒結(jié)12小時(shí)。對(duì)于燒結(jié)后的圓盤，使用LFA457(NetZSch，Inc)以預(yù)先設(shè)定的溫度間隔測量熱導(dǎo)率。測量結(jié)果作為實(shí)施例19示于圖17中。
[0173]比較例
[0174]準(zhǔn)備In、Co和Sb作為試劑，并使用研缽進(jìn)行混合，制備顆粒形式的組成為Ina25Co4Sb12的混合物。另外，將該混合物在H2氣(1.94%)和N2氣下于500。。加熱15小時(shí)。升溫至500°C所用的時(shí)間為I小時(shí)30分鐘。將如上混合的材料放入石英管中并真空密封，然后在650°C下加熱36小時(shí)。此處，升溫至650°C所用的時(shí)間為I小時(shí)30分鐘，制得Ina25Co4Sb12 粉末。
[0175]使以上所制備的材料中的一部分形成直徑為4mm、長度為15mm的圓柱,另一部分形成直徑為10mm、厚度為1mm的圓盤。其后，采用CIP向它們施加200MPa的壓力。接下來，將所得產(chǎn)物放入石英管中并真空燒結(jié)12小時(shí)。
[0176]對(duì)于燒結(jié)后的圓盤，使用LFA457(NetZSch，Inc)以預(yù)先設(shè)定的溫度間隔測量熱導(dǎo)率。測量結(jié)果作為比較例示于圖1、4、9至17中。另外，還使用LFA457(Netzsch，Inc)以預(yù)先設(shè)定的溫度間隔測量熱擴(kuò)散系數(shù)(T.D.)。測量結(jié)果作為比較例示于圖8中。
[0177]對(duì)于燒結(jié)后的圓柱，使用ZEM-3(UlvaC-RiC0，Inc)以預(yù)先設(shè)定的溫度間隔測量上面制備的材料的電導(dǎo)率和Seebeck系數(shù)。此時(shí)，電導(dǎo)率的測量結(jié)果作為比較例示于圖3和圖6中。
[0178]另外，使用所測量的值計(jì)算ZT值。計(jì)算結(jié)果作為比較例示于圖2和圖5中。并且，使用各個(gè)測量的值計(jì)算功率因數(shù)(PF)值。計(jì)算結(jié)果作為比較例示于圖7中。
[0179]首先，參見圖1、4、9至17所示結(jié)果可以發(fā)現(xiàn)，與比較例的化合物半導(dǎo)體相比，根據(jù)本公開內(nèi)容實(shí)施例的化合物半導(dǎo)體在整個(gè)溫度測量范圍內(nèi)的熱導(dǎo)率(K)都非常低。 [0180]特別是，參見圖8所示結(jié)果可以發(fā)現(xiàn)，與比較例的化合物半導(dǎo)體相比，根據(jù)本公開內(nèi)容實(shí)施例的化合物半導(dǎo)體的熱擴(kuò)散系數(shù)(T.D.)非常低。
[0181]另外，參見圖3和圖6所示結(jié)果可以發(fā)現(xiàn)，與比較例的化合物半導(dǎo)體相比，根據(jù)本公開內(nèi)容實(shí)施例的化合物半導(dǎo)體在整個(gè)溫度測量范圍內(nèi)的電導(dǎo)率(σ)都非常高。
[0182]如上所述，與比較例的化合物半導(dǎo)體相比，根據(jù)本公開內(nèi)容實(shí)施例的化合物半導(dǎo)體由于熱導(dǎo)率較低且電導(dǎo)率較高而可以具有增大的ZT值(表示熱電性能指數(shù))。該結(jié)果也可以由圖2和圖5中所示的結(jié)果來證實(shí)。
[0183]并且，參見圖7可以發(fā)現(xiàn)，與比較例的化合物半導(dǎo)體相比，根據(jù)本公開內(nèi)容的一些實(shí)施例的化合物半導(dǎo)體在高溫范圍內(nèi)具有良好的功率因數(shù)值。
[0184]以上已經(jīng)對(duì)本公開內(nèi)容進(jìn)行了詳細(xì)的描述。然而，應(yīng)當(dāng)理解，在表明本公開內(nèi)容的優(yōu)選實(shí)施方案時(shí)所給出的詳細(xì)描述和具體實(shí)例僅用于舉例說明，由此詳細(xì)描述，在本公開內(nèi)容的精神和范圍內(nèi)所進(jìn)行的各種變化和修改對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員將變得顯而易見。
【權(quán)利要求】
1.一種化合物半導(dǎo)體，由下面化學(xué)式I表示: 化學(xué)式I
InxMyC〇4—m—aAmSbi2—n—z—bXnQz 其中，M 為選自 Ca、Sr、Ba 、T1、V、Cr、Mn、Cu、Zn、Ag、Cd、Sc、Y、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb 和 Lu 中的至少一種，A 為選自 Fe、N1、Ru、Rh、Pd、Ir 和 Pt 中的至少一種，X為選自S1、Ga、Ge和Sn中的至少一種，Q為選自O(shè)、S、Se和Te中的至少一種，0〈x〈l，0 ^ y<l, O ^ m ^ I, O ^ a ^ 1,0^ n<9,0 ^z^4,0^b^ 3，0〈n+z+b。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的化合物半導(dǎo)體，其中，在化學(xué)式I中，0〈x+y( I。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的化合物半導(dǎo)體，其中，在化學(xué)式I中，0〈n+z+b( 9。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的化合物半導(dǎo)體，其中，在化學(xué)式I中，0〈x< 0.5。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的化合物半導(dǎo)體，其中，在化學(xué)式I中，0〈z< 2。
6.一種化合物半導(dǎo)體的制備方法，包括: 形成含有In和Co的混合物；和 熱處理所述混合物，從而制備權(quán)利要求1所限定的化合物半導(dǎo)體。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的化合物半導(dǎo)體的制備方法，其中，所述混合物還含有選自O(shè)、S、Se、Te、In的氧化物和Co的氧化物中的至少一種。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的化合物半導(dǎo)體的制備方法，其中，所述混合物還含有選自Ca、Sr、Ba、T1、V、Cr、Mn、Cu、Zn、Ag、Cd、Sc、Y、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu及其氧化物中的至少一種。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的化合物半導(dǎo)體的制備方法，其中，所述混合物還含有選自Fe、N1、Ru、Rh、Pd、Ir、Pt及其氧化物中的至少一種。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的化合物半導(dǎo)體的制備方法，其中，所述混合物還含有Sb。
11.根據(jù)權(quán)利要求6所述的化合物半導(dǎo)體的制備方法，其中，所述混合物還含有選自S1、Ga、Ge、Sn及其氧化物中的至少一種。
12.根據(jù)權(quán)利要求6所述的化合物半導(dǎo)體的制備方法，其中，所述熱處理步驟在400°C至800°C下進(jìn)行。
13.根據(jù)權(quán)利要求6所述的化合物半導(dǎo)體的制備方法，其中，所述熱處理步驟包括至少兩個(gè)熱處理階段。
14.一種熱電轉(zhuǎn)換裝置，其包括權(quán)利要求1至5中任意一項(xiàng)所限定的化合物半導(dǎo)體。
15.一種太陽能電池，其包括權(quán)利要求1至5中任意一項(xiàng)所限定的化合物半導(dǎo)體。
【文檔編號(hào)】C01G15/00GK103562127SQ201280023369
【公開日】2014年2月5日 申請(qǐng)日期:2012年5月11日 優(yōu)先權(quán)日:2011年5月13日
【發(fā)明者】樸哲凞, 金兌訓(xùn), 樸德熙, 高京門 申請(qǐng)人:Lg化學(xué)株式會(huì)社