一種提高蒸發(fā)設(shè)備檢測(cè)儀器壽命的方法及接口結(jié)構(gòu)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種提高蒸發(fā)設(shè)備檢測(cè)儀器壽命的方法及接口結(jié)構(gòu),屬于提高有色冶金蒸發(fā)設(shè)備檢測(cè)儀器性能的技術(shù)領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]有色冶金生產(chǎn)過(guò)程中,母液的蒸發(fā)是拜耳法生產(chǎn)氧化鋁工藝的一個(gè)重要的流程工序,其任務(wù)是平衡氧化鋁生產(chǎn)過(guò)程的水量、提高分解母液Na20濃度并排出雜質(zhì)鹽類。蒸發(fā)母液中主要含有Na20、Na2C03 Na2S04、鋁、鎂和鈣等物質(zhì)。現(xiàn)有蒸發(fā)設(shè)備上的儀表檢測(cè)法蘭接口與蒸發(fā)設(shè)備水平連接。在母液增濃過(guò)程中,部分鹽類將結(jié)晶析出,由于溫度的變化,在壓力、液位檢測(cè)的法蘭接管內(nèi)儀表傳感器膜片上會(huì)形成結(jié)晶體掛料,隨著生產(chǎn)進(jìn)行,該類結(jié)晶體掛料敷著在儀表傳感器膜片上,影響儀表檢測(cè)精度和使用壽命,嚴(yán)重時(shí)可直接損壞壓力、液位檢測(cè)儀表。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0003]本發(fā)明的目的在于,提供一種提高蒸發(fā)設(shè)備檢測(cè)儀器壽命的方法及接口結(jié)構(gòu),減小鹽類在傳感器膜片上的結(jié)晶體厚度,提高檢測(cè)儀器的使用壽命及維護(hù)成本。
[0004]本發(fā)明的技術(shù)方案:
一種提高蒸發(fā)設(shè)備檢測(cè)接口壽命的方法,該方法是將法蘭接口向上傾斜與蒸發(fā)設(shè)備連接,法蘭接口頂部與傳感器連接;使傳感器內(nèi)的傳感膜片底面向下;蒸發(fā)設(shè)備的蒸汽在自重作用下自動(dòng)從傳感膜片底面滴落,無(wú)法結(jié)成的結(jié)晶體掛料;減少結(jié)晶體掛料在傳感膜片底面形成結(jié)晶體結(jié)垢,以提高儀表的使用壽命和降低儀表維護(hù)成本。
[0005]前述方法中,所述法蘭接口底部與蒸發(fā)設(shè)備連接,法蘭接口向上傾斜30?60°與傳感器連接。
[0006]按照上述方法構(gòu)成的檢測(cè)接口結(jié)構(gòu)為,包括向上傾斜焊接在蒸發(fā)設(shè)備上的法蘭接口,法蘭接口底部與蒸發(fā)設(shè)備連接,法蘭接口上部與傳感器連接,傳感器內(nèi)設(shè)有傳感膜片;傳感器與儀表變送器連接。
[0007]前述檢測(cè)接口結(jié)構(gòu),所述法蘭接口底部與蒸發(fā)設(shè)備連接,法蘭接口向上傾斜30?60°與蒸發(fā)設(shè)備連接。
[0008]前述檢測(cè)接口結(jié)構(gòu),所述法蘭接口底部與蒸發(fā)設(shè)備連接,法蘭接口向上傾斜45°與蒸發(fā)設(shè)備連接。
[0009]與現(xiàn)有技術(shù)相比,現(xiàn)有技術(shù)中的法蘭接口與蒸發(fā)設(shè)備水平連接,當(dāng)儀表傳感膜片上形成結(jié)晶體掛料時(shí),由于重力作用結(jié)晶體掛料下落堆積在儀表傳感膜片下部,從而形成鹽類結(jié)晶體結(jié)垢,敷設(shè)結(jié)垢在儀表傳感膜片下部,影響儀表傳感器精度和使用壽命,重者直接損壞壓力、液位檢測(cè)儀表。本發(fā)明可大大提高儀表的使用壽命和降低儀表維護(hù)成本。滿足有色冶金生產(chǎn)過(guò)程中母液蒸發(fā)工藝的參數(shù)檢測(cè)及控制需要。提高有色冶金壓力、液位檢測(cè)儀表裝備水平。
【附圖說(shuō)明】
[0010]圖1是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0011 ] 附圖中的標(biāo)記為:1-法蘭接口,2-傳感膜片,3-結(jié)晶體掛料,4-結(jié)晶體結(jié)垢,5-蒸發(fā)設(shè)備,6-傳感器,7-儀表變送器。
【具體實(shí)施方式】
[0012]下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說(shuō)明,但不作為對(duì)本發(fā)明的任何限制。
[0013]一種提高蒸發(fā)設(shè)備檢測(cè)接口壽命的方法,如圖1所示。該方法是將法蘭接口 I向上45°傾斜與蒸發(fā)設(shè)備5連接,法蘭接口 I底部與蒸發(fā)設(shè)備5連接,法蘭接口 I向上傾斜30°?60°與傳感器6連接;使傳感器內(nèi)的傳感膜片2底面向下;蒸發(fā)設(shè)備的蒸汽在自重作用下自動(dòng)從傳感膜片2底面滴落,堆積在法蘭接口預(yù)留接管內(nèi),減少結(jié)晶體掛料3在傳感膜片2底面形成結(jié)晶體結(jié)垢4,從而避免鹽類結(jié)晶體結(jié)垢對(duì)傳感膜片2的影響,提高儀表的使用壽命和降低儀表維護(hù)成本。無(wú)法結(jié)成的結(jié)晶體掛料3 ;以提高儀表的使用壽命和降低儀表維護(hù)成本。
[0014]按照上述方法構(gòu)成的本發(fā)明的一種檢測(cè)接口結(jié)構(gòu),如圖1所示。包括向上傾斜焊接在蒸發(fā)設(shè)備5上的法蘭接口 1,法蘭接口 I底部與蒸發(fā)設(shè)備5連接,法蘭接口 I上部與傳感器6連接,傳感器6內(nèi)設(shè)有傳感膜片2 ;傳感器6與儀表變送器7連接。法蘭接口 I底部與蒸發(fā)設(shè)備5連接,法蘭接口 I向上傾斜30?60°與傳感器6連接。法蘭接口 I底部與蒸發(fā)設(shè)備5連接,法蘭接口 I向上傾斜45°與蒸發(fā)設(shè)備5連接。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種提高蒸發(fā)設(shè)備檢測(cè)接口壽命的方法,其特征在于:該方法是將法蘭接口(I)向上傾斜與蒸發(fā)設(shè)備(5)連接,法蘭接口(I)頂部與傳感器(6)連接;使傳感器內(nèi)的傳感膜片(2)底面向下;蒸發(fā)設(shè)備的蒸汽在自重作用下自動(dòng)從傳感膜片(2)底面滴落,無(wú)法結(jié)成的結(jié)晶體掛料(3);減少結(jié)晶體掛料(3)在傳感I旲片(2)底面形成結(jié)晶體結(jié)垢(4),以提聞儀表的使用壽命和降低儀表維護(hù)成本。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述方法,其特征在于:所述法蘭接口(I)底部與蒸發(fā)設(shè)備(5)連接,法蘭接口(I)向上傾斜30?60°與傳感器(6)連接。
3.一種按照權(quán)利要求1或2所述方法構(gòu)成的檢測(cè)接口結(jié)構(gòu),其特征在于:包括向上傾斜焊接在蒸發(fā)設(shè)備(5)上的法蘭接口(1),法蘭接口(I)底部與蒸發(fā)設(shè)備(5)連接,法蘭接口(I)上部與傳感器(6 )連接,傳感器(6 )內(nèi)設(shè)有傳感膜片(2 );傳感器(6 )與儀表變送器(7 )連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述檢測(cè)接口結(jié)構(gòu),其特征在于:所述法蘭接口(I)底部與蒸發(fā)設(shè)備(5)連接,法蘭接口(I)向上傾斜30?60°與傳感器(6)連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述檢測(cè)接口結(jié)構(gòu),其特征在于:所述法蘭接口(I)底部與蒸發(fā)設(shè)備(5)連接,法蘭接口(I)向上傾斜45°與蒸發(fā)設(shè)備(5)連接。
【專利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種提高蒸發(fā)設(shè)備檢測(cè)接口壽命的方法及接口結(jié)構(gòu),本發(fā)明是將法蘭接口(1)向上傾斜與蒸發(fā)設(shè)備(5)連接,法蘭接口頂部與傳感器(6)連接;使傳感器內(nèi)的傳感膜片(2)底面向下;蒸發(fā)設(shè)備的蒸汽在自重作用下自動(dòng)從傳感膜片底面滴落,無(wú)法結(jié)成的結(jié)晶體掛料(3);減少結(jié)晶體掛料(3)在傳感膜片底面形成結(jié)晶體結(jié)垢(4),以提高儀表的使用壽命和降低儀表維護(hù)成本。本發(fā)明可大大提高儀表的使用壽命和降低儀表維護(hù)成本。滿足有色冶金生產(chǎn)過(guò)程中母液蒸發(fā)工藝的參數(shù)檢測(cè)及控制需要。提高有色冶金壓力、液位檢測(cè)儀表裝備水平。
【IPC分類】C01F7-02
【公開(kāi)號(hào)】CN104709930
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201310688678
【發(fā)明人】甘長(zhǎng)能, 陳文
【申請(qǐng)人】貴陽(yáng)鋁鎂設(shè)計(jì)研究院有限公司
【公開(kāi)日】2015年6月17日
【申請(qǐng)日】2013年12月17日