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      一種單晶爐加熱系統(tǒng)的制作方法

      文檔序號(hào):10330661閱讀:497來源:國知局
      一種單晶爐加熱系統(tǒng)的制作方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本實(shí)用新型涉及單晶硅的制造設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種單晶爐加熱系統(tǒng)。
      【背景技術(shù)】
      [0002]硅單晶作為一種半導(dǎo)體材料,主要用于光伏和半導(dǎo)體領(lǐng)域。大部分的半導(dǎo)體硅單晶采用CZ(Czochralski)直拉法制造。一般采用如下制造方法:將高純度的多晶硅裝入石英坩禍內(nèi),加熱熔化,然后,將熔硅略做降溫,給予一定的過冷度,將一支特定晶向的硅單晶體(稱做硅籽晶)裝入夾持器中,夾持器的上端通過聯(lián)接件與籽晶軸連接,硅籽晶固定于夾持器下端,使夾持器在籽晶軸的帶動(dòng)下旋轉(zhuǎn),并使石英坩禍在石墨中軸的帶動(dòng)下反向旋轉(zhuǎn),將硅籽晶慢慢下降,并與硅熔體接觸,然后以一定的速度向上提升硅籽晶,此過程的目的主要是消除硅籽晶中因熱沖擊形成的位錯(cuò)缺陷。待硅籽晶提升到一定長度時(shí),通過調(diào)整熔體的溫度和硅籽晶向上的提升速度,使硅籽晶長大,當(dāng)晶體的直徑接近目標(biāo)直徑時(shí),提高提升速度,使單晶體近乎等直徑生長。在生長過程的尾期,石英坩禍內(nèi)的硅熔體剩余不多時(shí),提高晶體的提升速度,同時(shí)適當(dāng)增加加熱的功率,使晶體漸漸縮小,從而形成一個(gè)尾形椎體,當(dāng)椎體的尖足夠小時(shí),晶體就會(huì)與熔體脫離,從而完成晶體的生長過程。
      [0003]當(dāng)拉制摻雜劑采用不易揮發(fā)的母合金硼、磷的單晶硅時(shí),先將摻雜劑預(yù)先放入石英坩禍;當(dāng)拉制摻雜劑采用易揮發(fā)的純元素銻、磷、砷的單晶硅時(shí),不能將摻雜劑預(yù)先放入石英坩禍,必須放在摻雜勺內(nèi),拉晶過程將摻雜勺移到坩禍中心,將摻雜劑倒入坩禍,才能保證摻雜準(zhǔn)確。
      [0004]直拉法的優(yōu)點(diǎn)是晶體被拉出液面不與器壁接觸,不受容器限制,因此晶體中應(yīng)力小,同時(shí)又能防止器壁沾污或接觸所可能引起的雜亂晶核而形成多晶。此法制成的單晶完整性好,直徑和長度都可以很大,生長速率也高。所用坩禍必須由不污染熔體的材料制成。
      [0005]影響直拉法晶體質(zhì)量有以下幾個(gè)方面:
      [0006](I)直拉法生產(chǎn)單晶硅時(shí)需要將塊狀的高純度多晶硅置于石英坩禍內(nèi),加熱到其熔點(diǎn)1420°C以上,使其完全融化,然而融化的硅熔體會(huì)與石英坩禍內(nèi)壁產(chǎn)生化學(xué)反應(yīng),對(duì)石英坩禍內(nèi)壁產(chǎn)生侵蝕,影響石英坩禍的在高溫下的強(qiáng)度,同時(shí)也降低了單晶硅晶體的晶格完整性。
      [0007](2)拉晶過程中,盛料的石英坩禍被置于加熱器內(nèi)部,坩禍上部是敞開系統(tǒng),沒有保溫或保溫效果差,且保護(hù)氣的流動(dòng)帶走大量熱量,而加熱器側(cè)面和底部保溫效果好,因此,石英坩禍中熔體的溫度隨熔體的深度加深越來越高,從而形成較大的溫度梯度,熔體的溫度隨熔體的深度加深不斷升高,從而使溫度梯度引起的熱對(duì)流加劇,進(jìn)而導(dǎo)致晶體中缺陷密度急劇加大;另外硅熔體侵蝕石英坩禍導(dǎo)致坩禍中的雜質(zhì)氧隨對(duì)流增加進(jìn)入晶體的機(jī)會(huì)也大幅增加。
      【實(shí)用新型內(nèi)容】
      [0008]本實(shí)用新型目的是提供一種單晶爐加熱系統(tǒng)。
      [0009]本實(shí)用新型的技術(shù)方案為:一種單晶爐加熱系統(tǒng),由內(nèi)到外依次包括坩禍、輔助加熱系統(tǒng)、加熱套和保溫罩,所述坩禍內(nèi)壁涂有防止熔硅腐蝕的保護(hù)涂層,所述坩禍底部設(shè)置有拖桿底座,所述拖桿底座與拖桿固定連接,所述拖桿外周設(shè)置有拖桿護(hù)套,所述i甘禍外部設(shè)置有加熱套,所述加熱套為敞口結(jié)構(gòu)、上窄下寬的石墨加熱條,所述加熱套與坩禍之間設(shè)置有輔助加熱系統(tǒng),所述輔助加熱系統(tǒng)上部設(shè)置有圓環(huán)形的加熱板,所述加熱板圓環(huán)內(nèi)對(duì)稱位置各設(shè)置有一個(gè)雜質(zhì)加料口。保溫罩底部一側(cè)設(shè)置有抽真空和充保護(hù)氣的氣體出入
      □ O
      [0010]進(jìn)一步,所述加熱套的石墨加熱條為梯形,上底是下底邊長的二分之一。
      [0011 ] 進(jìn)一步,所述圓環(huán)形加熱板的內(nèi)圓半徑大于單晶硅產(chǎn)品直徑。
      [0012]本實(shí)用新型的有益效果在于:在坩禍內(nèi)涂有防止熔硅腐蝕的保護(hù)涂層,防止坩禍引入雜質(zhì);在加熱套內(nèi)部設(shè)置保溫罩,補(bǔ)償加熱,減少由于晶體成型造成的縱向溫差。
      【附圖說明】
      [0013]圖1為本實(shí)用新型的不意圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0014]下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】做出簡要說明。
      [0015]如圖1所示一種單晶爐加熱系統(tǒng),由內(nèi)到外依次為坩禍2、輔助加熱系統(tǒng)3、加熱套4和保溫罩5,所述坩禍2內(nèi)壁涂有防止熔硅腐蝕的保護(hù)涂層I,所述坩禍2底部設(shè)置有拖桿底座7,所述拖桿底座7與拖桿8固定連接,所述拖桿8外周設(shè)置有拖桿護(hù)套9,所述坩禍2外部設(shè)置有加熱套4,所述加熱套4為敞口結(jié)構(gòu)、上窄下寬的石墨加熱條,所述加熱套4與坩禍2之間設(shè)置有輔助加熱系統(tǒng)3,所述輔助加熱系統(tǒng)3上部設(shè)置有圓環(huán)形的加熱板31,所述加熱板31圓環(huán)內(nèi)對(duì)稱位置各設(shè)置有一個(gè)雜質(zhì)加料口 10。保溫罩底部一側(cè)設(shè)置有抽真空和充保護(hù)氣的氣體出入口 6。
      [0016]本實(shí)例的工作過程:將多晶硅原料加入坩禍2,通過氣體出入口6抽真空,加熱套4加熱使原料熔化,it禍2內(nèi)有保護(hù)涂層I防止原料腐蝕坩禍2引入雜質(zhì)。溫度穩(wěn)定后,將籽晶慢慢浸入硅熔體中,由于籽晶與硅熔體場接觸時(shí)的熱應(yīng)力,會(huì)使籽晶產(chǎn)生位錯(cuò),這些位錯(cuò)必須利用縮頸生長使之消失掉??s頸生長是將籽晶快速向上提升,使長出的籽晶的直徑縮小到一定大小(4-6_)由于位錯(cuò)線與生長軸成一個(gè)交角,只要縮頸夠長,位錯(cuò)便能長出晶體表面,產(chǎn)生零位錯(cuò)的晶體。長完細(xì)頸之后,須降低溫度與拉速,使得晶體的直徑漸漸增大到所需的大小。長完細(xì)頸和肩部之后,借著拉速與溫度的不斷調(diào)整,可使晶棒直徑維持在正負(fù)2_之間,這段直徑固定的部分即稱為等徑部分。
      [0017]等徑生長過程,多晶原料熔融液不斷消耗,坩禍2內(nèi)溫差變大,因而開啟輔助加熱系統(tǒng)3,圓環(huán)形的加熱板31對(duì)坩禍2敞口部分有充分的熱補(bǔ)償。
      [0018]需要添加雜質(zhì)時(shí),通過圓環(huán)加熱板邊緣的雜質(zhì)加料口1,可有效控制原料的沿單晶硅晶體生長均勻。
      [0019]以上對(duì)本實(shí)用新型的一個(gè)實(shí)施例進(jìn)行了詳細(xì)說明,但所述內(nèi)容僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例,不能被認(rèn)為用于限定本實(shí)用新型的實(shí)施范圍。凡依本實(shí)用新型申請(qǐng)范圍所作均等變化與改進(jìn)等,均歸屬于本實(shí)用新型的專利涵蓋范圍之內(nèi)。
      【主權(quán)項(xiàng)】
      1.一種單晶爐加熱系統(tǒng),其特征在于:由內(nèi)到外依次包括坩禍、輔助加熱系統(tǒng)、加熱套和保溫罩,所述坩禍內(nèi)壁涂有防止熔硅腐蝕的保護(hù)涂層,所述坩禍底部設(shè)置有拖桿底座,所述拖桿底座與拖桿固定連接,所述拖桿外周設(shè)置有拖桿護(hù)套,所述坩禍外部設(shè)置有加熱套,所述加熱套為敞口結(jié)構(gòu)、上窄下寬的石墨加熱條,所述加熱套與坩禍之間設(shè)置有輔助加熱系統(tǒng),所述輔助加熱系統(tǒng)上部設(shè)置有圓環(huán)形的加熱板,所述加熱板圓環(huán)內(nèi)對(duì)稱位置各設(shè)置有一個(gè)雜質(zhì)加料口。保溫罩底部一側(cè)設(shè)置有抽真空和充保護(hù)氣的氣體出入口。2.如權(quán)利要求1所述的一種單晶爐加熱系統(tǒng),其特征在于:所述加熱套的石墨加熱條為梯形,上底是下底邊長的二分之一。3.如權(quán)利要求1所述的一種單晶爐加熱系統(tǒng),其特征在于:所述圓環(huán)形加熱板的內(nèi)圓半徑大于單晶硅產(chǎn)品直徑。
      【專利摘要】本實(shí)用新型的目的是提供一種單晶爐加熱系統(tǒng),本實(shí)用新型的技術(shù)方案為:由內(nèi)到外依次包括坩堝、輔助加熱系統(tǒng)、加熱套和保溫罩,所述坩堝內(nèi)壁涂有防止熔硅腐蝕的保護(hù)涂層,所述坩堝外部設(shè)置有加熱套,所述加熱套為敞口結(jié)構(gòu)、上窄下寬的石墨加熱條,所述加熱套與坩堝之間設(shè)置有輔助加熱系統(tǒng),所述輔助加熱系統(tǒng)上部設(shè)置有圓環(huán)形的加熱板,所述加熱板圓環(huán)內(nèi)對(duì)稱位置各設(shè)置有一個(gè)雜質(zhì)加料口。保溫罩底部一側(cè)設(shè)置有抽真空和充保護(hù)氣的氣體出入口。本實(shí)用新型的有益效果在于:在坩堝內(nèi)涂有防止熔硅腐蝕的保護(hù)涂層,防止坩堝引入雜質(zhì);在加熱套內(nèi)部設(shè)置保溫罩,補(bǔ)償加熱,減少由于晶體成型造成的縱向溫差。
      【IPC分類】C30B29/06, C30B15/14
      【公開號(hào)】CN205241851
      【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201521135314
      【發(fā)明人】張立
      【申請(qǐng)人】天津長園電子材料有限公司
      【公開日】2016年5月18日
      【申請(qǐng)日】2015年12月17日
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