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      優(yōu)良的堿蝕刻加工性及沖壓加工性的聚酰亞胺膜的制作方法

      文檔序號:3668930閱讀:271來源:國知局
      專利名稱:優(yōu)良的堿蝕刻加工性及沖壓加工性的聚酰亞胺膜的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及堿蝕刻加工性優(yōu)良的聚酰亞胺膜,特別涉及堿溶液的化學(xué)蝕刻(堿蝕刻)加工性及膜沖壓加工性優(yōu)良的聚酰亞胺膜。
      背景技術(shù)
      聚酰亞胺樹脂,由于其具有良好的耐熱性、耐阻燃性、耐藥品性、電特性等及良好的機(jī)械強(qiáng)度,所以,近幾年來已在各個(gè)領(lǐng)域得到應(yīng)用。具體的可以舉出電子儀器部件領(lǐng)域,例如,柔性印刷配線板(下面簡稱FPC)、載帶自動鍵合(下面簡稱TAB)用膜載體、撓曲基板芯片(或膜芯片,下面簡稱COF)等。另外,在飛機(jī)等結(jié)構(gòu)材料中也得到應(yīng)用。
      作為上述聚酰亞胺樹脂的加工方法之一,可以舉出蝕刻。例如,在FPC、TAB或COF用膜載體中,采用膜狀聚酰亞胺制作基板,但是,為了在該基板所含的聚酰亞胺膜中形成穿孔,可對該聚酰亞胺膜的一部分進(jìn)行蝕刻?;蛘?,在飛機(jī)等結(jié)構(gòu)材料中,為了改善表面濕潤性等表面物性,經(jīng)常采用的是通過對聚酰亞胺膜進(jìn)行化學(xué)蝕刻,使表面變得粗糙(表面粗糙法)等方法。
      因此,涉及聚酰亞胺樹脂的蝕刻技術(shù),此前已提出各種蝕刻方法及蝕刻溶液。
      例如,日本國公開特許公報(bào)“特開平6-298974號公報(bào)”(
      公開日1994年10月25日)公開的以氫氧化堿和肼和1,3-二甲基-2-咪唑烷作為主成分的蝕刻液。另外,日本國公開特許公報(bào)“特開平10-195214號公報(bào)”(
      公開日1998年7月28日)公開的含有脂肪醇、脂肪胺、堿金屬化合物及水的蝕刻液。還有,日本國公開特許公報(bào)“特開平10-97081號公報(bào)”(
      公開日1998年4月14日)公開的含有烷氧基胺及堿金屬化合物的蝕刻液。
      通過采用上述各公報(bào)公開的蝕刻液,不管聚酰亞胺膜的種類,均可迅速、良好的進(jìn)行蝕刻。還有,這里所說的“良好的蝕刻”,系指把聚亞胺膜穩(wěn)定的加以蝕刻,使蝕刻形狀或其尺寸達(dá)到規(guī)定的狀態(tài)。
      因此,此前把著眼點(diǎn)放在改良聚酰亞胺膜化學(xué)蝕刻中的蝕刻液。
      然而,采用上述原有的各種方法,在聚酰亞胺膜中接觸蝕刻液的地方,已知產(chǎn)生溶脹(swelling)。該溶脹的發(fā)生,對聚酰亞胺膜具有加工不良的危險(xiǎn)。
      具體的是通過上述原有技術(shù),采用任何一種堿溶液對聚酰亞胺膜進(jìn)行蝕刻。此時(shí),當(dāng)把聚酰亞胺膜浸漬在堿溶液中時(shí),在膜表面生成膠狀物質(zhì)。在本說明書中,把該膠狀物質(zhì)稱作“溶脹物”。
      對上述溶脹發(fā)生的原因及組成,雖然可以推斷為(1)由聚酰亞胺通過堿閉環(huán)變成聚酰胺酸而生成的物質(zhì);(2)由堿分解聚酰亞胺變成單體而生成的物質(zhì);(3)上述(1)和(2)的混合物;以及(4)由聚酰亞胺及聚酰胺酸通過堿切斷主鏈而生成的低分子量物質(zhì)等,但這些均未通過分析加以明確證實(shí)。
      在上述聚酰亞胺膜蝕刻中,當(dāng)以形成穿孔為例時(shí),聚酰亞胺膜用耐堿性樹脂或由金屬構(gòu)成的耐堿性掩膜材料進(jìn)行掩蔽,只在形成穿孔的地方除去掩膜的狀態(tài)下實(shí)施蝕刻。
      采用該法,穿孔的側(cè)面及膜端側(cè)面,當(dāng)然,由于未采用上述耐堿性掩蔽材料加以保護(hù),從而產(chǎn)生上述溶脹。在蝕刻工序及清洗工序,上述溶脹物不能完全溶解去除而被干燥時(shí),殘?jiān)鼩埩粼谀ご┛谆蚰ざ藗?cè)面等處,造成加工不良。
      上述加工不良,伴隨著通過蝕刻在聚酰亞胺膜上形成的穿孔直徑小而越顯著。換言之,聚酰亞胺膜的加工愈細(xì),加工不良愈顯著。通常,溶脹引起的加工不良,在連結(jié)導(dǎo)體表背間的穿孔部,溶脹物(殘?jiān)?以膜狀或絲狀的殘留形態(tài)產(chǎn)生。當(dāng)該溶脹物殘留時(shí),通過穿孔部的導(dǎo)電性發(fā)生障礙,使產(chǎn)品的可靠性降低。
      作為避免因上述溶脹的發(fā)生而造成加工不良的技術(shù),例如,可以舉出日本國公開特許公報(bào)“特開平5-283486號公報(bào)”(
      公開日1993年10月29日)公開的蝕刻方法。采用該蝕刻方法,可以除去因蝕刻生成的聚酰胺酸(即溶脹物),然而,由于該法存在的問題是需要多個(gè)工序,生產(chǎn)效率低。
      例如,在FPC的制造過程中,在形成穿孔等工序,除上述穿孔加工不良以外,通過聚酰亞胺膜的蝕刻,堿溶液等與膜接觸,在膜上產(chǎn)生卷曲(局部皺紋)。該卷曲也對其后的加工工序的產(chǎn)品合格率產(chǎn)生很大影響。
      然而,作為聚酰亞胺樹脂基板,已知有可以高密度安裝的LOC(Lead onChip)結(jié)構(gòu)的引線框架。該LOC結(jié)構(gòu)的引線框架,在用于搭載半導(dǎo)體芯片時(shí),預(yù)先在高耐熱聚酰亞胺類膜的兩面粘貼涂布了粘合劑(熱塑性及熱固性粘合劑等)的粘合劑膜,作為引線框架預(yù)制品而得到實(shí)際使用。
      在上述引線框架上粘貼聚酰亞胺類膜時(shí),可以采用此前的用沖壓模具進(jìn)行沖壓粘貼的方法。該方法是把沖壓成長方形的聚酰亞胺膜,在位于該膜下方的引線框架的引線上進(jìn)行粘貼的方法。
      但是,采用上述沖壓粘貼方法的缺點(diǎn)是,在沖壓聚酰亞胺類膜時(shí),在膜的切口處,易產(chǎn)生膜切斷毛刺或膜屑,導(dǎo)致產(chǎn)生加工不良。
      在這里,作為避免沖壓時(shí)產(chǎn)生上述加工不良的技術(shù),例如,日本國公開特許公報(bào)“特許第2923170號公報(bào)”(公開特許公報(bào)“特開平6-334110號”,
      公開日1994年12月2日,注冊日1999年4月30日)公開的技術(shù)。在該公報(bào)中,作為改進(jìn)沖壓加工之膜,是具有50kgf/20mm~70kgf/20mm端裂抗性的聚酰亞胺類膜。
      然而,上述公報(bào)的技術(shù),只是提高了膜沖壓時(shí)的加工性,如何同時(shí)提高用上述堿溶液進(jìn)行蝕刻時(shí)的加工性尚未公開。
      因此,此前我們還不知道用上述堿溶液進(jìn)行蝕刻的加工性和膜沖壓時(shí)的加工性不僅能同時(shí)得到改善而且能獲得聚酰亞胺膜的現(xiàn)有技術(shù)。
      本發(fā)明鑒于上述存在的課題,目的是提供一種既在蝕刻時(shí)又在沖壓加工時(shí)能有效防止加工不良的發(fā)生,提高各工序的生產(chǎn)效率,并且具有優(yōu)良加工性的聚酰亞胺膜。

      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明人為了達(dá)到上述目的,對提高聚酰亞胺膜的加工性進(jìn)行了悉心探討。結(jié)果發(fā)現(xiàn),通過限定化學(xué)蝕刻工序中溶脹的發(fā)生和抗撕裂傳播性的偏差值,可以提高加工效率,以至完成本發(fā)明。
      即,本發(fā)明的聚酰亞胺膜是具有抗撕裂傳播性的偏差值在1.0g以下的結(jié)構(gòu)。
      本發(fā)明的聚酰亞胺膜,具體地說,優(yōu)選分子內(nèi)含有下式(1)表示的重復(fù)單元。
      其中,上式(1)中的R是 及/或 ,上述R中的n表示1~3的整數(shù),X及Y分別獨(dú)立的表示氫原子、鹵原子、羧基、碳原子數(shù)6或6以下的低級烷基或碳原子數(shù)6或6以下的低級烷氧基,A表示-O-、-S-、-CO-、-SO2-或-CH2-。另外,上式(1)中的R1選自
      和 及 還有,上式(3)中的R2選自下列的2價(jià)有機(jī)基團(tuán),上述R3分別獨(dú)立的為-CH3、-Cl、-Br、-F或-CH3O。

      還有,本發(fā)明的聚酰亞胺膜,浸漬在堿溶液中后的溶脹系數(shù)優(yōu)選在20.0以下。從溶脹系數(shù)小這點(diǎn)看,具體的是,本發(fā)明的聚酰亞胺膜,優(yōu)選的是分子內(nèi)具有下列通式(2)表示的重復(fù)單元 還有,上式(2)中的R與上式(1)中的R相同,R2與上式(3)中的R2相同。
      另外,本發(fā)明的聚酰亞胺膜,作為二胺成分,在全部二胺成分中優(yōu)選使用對苯二胺在25摩爾%以上以及4,4′-二氨基二苯醚在25摩爾%以上。
      按照上述構(gòu)成,通過規(guī)定抗撕裂傳播性的偏差及/或溶脹系數(shù),在膜沖壓時(shí),可以防止膜切斷毛刺及膜切斷碎屑的發(fā)生,另外,在采用堿溶液進(jìn)行蝕刻時(shí),可以防止溶脹的發(fā)生。因此,本發(fā)明的聚酰亞胺膜由于具有優(yōu)良的加工性,可以使上述各工序的生產(chǎn)效率提高。
      特別是本發(fā)明的聚酰亞胺膜,至少,只要含有上述式(1)重復(fù)單元就可實(shí)現(xiàn)優(yōu)良的撕裂傳播電阻性,而且,通過含有式(2)重復(fù)單元,還可降低溶脹系數(shù),可以實(shí)現(xiàn)優(yōu)良的堿蝕刻性。
      本發(fā)明的其他目的、特征、以及優(yōu)點(diǎn),通過下列說明將更充分理解。另外,本發(fā)明的效果,可通過參照附圖進(jìn)行的下列說明將清楚了解。
      附圖的簡單說明

      圖1是溶脹去除方法之一的模式圖。
      圖2是用抗撕裂傳播性偏差計(jì)算方法表示的抗撕裂傳播性能值的波形圖。
      圖3(a)~(c)是為了得到溶脹發(fā)生及溶脹系數(shù)而測定膜重時(shí)的聚酰亞胺狀態(tài)模式圖,圖3(a)是聚酰亞胺膜浸漬在堿溶液中之前的狀態(tài),圖3(b)是聚酰亞胺膜浸漬在堿溶液中產(chǎn)生溶脹的狀態(tài),圖3(c)是浸漬在堿溶液中之后的聚酰亞胺膜去除溶脹的狀態(tài)。
      圖4是目視觀察卷曲狀態(tài)的模式圖。
      圖5(a)是表示在聚酰亞胺膜制造例1中,抗撕裂傳播性偏差和切屑發(fā)生率的關(guān)系圖,圖5(b)是表示在聚酰亞胺膜制造例2中,抗撕裂傳播性偏差和切屑發(fā)生率的關(guān)系圖。
      實(shí)施本發(fā)明的最佳方案對本發(fā)明實(shí)施方案的詳細(xì)說明如下。還有,本發(fā)明又不限于此。
      本發(fā)明的聚酰亞胺膜,至少滿足下列2個(gè)條件之一。
      條件(1)抗撕裂傳播性偏差CH在1.0g以下。
      條件(2)浸漬在堿溶液中之后的溶脹系數(shù)CR在20.0以下,優(yōu)選10.0以下,更優(yōu)選5.0以下。
      上述聚酰亞胺膜,通過滿足條件(1),在膜沖壓加工(稱作沖壓加工工序)時(shí),可以防止膜的切斷毛刺及膜的切斷碎屑的發(fā)生,通過滿足條件(2),在采用堿溶液進(jìn)行蝕刻加工(稱作堿蝕刻工序)時(shí),可以防止溶脹的發(fā)生。因此,本發(fā)明的聚酰亞胺膜,通過滿足上述條件(1)或(2),可以提高各工序的生產(chǎn)效率,通過滿足上述條件(1)和(2)兩者,可以共同發(fā)揮優(yōu)良的堿蝕刻性及沖壓加工性。
      本發(fā)明的聚酰亞胺膜,只要滿足上述條件(1)和/或(2)即可而其它未作特別的限定,但是,更優(yōu)選的是至少在分子中含有下式(1)表示重復(fù)單元的聚酰亞胺膜。
      上式(1)中的R是 及/或 ,上述R中的n表示1~3的整數(shù),X及Y分別獨(dú)立的表示氫原子、鹵原子、羧基、碳原子數(shù)6以下的低級烷基或碳原子數(shù)6以下的低級烷氧基,A表示-O-、-S-、-CO-、-SO2-或-CH2-。另外,上式(1)中的R1選自
      和 及
      還有,上式(3)中的R2選自上列的2價(jià)有機(jī)基團(tuán),上述一組中的R3分別獨(dú)立的為-CH3、-Cl、-Br、-F或-CH3O。
      本發(fā)明的聚酰亞胺膜,至少,通過含有上述式(1)表示的重復(fù)單元,可以滿足條件(1),實(shí)現(xiàn)優(yōu)良的撕裂傳播電阻性。
      本發(fā)明的聚酰亞胺膜,從溶脹系數(shù)小這一點(diǎn)看,優(yōu)選的是分子內(nèi)具有下列通式(2)表示的重復(fù)單元 還有,上式(2)中的R與上式(1)中的R相同,R2與上式(3)中的R2相同。
      本發(fā)明的聚酰亞胺膜,至少,通過含有上式(2)表示的重復(fù)單元,不僅可以滿足上述條件(1)而且可以滿足上述條件(2),實(shí)現(xiàn)優(yōu)良的撕裂傳播電阻性及堿蝕刻性。
      本發(fā)明的聚酰亞胺膜,更優(yōu)選的是在分子中含有下式(4)表示的重復(fù)結(jié)構(gòu)單元 上式(4)中的R4是選自下列基團(tuán)的2價(jià)有機(jī)基團(tuán)。
      及/或 本發(fā)明的聚酰亞胺膜,通過進(jìn)一步含有上式(4)表示的重復(fù)單元,可以得到更優(yōu)良的撕裂傳播電阻性及堿蝕刻性。
      本發(fā)明的聚酰亞胺膜,更優(yōu)選的是在分子中除含有上式(4)表示的重復(fù)單元外,還含有下式(5)表示的重復(fù)單元 其中,式(5)中的R5是選自下列基團(tuán)的至少2種 和 而R4是用下列結(jié)構(gòu)式表示的2價(jià)有機(jī)基團(tuán) 及/或 即,式(5)中的R4也與式(4)中的R4相同,為2價(jià)有機(jī)基團(tuán)。
      本發(fā)明的聚酰亞胺膜,除上式(4)表示的重復(fù)單元外,還含有式(5)表示的重復(fù)單元,借此可以實(shí)現(xiàn)更優(yōu)良的撕裂傳播電阻性及堿蝕刻性。
      本發(fā)明的聚酰亞胺膜,更優(yōu)選的是在分子中主要含有下式(6)、(7)、(8)及(9)表示的重復(fù)單元的聚酰亞胺膜
      本發(fā)明的聚酰亞胺膜,通過含有上式(6)~(9),可以實(shí)現(xiàn)更優(yōu)良的撕裂傳播電阻性及堿蝕刻性。
      此外,本發(fā)明的聚酰亞胺膜,作為二胺成分的對苯二胺在總二胺成分中使用25摩爾%以上,并且4,4′-二氨基二苯醚在總二胺成分中使用25摩爾%以上,則可以得到此膜。
      本發(fā)明的聚酰亞胺膜,優(yōu)選的是對苯二胺在總二胺成分中為25摩爾%以上75摩爾%以下的范圍內(nèi),并且4,4′-二氨基二苯醚在總二胺成分中為25摩爾%以上75摩爾%以下的范圍內(nèi),更優(yōu)選的是對苯二胺在總二胺成分中為30摩爾%以上70摩爾%以下的范圍內(nèi),并且4,4′-二氨基二苯醚在總二胺成分中為30摩爾%以上70摩爾%以下的范圍內(nèi)使用,則可以得到此膜。
      通過使用上述范圍內(nèi)的二胺成分,可以得到FPC用基膜的優(yōu)選的物性(特性),具體地說其物性為吸水率2.0%以下、線膨脹系數(shù)(100℃~200℃)25ppm/℃以下、吸濕膨脹系數(shù)10ppm/℃以下、彈性系數(shù)4.0~8.0GPa、拉伸伸長率20%以上。
      另一方面,當(dāng)使用的二胺成分偏離上述范圍時(shí),所得到的聚酰亞胺膜不能滿足上述優(yōu)選的物性,所以,作為FPC基膜的使用及加工變得困難。
      其次,對本發(fā)明的聚酰亞胺膜的制造方法加以說明。
      在本實(shí)施方案中,首先,在有機(jī)溶劑中使酸二酐成分和二胺成分大致等摩爾進(jìn)行反應(yīng),制備作為聚酰亞胺前體的聚酰胺酸的有機(jī)溶劑溶液(下面稱作聚酰胺酸溶液)。然后,把該聚酰胺酸溶液與催化劑及脫水劑混合后,在支撐體上流延涂布。接著,進(jìn)行干燥及加熱,制成聚酰亞胺膜。
      制備上述聚酰胺酸溶液時(shí),即,在聚酰胺酸聚合中使用的有機(jī)溶劑未作特別限定,但是,例如可以采用四甲基尿素、N,N-二甲基乙基-脲等脲類;二甲基亞砜、二苯基砜、四甲基砜等亞砜或砜類;N,N-二甲基乙酰胺、N,N-二甲基甲酰胺、N,N′-二乙基甲酰胺、N,N′-二乙基乙酰胺、N-甲基-2-吡咯烷酮、γ-丁內(nèi)酯、六甲基磷酸三酰胺等酰胺類;或者,磷酰胺類的非質(zhì)子性溶劑;氯仿、二氨甲烷等鹵代烷烴;苯、甲苯等芳香烴;苯酚、甲酚等酚類;二甲醚、二乙醚、對-甲酚甲醚等醚類;等。這些有機(jī)溶劑,通常可以單獨(dú)使用,但根據(jù)需要,也可2種以上加以適當(dāng)組合后使用。
      在上述有機(jī)溶劑中,特別優(yōu)選使用N,N-二甲基甲酰胺、N,N′-二乙基甲酰胺、N-甲基-2-吡咯烷酮。所述有機(jī)溶劑,既可分別單獨(dú)使用,也可以任意的比例加以混合使用。在本實(shí)施方案中使用的上述有機(jī)溶劑,原封不動地使用從市場購得的特級或1級有機(jī)溶劑也可,但是,這些市場銷售的有機(jī)溶劑,也可通過干燥蒸餾等一般操作實(shí)施脫水精制處理后使用。
      上述聚酰胺酸的聚合方法,即聚酰胺酸溶液的配制方法未作特別限定,可以采用公知的方法。具體的,例如采用日本國公開特許公報(bào)“特開平9-235373號公報(bào)”(
      公開日1997年9月9日)公開的方法是合適的。采用上述公報(bào)公開的方法,可以得到具有高彈性、低熱膨脹系數(shù)、低吸水率的聚酰亞胺膜。
      聚酰胺酸的聚合一般采用2個(gè)階段方式進(jìn)行,在第1階段稱作預(yù)聚物的低粘度聚酰胺酸進(jìn)行聚合,然后,把溶解了酸二酐的有機(jī)溶劑添加至有機(jī)溶劑中,制得高粘度聚酰胺酸。在這里,在從上述第1階段向第2階段移動時(shí),采用過濾器等把預(yù)聚物中的不溶解原料或混入的雜質(zhì)除去(過濾工序),優(yōu)選設(shè)置這樣的工序。
      在上述過濾工序中使用的上述過濾器的網(wǎng)眼未作特別限定,但是只要是制成的聚酰亞胺膜厚度的1/2即可,優(yōu)選1/5,更優(yōu)選1/10。
      在所得到的聚酰亞胺膜表面上,當(dāng)存在不溶解的原料及混入的雜質(zhì)時(shí),在堿蝕刻工序?qū)嵤┑膶埘啺纺ぶ谱餮谀r(shí),聚酰亞胺膜和掩膜的密閉性降低。結(jié)果是,在密閉性低的地方發(fā)生堿溶液(蝕刻溶液)的滲入,所形成的穿孔的形狀與所希望的形狀不一致,發(fā)生破裂。因此,如果實(shí)施上述過濾工序,可以減少所得到的聚酰亞胺膜中雜質(zhì)的混入及缺陷的發(fā)生。
      對上述聚酰胺酸溶液的組成未作特別限定,關(guān)于聚酰胺酸,在有機(jī)溶劑中,只要聚酰胺酸在5重量%~40重量%范圍內(nèi)溶解即可,優(yōu)選在10重量%~30重量%范圍內(nèi),更優(yōu)選在13重量%~25重量%范圍內(nèi)溶解。在該范圍內(nèi),當(dāng)聚酰胺酸在有機(jī)溶劑中溶解時(shí),由于處理性能提高,故優(yōu)選。
      對上述聚酰胺酸的分子量也未作特別限定,重均分子量Mw=10,000以上者是優(yōu)選的,更優(yōu)選50,000以上。如重均分子量在所述下限值以上時(shí),可以得到優(yōu)良膜特性的聚酰亞胺膜。
      對上述聚酰胺酸分子量的測定方法未作特別限定,采用GPC(凝膠滲透色譜法)等公知的方法是合適的。在本實(shí)施方案中,在下列條件下采用GPC決定所述重均分子量的下限值。
      色譜柱東ソ一制造的TSKgel α-M、α-3000、α-2500流動相N,N-二甲基甲酰胺(DMF)、0.03M磷酸、0.03M溴化鋰流量0.6ml/min檢測器RI色譜柱溫度40℃試樣調(diào)整溶于流動相(清漆重量,濃度10mg/ml),采用液體色譜的過濾器進(jìn)行過濾(小孔徑為0.45μm),注入量100μl。
      在本發(fā)明中,由上述聚酰胺酸溶液制得聚酰亞胺組合物的具體方法,即,由聚酰胺酸的有機(jī)溶劑溶液制得聚酰亞胺膜的方法未作特別限定,可以采用加熱脫水閉環(huán)的熱法(熱硬化法、熱閉環(huán)法),采用脫水劑的化學(xué)方法(化學(xué)硬化法、化學(xué)閉環(huán)法)的任何一種。
      所述熱法并不是脫水閉環(huán)劑等起作用而是僅僅加熱進(jìn)行酰亞胺化反應(yīng)的方法。上述加熱溫度或其它條件可以選擇公知的條件而未作特別限定。
      關(guān)于上述加熱方法的具體順序,可舉例說明。首先,把不含脫水劑和催化劑的聚酰胺酸的有機(jī)溶劑溶液,從具有縫隙的模具流延涂布在鼓或環(huán)狀皮帶等支撐體上,成型為膜。然后,在該支撐體上,在200℃以下的溫度,通過加熱干燥1~20分鐘,形成具有自支撐性的凝膠膜后,把凝膠膜從支撐體上剝離。然后,把凝膠膜的兩端固定。接著,在100℃~約600℃通過緩慢或分階段進(jìn)行加熱使進(jìn)行酰亞胺化,漸漸冷卻后,拆除端部固定。由此,可以得到本發(fā)明的聚酰亞胺膜。
      從撕裂傳播強(qiáng)度變動性小的觀點(diǎn)看,上述凝膠膜的最高加熱溫度,優(yōu)選520℃以上,更優(yōu)選530℃以上。當(dāng)加熱溫度的下限為上述溫度時(shí),所得到的聚酰亞胺膜,至少可以保證滿足上述條件(1)的特性。
      所述化學(xué)法,是使化學(xué)轉(zhuǎn)化劑和優(yōu)選的催化劑作用于聚酰胺酸溶液,進(jìn)行酰亞胺化的方法。
      對上述化學(xué)法的具體順序,舉例說明。首先,在上述聚酰胺酸的有機(jī)溶劑溶液中添加了化學(xué)計(jì)量學(xué)以上的脫水劑和催化劑,把這樣的混合溶液,從具有縫隙的模具,在鼓或環(huán)狀皮帶等支撐體上流延涂布,成型為膜。然后,在該支撐體上,在200℃以下的溫度,通過加熱干燥1~20分鐘,形成具有自支撐性的凝膠膜后,把凝膠膜從支撐體上剝離。然后,把凝膠膜的兩端固定。接著,在100℃~約500℃通過緩慢或分階段進(jìn)行加熱使進(jìn)行酰亞胺化,漸漸冷卻后,拆除端部固定。由此,可以得到本發(fā)明的聚酰亞胺膜。
      上述脫水劑,未作特別限定,然而,采用醋酐等脂肪酸酐或芳香酸酐等是合適的。同樣,對上述催化劑也未作特別限定,例如,采用三乙胺等脂肪族叔胺類、二甲基苯胺等芳香族叔胺類、吡啶、異喹啉等雜環(huán)式叔胺類是合適的。其中,作為脫水劑采用酸酐,而作為催化劑采用異喹啉是更優(yōu)選的。
      在上述化學(xué)法中,與聚胺酸聚合時(shí)同樣,在脫水劑和催化劑混入聚胺酸溶液之前,優(yōu)選采用實(shí)施過濾器除去不溶解的原料及混入的雜質(zhì)的工序(過濾工序)。
      上述過濾工序中使用的過濾器的網(wǎng)眼未作特別限定,為所制造的聚酰亞胺膜厚度的1/2即可,優(yōu)選1/5,更優(yōu)選1/10。
      在所得到的聚酰亞胺膜表面,當(dāng)存在不溶解的原料及混入的雜質(zhì)時(shí),在堿蝕刻工序中實(shí)施的對聚酰亞胺膜制作掩膜時(shí),聚酰亞胺膜和掩膜的密閉性降低。結(jié)果是,在密閉性降低的地方,堿溶液(蝕刻溶液)發(fā)生滲入,所形成的穿孔的形狀與所希望的形狀不一致,發(fā)生破壞。反之,如果實(shí)施上述過濾工序,可以降低所得到的聚酰亞胺膜中的雜質(zhì)混入及缺陷的發(fā)生。
      在上述化學(xué)法中,對聚酰胺酸溶液,脫水材料及催化劑的添加量,即對混合液中的聚酰胺酸,脫水材料及催化劑的含量依賴于構(gòu)成聚酰胺酸的結(jié)構(gòu)式。
      對聚酰胺酸中的酰胺基來說,脫水劑所用的摩爾比在10~0.01范圍內(nèi)即可。即,脫水劑的摩爾數(shù)/聚酰胺酸中的酰胺基摩爾數(shù)=10~0.01范圍內(nèi)即可。同樣的,對聚酰胺酸中的酰胺基來說,催化劑所用的摩爾比在5~0.5范圍內(nèi)即可。即,催化劑的摩爾數(shù)/聚酰胺酸中的酰胺基摩爾數(shù)=10~0.01范圍內(nèi)即可。另外,優(yōu)選當(dāng)脫水劑的摩爾數(shù)/聚酰胺酸中的酰胺基摩爾數(shù)=5~0.5范圍內(nèi)、更優(yōu)選催化劑的摩爾數(shù)/聚酰胺酸中的酰胺基摩爾數(shù)=5~0.5范圍內(nèi)。還有,在這種場合,還可以并用乙?;饶z延遲劑。
      另外,對聚酰胺酸溶液,脫水材料及催化劑的添加量,不是以聚酰胺酸中的酰胺基的摩爾比為基準(zhǔn),在0℃時(shí),聚酰胺酸和,脫水劑及催化劑的混合物加以混合后,用粘度開始上升之前的時(shí)間(活化期)加以規(guī)定即可。
      活化期一般優(yōu)選在0.1分~120分的范圍,更優(yōu)選0.5分~60分范圍。當(dāng)大于該范圍而發(fā)生偏離時(shí),產(chǎn)生各種問題。例如,當(dāng)活化期小于0.1分時(shí),凝膠膜的表面特性下降,以及凝膠膜的外觀變差等物性發(fā)生下降。另外,當(dāng)活化期大于120分時(shí),在進(jìn)行澆鑄后,從鼓等支撐體上剝離凝膠膜時(shí),難以進(jìn)行剝離作業(yè)等。
      上述化學(xué)法及熱法,既可單獨(dú)使用也可并用。一般使用化學(xué)法的優(yōu)點(diǎn)是,可以得到拉伸率及拉伸強(qiáng)度等機(jī)械特性優(yōu)良的聚酰亞胺膜,或者使酰亞胺化所需要的時(shí)間縮短等。另外,不管是單獨(dú)還是并用,酰亞胺化涉及的反應(yīng)條件,取決于聚酰胺酸的種類、聚酰胺酸膜或聚酰亞胺膜的厚度、熱法及/或化學(xué)法的選擇等而變化,但不作特別的限定。
      在采用上述熱法及化學(xué)法的任何一種方法時(shí),根據(jù)需要,往聚酰胺酸溶液中也可添加各種添加劑。作為添加劑,可以舉出公知的,例如抗氧化劑、光穩(wěn)定劑、阻燃劑、防靜電劑、熱穩(wěn)定劑、紫外線吸收劑、無機(jī)填料類或各種增強(qiáng)劑等。這些添加劑可根據(jù)聚酰亞胺膜的種類及用途加以適當(dāng)選擇,但對其種類未作特別限定。另外,這些添加劑既可單獨(dú)使用也可數(shù)種組合后并用。
      另外,在與FPC、TAB、COF一起使用的基膜,由于在兩輥之間使用,所以,優(yōu)選具有滑動性。為實(shí)現(xiàn)該滑動性的具體手段,優(yōu)選混合無機(jī)填料類。
      另一方面,當(dāng)混合無機(jī)填料時(shí),添加的無機(jī)填料在膜表面上作為突起出現(xiàn),當(dāng)該突起增大時(shí),與堿蝕刻時(shí)的掩膜材料的密閉性降低,從該密閉性降低的地方,堿溶液滲入膜及掩膜材料的間隙中,造成加工不良。另外,在電路基板制作工序中,在聚酰亞胺膜和金屬層直接接觸的2層層疊體中使用聚酰亞胺膜時(shí),上述突起在電路制作時(shí)(制作布線圖案時(shí))也是個(gè)問題。
      近幾年來,電路幅度及電路間距離越來越窄,目前的狀況是,例如電路幅度在25μm左右,電路間距也在25μm左右,而且,今后還要變得更窄。在這種精細(xì)圖案的傾向中,膜上的突起已成為問題,作為具體的突起的大小,其高度在電路高度的1/5以下,突起的直徑為電路幅度或電路間距小者的1/3以下是優(yōu)選的。另外,采用金屬層作為堿蝕刻時(shí)的掩膜材料時(shí),突起的大小除上述范圍外,還優(yōu)選膜具有突起直徑為所希望的開口部直徑1/5以下。
      本發(fā)明的聚酰亞胺膜,可以采用上述制造方法進(jìn)行制造,如上所述,滿足條件(1)時(shí),抗撕裂傳播性偏差CH在1.0g以下,及/或滿足條件(2)時(shí),浸漬在堿溶液中后的溶脹系數(shù)CR在20.0以下,優(yōu)選10.0以下,更優(yōu)選5.0以下。
      本發(fā)明的聚酰亞胺膜,可根據(jù)其物性在各種用途中使用,特別是在電子儀器部件的領(lǐng)域,例如,優(yōu)選用在柔性印刷配線板(FPC)、載帶自動鍵合(TAB)用膜載體、撓曲基板上芯片(COF)等。在這些用途中,對聚酰亞胺膜實(shí)施化學(xué)蝕刻加工或沖壓加工。因此,本發(fā)明的聚酰亞胺膜,只要滿足上述條件(1)及/或(2)就可以提高其加工時(shí)的加工性。
      在本發(fā)明中,對聚酰亞胺膜加工中使用的蝕刻方法及沖壓方法未作特別限定,適當(dāng)選擇公知的各種方法。所述蝕刻方法,采用公知的堿溶液進(jìn)行化學(xué)蝕刻的方法(堿蝕刻法)是合適的。所述沖壓方法,適于用沖壓模具的各種公知的方法。即,在本發(fā)明的聚酰亞胺膜加工過程中,只要含有堿蝕刻工序及沖壓工序的至少1種工序即可,各工序中可以采用任何一種原來公知的方法。
      對本發(fā)明聚酰亞胺膜滿足上述各條件加以具體說明。首先,對條件(2)中的溶脹系數(shù)CR加以定義,本發(fā)明中的“溶脹系數(shù)”CR可用下列計(jì)算式(i)表示CR=[D2-D1]÷D2×100 (i)在上述計(jì)算式(i)中的D1及D2,表示“堿重量減少率”,其次,根據(jù)“溶脹系數(shù)計(jì)算試驗(yàn)”求出膜重量進(jìn)行定義。
      首先,把100mm×100mm的聚酰亞胺膜放在烘箱中于150℃干燥15分鐘,從烘箱中取出30秒鐘后測定膜重量W0。進(jìn)而,實(shí)施下列膜重量的測定,作為膜全部干燥后30秒的計(jì)測值,而干燥及測定,是在濕度為60%RH、溫度為23℃的恒溫恒濕室中實(shí)施。
      然后,把上述聚酰亞胺膜浸漬在堿溶液(蝕刻溶液)中后,用規(guī)定的清洗方法進(jìn)行清洗(在蒸餾水中靜置或在蒸餾水中用超聲波清洗)。清洗后的聚酰亞胺膜于150℃干燥15分鐘,測定膜重量W1。
      其后,再準(zhǔn)備一塊同樣的聚酰亞胺膜,同樣于150℃干燥15分鐘,測定膜重量W0′。接著,把該聚酰亞胺膜浸漬在堿溶液中,然后,在蒸餾水中,用150mm×150mm的不銹鋼材(SUS-304),把溶脹物擦去。然后,把聚酰亞胺膜于150℃干燥15分鐘,測定膜重量W2。
      上述堿重量減少率D1,通過上述工序測定的膜重量W0及W2加以定義,而上述堿重量減少率D2,通過膜重量W0′及W2加以定義,分別用下列計(jì)算式(ii)或(iii)表示D1=(W0-W1)÷W0×100 (ii)D2=(W0′-W2)÷W0′×100 (iii)在上述溶脹系數(shù)計(jì)算試驗(yàn)中,堿溶液對聚酰亞胺膜的浸漬按下列條件實(shí)施。
      在乙醇/蒸餾水重量比(重量%)=8/2的乙醇水溶液中,添加氫氧化鉀(KOH),加以溶解,用配制成最終濃度1摩爾/升的溶液作為堿溶液。聚酰亞胺膜對該堿溶液的浸漬時(shí)間為5分鐘。
      其次,對上述溶脹系數(shù)計(jì)算試驗(yàn)中的溶脹物去除方法加以具體說明。這里實(shí)施的溶脹去徐方法,最終只要把在聚酰亞胺膜表面的溶脹物去除而不存在的方法即可,未作特別限定,任何一種方法都可以。作為一個(gè)具體的實(shí)例,可以舉出采用擦拭用SUS材料進(jìn)行擦拭的方法。
      具體的如圖1所示,把在堿溶液中浸漬后的聚酰亞胺膜,放在2mm厚的平板狀不銹鋼材料上(2mm厚的SUS材料)。然后,把具有150mm×150mm尺寸的擦拭用SUS材料(SUS-304),立在2mm厚SUS材料上,其邊緣部分與上述聚酰亞胺膜的表面接觸。在該接觸狀態(tài),沿著圖中箭頭方向(擦拭用SUS材料移動方向),在同一方向上至少移動10幾次,重復(fù)擦去溶脹物(凝膠狀物質(zhì))。
      在擦去溶脹物時(shí),把擦拭用SUS材料的邊緣部分壓在該聚酰亞胺膜的表面,其用力大小可使浸漬在堿溶液中后的聚酰亞胺膜達(dá)到不破裂程度。另外,擦去溶脹物的作業(yè),在聚酰亞胺膜的兩面實(shí)施。借此,用該擦拭用SUS材料的邊緣部分,則擦掉聚酰亞胺膜表面的溶脹物而該聚酰亞胺膜不發(fā)生破裂。
      采用上述溶脹物擦拭方法,最終可以用觸感及目視確認(rèn)在聚酰亞胺膜表面不存在溶脹物,即,與未用堿溶液處理的聚酰亞胺膜在蒸餾水中的表面狀態(tài)相同。
      還有,本發(fā)明中的溶脹系數(shù)CR可以小于20,是指從堿溶液取出后的聚酰亞胺膜在規(guī)定的清洗條件清洗時(shí)的情形。該清洗條件,只要是聚酰亞胺膜采用蝕刻時(shí)公知的條件即可而未作特別限定,然而,一般的可以舉出其中1種,在蒸餾水中靜置10分鐘,或在蒸餾水中超聲波清洗10分鐘,或在蒸餾水中超聲波10分鐘。
      本發(fā)明人獨(dú)立發(fā)現(xiàn),像通過下述實(shí)施例加以詳細(xì)說明的那樣,用上述計(jì)算式(i)求出的溶脹系數(shù)CR至少在20.0以下,優(yōu)選10.0以下,更優(yōu)選5.0以下,堿蝕刻加工后的聚酰亞胺膜,其表面的溶脹物減少。
      在計(jì)算溶脹系數(shù)CR的過程中,聚酰亞胺膜變成圖3(a)~(c)所示的圖像。具體地說,在測定膜重量W0的階段,如圖3(a)所示,聚酰亞胺膜在堿溶液中浸漬之前,其厚度最大。其次,在測定膜重量W1的階段,如圖3(b)所示,聚酰亞胺膜在堿溶液中浸漬之后,聚酰亞胺膜的雙面都產(chǎn)生溶脹(圖中用半圓狀圖像表示)。然后,在在測定膜重量W2的階段,如圖3(c)所示,在擦拭溶脹物后(去除),與圖3(a)的狀態(tài)相比,厚度變小。
      其中,通過把該聚酰亞胺膜暴露在蝕刻所用的堿性水溶液等,聚酰亞胺膜產(chǎn)生卷曲(局部皺紋),然而,當(dāng)溶脹系數(shù)小到20以下時(shí),卷曲變小。這種變形對電連接的可靠性有很大影響。
      通過暴露在蝕刻液中,聚酰亞胺膜產(chǎn)生卷曲的原因如下。即,在聚酰亞胺膜中,暴露在蝕刻液的地方產(chǎn)生溶脹(膨潤),該溶脹不能完全除去而加以干燥(收縮)。另一方面,采用同樣的聚酰亞胺膜,用蝕刻用掩膜材料加以被覆的地方(不與蝕刻液接觸)不發(fā)生上述膨潤、干燥、收縮。因此,可以認(rèn)為由于上述膨潤、干燥、收縮的不同影響,經(jīng)過堿蝕刻工序的FPC,局部產(chǎn)生皺紋或卷曲。
      本發(fā)明人發(fā)現(xiàn),暴露在堿溶液中的聚酰亞胺膜卷曲性和溶脹的發(fā)生率之間有某種相關(guān),溶脹系數(shù)小的聚酰亞胺膜暴露在堿溶液(蝕刻液)中后,即使進(jìn)行干燥,卷曲率也變小(參照下述實(shí)施例)。
      由此看來,聚酰亞胺膜的溶脹系數(shù)CR至少在所述上限值以下,如圖3(a)~(c)所示,溶脹的發(fā)生比原來的明顯降低。因此,在堿蝕刻工序及其以后的清洗工序中,溶脹物可以充分除去。
      因此,本發(fā)明的聚酰亞胺膜,可以避免如下問題的發(fā)生,即,不是從聚酰亞胺膜表面除去溶脹物進(jìn)行干燥,而是將溶脹的殘?jiān)鼩埩粼谀さ拇┛谆蚰ざ说膫?cè)面等,而使聚酰亞胺膜制品合格率下降。避免的結(jié)果是,本發(fā)明的聚酰亞胺膜,可以適用于FPC等的制造。
      下一面,就條件(1)中的聚酰亞胺膜撕裂傳播阻力變動性CH加以說明。在本發(fā)明中的“撕裂傳播阻力變動性” CH定義如下。即,將聚酰亞胺膜撕裂傳播阻力變動性,按ASTM D-1938進(jìn)行測定,在1個(gè)試片的測定圖上,算出從最大值減去最小值的值,將其作為撕裂傳播阻力變動性CH。還有,在下面的說明中,為方便起見,把撕裂傳播阻力變動性CH簡稱為阻力變動性CH。
      根據(jù)撕裂傳播阻力測定圖,就算出阻力變動性CH的方法加以具體說明。撕裂傳播阻力值測定圖一般取決于膜的燒結(jié)條件、聚酰亞胺的組成等而變化。具體的是由于測定樣品(試片)的厚度不勻,如圖2所示,撕裂傳播阻力值如同圖案1的波形圖那樣緩慢變化。從該測定圖的最大值及最小值無法算出阻力變動性CH。
      另一方面,根據(jù)膜的燒結(jié)條件、聚酰亞胺的組成,如圖2所示,撕裂傳播阻力值,如圖案2,不斷地與圖案1相同而緩慢變化得到某部分變化大成為典型的波型圖和,如同圖案3那樣激烈變化的鋸齒型圖。由此,當(dāng)?shù)玫阶兓蟮膱D案時(shí),算出抗性偏差CH。
      對各圖案中抗性偏差CH的計(jì)算方法加以說明,在圖案2中的波型圖中,從該圖上突出的地方的最大值和其底邊部的最小值,算出差值(抗性偏差CH)。在圖案3鋸齒型圖的場合,從無數(shù)的鋸齒最大值和最小值,算出差值(抗性偏差CH)。
      本發(fā)明人獨(dú)自發(fā)現(xiàn),如同下述實(shí)施例中詳細(xì)說明的那樣,通過把上述抗性偏差CH控制在1.0g以下,可使聚酰亞胺膜的沖壓加工性變得良好(參照下述實(shí)施例)。
      因此,本發(fā)明的聚酰亞胺膜由于滿足上述條件(1)及/或(2),在堿蝕刻工序,可以防止溶脹的發(fā)生,并且,在沖壓工序,可以防止膜的切斷毛刺及膜的切斷碎屑的發(fā)生,因此,本發(fā)明的聚酰亞胺膜,使上述各工序的生產(chǎn)效率提高成為可能,可同時(shí)發(fā)揮優(yōu)良的堿蝕刻性及沖壓加工性。
      本發(fā)明的聚酰亞胺膜,如上所述,適用于作FPC及TAB用膜載體等電子儀器部件,然而,為了提高其傳送等操作性,規(guī)定該聚酰亞胺膜的彈性系數(shù)是更優(yōu)選的。例如,在用作上述FPC基膜時(shí),該聚酰亞胺膜的彈性系數(shù),其下限優(yōu)選為4.0GPa以上,其上限優(yōu)選為12.0GPa以下。另外,膜的厚度在12.5μm以上的聚酰亞胺膜,其彈性系數(shù)在4.5GPa~9.0GPa的范圍內(nèi)是更優(yōu)選的,當(dāng)膜的厚度在12.5μm以下時(shí),其彈性系數(shù)在5.0GPa~12.0GPa的范圍內(nèi)是更優(yōu)選的。
      當(dāng)彈性系數(shù)大于12.0GPa時(shí),聚酰亞胺膜的硬度過強(qiáng),在FPC彎曲用于收藏時(shí)有困難,是不理想的。另一方面,當(dāng)彈性系數(shù)小于4.0GPa時(shí),聚酰亞胺膜的硬度過弱,通過輥與輥之間的加工性不好,有時(shí)產(chǎn)生褶皺,不利于加工,是不理想的。特別是,對聚酰亞胺膜不通過粘合劑直接層疊銅時(shí),即使在濺射或蒸鍍的任何一種情況下,在真空室中,用兩輥之間進(jìn)行加工時(shí),產(chǎn)生褶皺的問題。
      下面,在實(shí)施例中更詳細(xì)的說明本發(fā)明的優(yōu)選方案,但不言而喻,這些實(shí)施例是用于說明本發(fā)明而不是對本發(fā)明加以限定。本專業(yè)的技術(shù)人員,在不超出本發(fā)明的范圍內(nèi)可以加以種種變更、修正及改變。
      往反應(yīng)器內(nèi)裝入N,N-二甲基甲酰胺(DMF),然后添加5當(dāng)量4,4′-二氨基二苯醚(ODA)及5當(dāng)量對苯二胺(p-PDA),各自攪拌至完全溶解。
      然后,添加5當(dāng)量p-亞苯基雙(三苯六甲酸單酯酸酐)(TMHQ),再攪拌30分鐘。接著,添加4.5當(dāng)量均苯四酸二酐(PMDA),再攪拌120分鐘。然后,緩慢添加PMDA 0.5當(dāng)量溶于DMF的溶液中,攪拌冷卻60分鐘,得到聚酰胺酸的DMF溶液(聚酰胺酸溶液)。還有,調(diào)整DMF的用量,使二胺成分和酸二酐成分合起來的總量達(dá)到聚酰胺酸溶液重量的15重量%。
      把得到的聚酰胺酸溶液和DMF、醋酐(AA)以及異喹啉(IQ)加以混合,得到混合液,把得到的混合液從模頭擠出,澆鑄在環(huán)狀帶上。加熱干燥環(huán)狀帶至揮發(fā)成分對燒結(jié)后的膜重量達(dá)到50%為止,得到具有自支撐性的印刷電路基板。
      從環(huán)狀帶上剝下該印刷電路基板,接著,把印刷電路基板的兩端固定在連續(xù)傳送的拉幅機(jī)針板上,依次傳送至200℃、400℃及530℃的加熱爐中進(jìn)行加熱。加熱后傳送至緩慢冷卻爐,緩慢冷卻至室溫。從緩慢冷卻爐送出時(shí),從拉幅機(jī)針板上剝下膜。把該膜作為聚酰亞胺膜(1),在下列實(shí)施例1~6中使用。
      另外,把聚酰胺酸溶液和DMF、AA以及IQ加以混合的混合液進(jìn)行澆鑄,使聚酰亞胺膜的厚度干燥后達(dá)到50μm。
      實(shí)施例1上述制造例1中得到的聚酰亞胺膜(1)的抗撕裂傳播性偏差CH,按下列順序進(jìn)行測定。首先,撕裂傳播電阻值按ASTM D-1938進(jìn)行計(jì)算。此時(shí),把測定圖的實(shí)比大小設(shè)定在20g,測定值的最大值及最小值之差作為抗撕裂傳播性偏差CH。
      另外,對得到的聚酰亞胺膜(1)按下列順序測定溶脹系數(shù)CR。首先,把聚酰亞胺膜切成100×100mm作為試片,于150℃干燥15分鐘后立即測定膜的重量W0。然后,用重量比調(diào)整至乙醇/蒸餾水=8/2的混合溶劑,加入氫氧化鉀的堿溶液,使最終濃度調(diào)整到1摩爾/升,把液溫保持在40℃,浸漬試片5分鐘。
      然后,從堿溶液中取出試片,在蒸餾水中靜置10分鐘進(jìn)行清洗。接著,從蒸餾水中取出試片,于150℃把試片干燥15分鐘后,立即測定膜重W1。然后,用上述式(ii)算出堿重量減少率D1。
      接著,準(zhǔn)備另外試片,于150℃把試片干燥15分鐘后,立即測定膜重W0,將液溫保持在40℃,把試片于堿溶液中浸漬5分鐘。其后,從堿溶液中取出試片,在蒸餾水中采用上述溶脹物去除法擦拭溶脹物而加以去除。
      然后,從蒸餾水中取出試片,于150℃把試片干燥15分鐘后,立即測定膜重W2。然后,用上述計(jì)算式(iii)算出堿重量減少率D2。
      采用上述堿重量減少率D1及D2,用上述計(jì)算式(i)算出溶脹系數(shù)CR。
      上述溶脹系數(shù)CR及抗撕裂傳播性偏差CH的結(jié)果,以及測定這些結(jié)果的條件示于表1。
      實(shí)施例2除了從堿溶液中取出試片后,于蒸餾水中超聲波清洗10分鐘以外,與實(shí)施例1同樣操作,測定上述溶脹系數(shù)CR。其結(jié)果和測定這些結(jié)果的條件示于表1。
      實(shí)施例3在試片浸漬在堿溶液中的工序,一邊施加超聲波一邊于堿溶液中浸漬5分鐘以外,與實(shí)施例1同樣操作,測定上述溶脹系數(shù)CR。其結(jié)果和測定這些結(jié)果的條件示于表1。
      實(shí)施例4在試片浸漬在堿溶液中的工序,一邊施加超聲波一邊于堿溶液中浸漬5分鐘,同時(shí)從堿溶液中取出試片后,在蒸餾水中進(jìn)行超聲波清洗以外,與實(shí)施例1同樣操作,測定上述溶脹系數(shù)CR。其結(jié)果和測定這些結(jié)果的條件示于表1。
      實(shí)施例5在試片浸漬在堿溶液中的工序,把試片在100rpm下一邊攪拌一邊浸漬5分鐘以外,與實(shí)施例1同樣操作,測定上述溶脹系數(shù)CR。其結(jié)果和測定這些結(jié)果的條件示于表1。
      實(shí)施例6在試片浸漬在堿溶液中的工序,把試片在100rpm下一邊攪拌一邊浸漬5分鐘,同時(shí),從堿溶液中取出試片后,在蒸餾水中超聲波清洗10分鐘以外,與實(shí)施例1同樣操作,測定上述溶脹系數(shù)CR。其結(jié)果和測定這些結(jié)果的條件示于表1。
      往反應(yīng)器內(nèi)裝入DMF,然后,添加ODA 3當(dāng)量及p-PDA 1當(dāng)量,各自攪拌至完全溶解。
      然后,添加PMDA 3.5當(dāng)量,再攪拌30分鐘。然后,緩慢添加PMDA0.5當(dāng)量溶于DMF的溶液,攪拌冷卻60分鐘,得到聚酰胺酸的DMF溶液(聚酰胺酸溶液)。另外,調(diào)整DMF的用量,使二胺成分和酸二酐成分合起來的總量達(dá)到聚酰胺酸有機(jī)溶劑溶液重量的15重量%。
      然后,與上述制造例1同樣操作,得到聚酰亞胺膜。把該聚酰亞胺膜作為聚酰亞胺膜(2)用于下列比較例1~6。
      比較例1對上述制造例2中得到的聚酰亞胺膜(2),與實(shí)施例1同樣操作,測定上述溶脹系數(shù)CR及抗撕裂傳播性偏差CH。其結(jié)果和測定這些結(jié)果的條件示于表1。
      比較例2對上述制造例2中得到的聚酰亞胺膜(2),與實(shí)施例2同樣操作,測定上述溶脹系數(shù)CR。其結(jié)果和測定這些結(jié)果的條件示于表1。
      比較例3對上述制造例2中得到的聚酰亞胺膜(2),與實(shí)施例3同樣操作,測定上述溶脹系數(shù)CR。其結(jié)果和測定這些結(jié)果的條件示于表1。
      比較例4對上述制造例2中得到的聚酰亞胺膜(2),與實(shí)施例4同樣操作,測定上述溶脹系數(shù)CR。其結(jié)果和測定這些結(jié)果的條件示于表1。
      比較例5對上述制造例2中得到的聚酰亞胺膜(2),與實(shí)施例5同樣操作,測定上述溶脹系數(shù)CR。其結(jié)果和測定這些結(jié)果的條件示于表1。
      比較例6對上述制造例2中得到的聚酰亞胺膜(2),與實(shí)施例6同樣操作,測定上述溶脹系數(shù)CR。其結(jié)果和測定這些結(jié)果的條件示于表1。
      把印刷電路基板固定在拉幅機(jī)針板上,依次傳送至200℃、400℃及510℃的加熱爐中進(jìn)行加熱以外,與上述制造例1同樣操作,得到聚酰亞胺膜。把該聚酰亞胺膜作為聚酰亞胺膜(3),在下列比較例7~12中使用。
      比較例7對上述制造例3中得到的聚酰亞胺膜(3),與實(shí)施例1同樣操作,測定上述溶脹系數(shù)CR及抗撕裂傳播性偏差CH。其結(jié)果和測定這些結(jié)果的條件示于表1。
      比較例8對上述制造例3中得到的聚酰亞胺膜(3),與實(shí)施例2同樣操作,測定上述溶脹系數(shù)CR。其結(jié)果和測定這些結(jié)果的條件示于表1。
      比較例9對上述制造例3中得到的聚酰亞胺膜(3),與實(shí)施例3同樣操作,測定上述溶脹系數(shù)CR。其結(jié)果和測定這些結(jié)果的條件示于表1。
      比較例10對上述制造例3中得到的聚酰亞胺膜(3),與實(shí)施例4同樣操作,測定上述溶脹系數(shù)CR。其結(jié)果和測定這些結(jié)果的條件示于表1。
      比較例11對上述制造例3中得到的聚酰亞胺膜(3),與實(shí)施例5同樣操作,測定上述溶脹系數(shù)CR。其結(jié)果和測定這些結(jié)果的條件示于表1。
      比較例12對上述制造例3中得到的聚酰亞胺膜(3),與實(shí)施例6同樣操作,測定上述溶脹系數(shù)CR。其結(jié)果和測定這些結(jié)果的條件示于表1。
      與上述制造例2同樣操作,得到聚酰胺酸溶液。然后,把得到的印刷電路基板固定在拉幅機(jī)針板上,與上述制造例4同樣操作,依次傳送至200℃、400℃及510℃的加熱爐中進(jìn)行加熱以外,與上述制造例1同樣操作,得到聚酰亞胺膜。把該聚酰亞胺膜作為聚酰亞胺膜(4),在下列比較例13~18中使用。
      比較例13對上述制造例4中得到的聚酰亞胺膜(4),與實(shí)施例1同樣操作,測定上述溶脹系數(shù)CR及抗撕裂傳播性偏差CH。其結(jié)果和測定這些結(jié)果的條件示于表1。
      比較例14對上述制造例4中得到的聚酰亞胺膜(4),與實(shí)施例2同樣操作,測定上述溶脹系數(shù)CR。其結(jié)果和測定這些結(jié)果的條件示于表1。
      比較例15對上述制造例4中得到的聚酰亞胺膜(4),與實(shí)施例3同樣操作,測定上述溶脹系數(shù)CR。其結(jié)果和測定這些結(jié)果的條件示于表1。
      比較例16對上述制造例4中得到的聚酰亞胺膜(4),與實(shí)施例4同樣操作,測定上述溶脹系數(shù)CR。其結(jié)果和測定這些結(jié)果的條件示于表1。
      比較例17對上述制造例4中得到的聚酰亞胺膜(4),與實(shí)施例5同樣操作,測定上述溶脹系數(shù)CR。其結(jié)果和測定這些結(jié)果的條件示于表1。
      比較例18對上述制造例4中得到的聚酰亞胺膜(4),與實(shí)施例6同樣操作,測定上述溶脹系數(shù)CR。其結(jié)果和測定這些結(jié)果的條件示于表1。
      往反應(yīng)器內(nèi)裝入DMF,然后,添加p-PDA 30當(dāng)量及ODA 70當(dāng)量,各自攪拌至完全溶解。
      然后,添加PMDA 70當(dāng)量,攪拌至完全溶解。再添加3,3′-4,4′-二苯基四羧酸二酐(BPDA)29當(dāng)量,攪拌至完全溶解。然后,緩慢添加PMDA 1當(dāng)量溶于DMF的溶液,攪拌冷卻60分鐘,得到聚酰胺酸的DMF溶液(聚酰胺酸溶液)。另外,調(diào)整DMF的用量,使二胺成分和酸二酐成分合起來的總量達(dá)到聚酰胺酸有機(jī)溶劑溶液重量的15重量%。
      然后,與上述制造例1同樣操作,得到聚酰亞胺膜。把該聚酰亞胺膜作為聚酰亞胺膜(5)用于下列實(shí)施例7~12。
      實(shí)施例7對上述制造例5中得到的聚酰亞胺膜(5),與實(shí)施例1同樣操作,測定上述溶脹系數(shù)CR及抗撕裂傳播性偏差CH。其結(jié)果和測定這些結(jié)果的條件示于表1。
      實(shí)施例8對上述制造例5中得到的聚酰亞胺膜(5),與實(shí)施例2同樣操作,測定上述溶脹系數(shù)CR。其結(jié)果和測定這些結(jié)果的條件示于表1。
      實(shí)施例9對上述制造例5中得到的聚酰亞胺膜(5),與實(shí)施例3同樣操作,測定上述溶脹系數(shù)CR。其結(jié)果和測定這些結(jié)果的條件示于表1。
      實(shí)施例10對上述制造例5中得到的聚酰亞胺膜(5),與實(shí)施例4同樣操作,測定上述溶脹系數(shù)CR。其結(jié)果和測定這些結(jié)果的條件示于表1。
      實(shí)施例11對上述制造例5中得到的聚酰亞胺膜(5),與實(shí)施例5同樣操作,測定上述溶脹系數(shù)CR。其結(jié)果和測定這些結(jié)果的條件示于表1。
      實(shí)施例12對上述制造例5中得到的聚酰亞胺膜(5),與實(shí)施例6同樣操作,測定上述溶脹系數(shù)CR。其結(jié)果和測定這些結(jié)果的條件示于表1。
      表1

      如表1所示,在聚酰亞胺膜制造例1及制造例5中制造的、于實(shí)施例1~6及實(shí)施例7~12中分別評價(jià)的聚酰亞胺膜(1)及(5),溶脹系數(shù)CR小,其值在10以下,而抗撕裂傳播性的偏差值CH在1以下,顯示出本發(fā)明聚酰亞胺膜具有非常優(yōu)良的物性。
      另外,制造例2中制造的、在比較例1~6中評價(jià)的聚酰亞胺膜(2),溶脹系數(shù)CR大,但抗撕裂傳播性的偏差值CH在1以下。同樣,制造例3中制造的、在比較例7~12中評價(jià)的聚酰亞胺膜(3),抗撕裂傳播性的偏差值CH在1以上,但溶脹系數(shù)CR小。因此,制造例2及3的聚酰亞胺膜(2)及(3)也包含在本發(fā)明的聚酰亞胺膜內(nèi),根據(jù)聚酰亞胺膜的用途可充分發(fā)揮優(yōu)良的加工性能。
      反之,制造例4中制造的、在比較例13~18中分別評價(jià)的聚酰亞胺膜(4),溶脹系數(shù)CR大,抗撕裂傳播性的偏差值CH在1以上,與本發(fā)明的聚酰亞胺膜相比,物性明顯差。
      還有,制造例2的聚酰亞胺膜(2)及制造例3的聚酰亞胺膜(3)雖然屬于本發(fā)明的聚酰亞胺膜,為便于說明,評價(jià)這些聚酰亞胺膜的例子分別與比較例1~6及比較例8~12一起加以表示,但并不因此而限定本發(fā)明的范圍。
      實(shí)施例13準(zhǔn)備一種與制造例1及制造例2同樣組成的聚酰亞胺膜,作為電阻變動性CH不同的聚酰亞胺膜,制成20塊聚酰亞胺膜試片。把這些試片用沖壓模具(宮城パンチングハイセツトφ2mm)沖壓,用顯微鏡觀察沖壓斷面,把產(chǎn)生切屑的比例作為切屑發(fā)生率Oc,用下列算式(iv)求出。另外,p是產(chǎn)生切屑的試片數(shù),N為總試驗(yàn)次數(shù),此時(shí)n=20。
      切屑發(fā)生率Oc(%)=(p/n)×100(iv)上述切屑發(fā)生率Oc,就制造例1的聚酰亞胺膜的結(jié)果示于表2及圖5(a),就制造例2的聚酰亞胺膜的結(jié)果示于表3及圖5(b)。
      表2

      表3

      如表2及表3、圖5(a)、(b)所示,電阻變動性CH和切屑發(fā)生率Oc之間存在明顯的相關(guān)關(guān)系,以電阻變動性CH=1作為臨界值,切屑發(fā)生率Oc相差很大。因此,使切屑發(fā)生率Oc下降,則加工性提高,切屑發(fā)生率Oc在1以下是優(yōu)選的。
      實(shí)施例14在配制成乙醇/蒸餾水=8/2(重量比)的混合溶劑中溶解KOH,使最終濃度達(dá)到1摩爾/升,配成堿溶液。然后,把制造例1中得到的聚酰亞胺膜(切成每邊100mm的正方形)浸漬在上述堿溶液中,于40℃保持5分鐘。然后,取出聚酰亞胺膜,于150℃干燥15分鐘。
      如圖4所示,把干燥后的聚酰亞胺膜放置在水平臺上,目視觀察其卷曲情況。其結(jié)果與聚酰亞胺膜的溶脹系數(shù)CR一并示于表3。
      比較例19除了采用制造例2中得到的聚酰亞胺膜以外,與實(shí)施例14同樣操作,觀察卷曲性。其結(jié)果與聚酰亞胺膜的溶脹系數(shù)CR一并示于表4。
      表4

      如表4所示,如果溶脹系數(shù)CR低,則難形成卷曲。因此,為了提高聚酰亞胺膜的加工性,溶脹系數(shù)CR還是低的好。
      因此,在本發(fā)明中,可以提供一種在堿蝕刻加工時(shí)可以防止溶脹的發(fā)生、并且,在膜沖壓加工時(shí)可以防止膜的切斷毛刺、膜的切斷碎屑的發(fā)生、可使各工序的生產(chǎn)性提高、并能獲得優(yōu)良的堿蝕刻性及沖壓加工性的聚酰亞胺膜。
      還有,用于實(shí)施本發(fā)明的最佳方案中的具體實(shí)施方案或?qū)嵤├?,可使人們徹底理解本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容,而不能狹義解釋為僅限于這些具體例子,在本發(fā)明的構(gòu)思及所述權(quán)利要求范圍內(nèi),可以實(shí)施各種變更。
      產(chǎn)業(yè)上利用的可能性如上所述,本發(fā)明可以得到(堿蝕刻)時(shí)的加工性及對膜進(jìn)行沖壓加工時(shí)的加工性優(yōu)良的聚酰亞胺膜。因此,該聚酰亞胺膜最適用于此前公知的用途,尤其例如在柔性印刷配線板(FPC)、載帶自動鍵合(TAB)用膜載體、撓曲基板芯片(或膜芯片,COF)等電子儀器部件產(chǎn)業(yè),或者,在飛機(jī)等中使用的結(jié)構(gòu)材料等工程材料產(chǎn)業(yè)中使用。
      權(quán)利要求
      1.一種聚酰亞胺膜,其抗撕裂傳播性偏差在1.0g以下。
      2.一種聚酰亞胺膜,其浸漬在堿溶液后的溶脹系數(shù)在20.0以下。
      3.按照權(quán)利要求1所述的聚酰亞胺膜,其分子中含有下式(1)表示的重復(fù)單元 其中,上式(1)中的R為 及/或 ,上述R中的n表示1~3的整數(shù),X及Y各自獨(dú)立地表示氫原子、鹵原子、羧基、碳原子數(shù)為6或6以下的低級烷基或碳原子數(shù)為6或6以下的低級烷氧基,A表示-O-、-S-、-CO-、-SO2-或-CH2-,另外,上式(1)中的R1選自 和 及 上式(3)中的R2為選自下述組群的2價(jià)有機(jī)基團(tuán) 上述組群中的R3分別獨(dú)立地為-CH3、-Cl、-Br、-F或-CH3O。
      4.按照權(quán)利要求3所述的聚酰亞胺膜,其分子中還含有下式(2)表示的重復(fù)單元 其中(2)中的R與上式(1)中的R相同,R2與上式(3)中的R2相同。
      5.按照權(quán)利要求3所述的聚酰亞膜,其分子中還含有下式(4)表示的重復(fù)單元 其中,上式(4)中的R4是選自 及/或 的2價(jià)有機(jī)基團(tuán)。
      6.按照權(quán)利要求3所述的聚酰亞膜,其分子中還含有下式(5)表示的重復(fù)單元 其中,上式(5)中的R5是選自下列基團(tuán)的至少2種 和 R4是用下列結(jié)構(gòu)式表示的2價(jià)有機(jī)基團(tuán)。 及/或
      7.按照權(quán)利要求3所述的聚酰亞膜,其分子中還含有下式(6)、(7)、(8)及(9)表示的重復(fù)單元
      8.按照權(quán)利要求1所述的聚酰亞膜,其中,在總二胺成分中作為二胺成分的對苯二胺在25摩爾%以上以及4,4′-二氨基二苯醚在25摩爾%以上。
      全文摘要
      本發(fā)明的聚酰亞胺膜,其滿足抗撕裂傳播性偏差C
      文檔編號C08J5/18GK1516718SQ0281220
      公開日2004年7月28日 申請日期2002年6月17日 優(yōu)先權(quán)日2001年6月18日
      發(fā)明者小野和宏, 藤原寬, 赤堀廉一, 一 申請人:鐘淵化學(xué)工業(yè)株式會社
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