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      多測試夾具的pcb板格柵測試系統(tǒng)的上料及下料裝置的制作方法

      文檔序號:4385848閱讀:486來源:國知局
      專利名稱:多測試夾具的pcb板格柵測試系統(tǒng)的上料及下料裝置的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      多測試夾具的PCB板格柵測試系統(tǒng)的上料及下料裝置
      技術(shù)領(lǐng)域
      本實用新型涉及PCB板的柵格測試系統(tǒng),尤其涉及多測試夾具的PCB板測試系統(tǒng)的上料及下料裝置。
      背景技術(shù)
      目前,用于對PCB板進行測試的設(shè)備,該設(shè)備設(shè)置有上模及下模,該上模設(shè)置有測試探針,將待檢測的PCB板放置在下模上,下模向上移動,上模的測試探針充分接觸到待檢測的PCB板,進行PCB板測試;但是,目前的測試設(shè)備中,自動測試設(shè)備一次只能測試一塊 PCB板,如果想要同時測試多塊板,必須手動測試,對于那些PCB板面積較小,而測試設(shè)備中測試夾具面積較大的自動測試設(shè)備來說,使得其測試效率低下,測試成本高,且測試時間較長;另外,現(xiàn)有的測試系統(tǒng)中,其上料及下料裝置同時能上下多塊PCB板。

      實用新型內(nèi)容本實用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)之不足,旨在提供一種多測試夾具的PCB板格柵測試系統(tǒng)的上料及下料裝置,該裝置的上料及下料裝置同時能上下多塊PCB板,且在一個測試系統(tǒng)上同時能對兩個或兩個以上的PCB板進行自動測試,提高了測試系統(tǒng)的測試效率。本實用新型是通過以下技術(shù)方案來實現(xiàn)的該多測試夾具的PCB板格柵測試系統(tǒng)的上料及下料裝置,它包括上料裝置,所述上料裝置包括放料臺、上料抓料裝置及上料移動裝置;測試裝置,所述測試裝置包括上模及下模,所述上模及下模各自設(shè)置有夾具框;下料裝置,所述下料裝置包括下料臺、下料抓料裝置及下料移動裝置;其改進之處在于,所述上模及下模的夾具框各自至少設(shè)置有兩個夾具;所述夾具框中設(shè)置有對每個夾具進行獨立微調(diào)的微調(diào)裝置;該上料裝置的上料抓料裝置至少包括兩個上料抓料裝置單元,所述上料抓料裝置單元相互并列設(shè)置;該下料裝置的下料抓料裝置至少包括兩個下料抓料裝置單元,所述下料抓料裝置單元相互并列設(shè)置。該裝置的有益效果在于該測試系統(tǒng)中,它包括上料裝置,上料裝置包括放料臺、 上料抓料裝置及上料移動裝置;測試裝置,測試裝置包括上模及下模,其中,上模及下模的夾具框各自至少設(shè)置有兩個夾具,所述夾具框中設(shè)置有對每個夾具進行獨立微調(diào)的微調(diào)裝置;通過上模及下模的夾具框可以固定至少兩個待檢測的PCB板,且每個夾具對應(yīng)的微調(diào)裝置對該夾具進行微調(diào),每個夾具的微調(diào)是相互獨立的,使得待檢測的PCB板處于最佳的檢測位置,藉此,實現(xiàn)了該系統(tǒng)可以同時檢測兩個以上的PCB板,且同時檢測的PCB板可以是相同的PCB板,也可以是不同的PCB板,該系統(tǒng)提高PCB板自動測試的效率,降低了測試成本;該系統(tǒng)的上料裝置的上料抓料裝置包括至少兩個上料抓料裝置單元;該下料裝置的下料抓料裝置至少包括兩個下料抓料裝置單元,所述下料抓料裝置單元相互并列設(shè)置;藉此,該系統(tǒng)的上料裝置及下料裝置在上下料的時候可以同時上下兩塊PCB板,提高了上下料的效率。
      [0006]圖1為本實用新型的整體結(jié)構(gòu)示意圖;[0007]圖2為本實用新型上模及下模的結(jié)構(gòu)示意圖;[0008]圖3為測試的效果示意圖。[0009]附圖標(biāo)記1、放料臺;2、上料抓料裝置;3、上料移動裝置;4、上模;5、下模;6、下料臺;7、下料抓料裝置;8、下料移動裝置;9、PCB板;21、上料抓料裝置單元;71、下料抓料裝置單元;41 (51)、夾具框;411(511)、夾具。
      具體實施方式
      [0010]
      以下結(jié)合附圖和具體實施例對本實用新型作進一步描述[0011]參照圖1所示,該多測試夾具的PCB板格柵測試系統(tǒng)的上料及下料裝置,它包括上料裝置,所述上料裝置包括放料臺1、上料抓料裝置2及上料移動裝置3 ;測試裝置,所述測試裝置包括上模4及下模5,所述上模4及下模5各自設(shè)置有夾具框41、51 ;下料裝置,所述下料裝置包括下料臺6、下料抓料裝置7及下料移動裝置8 ;參照圖1及圖2所示,所述上模 4及下模5的夾具框41、51各自至少設(shè)置有兩個夾具411、511,所述夾具框41、51中設(shè)置有對每個夾具411、511進行獨立微調(diào)的微調(diào)裝置;其中,該上料裝置的上料抓料裝置2至少包括兩個上料抓料裝置單元21,所述上料抓料裝置單元21相互并列設(shè)置;該下料裝置的下料抓料裝置7至少包括兩個下料抓料裝置單元71,所述下料抓料裝置單元71相互并列設(shè)置。[0012]該測試系統(tǒng)中,它包括上料裝置,上料裝置包括放料臺1、上料抓料裝置2及上料移動裝置3 ;測試裝置,測試裝置包括上模4及下模5,其中,上模4及下模5的夾具框41、 51各自至少設(shè)置有兩個夾具411、511,所述夾具框41、51中設(shè)置有對每個夾具411、511進行獨立微調(diào)的微調(diào)裝置;通過上模4及下模5的夾具框41、51可以固定至少兩個待檢測的 PCB板9,且每個夾具411、511對應(yīng)的微調(diào)裝置對該夾具411、511進行微調(diào),每個夾具411、 511的微調(diào)是相互獨立的,使得待檢測的PCB板9處于最佳的檢測位置,藉此,實現(xiàn)了該系統(tǒng)可以同時檢測兩個以上的PCB板9,且同時檢測的PCB板9可以是相同的PCB板9,也可以是不同的PCB板9,該系統(tǒng)提高PCB板9自動測試的效率,降低了測試成本;其次、該系統(tǒng)的上料裝置的上料抓料裝置2包括至少兩個上料抓料裝置單元21 ;藉此,該系統(tǒng)的上料裝置及下料裝置在上下料的時候可以同時上下兩塊PCB板9,提高了上下料的效率。[0013]參照圖3所示,該裝置在測試的時候,首先是兩個上料抓料裝置單元21抓起兩個的待檢測的PCB板9移動送至測試裝置;第二步是測試裝置中上模4及下模5的夾具框41、 51中相互對應(yīng)的多套夾具411、511對待檢測的PCB板9進行定位,每個夾具411、511對應(yīng)的微調(diào)裝置對該夾具411、511進行微調(diào),每個夾具411、511的微調(diào)是相互獨立的,使得待檢測的PCB板9處于最佳的檢測位置,下模5向上移動,測試裝置的測試探針接觸到兩個待檢測的PCB板9后開始同時對兩個待檢測的PCB板9進行檢測;第三步是檢測完畢之后,下料裝置的下料抓料裝置7依次抓起兩個檢測完成的PCB板9,下料裝置的下料移動裝置8帶動下料抓料裝置7移動到下料臺6 ;藉此,該方法可以同時對兩塊或兩塊以上的PCB板9進行測試,提高了測試系統(tǒng)的測試效率,同時也降低了測試成本;其次、當(dāng)上料裝置的只有一疊待檢測的PCB板9時,由上料裝置的上料抓料裝置單元21其中之一首先抓起一待檢測的PCB板9,待上料抓料裝置單元21其中之一抓起一個待檢測的PCB板9后,再由另一個抓起一個待檢測的PCB板9 ;完成上述動作之后,此時,上料抓料裝置單元21將各自抓起的待檢測的PCB板9放置在測試裝置的下模5上;藉此,當(dāng)只有其中之一的放料臺1有待檢測的 PCB板9的時候,可以通過該上料方式實現(xiàn)同時往測試裝置運送兩塊PCB板9。 根據(jù)上述說明書的揭示和教導(dǎo),本實用新型所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員還可以對上述實施方式進行適當(dāng)?shù)淖兏托薷?。因此,本實用新型并不局限于上面揭示和描述?b>具體實施方式
      ,對本實用新型的一些修改和變更也應(yīng)當(dāng)落入本實用新型的權(quán)利要求的保護范圍內(nèi)。 此外,盡管本說明書中使用了一些特定的術(shù)語,但這些術(shù)語只是為了方便說明,并不對本實用新型構(gòu)成任何限制。
      權(quán)利要求1. 一種多測試夾具的PCB板格柵測試系統(tǒng)的上料及下料裝置,它包括 上料裝置,所述上料裝置包括放料臺、上料抓料裝置及上料移動裝置; 測試裝置,所述測試裝置包括上模及下模,所述上模及下模各自設(shè)置有夾具框; 下料裝置,所述下料裝置包括下料臺、下料抓料裝置及下料移動裝置; 其特征在于所述上模及下模的夾具框各自至少設(shè)置有兩個夾具;所述夾具框中設(shè)置有對每個夾具進行獨立微調(diào)的微調(diào)裝置;該上料裝置的上料抓料裝置至少包括兩個上料抓料裝置單元,所述上料抓料裝置單元相互并列設(shè)置;該下料裝置的下料抓料裝置至少包括兩個下料抓料裝置單元,所述下料抓料裝置單元相互并列設(shè)置。
      專利摘要本實用新型公開了一種多測試夾具的PCB板格柵測試系統(tǒng)的上料及下料裝置,涉及PCB板的柵格測試系統(tǒng),它包括上料裝置,所述上料裝置包括放料臺、上料抓料裝置及上料移動裝置;測試裝置,所述測試裝置包括上模及下模,所述上模及下模各自設(shè)置有夾具框;及下料裝置;其改進之處在于,所述上模及下模的夾具框各自至少設(shè)置有兩個夾具;所述夾具框中設(shè)置有對每個夾具進行獨立微調(diào)的微調(diào)裝置;該上料裝置的上料抓料裝置至少包括兩個上料抓料裝置單元,所述上料抓料裝置單元相互并列設(shè)置,該下料裝置的下料抓料裝置至少包括兩個下料抓料裝置單元,所述下料抓料裝置單元相互并列設(shè)置;其有益效果在于該系統(tǒng)的上料裝置及下料裝置在上下料的時候可以同時上下兩塊PCB板,提高了上下料的效率。
      文檔編號B65G47/90GK202305747SQ20112028582
      公開日2012年7月4日 申請日期2011年8月8日 優(yōu)先權(quán)日2011年8月8日
      發(fā)明者艾諾基弗 申請人:深圳麥遜電子有限公司
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