晶粒檢測設(shè)備的進(jìn)料機(jī)構(gòu)的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型提供了一種晶粒檢測設(shè)備的進(jìn)料機(jī)構(gòu)，所述晶粒檢測設(shè)備的進(jìn)料機(jī)構(gòu)包括基座、震動(dòng)供料盤、進(jìn)料震動(dòng)模組和回料震動(dòng)模組。因此，本實(shí)用新型通過將進(jìn)料震動(dòng)模組與回料震動(dòng)模組分別獨(dú)立地設(shè)置在不同的載臺(tái)上，以有效抑制進(jìn)料震動(dòng)模組與回料震動(dòng)模組之間的共振的發(fā)生，從而可以提高供料的穩(wěn)定度和吸料的準(zhǔn)確度，并且可以加快進(jìn)給速度。此外，本實(shí)用新型將進(jìn)料震動(dòng)模組的進(jìn)料軌道直接鄰接震動(dòng)供料盤，以承接從出料口送出的晶粒，從而省略了熟知的緩沖直震模組，既可以大幅降低成本，并且由于進(jìn)給距離的縮短，又可以顯著提高進(jìn)給速度。
【專利說明】晶粒檢測設(shè)備的進(jìn)料機(jī)構(gòu)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種晶粒檢測設(shè)備的進(jìn)料機(jī)構(gòu)，具體地說，涉及一種適用于晶粒的進(jìn)給供料的進(jìn)料機(jī)構(gòu)。
【背景技術(shù)】
[0002]晶粒檢測設(shè)備一般會(huì)有進(jìn)料機(jī)構(gòu)，該進(jìn)料機(jī)構(gòu)主要用于將晶粒位移至取放裝置的可取放的位置或檢測裝置上。然而，熟知的晶粒檢測設(shè)備的進(jìn)料機(jī)構(gòu)請參閱圖1和圖2，圖1為熟知的晶粒檢測設(shè)備的進(jìn)料機(jī)構(gòu)的俯視圖，圖2為熟知的晶粒檢測設(shè)備的進(jìn)料機(jī)構(gòu)的右視圖。
[0003]如圖1和圖2所示，熟知的晶粒檢測設(shè)備的進(jìn)料機(jī)構(gòu)主要包括一震動(dòng)盤5、一緩沖直震模組6、一吸料直震模組7和一回料直震模組8。其中，震動(dòng)盤5主要用于存放待測晶粒和供給待測晶粒；緩沖直震模組6主要介于震動(dòng)盤5與吸料直震模組7之間，緩沖直震模組6主要用于承接從震動(dòng)盤5流出的晶粒，并將晶粒傳遞至吸料直震模組7 ;吸料直震模組7則主要負(fù)責(zé)將來自緩沖直震模組6的待測晶粒傳送至取放機(jī)構(gòu)(圖中未示)的取放位置。然而，通常待測晶粒不見得會(huì)很規(guī)律地依照順序進(jìn)給，所以吸料直震模組7的吸料軌道71會(huì)設(shè)計(jì)有落料的機(jī)構(gòu)，以便使得進(jìn)給位置不正確的晶粒能夠重新進(jìn)給。
[0004]另外，回料直震模組8用于使得落料的晶粒重新回到震動(dòng)盤5，回料直震模組8包括一返料盤81，返料盤81位于吸料軌道71的下方，用于承接從吸料軌道71落下的晶粒。在現(xiàn)有技術(shù)中，緩沖直震模組6、吸料直震模組7和回料直震模組8的震動(dòng)器均設(shè)置在一共同的基板9上。然而，因?yàn)榛亓现闭鹉＝M8與吸料直震模組7和緩沖直震模組6的位移方向恰好是完全相反的，所以很容易產(chǎn)生共振，從而影響進(jìn)給速度，甚至導(dǎo)致晶粒在進(jìn)給過程中不規(guī)則跳動(dòng)，從而使得在取放機(jī)構(gòu)(圖中未示)的取放過程中容易造成取放不順或無法穩(wěn)固取放等問題。
[0005]綜上所述，設(shè)計(jì)一種結(jié)構(gòu)簡單、成本低廉，而且可以有效抑制共振的發(fā)生，從而提高供料的穩(wěn)定度和吸料的準(zhǔn)確度，并且可以加快進(jìn)給速度的晶粒檢測設(shè)備的進(jìn)料機(jī)構(gòu)實(shí)在是產(chǎn)業(yè)界的迫切的需要。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0006]為了解決現(xiàn)有技術(shù)的不足之處，本實(shí)用新型的主要目的在于提供一種晶粒檢測設(shè)備的進(jìn)料機(jī)構(gòu)，以能夠有效抑制進(jìn)料震動(dòng)模組與回料震動(dòng)模組之間的共振的發(fā)生。
[0007]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供了一種晶粒檢測設(shè)備的進(jìn)料機(jī)構(gòu)，所述晶粒檢測設(shè)備的進(jìn)料機(jī)構(gòu)包括一基座、一震動(dòng)供料盤、一進(jìn)料震動(dòng)模組和一回料震動(dòng)模組；其中，所述震動(dòng)供料盤包括一出料口，所述震動(dòng)供料盤組裝設(shè)置在所述基座上；所述進(jìn)料震動(dòng)模組包括一第一載臺(tái)、一第一震動(dòng)器和一進(jìn)料軌道，所述第一載臺(tái)組裝設(shè)置在所述基座上，所述第一震動(dòng)器組裝設(shè)置在所述第一載臺(tái)上，并且所述進(jìn)料軌道組裝設(shè)置在所述第一震動(dòng)器上，所述進(jìn)料軌道承接從所述震動(dòng)供料盤的所述出料口流出的晶粒；所述回料震動(dòng)模組包括一第二載臺(tái)、一第二震動(dòng)器和一回料軌道，所述第二載臺(tái)組裝設(shè)置在所述基座上，所述第二震動(dòng)器組裝設(shè)置在所述第二載臺(tái)上，并且所述回料軌道組裝設(shè)置在所述第二震動(dòng)器上，所述回料軌道承接從所述進(jìn)料軌道落下的晶粒。
[0008]優(yōu)選地，本實(shí)用新型的所述回料震動(dòng)模組的所述回料軌道位于所述進(jìn)料軌道的下方，以便承接從所述進(jìn)料軌道落下的晶粒。
[0009]優(yōu)選地，本實(shí)用新型的所述進(jìn)料震動(dòng)模組的所述進(jìn)料軌道包括一承接部和一直行部，所述承接部鄰接在所述震動(dòng)供料盤的所述出料口，并且所述回料軌道位于所述直行部的下方。由此，本實(shí)用新型完全省略了熟知的緩沖直震模組，而是直接由進(jìn)料軌道的承接部來承接來自震動(dòng)供料盤的晶粒。
[0010]優(yōu)選地，本實(shí)用新型的所述進(jìn)料軌道的所述直行部開設(shè)有一落料孔，所述晶粒通過所述落料孔落入所述回料軌道。換句話說，落料孔主要用于排除在進(jìn)料軌道上沒有按規(guī)則排列的晶粒。
[0011]優(yōu)選地，本實(shí)用新型還包括一承載架，所述承載架組裝設(shè)置在所述基座上，所述震動(dòng)供料盤組裝設(shè)置在所述承載架上。
[0012]優(yōu)選地，本實(shí)用新型的進(jìn)料震動(dòng)模組還包括一 X軸位移調(diào)整機(jī)構(gòu)和一 Y軸位移調(diào)整機(jī)構(gòu)，所述X軸位移調(diào)整機(jī)構(gòu)和所述Y軸位移調(diào)整機(jī)構(gòu)設(shè)置在所述第一載臺(tái)的下方，所述X軸位移調(diào)整機(jī)構(gòu)和所述Y軸位移調(diào)整機(jī)構(gòu)分別用于驅(qū)使所述第一載臺(tái)在X軸向上和在Y軸向上位移。換句話說，本實(shí)用新型的第一載臺(tái)可以通過X軸位移調(diào)整機(jī)構(gòu)和Y軸位移調(diào)整機(jī)構(gòu)進(jìn)行位移的調(diào)整。
[0013]因此，本實(shí)用新型的晶粒檢測設(shè)備的進(jìn)料機(jī)構(gòu)通過將進(jìn)料震動(dòng)模組與回料震動(dòng)模組分別獨(dú)立設(shè)置在不同的載臺(tái)上，以有效抑制進(jìn)料震動(dòng)模組與回料震動(dòng)模組之間的共振的發(fā)生，從而可以提高供料的穩(wěn)定度和吸料的準(zhǔn)確度，并且可以加快進(jìn)給速度。此外，本實(shí)用新型將進(jìn)料震動(dòng)模組的進(jìn)料軌道直接鄰接震動(dòng)供料盤，來承接從出料口送出的晶粒，從而省略了熟知的緩沖直震模組，既可以大幅降低成本，并且由于進(jìn)給距離的縮短，又可以顯著提聞進(jìn)給速度。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0014]圖1為熟知的晶粒檢測設(shè)備的進(jìn)料機(jī)構(gòu)的俯視圖；
[0015]圖2為熟知的晶粒檢測設(shè)備的進(jìn)料機(jī)構(gòu)的右視圖；
[0016]圖3為本實(shí)用新型的晶粒檢測設(shè)備的進(jìn)料機(jī)構(gòu)的一優(yōu)選實(shí)施例的俯視圖；
[0017]圖4為本實(shí)用新型的晶粒檢測設(shè)備的進(jìn)料機(jī)構(gòu)的一優(yōu)選實(shí)施例的右視圖。
[0018]附圖標(biāo)記說明如下:
[0019]基座1、震動(dòng)供料盤2、承載架20、出料口 21、進(jìn)料震動(dòng)模組3、第一載臺(tái)31、第一震動(dòng)器32、進(jìn)料軌道33、承接部331、直行部332、落料孔333、X軸位移調(diào)整機(jī)構(gòu)34、Y軸位移調(diào)整機(jī)構(gòu)35、回料震動(dòng)模組4、第二載臺(tái)41、第二震動(dòng)器和42、回料軌道43、震動(dòng)盤5、緩沖直震模組6、吸料直震模組7、吸料軌道71、回料直震模組8、返料盤81、共同基板9和晶粒C0
【具體實(shí)施方式】[0020]為了使審查員能夠進(jìn)一步了解本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)、特征及其他目的，現(xiàn)結(jié)合所附優(yōu)選實(shí)施例附以附圖詳細(xì)說明如下，使用本附圖所說明的實(shí)施例僅用于說明本實(shí)用新型的技術(shù)方案，并非限定本實(shí)用新型。
[0021]在本實(shí)施例詳細(xì)描述本實(shí)用新型的晶粒檢測設(shè)備的進(jìn)料機(jī)構(gòu)之前，需要特別注意的是，在以下的說明中，類似的元件將以相同的元件符號(hào)來表示。
[0022]請同時(shí)參閱圖3和圖4，圖3為本實(shí)用新型的晶粒檢測設(shè)備的進(jìn)料機(jī)構(gòu)的一優(yōu)選實(shí)施例的俯視圖，圖4為本實(shí)用新型的晶粒檢測設(shè)備的進(jìn)料機(jī)構(gòu)的一優(yōu)選實(shí)施例的右視圖。
[0023]如圖中所示,本實(shí)施例的晶粒檢測設(shè)備的進(jìn)料機(jī)構(gòu)主要包括:一基座1、一震動(dòng)供料盤2、一進(jìn)料震動(dòng)模組3、一回料震動(dòng)模組4和一承載架20。其中，承載架20組裝設(shè)置在基座I上，震動(dòng)供料盤2組裝設(shè)置在承載架20上，震動(dòng)供料盤2主要用于存放晶粒C和供給晶粒C。另外，震動(dòng)供料盤2包括一出料口 21，晶粒C便是通過出料口 21供給而出的。
[0024]此外，進(jìn)料震動(dòng)模組3包括一第一載臺(tái)31、一第一震動(dòng)器32、一進(jìn)料軌道33、一 X軸位移調(diào)整機(jī)構(gòu)34和一 Y軸位移調(diào)整機(jī)構(gòu)35。其中，第一載臺(tái)31組裝設(shè)置在基座I上，第一震動(dòng)器32組裝設(shè)置在第一載臺(tái)31上，并且進(jìn)料軌道33組裝設(shè)置在第一震動(dòng)器32上。進(jìn)料軌道33包括一承接部331和一直行部332，承接部331鄰接在震動(dòng)供料盤2的出料口21，以承接來自震動(dòng)供料盤2的晶粒C。
[0025]進(jìn)一步地，直行部332開設(shè)有一落料孔333，晶粒C可以通過落料孔333落入回料軌道43。換句話說，落料孔333主要用于排除在進(jìn)料軌道33上沒有按規(guī)則排列的晶粒C。此外，X軸位移調(diào)整機(jī)構(gòu)34和Y軸位移調(diào)整機(jī)構(gòu)35設(shè)置在第一載臺(tái)31的下方，分別用于驅(qū)使第一載臺(tái)31在X軸向上和在Y軸向上位移。也就是說，本實(shí)施例的第一載臺(tái)31可以通過X軸位移調(diào)整機(jī)構(gòu)34和Y軸位移調(diào)整機(jī)構(gòu)35進(jìn)行位移的調(diào)整。
[0026]另外，回料震動(dòng)模組4包括一第二載臺(tái)41、一第二震動(dòng)器42和一回料軌道43，第二載臺(tái)41組裝設(shè)置在基座I上，第二震動(dòng)器42組裝設(shè)置在第二載臺(tái)41上，回料軌道43組裝設(shè)置在第二震動(dòng)器42上，并且承接從進(jìn)料軌道33落下的晶粒C。其中，回料軌道43位于進(jìn)料軌道33的直行部332的下方。
[0027]由此，本實(shí)用新型通過將進(jìn)料震動(dòng)模組3與回料震動(dòng)模組4分別獨(dú)立地設(shè)置在不同的第一載臺(tái)31和第二載臺(tái)41上，以有效抑制進(jìn)料震動(dòng)模組3與回料震動(dòng)模組4之間的共振的發(fā)生，從而可以提高供料的穩(wěn)定度和吸料的準(zhǔn)確度，并且可以加快進(jìn)給速度。此外，本實(shí)用新型還直接省略了熟知的緩沖直震模組，既可以大幅降低成本，并且因?yàn)檫M(jìn)給距離的縮短，又可以顯著提高進(jìn)給速度。
[0028]需要聲明的是，上述實(shí)用新型內(nèi)容及【具體實(shí)施方式】意在證明本實(shí)用新型所提供技術(shù)方案的實(shí)際應(yīng)用，不應(yīng)解釋為對本實(shí)用新型保護(hù)范圍的限定。本領(lǐng)域技術(shù)人員在本實(shí)用新型的精神和原理內(nèi)，當(dāng)可作各種修改、等同替換或改進(jìn)。本實(shí)用新型的保護(hù)范圍以所附權(quán)利要求書為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種晶粒檢測設(shè)備的進(jìn)料機(jī)構(gòu)，其特征在于，所述晶粒檢測設(shè)備的進(jìn)料機(jī)構(gòu)包括: 一基座; 一震動(dòng)供料盤，所述震動(dòng)供料盤包括一出料口，所述震動(dòng)供料盤組裝設(shè)置在所述基座上; 一進(jìn)料震動(dòng)模組，所述進(jìn)料震動(dòng)模組包括一第一載臺(tái)、一第一震動(dòng)器和一進(jìn)料軌道，所述第一載臺(tái)組裝設(shè)置在所述基座上，所述第一震動(dòng)器組裝設(shè)置在所述第一載臺(tái)上，所述進(jìn)料軌道組裝設(shè)置在所述第一震動(dòng)器上，所述進(jìn)料軌道承接從所述震動(dòng)供料盤的所述出料口流出的晶粒；以及 一回料震動(dòng)模組，所述回料震動(dòng)模組包括一第二載臺(tái)、一第二震動(dòng)器和一回料軌道，所述第二載臺(tái)組裝設(shè)置在所述基座上，所述第二震動(dòng)器組裝設(shè)置在所述第二載臺(tái)上，所述回料軌道組裝設(shè)置在所述第二震動(dòng)器上，并且所述回料軌道承接從所述進(jìn)料軌道落下的晶粒。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶粒檢測設(shè)備的進(jìn)料機(jī)構(gòu)，其特征在于，所述回料軌道位于所述進(jìn)料軌道的下方。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的晶粒檢測設(shè)備的進(jìn)料機(jī)構(gòu)，其特征在于，所述進(jìn)料軌道包括一承接部和一直行部，所述承接部鄰接在所述震動(dòng)供料盤的所述出料口，所述回料軌道位于所述直行部的下方。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的晶粒檢測設(shè)備的進(jìn)料機(jī)構(gòu)，其特征在于，所述直行部開設(shè)有一落料孔，所述晶粒通過所述落料孔落入所述回料軌道。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶粒檢測設(shè)備的進(jìn)料機(jī)構(gòu)，其特征在于，所述晶粒檢測設(shè)備的進(jìn)料機(jī)構(gòu)還包括一承載架，所述承載架組裝設(shè)置在所述基座上，所述震動(dòng)供料盤組裝設(shè)置在所述承載架上。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶粒檢測設(shè)備的進(jìn)料機(jī)構(gòu)，其特征在于，所述進(jìn)料震動(dòng)模組還包括一 X軸位移調(diào)整機(jī)構(gòu)和一 Y軸位移調(diào)整機(jī)構(gòu)，所述X軸位移調(diào)整機(jī)構(gòu)和所述Y軸位移調(diào)整機(jī)構(gòu)設(shè)置在所述第一載臺(tái)的下方，所述X軸位移調(diào)整機(jī)構(gòu)和所述Y軸位移調(diào)整機(jī)構(gòu)分別用于驅(qū)使所述第一載臺(tái)在X軸向上和在Y軸向上位移。
【文檔編號(hào)】B65G47/14GK203512701SQ201320542247
【公開日】2014年4月2日 申請日期:2013年9月2日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月20日
【發(fā)明者】黃德崑 申請人:臺(tái)北歆科科技有限公司