本發(fā)明涉及一種封裝前線站抽檢使用的托盤，具體涉及一種快速識(shí)別坐標(biāo)托盤，屬于半導(dǎo)體封裝。

背景技術(shù)：

1、半導(dǎo)體封裝工藝制程前線工序，包含裝片、焊線、三光檢驗(yàn)、全檢，各站在自檢與抽檢時(shí)使用托盤。

2、目前，托盤只有抽檢功能，針對(duì)多排產(chǎn)品中間產(chǎn)品發(fā)生異常時(shí)無法快速定位進(jìn)行作次處理。

3、如圖1所示，為現(xiàn)有自檢托盤的結(jié)構(gòu)示意圖。

4、操作員手握托盤，使用抽檢鑷子夾住基板（或框架）的邊緣將基板拉取到托盤上，進(jìn)行自檢；檢驗(yàn)過程中若發(fā)現(xiàn)不良品，需要在基板圖紙中作次品標(biāo)記。而目前，封裝的基板是多排的，對(duì)于不良基板無法快速定位，通過人工數(shù)數(shù)的方式定位容易出錯(cuò)且效率低。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、為解決現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明的目的在于提供一種快速識(shí)別坐標(biāo)托盤。

2、為了實(shí)現(xiàn)上述目標(biāo)，本發(fā)明采用如下的技術(shù)方案：

3、一種快速識(shí)別坐標(biāo)托盤，于托盤的橫向邊側(cè)和縱向邊側(cè)分別設(shè)置刻度單元；

4、所述刻度單元包括轉(zhuǎn)軸和軸套；沿周向，所述轉(zhuǎn)軸的軸面分為若干刻度區(qū)，且刻度區(qū)的軸面沿軸向分別設(shè)置不等長的刻度值；

5、所述轉(zhuǎn)軸置于軸套內(nèi)并可基于軸套轉(zhuǎn)動(dòng)，所述軸套的頂部設(shè)有用于觀察刻度值的槽口；

6、托盤的盤面由橫向和縱向的刻度值定位。

7、上述橫向邊側(cè)和縱向邊側(cè)的刻度單元于相鄰端設(shè)置為刻度值的0點(diǎn)。

8、上述刻度區(qū)的刻度值分別對(duì)應(yīng)封裝產(chǎn)品的型號(hào)。

9、上述托盤的橫向邊側(cè)和縱向邊側(cè)分別設(shè)置激光定位單元；

10、所述激光定位單元包括激光發(fā)射裝置和滑桿，所述滑桿設(shè)于托盤的邊側(cè)，激光發(fā)射裝置固設(shè)于沿滑桿滑動(dòng)的滑塊上，

11、橫向邊側(cè)和縱向邊側(cè)的激光發(fā)射裝置的激光束交匯于托盤的盤面，輔助刻度值定位托盤的盤面。

12、上述托盤的內(nèi)側(cè)面設(shè)有固定夾，用于夾持待封裝產(chǎn)品。

13、本發(fā)明的有益之處在于：

14、本發(fā)明的一種快速識(shí)別坐標(biāo)托盤，通過沿橫向和縱向的交匯的激光對(duì)放置于托盤上的檢測(cè)產(chǎn)品的次品進(jìn)行定位，再依激光讀取次品所在的橫向和縱向的刻度值，實(shí)現(xiàn)次品的快速定位和標(biāo)次。

15、本發(fā)明的一種快速識(shí)別坐標(biāo)托盤，其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，使用方便，制作、維護(hù)成本低，可快速定位不良產(chǎn)品坐標(biāo)，防止標(biāo)錯(cuò)，提升作次效率，解決了自檢與抽檢時(shí)無法快速定位易出錯(cuò)與效率低問題，具有很強(qiáng)的實(shí)用性和廣泛地適用性。

技術(shù)特征：

1.一種快速識(shí)別坐標(biāo)托盤，其特征在于，于托盤的橫向邊側(cè)和縱向邊側(cè)分別設(shè)置刻度單元；

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的快速識(shí)別坐標(biāo)托盤，其特征在于，所述橫向邊側(cè)和縱向邊側(cè)的刻度單元于相鄰端設(shè)置為刻度值的0點(diǎn)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的快速識(shí)別坐標(biāo)托盤，其特征在于，所述刻度區(qū)的刻度值分別對(duì)應(yīng)封裝產(chǎn)品的型號(hào)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的快速識(shí)別坐標(biāo)托盤，其特征在于，所述托盤的橫向邊側(cè)和縱向邊側(cè)分別設(shè)置激光定位單元；

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的快速識(shí)別坐標(biāo)托盤，其特征在于，所述托盤的內(nèi)側(cè)面設(shè)有固定夾，用于夾持待封裝產(chǎn)品。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明的一種快速識(shí)別坐標(biāo)托盤，于托盤的橫向邊側(cè)和縱向邊側(cè)分別設(shè)置刻度單元；刻度單元包括轉(zhuǎn)軸和軸套；沿周向，轉(zhuǎn)軸的軸面分為若干刻度區(qū)，且刻度區(qū)的軸面沿軸向分別設(shè)置不等長的刻度值；轉(zhuǎn)軸置于軸套內(nèi)并可基于軸套轉(zhuǎn)動(dòng)，軸套的頂部設(shè)有用于觀察刻度值的槽口；托盤的盤面由橫向和縱向的刻度值定位。通過沿橫向和縱向的交匯的激光對(duì)放置于托盤上的檢測(cè)產(chǎn)品的次品進(jìn)行定位，再依激光讀取次品所在的橫向和縱向的刻度值，實(shí)現(xiàn)次品的快速定位和標(biāo)次。其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，使用方便，制作、維護(hù)成本低，可快速定位不良產(chǎn)品坐標(biāo)，防止標(biāo)錯(cuò)，提升作次效率，解決了自檢與抽檢時(shí)無法快速定位易出錯(cuò)與效率低問題，具有很強(qiáng)的實(shí)用性和廣泛地適用性。

技術(shù)研發(fā)人員：程珍珍,劉偉,馬珊珊
受保護(hù)的技術(shù)使用者：江蘇芯德半導(dǎo)體科技股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20240415
技術(shù)公布日：2024/11/14