電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機構、方法及其應用設備的制造方法
【專利摘要】本發(fā)明是一種電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機構、方法及其應用設備，包含作業(yè)機構、移料機構及檢知機構，作業(yè)機構設有承置器，該移料機構帶動取放器的拾取件位移至作業(yè)機構的承置器處，該檢知機構是在取放器內設有具氣室的負壓結構，負壓結構并設有可控制氣室啟閉的控制部件，一真空單元以真空產生器連通氣室及拾取件的抽氣道，使拾取件具有吸力執(zhí)行吸取電子元件作業(yè)，真空單元并以裝配于真空產生器與取放器間的真空感測器檢知取放器的負壓值，并將負壓值資料傳輸至比對單元，比對單元的控制器將負壓值資料與資料庫的設定負壓范圍資料作比對，以分析取放器的吸附狀態(tài)，進而檢知出承置器的異常承置狀態(tài)，以便立即排除異常，提升作業(yè)效能。
【專利說明】
電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機構、方法及其應用設備
技術領域
[0001]本發(fā)明涉及一種移料機構的取放器于作業(yè)機構的承置器處執(zhí)行吸取電子元件作業(yè)時，可利用檢知機構偵測取放器的負壓值是否異常，以進一步判別承置器是否發(fā)生異常承置狀態(tài)，而即時排除異常，進而提升作業(yè)效能的電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機構及檢知方法。
【背景技術】
[0002]在現今，電子元件作業(yè)設備以具吸附式取放器的移料機構，在不同作業(yè)機構的承置器(例如輸送機構的載臺、供料機構的供料盤或測試機構的測試座)處取放及移載電子元件，然而作業(yè)機構的承置器于正常承置狀態(tài)下，以一容置槽承置單一水平擺置的待作業(yè)電子元件，以供移料機構的取放器取出移載至另一作業(yè)裝置，由于承置器可能會發(fā)生容置槽內并無承置電子元件或一次承置復數個堆迭電子元件，也或承置傾斜電子元件等異常承置狀態(tài)，一旦未即時發(fā)現承置器的異常承置狀態(tài)，將會造成移料機構空跑移載行程或壓損電子元件等問題，進而影響后續(xù)作業(yè)流程；因此，目前電子元件作業(yè)設備是在承置器的側方均設置有光感測器，以感測承置器內的電子元件是否放置異常，如發(fā)現異常，可立即停機排除異常。
[0003]請參閱圖1、圖2，該電子元件作業(yè)設備的機臺上配置有具承置器11的輸送機構，該承置器11設有復數個承置待作業(yè)電子元件12的容置槽111，并可載送待作業(yè)的電子元件12至不同作業(yè)裝置；然為了檢查承置器11是否發(fā)生無承置電子元件或承置二堆迭電子元件等異常承置狀態(tài)，是在承置器11的兩側方配置相對應容置槽111數量的復數組光散式感測器，各組光散式感測器是在承置器11的一側設有光源發(fā)射件13，于另一側設有光源接收件14，該光源發(fā)射件13對承置器11發(fā)射光線，并由光源接收件14接收光線，以感測承置器11的容置槽111內的電子元件12對光線的遮光量，若遮光量為預設單一且水平擺置的電子元件12的遮光量，則判別承置器11為正常承置狀態(tài)，而可由移料機構(圖未示出)的取放器取出移載至下一裝置處，若遮光量為非預設遮光量，則判別承置器11發(fā)生承置二個電子元件或傾斜電子元件等異常承置狀態(tài)，進而控制作業(yè)設備立即停機以排除異常；然而，于使用上具有如下缺失:
[0004]1.由于電子元件日趨精密微小，其放置于容置槽111內的遮光量變化也就更小，導致光散式感測器的光源接收件14不易感測到微小的遮光量變化，以致無法確實檢查出承置器11的異常承置狀態(tài)，進而發(fā)生誤判的情形，使得工作人員無法立即排除異常，造成影響后續(xù)作業(yè)的缺失。
[0005]2.由于為確實檢查承置器11的各容置槽111是否承載異常，配置有相對應容置槽111數量的光散式感測器，若承置器11的容置槽111數量繁多，則必須配置更多的光散式感測器，不僅占用空間，也增加設備成本；再者，作業(yè)設備大多設有復數個具有承置器的作業(yè)機構(如供料機構、輸送機構或測試機構)，以致必須于不同作業(yè)機構處獨立配置有光散式感測器，以致整個作業(yè)設備需配置相當多數量的光散式感測器，造成更加耗費成本的缺失。

【發(fā)明內容】

[0006]針對現有技術的不足，本發(fā)明的目的在于:提供一種電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機構、方法及其應用設備，解決現有技術中存在的上述技術問題。
[0007]為實現上述目的，本發(fā)明采用的技術方案是:
[0008]一種電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機構，其特征在于，包含:
[0009]作業(yè)機構:設有至少一承置器，用以承置電子元件；
[0010]移料機構:設有至少一取放器，該取放器設有作至少一方向位移的拾取件，該拾取件設有至少一連通外部的抽氣道，并設有至少一連通該抽氣道的吸取部，用以取放移載該電子元件；
[0011]檢知機構:設有負壓結構、真空單元及比對單元，該負壓結構是在該移料機構的拾取件周側設有至少一相通至該取放器外部的氣室，該負壓結構并設有至少一控制該氣室啟閉的控制部件，該真空單元設有真空產生器及真空感測器，該真空產生器連通該抽氣道及該氣室，該真空感測器設置于該真空產生器與該取放器之間，以感測該取放器的負壓值，并將感測的負壓資料傳輸至該比對單元，該比對單元設有資料庫及控制器，該資料庫內建有設定負壓范圍資料，該控制器將感測的負壓資料與該資料庫的設定負壓范圍資料進行比對。
[0012]所述的電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機構中，該移料機構的取放器設有具有容置空間的本體，并在該容置空間內裝設有該拾取件。
[0013]所述的電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機構中，該取放器的拾取件在該吸取部裝配有吸盤。
[0014]所述的電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機構中，該取放器的拾取件在該吸取部的外側設有至少一下壓件。
[0015]所述的電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機構中，該檢知機構的負壓結構在該控制部件與該本體之間設有墊片。
[0016]所述的電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機構中，該檢知機構的負壓結構在該移料機構的拾取件外環(huán)面設有控制部件。
[0017]為實現上述目的，本發(fā)明采用的技術方案還包括:
[0018]—種電子元件作業(yè)裝置的檢知方法，其特征在于，包含:
[0019]對位程序:該移料機構的取放器與該作業(yè)機構的承置器相對位，以供取料；
[0020]取料程序:該移料機構的取放器于該作業(yè)機構的承置器上執(zhí)行取料作業(yè)；
[0021]抽真空程序:該檢知機構的真空單元的真空產生器抽吸該拾取件的抽氣道及該氣室的空氣；
[0022]檢知比對程序:該檢知機構的真空單元的真空感測器檢知該取放器的負壓值，并將感測的負壓值資料傳輸至該比對單元，該比對單元的控制器將感測的負壓值資料與該資料庫內建的設定負壓范圍資料進行比對，以判別該取放器的吸附狀態(tài)及該承置器的承置狀
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[0023]所述的電子元件作業(yè)裝置的檢知方法中，在執(zhí)行該對位程序前，執(zhí)行負壓狀態(tài)設定程序，該負壓狀態(tài)設定程序是在該資料庫內建立復數種不同負壓范圍資料。
[0024]所述的電子元件作業(yè)裝置的檢知方法中，該檢知比對程序判別出該承置器有異承承置狀態(tài)后，發(fā)出警示訊息，以通知進行排除異常。
[0025]為實現上述目的，本發(fā)明采用的技術方案還包括:
[0026]—種應用電子元件作業(yè)裝置的作業(yè)設備，其特征在于，包含:
[0027]機臺；
[0028]至少一所述的電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機構配置于該機臺，并設有至少一作業(yè)機構及至少一移料機構及至少一檢知機構，用以對電子元件執(zhí)行預設作業(yè)及檢知作業(yè)；
[0029]中央控制裝置是用以控制及整合各裝置作動，以執(zhí)行自動化作業(yè)。
[0030]與現有技術相比較，本發(fā)明具有的有益效果是:
[0031]本發(fā)明提供一種電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機構及檢知方法，該作業(yè)裝置包含作業(yè)機構、移料機構及檢知機構，該作業(yè)機構設有承置電子元件的承置器，該移料機構帶動取放器的拾取件位移至作業(yè)機構的承置器處，該檢知機構是在取放器內設有具氣室的負壓結構，負壓結構并設有可控制氣室啟閉的控制部件，一真空單元以真空產生器連通氣室及拾取件的抽氣道，使拾取件具有吸力執(zhí)行吸取電子元件作業(yè)，真空單元并以裝配于真空產生器與取放器間的真空感測器檢知取放器的負壓值，并將負壓值資料傳輸至比對單元，比對單元的控制器將負壓值資料與資料庫的設定負壓范圍資料作比對，以分析取放器的吸附狀態(tài)，進而檢知出承置器的異常承置狀態(tài)，以便立即排除異常，達到提升作業(yè)效能的實用效益。
[0032]本發(fā)明提供一種電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機構及檢知方法，其中，該檢知機構裝配于移料機構上，而可同步位移至不同作業(yè)裝置處，并以真空感測器即時檢知取放器的負壓值，且將負壓值資料傳輸至比對單元，以供判別承置器是否承置異常，檢知機構不需于各承置器側方或不同作業(yè)裝置處配置繁多數量的光散式感測器，不僅有效節(jié)省成本，并利于機臺空間運用，達到提升使用效能的實用效益。
[0033]本發(fā)明提供一種應用電子元件作業(yè)裝置的作業(yè)設備，其中，該作業(yè)設備包含機臺、作業(yè)裝置及中央控制裝置，該作業(yè)裝置裝配于機臺，并設有至少一作業(yè)機構及至少一移料機構及至少一檢知機構，用以對電子元件執(zhí)行預設作業(yè)及檢知作業(yè)，該中央控制裝置用以控制及整合各裝置作動，以執(zhí)行自動化作業(yè)，達到提升作業(yè)效能的實用效益。
【附圖說明】
[0034]圖1是現有光散式感測器與承置器的配置示意圖；
[0035]圖2是現有光散式感測器與承置器的使用示意圖；
[0036]圖3是本發(fā)明第一實施例作業(yè)裝置的示意圖；
[0037]圖4是第一實施例作業(yè)裝置的承置器承置單一電子元件的使用示意圖；
[0038]圖5是第一實施例作業(yè)裝置的承置器承置復數電子元件的使用示意圖；
[0039]圖6是第一實施例作業(yè)裝置的承置器無承置電子元件的使用示意圖；
[0040]圖7是本發(fā)明檢知方法的流程圖；
[0041]圖8是本發(fā)明第二實施例作業(yè)裝置的示意圖；
[0042]圖9是第二實施例作業(yè)裝置的承置器承置單一電子元件的使用示意圖；
[0043]圖10是第二實施例作業(yè)裝置的承置器承置復數電子元件的使用示意圖；
[0044]圖11是第二實施例作業(yè)裝置的承置器無承置電子元件的使用示意圖；
[0045]圖12是本發(fā)明第三實施例作業(yè)裝置的示意圖；
[0046]圖13是第三實施例作業(yè)裝置的承置器承置單一電子元件的使用示意圖；
[0047]圖14是第三實施例作業(yè)裝置的承置器承置復數電子元件的使用示意圖；
[0048]圖15是第三實施例作業(yè)裝置的承置器無承置電子元件的使用示意圖；
[0049]圖16是本發(fā)明作業(yè)裝置應用于作業(yè)設備的示意圖。
[0050]附圖標記說明:[現有技術]承置器11 ;容置槽111 ;電子元件12;光源發(fā)射件13;光源接收件14 ;[本發(fā)明]作業(yè)裝置20 ;作業(yè)機構21 ;承置器211 ;容置槽2111 ;移料機構22 ;取放器221 ;本體2211 ;容置空間2212 ;拾取件2213 ;彈簧2214 ;吸取部2215 ;抽氣道2216 ;控制部件2217 ;吸盤2218 ;下壓件2219 ;驅動結構222 ;驅動器2221 ;檢知機構23 ；氣室231 ;墊片232 ;真空產生器233 ;真空感測器234 ;管路235 ;資料庫236 ;控制器237 ;作業(yè)機構24 ;承置器241 ;容置槽2411 ;作業(yè)機構25 ;承置器251 ;容置槽2511 ;供料作業(yè)機構261 ;供料承置器2611 ;收料作業(yè)機構262 ;收料承置器2621 ;第一移料機構263 ;第一檢知機構264 ;輸送作業(yè)機構265 ;第一入料承置器2651 ;第二入料承置器2652 ;第一出料承置器2653 ;第二出料承置器2654 ;測試作業(yè)機構266 ;測試承置器2661 ;第二移料機構267 ;第三移料機構268 ;第二檢知機構269 ;第三檢知機構270 ;第四移料機構271 ;第四檢知機構272 ;步驟31?43 ;機臺50 ；電子元件A。
【具體實施方式】
[0051]為使貴審查委員對本發(fā)明作更進一步的了解，茲舉一較佳實施例并配合圖式，詳述如后:
[0052]請參閱圖3，是本發(fā)明作業(yè)裝置20的第一實施例，包含至少一作業(yè)機構21、至少一移料機構22及至少一檢知機構23，該作業(yè)機構21設有至少一承置器211，用以承置電子元件，更進一步，該作業(yè)機構21可為供料作業(yè)機構、收料作業(yè)機構、測試作業(yè)機構或輸送作業(yè)機構，而執(zhí)行供料作業(yè)、收料作業(yè)、測試作業(yè)或輸送作業(yè)，該承置器211可為供料盤、收料盤、測試座或載臺，并固定于機臺(圖未示出)或于機臺上作至少一方向位移，于本實施例中，該作業(yè)機構21是輸送作業(yè)機構，并設有至少一為載臺的承置器211，該承置器211上設有復數個承置電子元件的容置槽2111，并作第一方向(如X方向)位移而執(zhí)行載送電子元件作業(yè)；該移料機構22設有至少一取放器221，用以于作業(yè)機構21的承置器211處取放及移載電子元件，于本實施例中，該取放器221設有具至少一容置空間2212的本體2211，并于容置空間2212內裝設一套置彈簧2214的拾取件2213，該拾取件2213的一端設有為剛性管體的吸取部2215，用以取放及壓測電子元件，并于內部設有連通吸取部2215的抽氣道2216，另該移料機構22設有驅動結構222，該驅動結構222設有至少一驅動器2221，用以帶動取放器221作至少一方向位移，于本實施例中，該移料機構22的驅動器2221帶動取放器221作第二、三方向(如Y、Z方向)位移；該檢知機構23包含負壓結構、真空單元及比對單元，該負壓結構是在取放器221的拾取件2213周側設有至少一氣室231，氣室231連通取放器221的外部，負壓結構并設有至少一可控制氣室231啟閉的控制部件，于本實施例中，是在拾取件2213的周側設有氣室231，并于拾取件2213的外環(huán)面凸設有控制部件2217，以控制氣室231啟閉，控制部件2217下方與本體2211間則設有墊片232，該拾取件2213以本身重量壓抵于墊片232上，而防止氣室231破真空，該真空單元設有真空產生器233及真空感測器234，該真空產生器233以管路235連通取放器221的抽氣道2216及負壓結構的氣室231，使抽氣道2216及氣室231形成真空負壓狀態(tài)，以使取放器221的拾取件2213具有吸力而吸取電子元件，該真空感測器234設置于真空產生器233與取放器221之間，以感測取放器221內的負壓值，并將負壓值資料傳輸至比對單元，該比對單元設有資料庫236及控制器237，該資料庫236內建有取放器221不同吸附狀態(tài)的設定負壓范圍資料，該控制器237用以接收真空感測器234傳輸的負壓值資料，并將負壓值資料與資料庫236的設定負壓范圍資料進行比對，以分析出取放器221目前的吸附狀態(tài)，而進一步檢知出承置器211是否有異常承置狀態(tài)，以便立即排除異常。
[0053]請參閱圖4，若作業(yè)機構21的承置器211承置單一且平整擺置的電子元件A位移至移料機構22的取放器221下方，并令承置器211的容置槽2111對位于取放器221的拾取件2213時，該移料機構22以驅動結構222的驅動器2221帶動取放器221作第三方向向下位移，取放器221以拾取件2213剛性的吸取部2215接觸且壓抵電子元件A，電子元件A會對拾取件2213產生一反作用力，由于拾取件2213的吸取部2215是剛性材質，該吸取部2215于承受反作用力時，直接帶動拾取件2213作第三方向向上位移，且壓縮彈簧2214，由于拾取件2213僅承受單一電子元件A的反作用力頂推，并不會作過當的第三方向位移，使得拾取件2213的控制部件2217仍保持壓抵于墊片232上，以防止取放器221內的氣室231泄壓，由于氣室231及拾取件2213的抽氣道2216均保持封閉而可防止破真空，當檢知機構23以真空產生器233抽吸該氣室231及抽氣道2216內的空氣時，可令氣室231及抽氣道2216形成真空狀態(tài)，使取放器221以預設負壓值的吸力吸取電子元件A，同時，該檢知機構23以真空感測器234感測取放器221的負壓值，并將負壓值資料傳輸至比對單元，比對單元的控制器237將負壓值資料與資料庫236的設定負壓范圍資料進行比對，以分析出取放器221目前的吸附狀態(tài)，而進一步檢知出承置器211是否有異常承置狀態(tài)，以便立即排除異常。
[0054]請參閱圖5，若作業(yè)機構21的承置器211承置二個堆迭的電子元件A位移至移料機構22的取放器221下方，并令承置器211的容置槽2111對位于取放器221的拾取件2213時，該移料機構22以驅動結構222的驅動器2221帶動取放器221作第三方向向下位移，取放器221以拾取件2213剛性的吸取部2215接觸且壓抵電子元件A，由于二個迭置電子元件A的高度較高，以致取放器221的拾取件2213會作過當壓抵二個迭置電子元件A，二個迭置電子元件A即對拾取件2213產生較大的反作用力，以致拾取件2213作較大的第三方向向上位移，并壓縮彈簧2214，令拾取件2213的控制部件2217脫離墊片232，雖然拾取件2213被電子元件A封閉，但拾取件2213的控制部件2217與墊片232間具有間隙，令氣室231可發(fā)生微量泄壓，當真空單元的真空產生器233抽吸取放器221的抽氣道2216及氣室231的空氣時，可利用氣室231的微量泄壓，促使取放器221內的負壓值發(fā)生變化，令取放器221的負壓值低于預設負壓值，并以較低的吸力吸附承置器211上的電子元件A，該檢知機構23以真空感測器234感測取放器221的負壓值，并將負壓值資料傳輸至比對單元，比對單元的控制器237將負壓值資料與資料庫236的設定負壓范圍資料進行比對，以分析出取放器221目前的吸附狀態(tài)，而進一步檢知出承置器211是否有異常承置狀態(tài)，以便立即排除異常。
[0055]請參閱圖6，若作業(yè)機構21的承置器211無承置電子元件位移至移料機構22的取放器221下方，并令承置器211的容置槽2111對位于取放器221的拾取件2213時，該移料機構22以驅動結構222的驅動器2221帶動取放器221作第三方向向下位移而執(zhí)行取料動作，該檢知機構23以真空產生器233抽吸取放器221的抽氣道2216及氣室231的空氣，由于承置器211的容置槽2111內并無電子元件，以致取放器221的拾取件2213未被封閉而形成破真空狀態(tài)，并不具吸力，該檢知機構23的真空感測器234感測取放器221的負壓值，并將負壓值資料傳輸至比對單元，比對單元的控制器237將負壓值資料與資料庫236的設定負壓范圍資料進行比對，以分析出取放器221目前的吸附狀態(tài)，而進一步檢知出承置器211是否有異常承置狀態(tài)，以便立即排除異常。
[0056]再請參閱圖3，然于執(zhí)行檢知作業(yè)前，先執(zhí)行負壓狀態(tài)設定程序，該負壓狀態(tài)設定程序是在資料庫236內建立復數種不同負壓范圍資料，以區(qū)別取放器221的不同吸附狀態(tài)，而供判別承置器211的不同承置情況，于本實施例中，是在資料庫236設定有第一種預設負壓狀態(tài)、第二種低于預設負壓狀態(tài)及第三種非負壓狀態(tài)，其中，第一種預設負壓狀態(tài)，其負壓值范圍設定為-90?-80kpa，當真空感測器234感測到取放器221的負壓值為-90?-SOkpa時，即表示取放器221為正常吸附狀態(tài)，也表示承置器211是承置單一且水平擺置電子元件的正常承置情況(如圖4);第二種低于預設負壓狀態(tài)，其負壓值范圍設定為-80?-lOkpa，當真空感測器234感測到取放器221的負壓值為-80?-lOkpa，即表示取放器221為異常吸附狀態(tài)，也表示承置器211是承置傾斜電子元件或復數個電子元件等異常承置情況(如圖5);第三種非負壓狀態(tài)，其負壓值范圍設定為-10?Okpa，當真空感測器234感測到取放器221的負壓值為-10?Okpa，即表示取放器221為異常破真空吸附狀態(tài)，也表示承置器211是無承置電子元件的異常承置情況(如圖6);因此，本發(fā)明可于資料庫236設定不同負壓值狀態(tài)，以供對照取放器221的負壓值，進而比對出取放器221的吸附狀態(tài)及承置器211的承置情況。
[0057]請參閱圖4、圖7，是本發(fā)明的檢知方法，在執(zhí)行作業(yè)時，進行對位程序，執(zhí)行步驟31，其移料機構22的取放器221與作業(yè)機構21的承置器211相對位，更進一步，該移料機構22可驅動取放器221位移至作業(yè)機構21的承置器211的上方，也或作業(yè)機構21驅動承置器211位移至移料機構22的取放器221下方，于本實施例中，作業(yè)機構21的承置器211作第一方向位移至移料機構22的取放器221下方，令承置器211的容置槽2111對應于取放器221的拾取件2213，以供取放器221取料；接著進行取料程序，執(zhí)行步驟32，其該移料機構22以取放器221于作業(yè)機構21的承置器211上執(zhí)行取料，于本實施例中，移料機構22的取放器221作第三方向向下位移，令取放器221的拾取件2213于承置器211的容置槽2111執(zhí)行取料；接著進行抽真空程序，執(zhí)行步驟33，其檢知機構23的真空單元以真空產生器233抽吸該拾取件2213的抽氣道2216及氣室231的空氣；同時，進行檢知比對程序，執(zhí)行步驟34，其該檢知機構23以真空單元的真空感測器234感測取放器221的負壓值，并將感測的負壓值資料傳輸至比對單元，該比對單元的控制器237將感測的負壓值資料與資料庫236內建的設定負壓范圍資料進行比對，以判別該取放器221的吸附狀態(tài)及該承置器211的承置狀態(tài)，該比對單元的控制器237即可將感測的負壓值資料與資料庫236內建設定的復數種不同負壓范圍資料進行比對；接著執(zhí)行步驟35，比對單元的控制器237先判斷取放器221的負壓值是否符合資料庫236內建的第一種預設負壓狀態(tài)(-90?_80kpa)，若不符合，則執(zhí)行步驟36，若符合，則執(zhí)行步驟37，因此，當控制器237將取放器221的負壓值(如為-90kpa)與資料庫236內建的復數種不同負壓范圍資料進行比對，而判斷符合第一種預設負壓狀態(tài)(-90?-SOkpa)，即表示取放器221以預設負壓值吸附電子元件A，而為正常吸附狀態(tài)，即接著執(zhí)行步驟37，由于取放器221為正常吸附狀態(tài)，控制器237可進一步判斷承置器211是承置單一且水平擺置電子元件A的正常承置情況(請配合參閱圖4);接著執(zhí)行步驟38，該移料機構22的取放器222于作業(yè)機構21的承置器211處執(zhí)行取出移載電子元件A的作業(yè)；然，若取放器221的負壓值(如為-70kpa)不符合資料庫236的第一種預設負壓狀態(tài)，執(zhí)行步驟36，控制器237判斷取放器221的負壓值(如為_70kpa)是否符合第二種低于預設負壓狀態(tài)(-80?-1Okpa)，若不符合，則執(zhí)行步驟39，若符合，則執(zhí)行步驟40，因此，當控制器237依據資料庫236內建的復數種不同負壓范圍資料，而判斷取放器221的負壓值(如為_70kpa)符合第二種低于預設負壓狀態(tài)(-80?-1Okpa)，即表示取放器221的負壓值低于預設負壓值，以較低的吸力吸附電子元件A，而為異常吸附狀態(tài)，即執(zhí)行步驟40，由于取放器221為異常吸附狀態(tài)，控制器237可進一步判斷承置器211是承置復數個電子元件A或傾斜電子元件A等異常承置情況(請配合參閱圖5);接著執(zhí)行步驟41，檢知機構23的比對單元發(fā)出警告訊息，以通知工作人員即時排除異常；再者，若取放器221的負壓值(如為Okpa)不符合資料庫236的第二種低于預設負壓狀態(tài)，執(zhí)行步驟39 (請配合參閱圖6)，控制器237判斷取放器221的負壓值(如為Okpa)符合第三種非負壓狀態(tài)，即表示取放器221并無吸附電子元件A，而為異常破真空，接著執(zhí)行步驟42，由于取放器221為異常破真空，控制器237依據資料庫236內建的復數種不同負壓范圍資料，進一步判斷承置器211是無承置電子元件A的異常承置情況；接著執(zhí)行步驟43，檢知機構23的比對單元發(fā)出警告訊息，以通知工作人員即時排除異常。
[0058]請參閱圖8，本發(fā)明作業(yè)裝置20的第二實施例，包含至少一作業(yè)機構24、至少一移料機構22及至少一檢知機構23，于本實施例中，該作業(yè)機構24是供料作業(yè)機構，其承置器241是供料盤，用以容置復數個待作業(yè)的電子元件；該移料機構22另于取放器221的拾取件2213套置彈簧2214，并于剛性的吸取部2215處裝設有相通且為軟質的吸盤2218，用以接觸電子元件；該檢知機構23包含負壓結構、真空單元及比對單元，該負壓結構是在拾取件2213的周側設有氣室231，并于拾取件2213的外環(huán)面凸設有控制部件2217，以控制氣室231啟閉，控制部件2217下方與本體2211間則設有墊片232，該拾取件2213以本身重量壓抵于墊片232上，而防止氣室231破真空，該真空單元設有真空產生器233及真空感測器234，該真空產生器233以管路235連通拾取件2213的抽氣道2216及負壓結構的氣室231，使抽氣道2216及氣室231形成真空負壓狀態(tài)，以供取放器221的拾取件2213吸取待作業(yè)的電子元件，該真空感測器234設置于真空產生器233與取放器221之間，以感測取放器221的負壓值，并將負壓資料傳輸至比對單元，該比對單元設有資料庫236及控制器237，該資料庫236內建有取放器221不同吸附狀態(tài)的設定負壓范圍資料，該控制器237于接收到的負壓資料后，即與資料庫236的設定負壓范圍資料進行比對，以分析出取放器221目前的吸附狀態(tài)，而進一步檢知出承置器211是否有異常承置的狀態(tài)，以便立即排除異常。
[0059]請參閱圖9，若作業(yè)機構24的承置器241承置單一且平整擺置的電子元件A時，該移料機構22以驅動結構222的驅動器2221帶動取放器221作第一、二、三方向向下位移，令取放器221的吸盤2218接觸且壓抵電子元件A，電子元件A會對吸盤2218產生一反作用力，而頂壓吸盤2218扁平變形，由于取放器221的拾取件2213并未作第三方向位移，使得拾取件2213上的控制部件2217仍保持壓抵于墊片232上，以防止拾取件2213周側的氣室231泄壓，令氣室231及拾取件2213的抽氣道2216均保持封閉而防止破真空，進而檢知機構23以真空產生器233抽吸該氣室231及抽氣道2216內的空氣，使取放器221的拾取件2213以預設負壓值的吸力吸取電子元件A，同時，該檢知機構23以真空感測器234感測取放器221的負壓值，并將負壓值資料傳輸至比對單元，比對單元的控制器237將感測的負壓值資料與資料庫236的設定負壓范圍資料進行比對，以分析出取放器221目前的吸附狀態(tài)，而進一步檢知出承置器241是否有異常承置的狀態(tài)，以便立即排除異常。
[0060]請參閱圖10，若作業(yè)機構24的承置器241承置二個迭置的電子元件A時，該移料機構22以驅動結構222的驅動器2221帶動取放器221作第一、二、三方向向下位移，令取放器221的吸盤2218接觸且壓抵電子元件A，由于二個迭置電子元件A的高度較高，以致取放器221的拾取件2213會過當壓抵二個迭置電子元件A，二個迭置電子元件A即會對拾取件2213及吸盤2218產生較大的反作用力，而頂壓吸盤2218扁平變形，并頂推帶動拾取件2213作第三方向向上位移，且壓縮彈簧2214，使得拾取件2213上的控制部件2217脫離墊片232，于檢知機構23的真空單元以真空產生器233抽吸取放器221的抽氣道2216及氣室231的空氣時，該控制部件2217與墊片232間之間隙，即會令拾取件2213周側的氣室231發(fā)生微量泄壓，并可利用此一微量泄壓而促使改變取放器221的負壓值，使取放器221的負壓值低于預設負壓值，同時，該檢知機構23以真空感測器234感測取放器221的負壓值，并將負壓值資料傳輸至比對單元，比對單元的控制器237將感測的負壓值資料與資料庫236的設定負壓范圍資料進行比對，以分析出取放器221目前的吸附狀態(tài)，而進一步檢知出承置器241是否有異常承置的狀態(tài)，以便立即排除異常。
[0061]請參閱圖11，若作業(yè)機構24的承置器241無承置電子元件時，該移料機構22以驅動結構222的驅動器2221帶動取放器221作第一、二、三方向向下位移，而以拾取件2213執(zhí)行取料動作，由于承置器241的容置槽2411內并無承置電子元件，而未封閉該取放器221的吸盤2218，當檢知機構23的真空單元以真空產生器233抽吸取放器221的抽氣道2216及氣室231的空氣時，取放器221的拾取件2213即形成破真空狀態(tài)，而不具吸力，同時，該檢知機構23以真空感測器234感測取放器221的負壓值，并將負壓值資料傳輸至比對單元，比對單元的控制器237將感測的負壓值資料與資料庫236的設定負壓范圍資料進行比對，以分析出取放器221目前的吸附狀態(tài)，而進一步檢知出承置器241是否有異常承置的狀態(tài)，以便立即排除異常。
[0062]請參閱圖12，本發(fā)明作業(yè)裝置20的第三實施例，包含至少一作業(yè)機構25、至少一移料機構22及至少一檢知機構23，于本實施例中，該作業(yè)機構25是測試作業(yè)機構，其承置器251是測試座，用以容置待測試的電子元件；該移料機構22另于取放器221的拾取件2213套置彈簧2214，并于剛性的吸取部2215處裝設有相通且為軟質的吸盤2218，用以接觸電子元件，并于拾取件2213的剛性吸取部2215外側設有至少一剛性的下壓件，該下壓件可與拾取件2213 —體成型，或為一獨立元件裝配于拾取件2213，于本實施例中，是在拾取件2213的底部一體成型有下壓件2219，用以壓抵電子元件執(zhí)行測試作業(yè)，以及防止取放器221于移載電子元件時發(fā)生偏斜，使取放器221平穩(wěn)移載電子元件；該檢知機構23包含負壓結構、真空單元及比對單元，該負壓結構是在拾取件2213的周側設有氣室231，并于拾取件2213的外環(huán)面凸設有控制部件2217，以控制氣室231啟閉，控制部件2217下方與本體2211間則設有墊片232，該拾取件2213以本身重量壓抵于墊片232上，而防止氣室231破真空，該真空單元設有真空產生器233及真空感測器234，該真空產生器233以管路235連通取放器221的抽氣道2216及負壓結構的氣室231，用以抽氣，使抽氣道2216及氣室231形成真空負壓狀態(tài)，以供取放器221的拾取件2213吸取待作業(yè)的電子元件，該真空感測器234設置于真空產生器233與取放器221之間，以感測取放器221的負壓值，并將負壓資料傳輸至比對單元，該比對單元設有資料庫236及控制器237，該資料庫236內建有取放器221不同吸附狀態(tài)的設定負壓范圍資料，該控制器237于接收到的負壓資料后，將感測的負壓資料與資料庫236的設定負壓范圍資料進行比對，以分析出取放器221目前的吸附狀態(tài)，而進一步檢知出承置器251是否有異常承置的狀態(tài)，以便立即排除異常。
[0063]請參閱圖13，當作業(yè)機構25的承置器251承置單一且平整擺置的電子元件A時，該移料機構22以驅動結構222的驅動器2221帶動取放器221作第一、二、三方向向下位移，令取放器221的吸盤2218接觸且壓抵電子元件A，并以下壓件2219壓抵電子元件A，電子元件A會對拾取件2213的吸盤2218產生一反作用力，而頂壓吸盤2218扁平變形，由于拾取件2213并未作第三方向位移，使得拾取件2213上的控制部件2217仍保持壓抵于墊片232上，以防止拾取件2213周側的氣室231泄壓，令氣室231及拾取件2213的抽氣道2216均保持封閉而防止破真空，進而檢知機構23以真空產生器233抽吸該氣室231及拾取件2213的抽氣道2216內的空氣，使取放器221以預設負壓值的吸力吸取電子元件A，同時，該檢知機構23以真空感測器234感測取放器221的負壓值，并將負壓值資料傳輸至比對單元，比對單元的控制器237將感測的負壓值資料與資料庫236的設定負壓范圍資料進行比對，以分析出取放器221目前的吸附狀態(tài)，而進一步檢知出承置器251是否有異常承置的狀態(tài)，以便立即排除異常。
[0064]請參閱圖14，若作業(yè)機構25的承置器251承置二個迭置的電子元件A時，該移料機構22以驅動結構222的驅動器2221帶動取放器221作第一、二、三方向向下位移，令取放器221的吸盤2218接觸電子元件A，并以下壓件2219壓抵電子元件A，由于二個迭置電子元件A的高度較高，以致取放器221的拾取件2213會過當壓抵二個迭置電子元件A，二個迭置電子元件A即會對拾取件2213及吸盤2218產生較大的反作用力，而頂壓吸盤2218扁平變形，并頂推帶動拾取件2213作第三方向向上位移，且壓縮彈簧2214，使得拾取件2213上的控制部件2217脫離墊片232，于檢知機構23以真空產生器233抽吸取放器221的抽氣道2216及氣室231的空氣時，該控制部件2217與墊片232間之間隙，即會令拾取件2213周側的氣室231發(fā)生微量泄壓，并可利用此一微量泄壓狀態(tài)而促使改變取放器221的負壓值，使取放器221的負壓值低于預設負壓值，同時，該檢知機構23以真空感測器234感測取放器221的負壓值，并將負壓值資料傳輸至比對單元，比對單元的控制器237將感測的負壓值資料與資料庫236的設定負壓范圍資料進行比對，以分析出取放器221目前的吸附狀態(tài)，而進一步檢知出承置器251是否有異常承置的狀態(tài)，以便立即排除異常。
[0065]請參閱圖15，若作業(yè)機構25的承置器251無承置電子元件時，該移料機構22以驅動結構222的驅動器2221帶動取放器221作第一、二、三方向向下位移，由于承置器251的容置槽2511內并無承置電子元件，而未封閉該取放器221的吸盤2218，于檢知機構23的真空產生器233抽吸取放器221的抽氣道2216及氣室231的空氣時，取放器221的拾取件2213即形成破真空狀態(tài)，而不具吸力，同時，該檢知機構23以真空感測器234感測取放器221的負壓值，并將負壓值資料傳輸至比對單元，比對單元的控制器237將感測的負壓值資料與資料庫236的設定負壓范圍資料進行比對，以分析出取放器221目前的吸附狀態(tài)，而進一步檢知出承置器251是否有異常承置的狀態(tài)，以便立即排除異常。
[0066]請參閱圖16，本發(fā)明作業(yè)裝置20可應用于測試作業(yè)設備，該測試作業(yè)設備包含機臺50、作業(yè)裝置20及中央控制裝置(圖未示出)，于本實施例中，該作業(yè)裝置20裝配于機臺50，并設有供料作業(yè)機構261、收料作業(yè)機構262、第一移料機構263、第一檢知機構264、輸送作業(yè)機構265、測試作業(yè)機構266、第二移料機構267、第三移料機構268、第二檢知機構269、第三檢知機構270、第四移料機構271及第四檢知機構272 ;該供料作業(yè)機構261設有至少一為料盤的供料承置器2611，用以容納至少一待測的電子元件；該收料作業(yè)機構262設有至少一為料盤的收料承置器2621，用以容納至少一已測的電子元件；該第一移料機構263是在供料作業(yè)機構261的供料承置器2611處取出待測的電子元件，該第一檢知機構264相同上述檢知機構23，用以檢知供料承置器2611是否異常承置電子元件，第一移料機構263將待測電子元件分別輸送至輸送作業(yè)機構265可為載臺的第一入料承置器2651或第二入料承置器2652，第一入料承置器2651或第二入料承置器2652分別將待測電子元件載送至測試作業(yè)機構266側方，以供第二移料機構267及第三移料機構268取出待測的電子元件，并載送至測試作業(yè)機構266可為測試座的測試承置器2661而執(zhí)行測試作業(yè)，另該輸送作業(yè)機構265設有可為載臺的第一出料承置器2653及第二出料承置器2654，可位移至測試作業(yè)機構266的側方，以分別承載第二移料機構267及第三移料機構268置入的已測電子元件，并載出測試作業(yè)機構266，該第二檢知機構269及第三檢知機構270相同上述檢知機構23，用以檢知第一、二入料承置器2651、2652及測試承置器2661及第一、二出料承置器2653、2654是否異常承置電子元件，該第四移料機構271是在第一出料承置器2653或第二出料承置器2654上取出已測電子元件，并依據測試結果，將已測電子元件輸送至該收料作業(yè)機構262的收料承置器2621分類放置，第四檢知機構272相同上述檢知機構23，用以檢知第一、二出料承置器2653、2654及收料承置器2621，該中央控制裝置用以控制及整合各裝置作動，以執(zhí)行自動化作業(yè)，達到提升作業(yè)效能的實用效益。
【主權項】
1.一種電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機構，其特征在于，包含: 作業(yè)機構:設有至少一承置器，用以承置電子元件； 移料機構:設有至少一取放器，該取放器設有作至少一方向位移的拾取件，該拾取件設有至少一連通外部的抽氣道，并設有至少一連通該抽氣道的吸取部，用以取放移載該電子元件； 檢知機構:設有負壓結構、真空單元及比對單元，該負壓結構是在該移料機構的拾取件周側設有至少一相通至該取放器外部的氣室，該負壓結構并設有至少一控制該氣室啟閉的控制部件，該真空單元設有真空產生器及真空感測器，該真空產生器連通該抽氣道及該氣室，該真空感測器設置于該真空產生器與該取放器之間，以感測該取放器的負壓值，并將感測的負壓資料傳輸至該比對單元，該比對單元設有資料庫及控制器，該資料庫內建有設定負壓范圍資料，該控制器將感測的負壓資料與該資料庫的設定負壓范圍資料進行比對。2.根據權利要求1所述的電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機構，其特征在于，該移料機構的取放器設有具有容置空間的本體，并在該容置空間內裝設有該拾取件。3.根據權利要求2所述的電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機構，其特征在于，該取放器的拾取件在該吸取部裝配有吸盤。4.根據權利要求3所述的電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機構，其特征在于，該取放器的拾取件在該吸取部的外側設有至少一下壓件。5.根據權利要求2所述的電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機構，其特征在于，該檢知機構的負壓結構在該控制部件與該本體之間設有墊片。6.根據權利要求1所述的電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機構，其特征在于，該檢知機構的負壓結構在該移料機構的拾取件外環(huán)面設有控制部件。7.一種電子元件作業(yè)裝置的檢知方法，其特征在于，包含: 對位程序:該移料機構的取放器與該作業(yè)機構的承置器相對位，以供取料； 取料程序:該移料機構的取放器于該作業(yè)機構的承置器上執(zhí)行取料作業(yè)； 抽真空程序:該檢知機構的真空單元的真空產生器抽吸該拾取件的抽氣道及該氣室的空氣； 檢知比對程序:該檢知機構的真空單元的真空感測器檢知該取放器的負壓值，并將感測的負壓值資料傳輸至該比對單元，該比對單元的控制器將感測的負壓值資料與該資料庫內建的設定負壓范圍資料進行比對，以判別該取放器的吸附狀態(tài)及該承置器的承置狀態(tài)。8.根據權利要求7所述的電子元件作業(yè)裝置的檢知方法，其特征在于，在執(zhí)行該對位程序前，執(zhí)行負壓狀態(tài)設定程序，該負壓狀態(tài)設定程序是在該資料庫內建立復數種不同負壓范圍資料。9.根據權利要求7所述的電子元件作業(yè)裝置的檢知方法，其特征在于，該檢知比對程序判別出該承置器有異承承置狀態(tài)后，發(fā)出警示訊息，以通知進行排除異常。10.一種應用電子元件作業(yè)裝置的作業(yè)設備，其特征在于，包含: 機臺； 至少一如權利要求1所述的電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機構配置于該機臺，并設有至少一作業(yè)機構及至少一移料機構及至少一檢知機構，用以對電子元件執(zhí)行預設作業(yè)及檢知作業(yè)；中央控制裝置是用以控制及整合各裝置作動，以執(zhí)行自動化作業(yè)。
【文檔編號】B65G47/91GK105984723SQ201510099829
【公開日】2016年10月5日
【申請日】2015年3月6日
【發(fā)明人】謝旼達, 蔡志欣
【申請人】鴻勁科技股份有限公司