一種用于芯片自動檢測的框架的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及芯片檢測技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種用于芯片自動檢測的框架。
【背景技術(shù)】
[0002]制約我國計算機發(fā)展和普及的關(guān)鍵技術(shù)之一是芯片，芯片的發(fā)展瓶頸是制造設(shè)備和生產(chǎn)工藝。龍芯能否普及在我國計算機上的重要因素之一就是我國芯片制造業(yè)必須掌握芯片的生產(chǎn)工藝。生產(chǎn)工藝涉及的技術(shù)很多，其中芯片制造過程中的外觀檢測是重要內(nèi)容之一。目前芯片制造過程的外觀檢測系統(tǒng)基本上是美國INTEL和AMD公司的標準和技術(shù)。我國目前還沒有一套此類芯片外觀檢測系統(tǒng)。因此我國自行開發(fā)芯片外觀檢測系統(tǒng)是對我國芯片制造是一項極其重要的項目和工程。
[0003]在現(xiàn)有的芯片加工過程中，生產(chǎn)好的芯片需要進行檢測以防止有缺陷的或者有瑕疵的芯片流入市場，而這一工序目前主要是通過人工來進行檢測的。這種通過經(jīng)驗來進行檢測的方式，有以下的不足:
[0004]第一，人工檢測一個芯片正常需要4秒時間，效率不高；
[0005]第二，由于人工長時間低頭檢測芯片，導(dǎo)致頭腦發(fā)暈，眼睛疲勞，很容易造成質(zhì)量事故;
[0006]第三，由于人工檢測工位辛苦，眼睛疲勞，很多員工在這個工位工作時間都不是很久，所以此工位員工調(diào)換頻繁，導(dǎo)致品質(zhì)不能保證。
【實用新型內(nèi)容】
[0007]鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點，本實用新型的目的在于提供一種用于芯片自動檢測的框架，用于解決現(xiàn)有技術(shù)中采用人工檢測無法保證品質(zhì)以及效率不高的問題。
[0008]為實現(xiàn)上述目的及其他相關(guān)目的，本實用新型提供以下技術(shù)方案:
[0009]—種用于芯片自動檢測的框架，其特征在于:包括一矩形的架體，在架體上開設(shè)有兩列相互平行的并與架體任一邊平行或垂直的芯片安裝工位，每列芯片安裝工位包括多個芯片安裝工位且每個芯片安裝工位之間具有相等的間隔距離，且每列上的芯片安裝工位數(shù)量相同。
[0010]優(yōu)選地，每列芯片安裝工位上具有5-7個芯片安裝工位。
[0011]如上所述，本實用新型具有以下有益效果:通過上述方案，可以實現(xiàn)芯片的自動化檢測，相比人工檢測的效率更高，而且可以避免由于人工長時間低頭檢測芯片導(dǎo)致頭腦發(fā)暈、眼睛疲勞，進而容易造成質(zhì)量事故的情況，還可以避免；工位員工調(diào)換頻繁導(dǎo)致品質(zhì)不能保證的情況。
【附圖說明】
[0012]圖1顯示為本實用新型提供的一種用于芯片自動檢測的框架在一實施例中的原理圖。
[0013]圖2顯示為本實用新型提供的一種用于芯片自動檢測的框架在另一實施例中的原理圖。
[0014]附圖標號說明
[0015]1 框架
[0016]11 架體
[0017]12芯片安裝工位
[0018]13 通孔
【具體實施方式】
[0019]以下由特定的具體實施例說明本實用新型的實施方式，熟悉此技術(shù)的人士可由本說明書所揭露的內(nèi)容輕易地了解本實用新型的其他優(yōu)點及功效。
[0020]須知，本說明書所附圖式所繪示的結(jié)構(gòu)、比例、大小等，均僅用以配合說明書所揭示的內(nèi)容，以供熟悉此技術(shù)的人士了解與閱讀，并非用以限定本實用新型可實施的限定條件，故不具技術(shù)上的實質(zhì)意義，任何結(jié)構(gòu)的修飾、比例關(guān)系的改變或大小的調(diào)整，在不影響本實用新型所能產(chǎn)生的功效及所能達成的目的下，均應(yīng)仍落在本實用新型所揭示的技術(shù)內(nèi)容得能涵蓋的范圍內(nèi)。同時，本說明書中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中間”及“一”等的用語，亦僅為便于敘述的明了，而非用以限定本實用新型可實施的范圍，其相對關(guān)系的改變或調(diào)整，在無實質(zhì)變更技術(shù)內(nèi)容下，當(dāng)亦視為本實用新型可實施的范疇。
[0021]制約我國計算機發(fā)展和普及的關(guān)鍵技術(shù)之一是芯片，芯片的發(fā)展瓶頸是制造設(shè)備和生產(chǎn)工藝。龍芯能否普及在我國計算機上的重要因素之一就是我國芯片制造業(yè)必須掌握芯片的生產(chǎn)工藝。生產(chǎn)工藝涉及的技術(shù)很多，其中芯片制造過程中的外觀檢測是重要內(nèi)容之一。目前芯片制造過程的外觀檢測系統(tǒng)基本上是美國INTEL和AMD公司的標準和技術(shù)。我國目前還沒有一套此類芯片外觀檢測系統(tǒng)。因此我國自行開發(fā)芯片外觀檢測系統(tǒng)是對我國芯片制造是一項極其重要的項目和工程。
[0022]在現(xiàn)有的芯片加工過程中，生產(chǎn)好的芯片需要進行檢測以防止有缺陷的或者有瑕疵的芯片流入市場，而這一工序目前主要是通過人工來進行檢測的。這種通過經(jīng)驗來進行檢測的方式，有以下的不足:
[0023]第一，人工檢測一個芯片正常需要4秒時間，效率不高；
[0024]第二，由于人工長時間低頭檢測芯片，導(dǎo)致頭腦發(fā)暈，眼睛疲勞，很容易造成質(zhì)量事故;
[0025]第三，由于人工檢測工位辛苦，眼睛疲勞，很多員工在這個工位工作時間都不是很久，所以此工位員工調(diào)換頻繁，導(dǎo)致品質(zhì)不能保證。
[0026]因此，為了克服現(xiàn)有技術(shù)中人工檢測的不足，本實用新型提供了一種用于芯片自動檢測的框架，用于實現(xiàn)去人工化的芯片檢測，使用計算機來代替現(xiàn)有的人工檢測方式，以此提尚生廣效率。
[0027]如圖1，給出了一種用于芯片自動檢測的框架在一實施例中的原理圖，如圖所示，所述框架1包括一矩形的架體11，在架體11上開設(shè)有兩列相互平行的并與架體11任一邊平行或垂直的芯片安裝工位，每列芯片安裝工位包括多個芯片安裝工位12且每個芯片安裝工位12之間具有相等的間隔距離，且每列上的芯片安裝工位12數(shù)量相同。
[0028]具體地，圖1中所給出的框架1為2X5的結(jié)構(gòu)，即兩列芯片安裝工位，每列具有5個芯片安裝工位。在實際中，由于受到視覺檢測系統(tǒng)的限制，列數(shù)一般不會超過兩列，另外，每列的芯片安裝工位12不能太多，如果過多，那么相應(yīng)的處理時間也會增加，故一般每列芯片安裝工位數(shù)量為5-7個為最佳。
[0029]在具體實施中，上述圖1所給實施例，適用于框架1固定，而讓視覺檢測系統(tǒng)運動的方式來實現(xiàn)對框架1上芯片的檢測。見圖2，給出了框架1的另外一種實施方式原理圖，如圖所示，所述框架1包括一矩形的架體11，在架體11上開設(shè)有兩列相互平行的并與架體11任一邊平行或垂直的芯片安裝工位，每列芯片安裝工位包括多個芯片安裝工位12且每個芯片安裝工位12之間具有相等的間隔距離，且每列上的芯片安裝工位12數(shù)量相同，在兩列芯片安裝工位之間的架體11上還開設(shè)有與每列芯片安裝工位數(shù)量相同的多個通孔13，多個通孔13成直線排列并與兩列芯片安裝工位相互平行。
[0030]在具體實施中，圖2中所給出的框架1適用在視覺檢測系統(tǒng)固定，而讓框架1運動的方式來實現(xiàn)對框架1上芯片的檢測。通孔13的目的是讓框架1運動時，位于框架1下方的傳感器觸可以通過該通孔13來觸發(fā)位于框架1上方的視覺檢測系統(tǒng)，從而來獲取框架1上的芯片圖像。
[0031]需要理解的是，通過以上實施例提供的框架1可以讓視覺檢測系統(tǒng)捕獲到位于框架1上的芯片圖像，進而將所獲取的芯片圖像上傳至計算機系統(tǒng)中進行相關(guān)的分析。
[0032]因此，通過上述方案，可以實現(xiàn)芯片的自動化檢測，相比人工檢測的效率更高，而且可以避免由于人工長時間低頭檢測芯片導(dǎo)致頭腦發(fā)暈、眼睛疲勞，進而容易造成質(zhì)量事故的情況，還可以避免；工位員工調(diào)換頻繁導(dǎo)致品質(zhì)不能保證的情況。所以，本實用新型有效克服了現(xiàn)有技術(shù)中的種種缺點而具高度產(chǎn)業(yè)利用價值。
[0033]上述實施例僅例示性說明本實用新型的原理及其功效，而非用于限制本實用新型。任何熟悉此技術(shù)的人士皆可在不違背本實用新型的精神及范疇下，對上述實施例進行修飾或改變。因此，舉凡所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識者在未脫離本實用新型所揭示的精神與技術(shù)思想下所完成的一切等效修飾或改變，仍應(yīng)由本實用新型的權(quán)利要求所涵蓋。
【主權(quán)項】
1.一種用于芯片自動檢測的框架，其特征在于:包括一矩形的架體，在架體上開設(shè)有兩列相互平行的并與架體任一邊平行或垂直的芯片安裝工位，每列芯片安裝工位包括多個芯片安裝工位且每個芯片安裝工位之間具有相等的間隔距離，且每列上的芯片安裝工位數(shù)量相同。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于芯片自動檢測的框架，其特征在于:每列芯片安裝工位上具有5-7個芯片安裝工位。
【專利摘要】本實用新型提供一種用于芯片自動檢測的框架，應(yīng)用于芯片檢測領(lǐng)域，包括一矩形的架體，在架體上開設(shè)有兩列相互平行的并與架體任一邊平行或垂直的芯片安裝工位，每列芯片安裝工位包括多個芯片安裝工位且每個芯片安裝工位之間具有相等的間隔距離，且每列上的芯片安裝工位數(shù)量相同。本實用新型可以實現(xiàn)芯片的自動化檢測，相比人工檢測的效率更高，而且可以避免由于人工長時間低頭檢測芯片導(dǎo)致頭腦發(fā)暈、眼睛疲勞，進而容易造成質(zhì)量事故的情況，還可以避免；工位員工調(diào)換頻繁導(dǎo)致品質(zhì)不能保證的情況。
【IPC分類】B65D61/00, G01N21/88
【公開號】CN205087328
【申請?zhí)枴緾N201520848663
【發(fā)明人】李志遠, 耿世慧, 李熙春
【申請人】重慶遠創(chuàng)光電科技有限公司
【公開日】2016年3月16日
【申請日】2015年10月28日