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      一種應(yīng)用于x射線熒光光譜儀中的自動(dòng)進(jìn)樣測(cè)試系統(tǒng)的制作方法

      文檔序號(hào):10345628閱讀:497來源:國(guó)知局
      一種應(yīng)用于x射線熒光光譜儀中的自動(dòng)進(jìn)樣測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本實(shí)用新型涉及一種進(jìn)樣測(cè)試系統(tǒng),特別涉及一種一種應(yīng)用于X射線熒光光譜儀中的自動(dòng)進(jìn)樣測(cè)試系統(tǒng),屬于熒光光譜儀設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域。
      【背景技術(shù)】
      [0002]自動(dòng)進(jìn)樣測(cè)試系統(tǒng)是熒光光譜儀上的一個(gè)重要系統(tǒng),對(duì)自動(dòng)化程度要求非常高。目前大多數(shù)X射線熒光光譜儀都是由人工來自行放置樣品,每測(cè)量一次需放置一次,操作繁瑣,浪費(fèi)時(shí)間,且浪費(fèi)人工,工作效率低下。
      [0003]基于上述情況,如果遇到待測(cè)樣品較多的情況,測(cè)量操作者的工作量將變得更大,會(huì)嚴(yán)重影響工作效率,且會(huì)發(fā)生樣品放置出錯(cuò)的情況,從而影響樣品的測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性,因此,如何提供一種X射線熒光光譜儀用自動(dòng)進(jìn)樣測(cè)試系統(tǒng),是目前業(yè)界研發(fā)人員亟待解決的問題。
      【實(shí)用新型內(nèi)容】
      [0004]針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足之處,本實(shí)用新型的目的在于提供一種應(yīng)用于X射線熒光光譜儀中的自動(dòng)進(jìn)樣測(cè)試系統(tǒng),結(jié)構(gòu)合理,能夠機(jī)械自動(dòng)化的完成進(jìn)料測(cè)試動(dòng)作,大大提高測(cè)量人員的工作效率,減少出錯(cuò)率。
      [0005]為了達(dá)到上述目的,本實(shí)用新型采取的技術(shù)方案包括:
      [0006]—種應(yīng)用于X射線熒光光譜儀中的自動(dòng)進(jìn)樣測(cè)試系統(tǒng),包括一圓形的轉(zhuǎn)盤,所述轉(zhuǎn)盤上均勻開設(shè)有復(fù)數(shù)個(gè)用于放置樣品的位置孔,每一位置孔的下方均對(duì)應(yīng)設(shè)置一計(jì)數(shù)螺絲,所述轉(zhuǎn)盤的下方設(shè)置有傳感器,至少用以感應(yīng)計(jì)數(shù)螺絲;
      [0007]所述轉(zhuǎn)盤的下方還設(shè)置有驅(qū)動(dòng)電機(jī),所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)的轉(zhuǎn)軸上還設(shè)置有一尼龍模塊,所述尼龍模塊與轉(zhuǎn)盤固定連接。
      [0008]作為本實(shí)用新型的優(yōu)選方案之一,所述轉(zhuǎn)盤上還設(shè)置有相互配合的復(fù)位螺絲與復(fù)位開關(guān)。
      [0009]更優(yōu)選的,所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)與PLC模組單元連接。
      [0010]作為優(yōu)選方案之一,所述轉(zhuǎn)盤下方還設(shè)置有一支架,所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)、傳感器與復(fù)位開關(guān)固定設(shè)置于支架上。
      [0011]更進(jìn)一步的,所述支架固定設(shè)置于該自動(dòng)進(jìn)樣測(cè)試系統(tǒng)的一底座上。
      [0012]優(yōu)選的,所述傳感器還與一上位機(jī)單元連接。
      [0013]具體的,所述轉(zhuǎn)盤上均勻設(shè)置有24個(gè)位置孔,所述轉(zhuǎn)盤不僅限于24位,可依據(jù)實(shí)際需求增加或減少,目前完成結(jié)構(gòu)分為12位、24位、45位及52位等。
      [0014]與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型的有益效果在于:
      [0015]本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理,能夠機(jī)械自動(dòng)化的完成進(jìn)料測(cè)試動(dòng)作,完成一次性測(cè)量多個(gè)樣品,從而大大的提高測(cè)試的效率,降低測(cè)試所花費(fèi)的成本,也可節(jié)約測(cè)量人員工作時(shí)間,減少出錯(cuò)率,實(shí)用性強(qiáng)。
      【附圖說明】
      [0016]為說明本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu),下面結(jié)合附圖,對(duì)本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】作進(jìn)一步詳細(xì)地說明。
      [0017]圖1為本實(shí)用新型所公開的一種應(yīng)用于X射線熒光光譜儀中的自動(dòng)進(jìn)樣測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)不意圖之一;
      [0018]圖2為本實(shí)用新型所公開的一種應(yīng)用于X射線熒光光譜儀中的自動(dòng)進(jìn)樣測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖之二。
      [0019]附圖標(biāo)記說明:1_轉(zhuǎn)盤,10-位置孔,11-計(jì)數(shù)螺絲,2-傳感器,3-驅(qū)動(dòng)電機(jī),4-尼龍模塊,5-復(fù)位螺絲,6-復(fù)位開關(guān),7-PLC模組單元,8-支架。
      【具體實(shí)施方式】
      [0020]下面將結(jié)合本實(shí)施例中的附圖,對(duì)實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行具體、清楚、完整地描述。
      [0021]請(qǐng)參閱圖1-2所示,為本實(shí)施例的一種應(yīng)用于X射線熒光光譜儀中的自動(dòng)進(jìn)樣測(cè)試系統(tǒng),包括一圓形的轉(zhuǎn)盤1,所述轉(zhuǎn)盤I表面上均勻開設(shè)有復(fù)數(shù)個(gè)用于放置樣品的位置孔10,優(yōu)選的,轉(zhuǎn)盤上均勻設(shè)置有24個(gè)位置孔,轉(zhuǎn)盤上可以根據(jù)樣品的大小以及客戶的需求定制加工多個(gè)測(cè)試位置孔以便同時(shí)測(cè)量多個(gè)樣品,從而提高測(cè)試的效率。每一位置孔的下方均對(duì)應(yīng)設(shè)置一計(jì)數(shù)螺絲11,計(jì)數(shù)螺絲是固定在轉(zhuǎn)盤I上的,每一個(gè)計(jì)數(shù)螺絲分別對(duì)應(yīng)一個(gè)位置孔,用來標(biāo)記位置孔的位置。所述轉(zhuǎn)盤I的下方設(shè)置有傳感器2,至少用以感應(yīng)計(jì)數(shù)螺絲,所述傳感器還與一上位機(jī)單元連接。由于轉(zhuǎn)盤上分為1-24號(hào)測(cè)試位置孔且每個(gè)位置下面安裝一個(gè)計(jì)數(shù)螺絲,轉(zhuǎn)盤I每轉(zhuǎn)動(dòng)切換一個(gè)位置時(shí)候轉(zhuǎn)盤各測(cè)試位置下方的所對(duì)應(yīng)的計(jì)數(shù)螺絲11會(huì)通過傳感器2—次,從而被傳感器2讀取,這樣傳感器就會(huì)接收到信號(hào),從而實(shí)現(xiàn)自動(dòng)計(jì)數(shù)功能。
      [0022]所述轉(zhuǎn)盤I的下方還設(shè)置有驅(qū)動(dòng)電機(jī)3、尼龍模塊4,尼龍模塊4安裝在驅(qū)動(dòng)電機(jī)3的轉(zhuǎn)軸上,所述尼龍模塊4與轉(zhuǎn)盤I固定連接。安裝尼龍模塊的目的是為了方便于轉(zhuǎn)盤進(jìn)行固定,這樣驅(qū)動(dòng)電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)可以帶動(dòng)轉(zhuǎn)盤I轉(zhuǎn)動(dòng)。進(jìn)一步的,所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)3與PLC模組單元7連接。
      [0023]所述轉(zhuǎn)盤I上還設(shè)置有相互配合的復(fù)位螺絲5與復(fù)位開關(guān)6。當(dāng)驅(qū)動(dòng)電機(jī)3開始工作時(shí),轉(zhuǎn)盤I上的復(fù)位螺絲5與復(fù)位開關(guān)6作用使得轉(zhuǎn)盤自動(dòng)復(fù)位到I號(hào)位置孔位置從而實(shí)現(xiàn)自動(dòng)復(fù)位功能。
      [0024]所述轉(zhuǎn)盤下方還設(shè)置有一支架8,所述支架固定設(shè)置于該自動(dòng)進(jìn)樣測(cè)試系統(tǒng)的一底座上,所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)3、傳感器2與復(fù)位開關(guān)6固定設(shè)置于支架上。
      [0025]本實(shí)用新型的工作原理如下:
      [0026]PLC模組單元7控制驅(qū)動(dòng)電機(jī)3轉(zhuǎn)動(dòng),帶動(dòng)轉(zhuǎn)盤I旋轉(zhuǎn),通過復(fù)位開關(guān)6與復(fù)位螺絲5的作用使得轉(zhuǎn)盤自動(dòng)復(fù)位到I號(hào)位置孔位置,從而實(shí)現(xiàn)自動(dòng)復(fù)位功能。
      [0027]轉(zhuǎn)盤I上安裝有計(jì)數(shù)螺絲11,上位機(jī)單元給PLC模組單元7命令,使轉(zhuǎn)盤I轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)計(jì)數(shù)螺絲11會(huì)通過傳感器2,這樣傳感器2會(huì)將信號(hào)反饋給上位機(jī)單元從而實(shí)現(xiàn)自動(dòng)計(jì)數(shù)并自動(dòng)進(jìn)料功能,實(shí)現(xiàn)自動(dòng)進(jìn)樣測(cè)試工序。
      [0028]綜上所述,本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理,能夠機(jī)械自動(dòng)化的完成進(jìn)料測(cè)試動(dòng)作,完成一次性測(cè)量多個(gè)樣品,從而大大的提高測(cè)試的效率,降低測(cè)試所花費(fèi)的成本,也可節(jié)約測(cè)量人員工作時(shí)間,減少出錯(cuò)率,實(shí)用性強(qiáng)。
      [0029]上述【具體實(shí)施方式】為一較佳實(shí)施方式,僅為說明本實(shí)用新型的技術(shù)構(gòu)思和結(jié)構(gòu)特點(diǎn),目的在于讓熟悉此領(lǐng)域的技術(shù)人員能夠據(jù)以實(shí)施,并不以此限制本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。凡是依據(jù)本實(shí)用新型的精神實(shí)質(zhì)所做的任何等效變化或修飾,均應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍內(nèi)。
      【主權(quán)項(xiàng)】
      1.一種應(yīng)用于X射線熒光光譜儀中的自動(dòng)進(jìn)樣測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,該自動(dòng)進(jìn)樣測(cè)試系統(tǒng)包括一圓形的轉(zhuǎn)盤,所述轉(zhuǎn)盤上均勻開設(shè)有復(fù)數(shù)個(gè)用于放置樣品的位置孔,每一位置孔的下方均對(duì)應(yīng)設(shè)置一計(jì)數(shù)螺絲,所述轉(zhuǎn)盤的下方設(shè)置有傳感器,至少用以感應(yīng)計(jì)數(shù)螺絲; 所述轉(zhuǎn)盤的下方還設(shè)置有驅(qū)動(dòng)電機(jī),所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)的轉(zhuǎn)軸上還設(shè)置有一尼龍模塊,所述尼龍模塊與轉(zhuǎn)盤固定連接。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種應(yīng)用于X射線熒光光譜儀中的自動(dòng)進(jìn)樣測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述轉(zhuǎn)盤上還設(shè)置有相互配合的復(fù)位螺絲與復(fù)位開關(guān)。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種應(yīng)用于X射線熒光光譜儀中的自動(dòng)進(jìn)樣測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)與PLC模組單元連接。4.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的一種應(yīng)用于X射線熒光光譜儀中的自動(dòng)進(jìn)樣測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述轉(zhuǎn)盤下方還設(shè)置有一支架,所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)、傳感器與復(fù)位開關(guān)固定設(shè)置于支架上。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種應(yīng)用于X射線熒光光譜儀中的自動(dòng)進(jìn)樣測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述支架固定設(shè)置于該自動(dòng)進(jìn)樣測(cè)試系統(tǒng)的一底座上。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種應(yīng)用于X射線熒光光譜儀中的自動(dòng)進(jìn)樣測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述傳感器還與一上位機(jī)單元連接。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種應(yīng)用于X射線熒光光譜儀中的自動(dòng)進(jìn)樣測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述轉(zhuǎn)盤上均勻設(shè)置有24個(gè)位置孔。
      【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種應(yīng)用于X射線熒光光譜儀中的自動(dòng)進(jìn)樣測(cè)試系統(tǒng),包括一圓形的轉(zhuǎn)盤,所述轉(zhuǎn)盤上均勻開設(shè)有復(fù)數(shù)個(gè)用于放置樣品的位置孔,每一位置孔的下方均對(duì)應(yīng)設(shè)置一計(jì)數(shù)螺絲,所述轉(zhuǎn)盤的下方設(shè)置有傳感器,至少用以感應(yīng)計(jì)數(shù)螺絲;所述轉(zhuǎn)盤的下方還設(shè)置有驅(qū)動(dòng)電機(jī),所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)的轉(zhuǎn)軸上還設(shè)置有一尼龍模塊,所述尼龍模塊與轉(zhuǎn)盤固定連接。所述轉(zhuǎn)盤上還設(shè)置有相互配合的復(fù)位螺絲與復(fù)位開關(guān)。本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理,能夠機(jī)械自動(dòng)化的完成進(jìn)料測(cè)試動(dòng)作,完成一次性測(cè)量多個(gè)樣品,從而大大的提高測(cè)試的效率,降低測(cè)試所花費(fèi)的成本,也可節(jié)約測(cè)量人員工作時(shí)間,減少出錯(cuò)率,實(shí)用性強(qiáng)。
      【IPC分類】B65G43/00, B65G29/00
      【公開號(hào)】CN205257279
      【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201521132710
      【發(fā)明人】楊振, 楊劍
      【申請(qǐng)人】蘇州三值精密儀器有限公司
      【公開日】2016年5月25日
      【申請(qǐng)日】2015年12月30日
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