專利名稱：加熱烹調(diào)器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種在不給磁控管增加負擔(dān)的狀況下推定其壽命的加熱烹 調(diào)器。
背景技術(shù)：
以往，作為加熱烹調(diào)器的電子微波爐的可使用的期間，也就是壽命， 一般情況下對于用戶來說難以判斷。作為壽命的大致標(biāo)準(zhǔn)，可以通過計算 求取根據(jù)1天電子微波爐的平均使用次數(shù)、使用時間的磁控管的效率半衰 期等，以此進行設(shè)定。但是，因為使用頻率在每個情形下差別較大，另外 用戶一般也較少會記住購買日，所以在用戶家中，現(xiàn)實情況是意識不到加 熱烹調(diào)器使用壽命已終結(jié)而在非效率的狀態(tài)下繼續(xù)使用。
另一方面，在專利文獻l中公開有一種通過磁控管出現(xiàn)異常振動時的 燈絲電壓的比較來求得磁控管的剩余壽命，并顯示該剩余壽命、設(shè)置通知 機構(gòu)的技術(shù)。
專利文獻1: 特開2001-082744號7>才艮
但是，在上述專利文獻l所述的構(gòu)成中，為了推測電子微波爐的壽命， 需要使磁控管發(fā)生異常振動，若這樣使之發(fā)生了異常振動，則導(dǎo)致給磁控 管及驅(qū)動電路造成負擔(dān)，存在作為電子微波爐的壽命縮短并且易于發(fā)生故 障這樣的不佳狀況。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是考慮上述問題所在而做出的，其目的為提供一種加熱烹調(diào)器， 可以在不使磁控管發(fā)生異常振動的狀況下推測其壽命，在磁控管達到設(shè)定壽命時將這一情況通知給用戶。
為了解決上述問題，本發(fā)明的加熱烹調(diào)器其特征為，具有磁控管， 對加熱室內(nèi)供給微波；磁控管溫度檢測機構(gòu)，檢測該磁控管的溫度；壽命 判斷機構(gòu)，判斷上述磁控管的壽命；以及通知機構(gòu)，通知由上述壽命判斷 機構(gòu)判斷出的壽命；上述壽命判斷機構(gòu)在由上述磁控管溫度檢測機構(gòu)得到 的磁控管檢測溫度達到預(yù)定溫度以上時，判斷為上述》茲控管的壽命已到， 通過上述通知機構(gòu)將這一情況通知給用戶。
根據(jù)本發(fā)明，可以通過掌握磁控管的加熱效率的下降，在不使之發(fā)生 異常振動的狀況下確切地判斷加熱烹調(diào)器的壽命，并能夠?qū)τ脩暨M行通知。


圖1是表示本發(fā)明的1個實施方式的電子微波爐的概略橫剖面圖。
圖2是圖1中的電子微波爐的電構(gòu)成的框圖。
圖3是說明圖1的紅外線溫度傳感器的檢測視場的立體圖。
圖4是表示本發(fā)明的1個實施例的、相對加熱烹調(diào)時間的磁控管溫度
上升值的初期和壽命末期狀態(tài)的比較曲線圖。
圖5是表示本發(fā)明的其他實施例的、相對食品溫度上升值的磁控管初
期階段和壽命末期的溫度上升值的變化的比較曲線圖。
符號說明
1電子微波爐2箱體3力口熱烹調(diào)室
4爐門7機械室8磁控管
9冷卻風(fēng)扇10操作面板11操作鍵
12顯示器13加熱器14風(fēng)扇
16紅外線加熱器17磁控管驅(qū)動電路18控制電路
19磁控管溫度檢測元件20存儲機構(gòu)
具體實施例方式
下面，根據(jù)附圖來說明本發(fā)明的1個實施方式。作為加熱烹調(diào)器的電子微波爐(1 )如按橫剖面描述其概略構(gòu)成的圖1所示，具備矩形箱狀的箱
體(2)，將箱體(2)內(nèi)作為加熱烹調(diào)室(3) 該加熱烹調(diào)室(3)是收 置被加熱物進行加熱烹調(diào)的空間，在其前表面開口設(shè)置有對下側(cè)的邊進行 樞軸支撐并且轉(zhuǎn)動自如的爐門(4)，另外在加熱烹調(diào)室(3)內(nèi)的底面上 設(shè)置有栽置被加熱物的轉(zhuǎn)臺(5)。
在上述加熱烹調(diào)室(3)的側(cè)方通過分隔壁(6)設(shè)置機械室(7)，在 該機械室(7)內(nèi)設(shè)置有磁控管(8)，作為進行微波加熱的機構(gòu)；和冷 卻風(fēng)扇(9)，對這些設(shè)備送風(fēng)進行冷卻。另外，在上述機械室(7)的前 表面在整個寬度的范圍內(nèi)配設(shè)操作面板(10)，在其里側(cè)設(shè)置有安裝有電 氣安裝件的電路基板，上述操作面板具備各種操作鍵(ll)，設(shè)定加熱 烹調(diào)時的烹調(diào)方法和烹調(diào)時間、烹調(diào)溫度等的烹調(diào)務(wù)降；和作為通知枳韻 的顯示器(12)，用LCD等顯示上述所設(shè)定的烹調(diào)條件等。
另夕卜，在上述加熱烹調(diào)室(3)的背面，配設(shè)加熱烹調(diào)時對被加熱物吹 送熱風(fēng)的加熱器(13)和風(fēng)扇(14)，并且在為了排出由被加熱物產(chǎn)生的 蒸汽等所設(shè)置的排氣管道(15)內(nèi)配設(shè)熱敏電阻，在箱體(2)內(nèi)的加熱烹 調(diào)室(3)的背面上部，設(shè)置紅外線溫度傳感器(16)來作為食品溫度檢測 機構(gòu)，該紅外線溫度傳感器檢測作為被加熱物的食品的表面溫度。
如作為電構(gòu)成框圖的圖2所示，在電子微波爐(1)內(nèi)具備上述磁控管 (8 )以及用來驅(qū)動該磁控管的磁控管驅(qū)動電路(17 )，并且通過以微型計 算機為主體的具備ROM、 RAM等存儲器的控制電路(18)進行控制。從 上述操作鍵(11 )對控制電路(18)進行輸入，并且該輸入內(nèi)容等被顯示 于作為通知機構(gòu)的顯示器(12)上。
上M控管(8)由磁控管溫度檢測元件(19)加險測其溫度，由作為 食品溫度檢測機構(gòu)的上述紅外線溫度傳感器(16)得到的食品溫度及存儲 它們的數(shù)據(jù)的存儲機構(gòu)(20)中的數(shù)據(jù)，都輸入給控制電路(18)，并通 過該控制電路(18)內(nèi)所包括的作為壽命判斷機構(gòu)的孩t型計算機來判斷其壽命。
上述紅外線溫度傳感器(16 )例如在IC芯片上將8個紅外線檢測元件配設(shè)成線狀，如圖3所示通過使其檢測視場al ~ a8在加熱烹調(diào)室(3 )底 面的寬度方向的范圍內(nèi)如箭頭所示進行往復(fù)移動，來計測包括,iu(ip熱物的 載置區(qū)域在內(nèi)的底面溫度，根據(jù)由該紅外線檢測元件得到的信號，控制電 路(18)通過計算底面上所設(shè)置的作為被加熱物的食品的表面溫度并進行 校正，來檢測被加熱物的溫度，使檢測到的溫度存儲于上述存儲機構(gòu)(20) 中。
圖4是表示自烹調(diào)開始的磁控管(8)的溫度變化的曲線圖。x軸表示 自烹調(diào)開始的經(jīng)過時間，y軸表示磁控管(8)的溫度上升值，實線表示磁 控管(8)在初期階段的溫度上升曲線，虛線表示壽命末期的磁控管(8) 的溫度上升曲線。
磁控管(8)因為隨著其壽命的結(jié)束臨近，作為磁控管溫度(T)相對 進行加熱烹調(diào)的食品溫度(Tf)之比的加熱效率下降，所以如同通過附圖 中表示初期階段的實線和虛線之間的對比所明確的那樣，即使是相同的輸 入，也因磁控管損耗而產(chǎn)生熱，從上升時開始隨著時間經(jīng)過而出現(xiàn)溫度差。 從而，只要檢測到加熱烹調(diào)時磁控管(8)的溫度，就可以推測壽命的結(jié)束。
另外，因為從開始加熱烹調(diào)到磁控管(8)的溫度穩(wěn)定為止需要10 ~ 15分鐘的時間，以及通常電子微波爐的使用大多是3分鐘之內(nèi)的烹調(diào)時間， 所以磁控管(8)的溫度檢測最好在加熱烹調(diào)開始后的上升過程中進行，在 本實施例中，上述圖4中的預(yù)定時間(tl)作為開始加熱烹調(diào)之后的自上 升開始的時間，檢測了經(jīng)過了 1分鐘時的磁控管溫度。
烹調(diào)時間經(jīng)過1分鐘后的壽命末期的磁控管的溫度上升值(Te)預(yù)先 通過實驗已經(jīng)求出為45K，在超過45K時，判斷為此時正在使用的電子微 波爐的壽命已到，在顯示器(12)上進行表示壽命已到這一內(nèi)容的顯示， 通知給用戶。
下面，對于本發(fā)明的第2實施例進行說明。上述實施例是磁控管溫度 (T)和加熱烹調(diào)經(jīng)過時間(t)之間的關(guān)系，與W目對，本實施例用來根 據(jù)磁控管溫度(T)和上述食品溫度(Tf)之間的關(guān)系推測磁控管(8)的 壽命。調(diào)而上升的食品溫度相對于最初的上升 值并且在y軸上表示與^目伴隨的磁控管(8)的溫度上升值的變化的曲線 圖，表示出磁控管加熱效率的變化。實線表示磁控管(8)初期階段的溫度 上升趨勢，虛線表示壽命末期的溫度上升趨勢。
電子微波爐中的自動烹調(diào)中，其食品"加熱，，烹調(diào)的使用次數(shù)最多，該 情況下，對放置于室溫下的烹調(diào)物進行"加熱，，烹調(diào)的用戶較多。而且，因 為食品的重新加熱溫度大多在約80。C時完成，另外放置食品的室溫通常是 25。C左右，所以只要將作為從此時開始的溫度上升值的55K設(shè)為食品的溫 度上升預(yù)定值(Tf)，則"加熱"烹調(diào)就在80。C時完成，并且有效的是在臨 近該完成的定時判斷磁控管(8)的壽命。
從食品的加熱開始，與上述食品的溫度上升值(Tf)對應(yīng)的磁控管(8 ) 的溫度上升值，在磁控管(8 )處于初期階段時，是接近食品溫度上升值(Tf) 的55K這樣的較低的值(To，)，加熱效率較高，但是在磁控管(8)的壽 命末期，加熱效率下降，溫度上升值增大。
從而，在該食品溫度上升值(Tf)為55K時，在磁控管的溫度上升值 超過作為磁控管壽命末期的溫度上升值(Te')所預(yù)先"^殳定的85K的情況 下，判斷為此時正在使用的電子微波爐壽命已到，在顯示器(12)上進行 表示壽命已到這一情況的顯示，通知給用戶。
如上所述，才艮據(jù)食品的溫度上升值設(shè)定》茲控管(8)的壽命推定的值的 原因是，通過在相同的定時測定為了加熱食品使溫度上升所耗費的磁控管 (8)的消耗能量和食品的溫度上升度并使之對應(yīng)，來減少誤差，但是即使 不利用溫度上升值，也可以根據(jù)測定出的食品溫度來判斷磁控管(8)的壽 命，此時在食品溫度為80。C的時刻計測磁控管溫度。
這樣一來，因為只要判斷磁控管(8)的壽命，就可以只按烹調(diào)時間來 修正因作為負荷的食品量不一致引起的誤差，所以使壽命推定的準(zhǔn)確度得 到提高。
有關(guān)上述的》茲控管(8)的壽命判斷，也可以在每次加熱烹調(diào)時，都把 根據(jù)相對檢測測定出的食品溫度(Tf)的f茲控管溫度(T)所求取的加熱
8效率數(shù)據(jù)，例如提取此前5次的數(shù)據(jù)，將其中的最大值和最小值作為異常 值予以刪除，根據(jù)剩余的數(shù)據(jù)的平均值來判斷壽命，在平均值達到預(yù)定值 以上時，^L出壽命已到這樣的判定并進行顯示。
接下來，對于笫3實施例進行說明。由磁控管驅(qū)動電路(17)驅(qū)動的 磁控管(8)的驅(qū)動時間由作為驅(qū)動時間測定機構(gòu)具有計時器的微型計算機 來測定，進行累計，存儲于圖2所示的上述存儲機構(gòu)(20)中，并且在測 定出的累計時間不足預(yù)先作為壽命所設(shè)定的時間，例如作為相當(dāng)于平均驅(qū) 動時的IO年時間的累計時間的400小時時，判斷為尚未達到壽命，因此可 以抑制因溫度傳感器的誤檢測而出現(xiàn)奇值的情形、因誤判定導(dǎo)致的壽命通
知的情形。
接下來，說明第4實施例。本實施例除了上述各實施例的構(gòu)成之外， 還特別設(shè)定"牛奶加熱，，等通常很多用戶要使用的菜單，只有在該菜單的工 作時才進行磁控管(8)的壽命判斷。
特定的菜單具有上述"牛奶加熱，，等的專用按鈕，通過進行操作，根據(jù) 微型計算機的程序驅(qū)動磁控管(8)，在紅外線溫度傳感器(16)檢測到作 為加熱設(shè)定溫度的60。C的時刻結(jié)束加熱烹調(diào)工作。
此時，牛奶的負荷容量因為通常大多是和約200ml左右大致相同的量， 所以通過特定菜單，就可以在大致同一負荷的條件下進行壽命判斷，并且 除了因相對于上述食品溫度(Tf)的磁控管溫度(T)導(dǎo)致的加熱效率的 變化之外，因負荷改變導(dǎo)致的磁控管(8)的溫度上升程度的不一致誤差也 :故減輕，因此還可以進一步提高壽命推定的準(zhǔn)確度。
還有，關(guān)于上述特定的菜單，若如上所述只以一例進行測定，則因為 還存在很少的不使用該菜單的用戶，所以也可以通過設(shè)置"牛奶"、"加熱"、 "燹酒，，等被較多使用的多個菜單，加以集中。
進而，說明第5實施例。在本實施例中，作為除上述各種實施例之外 的壽命判斷機構(gòu)，把作為上述食品溫度檢測機構(gòu)的紅外線溫度傳感器(16 ) 作為負荷檢測才A^J,來檢測要加熱烹調(diào)的食品的負荷量。使紅外線溫度傳 感器(16 )中的到上述紅外線檢測元件的檢測視場al ~ a8的8個部位按寬度方向移動進行檢測，只有在加熱烹調(diào)室(3)底面上的食品量在預(yù)定的范 圍，例如是大小相當(dāng)于底面積整體的大約20~30%的范圍時，才進行溫度 測定。還有，在上述圖3的構(gòu)成中，底面的52個部位為計測有效范圍。
因為通過進行烹調(diào)加熱，祐力口熱物的溫度上升與加熱烹調(diào)室(3)底面 相比有所增大，所以上述52個部位的計測點之中溫度上升率高的計測點的 部位為械>熱物的大小，如果只在該4iUp熱物的計測點數(shù)是10 ~ 16個計測 點時進行壽命判定，就可以獲得#>熱物的大小大致相等的同一負荷M 下的溫度上升值。
據(jù)此，因為在食品的大小大致相同的條件下測定加熱效率，所以可以 按相同量的負荷進行判斷，能夠做出準(zhǔn)確度更高的壽命的推定。
還有，在上述實施例中，雖然利用紅外線溫度傳感器(16),來檢測 加熱烹調(diào)室(3)內(nèi)被加熱物的大小，但是也可以利用重量傳感器等來檢測 被加熱物的重量，在大致相同重量的條件下推定壽命。
10
權(quán)利要求
1.一種加熱烹調(diào)器，其特征為，具有磁控管，其對加熱室內(nèi)供給微波；磁控管溫度檢測機構(gòu)，其檢測該磁控管的溫度；壽命判斷機構(gòu)，其判斷上述磁控管的壽命；以及通知機構(gòu)，其通知由該壽命判斷機構(gòu)判斷出的壽命；上述壽命判斷機構(gòu)在由上述磁控管溫度檢測機構(gòu)檢測到的磁控管的檢測溫度達到預(yù)定溫度以上時，判斷為上述磁控管的壽命已到，通過上述通知機構(gòu)將這一情況通知給用戶。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的加熱烹調(diào)器，其特征為，壽命判斷積肩根據(jù)開始烹調(diào)并經(jīng)過了預(yù)定時間時的上述磁控管的檢測 溫度，來判斷壽命。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的加熱烹調(diào)器，其特征為， 具有食品溫度檢測機構(gòu)，該食品溫度檢測機構(gòu)檢測食品的溫度；壽命判斷才幾構(gòu)才艮據(jù)在由上述食品溫度檢測機構(gòu)檢測到的食品溫度為預(yù)定溫度時 的上述磁控管的檢測溫度，來判斷壽命。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的加熱烹調(diào)器，其特征為，具有驅(qū)動時間測定機構(gòu)，該驅(qū)動時間測定機構(gòu)測定磁控管的累計驅(qū)動 時間；壽命判斷機構(gòu)直到經(jīng)過預(yù)定的累計驅(qū)動時間為止，不進行壽命的判斷。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的加熱烹調(diào)器，其特征為， 壽命判斷機構(gòu)根據(jù)磁控管溫度檢測機構(gòu)檢測到的多個上述磁控管的檢測溫度數(shù)據(jù)，計算除了其中的最大值和最小值之外的多個溫度數(shù)據(jù)的平均 值，在該平均值達到預(yù)定溫度以上時，判斷為磁控管壽命已到。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的加熱烹調(diào)器，其特征為， 壽命判斷機構(gòu)只在特定菜單的工作時才判斷壽命。
7. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的加熱烹調(diào)器，其特征為， 具備負荷檢測機構(gòu)，該負荷檢測機構(gòu)檢測食品的負荷量；壽命判斷機構(gòu)只在由上述負荷檢測機構(gòu)檢測到的食品負荷量在預(yù)定范圍內(nèi)時，才判斷 壽命。
全文摘要
本發(fā)明提供一種加熱烹調(diào)器，可以在不使磁控管發(fā)生異常振動的狀況下推測其壽命，在磁控管達到設(shè)定壽命時將這一情況通知給用戶。其特征為，具有磁控管(8)，對加熱室內(nèi)供給微波；磁控管溫度檢測機構(gòu)(19)，檢測該磁控管的溫度；壽命判斷機構(gòu)(18)，判斷上述磁控管的壽命；通知機構(gòu)(12)，通知由該壽命判斷機構(gòu)判斷出的壽命；上述壽命判斷機構(gòu)在由上述磁控管溫度檢測機構(gòu)得到的磁控管的檢測溫度達到預(yù)定溫度以上時，判斷為上述磁控管的壽命已到，通過上述通知機構(gòu)將其通知給用戶。
文檔編號F24C7/02GK101539309SQ20081021591
公開日2009年9月23日 申請日期2008年9月9日 優(yōu)先權(quán)日2008年3月21日
發(fā)明者一柳俊成 申請人:株式會社東芝;東芝家用電器控股株式會社;東芝家用電器株式會社