專利名稱：：導(dǎo)電粒子壓痕分級方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及的是一種檢測方法，尤指一種利用影像處理的方式，檢測導(dǎo)線上的導(dǎo)電粒子壓痕等級分類的導(dǎo)電粒子壓痕分級方法。
背景技術(shù)：
：液晶顯示構(gòu)裝技術(shù)主要泛指液晶面板與外圍驅(qū)動系統(tǒng)的連接技術(shù)?，F(xiàn)行市場上因為不同的需由而大概有帶狀自動化粘合構(gòu)裝TAB(TapeAutomatedBonding),晶粒玻璃構(gòu)裝COG(ChiponGlass)與覆晶薄膜構(gòu)裝COF(ChiponFilm)等三種主要的構(gòu)裝方式。其中，由于COF具有可撓性、輕巧性以及整合多系統(tǒng)組件的特性，使其在液晶顯示構(gòu)裝產(chǎn)業(yè)中占有一席的地，尤其對于小尺寸的消費性電子產(chǎn)品的應(yīng)用上更具多樣性。COF的構(gòu)裝接合主要是將驅(qū)動IC、主動和被動組件先以覆晶方式封裝在軟板上，再與液晶面板接合，可達到縮小尺寸與整合多功能芯片組的目的。COF不但耐熱性較佳、透明度高，同時更有可撓性等優(yōu)點。COF目前主要應(yīng)用在小尺寸手機、可攜式電子產(chǎn)品與大尺寸LCDTV面板模塊等部分。所以其COF組件整合能力與LCD模塊設(shè)計能力為此部份廠商發(fā)展的重點。然而COF在與液晶面板構(gòu)裝時，是利用導(dǎo)線(lead)作為COF與液晶面板的通訊接口。一般而言，如圖l所示，所述的圖為導(dǎo)線的影像示意圖。導(dǎo)線與玻璃之間因為具有導(dǎo)電粒子，因此在接合加工(bonding)的過程中，在導(dǎo)線表面會形成所謂的凸點(如區(qū)域90內(nèi)的凸點)，也即所謂的導(dǎo)電粒子壓痕。而導(dǎo)電粒子壓痕的程度會影響到電訊導(dǎo)通效果的優(yōu)劣，因此如何在接合加工后檢測導(dǎo)線的壓痕狀態(tài)是相當重要。而在現(xiàn)有技術(shù)中，通常是擷取對接合后的導(dǎo)線的影像，然后利用人眼判斷的方式進行辨識。不過人員目視檢測導(dǎo)電粒子壓痕狀態(tài)，容易因個人或環(huán)境因素?zé)o法提供一個長期穩(wěn)定的狀態(tài)。隨工作時間長短、情緒波動與目視檢測經(jīng)驗的不同，每一次的判斷都無法一致。此外，人員目視檢測無數(shù)據(jù)提供加工人員參考。目檢人員，對于導(dǎo)電粒子往往只計算顆粒數(shù)，壓痕強弱無法明確的判斷，對于加工狀態(tài)與時反應(yīng)性差。綜合上述，因此亟需一種導(dǎo)電粒子壓痕分級方法來解決現(xiàn)有技術(shù)所產(chǎn)生的問題。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明提供一種導(dǎo)電粒子壓痕分級方法，其是利用視覺影像的方式對導(dǎo)電粒子壓痕進行等級分類，進而計算出對應(yīng)不同壓痕等級的導(dǎo)電粒子數(shù)量，以確保導(dǎo)電粒子壓痕質(zhì)量穩(wěn)定度。本發(fā)明提供一種導(dǎo)電粒子壓痕分級方法，其是可以應(yīng)用在電子軟板，如覆晶薄膜(chiponfilm，COF),與電子組件間的導(dǎo)線(lead)加工質(zhì)量，通過視覺影像的方式對導(dǎo)線內(nèi)的導(dǎo)電粒子壓痕進行等級分類，進而計算出對應(yīng)不同壓痕等級的數(shù)量，進而判斷出導(dǎo)線形成質(zhì)量的優(yōu)劣。在一實施例中，本發(fā)明提供一種導(dǎo)電粒子壓痕分級方法，包括建立復(fù)數(shù)個等級標準，每一個等級對應(yīng)有一基準值；對一待辨識影像進行一影像處理程序以辨識出所述的待辨識影像中的復(fù)數(shù)個導(dǎo)電粒子壓痕影像的位置；決定對應(yīng)每一個導(dǎo)電粒子壓痕影像的一辨識值；以及將每一個導(dǎo)電粒子壓痕影像所對應(yīng)的辨識值與所述的復(fù)數(shù)個等級標準所對應(yīng)的基準值進行比較以決定出每一個導(dǎo)電粒子壓痕影像所對應(yīng)的等級標準。較佳的是，所述的影像處理程序為對所述的待處理影像進行梯度強化處理。較佳的是，所述的辨識值為所述的導(dǎo)電粒子壓痕影像所具有的影像梯度值。較佳的是，其中建立復(fù)數(shù)個等級標準還包括有下列步驟提供具有一標準影像，所述的標準影像上具有復(fù)數(shù)個已知導(dǎo)電粒子壓痕影像；利用目視方式定義出每一個已知導(dǎo)電粒子壓痕影像所代表的等級標準；以及求出每一種等級標準所對應(yīng)的導(dǎo)電粒子壓痕影像所具有的基準值。其中，所述的基準值為所述的已知的導(dǎo)電粒子壓痕影像的影像梯度值。較佳的是，待辨識影像為一電路基板的導(dǎo)線(lead)的影像。其中所述的電路基板為軟性電路板。較佳的是，所述的導(dǎo)電粒子壓痕分級方法還包括有根據(jù)所述的復(fù)數(shù)個導(dǎo)電粒子壓痕影像所對應(yīng)的等級標準數(shù)量決定所述的待辨識影像是否合格的一步驟。其中，決定所述的待辨識影像是否合格的方式還包括有下列步驟決定一第一門坎值，其為要被采樣的等級標準門坎；統(tǒng)計所述的待辨識影像中等級標準大于等于所述的第一門坎值的導(dǎo)電粒子壓痕影像的數(shù)目；決定一第二門坎值；以及如果所述的數(shù)目大于等于所述的第二門坎值的話，則所述的待辨識影像即判定為一合格影像。圖1為導(dǎo)線的影像示意圖2為本發(fā)明的導(dǎo)電粒子壓痕分級方法流程示意圖；圖3為本發(fā)明建立影像標準程序流程示意圖；圖4A至圖4C為壓痕影像處理辨識示意圖；圖5A與圖5B為待辨識影像中的壓痕影像等級標準識別示意圖；圖6為本發(fā)明的導(dǎo)電粒子壓痕分級方法流程另一實施例示意圖；圖7為本發(fā)明判斷待辨識影像所對應(yīng)的導(dǎo)線是否合格的流程示意圖。附圖標記說明2-導(dǎo)電粒子壓痕分級方法；2024-步驟；200202-步驟；240~243-步驟；30-導(dǎo)線；90-區(qū)域；91、300-區(qū)域。具體實施例方式以下結(jié)合附圖，對本發(fā)明上述的和另外的技術(shù)特征和優(yōu)點作更詳細的說明。請參閱圖2所示，所述的圖為本發(fā)明的導(dǎo)電粒子壓痕分級方法流程示意圖。所述的導(dǎo)電粒子壓痕分與方法包括有下列步驟，首先進行步驟20建立影像標準。在本步驟中，主要是要先建立代表不同壓痕程度的標準，通過建立復(fù)數(shù)個等級標準，每一個等級對應(yīng)有一基準值以利后續(xù)自動判別。請參閱圖3所示，所述的圖為本發(fā)明建立影像標準程序流程示意圖。建立標準的程序首先進行步驟200,提供具有一標準影像。在本實施例中，所述的標準影像為液晶面板與覆晶薄膜間的導(dǎo)線(lead)的影像，但不以此為限。如圖4A所示，所述的標準影像上具有復(fù)數(shù)個已知導(dǎo)電粒子壓痕影像。接著進行步驟201，利用目視方式定義出每一個已知導(dǎo)電粒子壓痕影像所代表的等級標準。等級標準的種類數(shù)量是可根據(jù)需要而定，在本實施例中，是定義出六種不同凸出程度的壓痕等級(05級)，如圖4B所示。其中，0級的導(dǎo)電粒子壓痕比較輕微，然后壓痕程度逐級漸增，也即第5級的導(dǎo)電粒子壓痕程度最大、最明顯。最后，進行步驟202以求出每一種等級標準所對應(yīng)的導(dǎo)電粒子壓痕影像所具有的基準值。本步驟中所謂的基準值是指每一種等級所對應(yīng)到的壓痕影像所具有的影像梯度值。本實施例中影像梯度值求法為在不同的壓痕影像上擷取一區(qū)域范圍。如圖4C所示，以等級5的壓痕為例，所迷的區(qū)域91內(nèi)可再分成復(fù)數(shù)個子區(qū)域，然后利用影像處理的方式計算出每一個子區(qū)域內(nèi)的影像梯度值，然后再將每一個子區(qū)域所計算出的影像梯度值予以加總所得到的一個累計值即為代表等級5的壓痕所具有的基準值。同理，等級0至等級4所對應(yīng)到的壓痕影像都可以求得到一個對應(yīng)的影像梯度值以作為基準值。求梯度值的方式是可根據(jù)需要而定，并不以本發(fā)明的實施例為限。再回到圖2所示，建立不同壓痕影像所對應(yīng)的等級標準之后，接下來可進行步驟21,對一待辨識影像進行一影像處理程序以辨識出所述的待辨識影像中的復(fù)數(shù)個導(dǎo)電粒子壓痕影像的位置。在本步驟中，主要是先擷取要進行檢測的導(dǎo)線的影像以形成所述的待辨識影像。然后，對于所述的待辨識影像上的復(fù)數(shù)個導(dǎo)電粒子壓痕進行影像辨識，其中步驟21中的影像處理程序為對所述的待處理影像進行梯度強化處理，以凸顯出壓痕的位置。至于梯度強化的影像處理是屬于現(xiàn)有至技術(shù)，在此不作贅述。接下來進行步驟22,決定對應(yīng)每一個導(dǎo)電粒子壓痕影像的一辨識值。在本步驟中，如圖5A所示，先找出經(jīng)過影像處理程序處理后的待辨識影像上的壓痕位置。然后利用步驟202的方式，對每一個方框區(qū)域內(nèi)的壓痕影像進行運算以求出每一個區(qū)域內(nèi)所對應(yīng)的壓痕所具有的一辨識值。在本實施例中，所述的辨識值為所述的區(qū)域內(nèi)的影像梯度值，其方式是如同圖4C所示。再回到圖2所示，最后進行步驟23,將每一個導(dǎo)電粒子壓痕影像所對應(yīng)的粒子壓痕影像所對應(yīng)的等級標準。由于在步驟20中，已經(jīng)決定出不同等級標準的壓痕所具有的基準值(影像梯度值)大小。因此在步驟23中所決定出關(guān)于所述的待辨識影像中的每一個壓痕影像所具有的辨識值(也即影像梯度值)。因此，可以將所述的辨識值與所述的基準值進行比較，然后可以根據(jù)比較的結(jié)果斷定辨識值屬于哪一個等級標準。例如表一所示，為每一等級標準所對應(yīng)的梯度值。在此需說明的是所述的基準值為方便說明而定，實際上并不一定是表中的值。表一為每一等級標準所對應(yīng)的梯度值關(guān)系表<table>tableseeoriginaldocumentpage8</column></row><table>在本實施例中，例如圖5A的導(dǎo)線30內(nèi)所具有壓痕的位置中，區(qū)域300所具有的辨識值為65，則根據(jù)表一的內(nèi)容可以斷定區(qū)域300內(nèi)所具有的壓痕影像其是屬于等級標準2。同理，對于導(dǎo)線30內(nèi)所有具有方框區(qū)域的壓痕影像都可以根據(jù)其所具有的影像梯度值而根據(jù)表一找到對應(yīng)的等級標準，其結(jié)果如圖5B所示。通過上述的步驟20至步驟23的過程可以辨識出每一條導(dǎo)線上所具有的導(dǎo)電粒子壓痕所具有的等級標準。請參閱圖6所示，所述的圖為本發(fā)明的導(dǎo)電粒子壓痕分級方法流程另一實施例示意圖。在本實施例中，基本上與圖2所示的程序相同，差異的是利用步驟23所辨識出的等級標準可進一步的利用步驟24根據(jù)所述的復(fù)數(shù)個導(dǎo)電粒子壓痕影像所對應(yīng)的等級標準數(shù)量，決定所述的待辨識影像是否合格。請參閱圖7所示，所述的圖為本發(fā)明判斷待辨識影像所對應(yīng)的導(dǎo)線是否合格的流程示意圖。首先進行步驟240,決定一第一門坎值，其為要被采樣的等級標準門坎。接下來，進行步驟241統(tǒng)計所述的待辨識影像中等級標準大于等于所述的第一門坎值的導(dǎo)電粒子壓痕影像的數(shù)目。以圖5B為例，對于導(dǎo)線30而言的各個等級的壓痕數(shù)量3口下表二所示。表二每一等級標準所對應(yīng)的梯度值關(guān)系表<table>tableseeoriginaldocumentpage8</column></row><table>而在本實施例中，所述的第一門坎值是要以哪一個等級標準為界，可根據(jù)需要而定。例如如果有等級2為界的話，則大于等于等級2的壓痕數(shù)目為17個。接著進行步驟242,決定一第二門坎值。然后進行步驟243，如果所述的數(shù)目大于等于所述的第二門坎值的話，則所述的待辨識影像即判定為一合格影像。例如假設(shè)，所述的第二門坎值為15,則根據(jù)上述導(dǎo)線30根據(jù)所述的第一門坎值所決定的壓痕數(shù)量與所述的第二門坎值比較的話(17>15)，因此可以判斷所述的導(dǎo)線30為合格的加工結(jié)果。雖然在本實施例以單一導(dǎo)線作說明，但是實際上也可以整個待測影像所有導(dǎo)線的壓痕總數(shù)來進行判斷，這是熟悉此項技術(shù)的人，根據(jù)本發(fā)明前述的說明可以予以變化應(yīng)用。量穩(wěn)定度，以利進行檢測判斷的優(yōu)點。因此已經(jīng)可以提高所述的產(chǎn)業(yè)的竟爭力以及帶動周遭產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，誠已符合發(fā)明專利法所規(guī)定申請發(fā)明所需具備的要件，故依法提起發(fā)明專利的申請。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例，對本發(fā)明而言僅僅是說明性的，而非限制性的。本專業(yè)技術(shù)人員理解，在本發(fā)明權(quán)利要求所限定的精神和范圍內(nèi)可對其進行許多改變，修改，甚至等效，但都將落入本發(fā)明的保護范圍內(nèi)。9權(quán)利要求1、一種導(dǎo)電粒子壓痕分級方法，其特征在于包括建立復(fù)數(shù)個等級標準，每一個等級對應(yīng)有一基準值；對一待辨識影像進行一影像處理程序以辨識出所述的待辨識影像中的復(fù)數(shù)個導(dǎo)電粒子壓痕影像的位置；決定對應(yīng)每一個導(dǎo)電粒子壓痕影像的一辨識值；以及將每一個導(dǎo)電粒子壓痕影像所對應(yīng)的辨識值與所述的復(fù)數(shù)個等級標準所對應(yīng)的基準值進行比較以決定出每一個導(dǎo)電粒子壓痕影像所對應(yīng)的等級標準。2、根據(jù)權(quán)利要求1所述的導(dǎo)電粒子壓痕分級方法，其特征在于所述的影像處理程序為對所述的待處理影像進行梯度強化處理。3、根據(jù)權(quán)利要求1所述的導(dǎo)電粒子壓痕分級方法，'其特征在于所述的辨識值為所述的導(dǎo)電粒子壓痕影像所具有的影像梯度值。4、根據(jù)權(quán)利要求1所述的導(dǎo)電粒子壓痕分級方法，其特征在于建立復(fù)數(shù)個等級標準還包括有下列步驟提供一標準影像，所述的標準影像上具有復(fù)數(shù)個已知導(dǎo)電粒子壓痕影像；利用目視方式定義出每一個已知導(dǎo)電粒子壓痕影像所代表的等級標準；以及求出每一種等級標準所對應(yīng)的導(dǎo)電粒子壓痕影像所具有的基準值。5、根據(jù)權(quán)利要求4所述的導(dǎo)電粒子壓痕分級方法，其特征在于所述的基準值為所述的已知的導(dǎo)電粒子壓痕影像的影像梯度值。6、根據(jù)權(quán)利要求1所述的導(dǎo)電粒子壓痕分級方法，其特征在于所述的待辨識影像為一電路基板與電子組件間的導(dǎo)線的影像。7、根據(jù)權(quán)利要求6所述的導(dǎo)電粒子壓痕分級方法，其特征在于所述的電路基板為軟性電路板。8、根據(jù)權(quán)利要求1所述的導(dǎo)電粒子壓痕分級方法，其特征在于還包括一步驟根據(jù)所述的復(fù)數(shù)個導(dǎo)電粒子壓痕影像所對應(yīng)的等級標準數(shù)量，決定所述的待辨識影像是否合格。9、根據(jù)權(quán)利要求8所述的導(dǎo)電粒子壓痕分級方法，其特征在于所述的決定所述的待辨識影像是否合格的方式還包括有下列步驟決定一第一門坎值，其為要被采樣的等級標準門坎；統(tǒng)計所述的待辨識影像中等級標準大于等于所述的第一門坎值的導(dǎo)電粒子壓痕影像的數(shù)目；決定一第二門坎值；以及如果所述的數(shù)目大于等于所述的第二門坎值的話，則所述的持辨識影像即判定為一合格影像。全文摘要本發(fā)明為一種導(dǎo)電粒子壓痕分級方法，其是可自動辨識導(dǎo)線(lead)上的導(dǎo)電粒子壓痕的等級。所述的方法首先建立復(fù)數(shù)個等級標準，每一個等級對應(yīng)有一基準值。然后辨識出一待辨識影像中的復(fù)數(shù)個導(dǎo)電粒子壓痕影像的位置。接著決定對應(yīng)每一個導(dǎo)電粒子壓痕影像的一辨識值。隨后將每一個導(dǎo)電粒子壓痕影像所對應(yīng)的辨識值與所述的復(fù)數(shù)個等級標準所對應(yīng)的基準值進行比較以決定出每一個導(dǎo)電粒子壓痕影像所對應(yīng)的等級標準。利用本發(fā)明的方法可以維持檢測導(dǎo)電粒子壓痕在檢測分級時的穩(wěn)定度，以避免現(xiàn)有利用人工方式檢廁所產(chǎn)生的判斷不一的問題。文檔編號B07C5/342GK101632990SQ20081013359公開日2010年1月27日申請日期2008年7月21日優(yōu)先權(quán)日2008年7月21日發(fā)明者彭火熾申請人:均豪精密工業(yè)股份有限公司