專利名稱：豎式晶體自動測試分選設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種晶體自動測試分選設(shè)備，具體說是一種豎式晶體自動測試 分選設(shè)備。
背景技術(shù)：
目前，現(xiàn)有晶體測試分選設(shè)備是橫式對晶體進行測試分選，測試頭固定不 動，橫式晶體的引線去接觸測試頭的電極，其主要缺陷是晶體引線容易彎曲， 晶體引線與測試頭電極接觸時間短，不充分，測試項目受限。另外，現(xiàn)有設(shè)備 對晶體測試完后進行分選的跌落高度較大，導(dǎo)致分選晶體跌落后出現(xiàn)頻率變化， 影響晶體測試后的準(zhǔn)確率。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)不足之處，提供一種測試充分、髙效、多功 能、能對晶休引線進行定位使其不致彎曲的自動測試分選設(shè)備。
為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明的自動上料裝置包含平振軌道上設(shè)有防錯擋 板，防錯擋板根據(jù)平振軌道上光電感應(yīng)器的反應(yīng)通過氣缸動力轉(zhuǎn)動，使只有引 線朝后的晶體能通過通往出料口的通道，旋轉(zhuǎn)擋板根據(jù)測試孔的光電感應(yīng)器的 反應(yīng)通過氣缸動力轉(zhuǎn)動，在適當(dāng)時候每次提供一個引線朝上的晶體由接料導(dǎo)入 口進入測試孔。測試分選裝置包含測試盤、過渡盤、分類盤，測試盤設(shè)有若干 環(huán)形測試孔，測試孔的大小、形狀與待測晶體最大橫斷面相當(dāng)，測試孔的導(dǎo)入 口與上料裝置的出料口相對應(yīng)，晶體由導(dǎo)入口進入測試孔并保持豎式，測試孔 內(nèi)壁設(shè)有兩個相對的滑塊， 一滑塊安裝有磁性材料及金屬片，金屬片與測試電 極相連接，另一滑塊安裝有絕緣隔離片及彈性絕緣材料，測試盤與過渡盤有共同轉(zhuǎn)軸，由步進電機提供動力繞軸作定向同步轉(zhuǎn)動，測試盤外部安裝有凸輪， 當(dāng)測試盤轉(zhuǎn)動時，凸輪通過滑塊上的軸承控制滑塊往返移動，使兩滑塊分與合， 兩滑塊合時絕緣隔離片緩慢插入，將晶體的兩引線分開，并對晶體引線進行適 度定位，滑塊的金屬片與測試電極相接觸，通過測試電極將晶體信號輸送給控 制裝置并作記憶；過渡盤與測試孔相對應(yīng)的位置有大小相當(dāng)?shù)倪^渡孔，測試孔 與過渡孔之間有擋板，測試孔與過渡孔之間的擋板受測試盤外凸輪適時推動； 分類盤設(shè)有若干容器，過渡孔底層有擋板，控制裝置根據(jù)記憶結(jié)果指令氣缸在 對應(yīng)容器上方推開過渡孔底層的擋板，使晶體落入指定的容器。
為使待測晶體更好地從出料口由接料導(dǎo)入口進入測試孔，測試孔靠近接料 導(dǎo)入口的部分呈圓錐漏斗形，其斜面的坡度最好在70度至80度之間。
采用上述結(jié)構(gòu)后，本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比主要有以下積極效果
1、 測試電極與晶體引線持續(xù)接觸，測試充分，并可根據(jù)用戶的需要測試較 多的指標(biāo)；
2、 在測試過程中，由于該設(shè)備中的絕緣隔離片是通過凸輪緩慢插入晶體兩 引線中間，并適當(dāng)定位，能保持引線平直，產(chǎn)品美觀好用。
3、 該設(shè)備晶體測試完后通過過渡盤的過渡緩沖降低了晶體跌落的高度，最 大限度地避免了晶體因為跌落而導(dǎo)致的頻率變化，提高了產(chǎn)品準(zhǔn)確率。


圖1是本發(fā)明自動上料裝置與測試分選裝置的組成示意圖； 圖2是本發(fā)明上料裝置出料與測試分選裝置接料對接示意圖； 圖3是本發(fā)明測試孔俯視結(jié)構(gòu)剖面圖； 圖4是本發(fā)明測試孔側(cè)視結(jié)構(gòu)剖面圖；圖5是本發(fā)明測試分選裝置部分剖面圖。
具體實施方式
下面結(jié)合附圖對本發(fā)明作進一步的描述
在圖1中，本發(fā)明的自動上料裝置l,測試分選裝置的三個圓盤測試盤2、 過渡盤3、分類盤4，測試盤2的接料導(dǎo)入口 9，測試盤2與過渡盤3的共同轉(zhuǎn) 軸22。
在圖2中，待測晶體被送入自動上料裝置中的平振軌道20使晶體有序排列， 防錯擋板6根據(jù)平振軌道20上的光電感應(yīng)器的反應(yīng)通過氣缸動力轉(zhuǎn)動攔卜引線 不是朝后的晶體，使只有引線朝后的晶體才能通過通往出料口 13的通道，旋轉(zhuǎn) 擋板8根據(jù)測試孔5的光電感應(yīng)器的反應(yīng)通過氣缸動力繞擋板旋轉(zhuǎn)軸7轉(zhuǎn)動， 在適當(dāng)時候每次提供一個引線朝上的晶體由接料導(dǎo)入口 9進入測試孔5。
在圖3和圖4中，測試孔5內(nèi)壁設(shè)有兩個相對的滑塊16， 一滑塊安裝有磁 性材料10及金屬片11，金屬片11與測試電極相連接，另滑塊安裝有絕緣隔 離片12及彈性絕緣材料15，兩滑塊16分別與兩軸承17相聯(lián)動，觀B式盤2外部 安裝有凸輪，當(dāng)測試盤轉(zhuǎn)動時，凸輪通過軸承17控制滑塊16往返移動，使兩 滑塊16分與合，兩滑塊16合時絕緣隔離片12緩慢插入晶體兩引線中間，并對 晶體引線進行適度定位，滑塊16的金屬片與測試電極相接觸，通過測試電極將 晶體信號輸送給控制裝置并作記憶。
在圖5中，過渡盤3與測試孔5相對應(yīng)的位置有大小相當(dāng)?shù)倪^渡孔14，兩 孔之間有擋板18，擋板1S受測試盤2外凸輪推動，過渡孔14底層有若干擋板 19，分類盤4設(shè)有若干容器，控制裝置根據(jù)測試記憶結(jié)果指令氣缸在對應(yīng)容器 上方推開擋板19，使晶體落入指定的容器。本發(fā)明中所述的控制裝置包括控制氣缸動作的電磁閥、電機的運作，以及 由微電腦至測頻儀、各種光電感應(yīng)器采集的數(shù)據(jù)依程序發(fā)出的指令，屬工業(yè)自 動控制常規(guī)技術(shù)。
此外，本發(fā)明的創(chuàng)造性在于豎式測試分選晶體的獨特方式，過渡盤的設(shè)置 是對測試完晶體的跌落起緩沖作用，與本發(fā)明創(chuàng)造目的無關(guān)，可作為多余指定 略去，因此省去過渡盤的豎式測試分選設(shè)備也是本發(fā)明的保護范圍。
權(quán)利要求
1、一種豎式晶體自動測試分選設(shè)備，包括自動上料裝置、測試分選裝置、控制裝置，其特征在于，所述自動上料裝置(1)包含平振軌道(20)上設(shè)有防錯擋板(6)，出料口(13)有旋轉(zhuǎn)擋板(8)圍繞擋板旋轉(zhuǎn)軸(7)翻動；所述測試分選裝置包含測試盤(2)、過渡盤(3)、分類盤(4)，測試盤(2)與過渡盤(3)繞共同轉(zhuǎn)軸(22)同步轉(zhuǎn)動，測試盤(2)外有凸輪，測試盤(2)設(shè)有環(huán)形測試孔(5)，測試孔(5)的接料導(dǎo)入口(9)與自動上料裝置的出料口(13)相對應(yīng)，測試孔(5)內(nèi)壁設(shè)有兩個相對的滑塊(16)，一滑塊安裝有磁性材料(10)及金屬片(11)，金屬片(11)與測試電極相連接，另一滑塊安裝有絕緣隔離片(12)及彈性絕緣材料(15)，兩滑塊(16)分別通過兩軸承(17)轉(zhuǎn)動而往返移動，過渡盤(3)與測試孔(5)相對應(yīng)的位置有大小相當(dāng)?shù)倪^渡孔(14)之間有擋板(18)，擋板(18)受測試盤(2)外凸輪推動，過渡孔(14)底層有若干擋板(19)，擋板(19)受氣缸動力推動，分類盤(4)設(shè)有若干容器(21)。
2、根據(jù)權(quán)利要求1所述的豎式晶體自動測試分選設(shè)備，其特征在于，所述 測試孔(5)靠近接料導(dǎo)入口 (9)的部分呈圓錐漏斗形。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種豎式晶體自動測試分選設(shè)備，包括自動上料裝置、測試分選裝置、控制裝置三部分，自動上料裝置包含平振軌道上設(shè)有防錯擋板，由旋轉(zhuǎn)擋板轉(zhuǎn)動使引線朝上的晶體進入測試孔；測試分選裝置包含測試盤、過渡盤、分類盤，測試盤設(shè)有測試孔，晶體進入測試孔保持豎式，測試孔內(nèi)壁有兩個相對的滑塊，滑塊受測試盤外凸輪的推動，使滑塊上的金屬片與測試電極相接觸，晶體信號通過測試電極輸送給控制裝置并作記憶，測試孔與過渡孔之間的擋板受推動，晶體進入過渡孔，控制裝置根據(jù)記憶結(jié)果指令氣缸在對應(yīng)容器上方推開過渡孔底層的擋板，使晶體落入指定的容器。本發(fā)明的最大優(yōu)點是，豎式測試時間充分，晶體引線不被彎曲，產(chǎn)品外觀好，準(zhǔn)確率高。
文檔編號B07C5/02GK101559424SQ20091010739
公開日2009年10月21日 申請日期2009年5月25日 優(yōu)先權(quán)日2009年5月25日
發(fā)明者黃桂云 申請人:黃桂云