專利名稱：晶片檢測分選機(jī)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及晶片檢測設(shè)備，具體的說是一種晶片檢測分選機(jī)。
背景技術(shù)：
晶片加工完成后，需要對其參數(shù)進(jìn)行檢測，然后按其不同的參數(shù)值的范圍進(jìn)行分選，更好的滿足不同用戶的需要，根據(jù)檢測的結(jié)果采用人工進(jìn)行分選工作量很大。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是針對上述問題，提出一種結(jié)構(gòu)簡單、使用方便的晶片檢測分選機(jī)。本實(shí)用新型的目的是這樣實(shí)現(xiàn)的本實(shí)用新型的一種晶片檢測分選機(jī)，它包括工作臺和檢測裝置，檢測裝置放置在工作臺面上，其特征在于貫穿于工作臺有個(gè)落料管，工作臺下有伺服電機(jī)帶動的轉(zhuǎn)盤，不同參數(shù)范圍的落料罐呈環(huán)狀有序分布在轉(zhuǎn)盤上，落料管的出口在落料罐上方。本實(shí)用新型的晶片檢測分選機(jī)，檢測裝置只要把檢測到的晶片的數(shù)據(jù)輸送到單片機(jī)，單片機(jī)輸出相對應(yīng)的伺服電機(jī)轉(zhuǎn)動的角度控制信號，轉(zhuǎn)盤上相應(yīng)的落料罐轉(zhuǎn)到落料管的出口下方候料。因此，本實(shí)用新型具有結(jié)構(gòu)簡單、使用方便的特點(diǎn)。

圖1為本實(shí)用新型的晶片檢測分選機(jī)的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖通過實(shí)施例對本實(shí)用新型作進(jìn)一步說明如圖1所示，本實(shí)用新型的一種晶片檢測分選機(jī)，它包括工作臺1和檢測裝置2，檢測裝置2放置在工作臺面上，其特征在于貫穿于工作臺1有個(gè)落料管3，工作臺2下有伺服電機(jī)4帶動的轉(zhuǎn)盤5，不同參數(shù)范圍的落料罐6呈環(huán)狀有序分布在轉(zhuǎn)盤5上，落料管3的出口在落料罐6上方。
權(quán)利要求1. 一種晶片檢測分選機(jī)，它包括工作臺(1)和檢測裝置O)，檢測裝置(2)放置在工作臺面上，其特征在于貫穿于工作臺(1)有個(gè)落料管(3)，工作臺(2)下有伺服電機(jī)(4)帶動的轉(zhuǎn)盤(5)，不同參數(shù)范圍的落料罐(6)呈環(huán)狀有序分布在轉(zhuǎn)盤(5)上，落料管(3)的出口在落料罐(6)上方。
專利摘要一種晶片檢測分選機(jī)，它包括工作臺和檢測裝置，檢測裝置放置在工作臺面上，其特征在于貫穿于工作臺有個(gè)落料管，工作臺下有伺服電機(jī)帶動的轉(zhuǎn)盤，不同參數(shù)范圍的落料罐呈環(huán)狀有序分布在轉(zhuǎn)盤上，落料管的出口在落料罐上方。本實(shí)用新型的晶片檢測分選機(jī)，檢測裝置只要把檢測到的晶片的數(shù)據(jù)輸送到單片機(jī)，單片機(jī)輸出相對應(yīng)的伺服電機(jī)轉(zhuǎn)動的角度控制信號，轉(zhuǎn)盤上相應(yīng)的落料罐轉(zhuǎn)到落料管的出口下方候料。因此，本實(shí)用新型具有結(jié)構(gòu)簡單、使用方便的特點(diǎn)。
文檔編號B07C5/36GK201940382SQ201020618140
公開日2011年8月24日 申請日期2010年11月23日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月23日
發(fā)明者盧巍 申請人:嘉興鯤鵬電子有限公司