專利名稱：記憶卡檢測分類設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型系關(guān)于記憶卡檢測分類機，更詳而言之，系一種利用各模塊之時序搭配作動，以一貫化作業(yè)自動執(zhí)行記憶卡檢測及分類作業(yè)之設(shè)備。
背景技術(shù)：
以半導(dǎo)體制程所制做之記憶卡需進行檢測及分類，將符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的良品與不符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的次級品或不良品分開排列收置。在以往，測試作業(yè)系仰賴人工將待測記憶卡插置于測試臺上進行電性檢測之后，再以人工依測試結(jié)果，將記憶卡依等級分類收置。然而，人工進行檢測及分類，已面臨了效能低，準(zhǔn)確率低的問題。為解決上述問題，廠商研發(fā)全自動檢測分類設(shè)備，其系將待測記憶卡整列于一料盤上，再以取放裝置將料盤上的復(fù)數(shù)個記憶卡取出，將其輸送至檢測位置進行檢測，完測之后，再以取放裝置將記憶卡從檢測位置取出，并依測試結(jié)果將記憶卡輸送至良品匣或不良品匣。近期另有整盤式記憶卡檢測設(shè)備，系將待測記憶卡整列于一料盤上，將該料盤輸送至檢測位置進行檢測，完測之后，依檢測結(jié)果將記憶卡從該料盤上取出分配于良品匣或不良品匣。

實用新型內(nèi)容依據(jù)背景技術(shù)一欄所描述的，本實用新型創(chuàng)作人認(rèn)為整盤式檢測其經(jīng)濟效益顯然是較佳的，因此研發(fā)一新穎的記憶卡整盤式檢測分類設(shè)備。本實用新型之目的系在提供一記憶卡檢測分類設(shè)備。為了實現(xiàn)目的，采用技術(shù)方案如下一種記憶卡檢測分類設(shè)備，包含一機臺；該機臺上設(shè)有一待測預(yù)備模塊、一檢測模塊、一分類模塊、一良品收取模塊、一空盤預(yù)備模塊、一不良品匯整模塊、一不良品收取模塊、以及一良品暫存模塊；其特征在于，所述的待測預(yù)備模塊、檢測模塊、分類模塊、良品收取模塊構(gòu)成一第一序列行程；所述的空盤預(yù)備模塊、不良品匯整模塊以及不良品收取模塊構(gòu)成一第二序列行該不良品匯整模塊位于該分類模塊的第一鄰側(cè)；該良品暫存模塊位于該分類模塊的第二鄰側(cè)；—第一輸送裝置，設(shè)于上述第一序列行程上；一第二輸送裝置，設(shè)于上述第二序列行程上；—橫移機構(gòu)，連接該分類模塊和該良品暫存模塊；一取放機構(gòu)，設(shè)于該分類模塊、不良品匯整模塊、和良品暫存模塊之所在區(qū)域。其更包含一第一輸送循序單元，由所述的的第一輸送裝置、待測預(yù)備[0018]模塊、檢測模塊、分類模塊所組成。其更包含一第二輸送循序單元，由所述的第二輸送裝置、空盤預(yù)備模塊、以及該不良品匯整模塊所構(gòu)成。其更包含一不良品揀取單元，是由所述的取放機構(gòu)、分類模塊、以及不良品匯整模塊所構(gòu)成。其更包含一不良品匯整輸送單元，是由所述的第二輸送裝置、不良品匯整模塊、以及不良品收取模塊所構(gòu)成。其更包含一良品揀取單元，是由所述的取放機構(gòu)、分類模塊、橫移機構(gòu)、良品暫存模塊所構(gòu)成。其更包含一良品匯整輸送單元，是由所述的第一輸送裝置、分類模塊、以及該良品收取模塊所構(gòu)成。本實用新型之的積極有益效果是(一 )上述各模塊以特定的排列組合方式構(gòu)成本實用新型記憶卡檢測設(shè)備，該特定之排列組合使得檢測和分類步驟得以一貫化的循序進行，順利、快速、效率高、分類精確。( 二)本實用新型記憶卡檢測設(shè)備是一次將整個料盤中的待測記憶卡同步進行檢測(整盤檢測)，隨后即依檢測結(jié)果進行良品和不良品之分類揀取，可縮短檢測和分類時間。(三)本實用新型記憶卡檢測設(shè)備最終將不良品和良品分別匯整于良品匣和不良品匣，亦為整盤式輸出，便于后續(xù)作業(yè)之執(zhí)行。(四)上述各模塊系為單站模塊化裝置，任一模塊需維修時，可用新的模塊替換之，不影響檢測分類作業(yè)流程。

[0029]圖I為本實用新型平面配置圖。[0030]圖2為本實用新型執(zhí)行步驟一之示意圖。[0031]圖3為本實用新型執(zhí)行步驟二之示意圖。[0032]圖4為本實用新型執(zhí)行步驟三之示意圖。[0033]圖5為本實用新型執(zhí)行步驟四之示意圖。[0034]圖6為本實用新型執(zhí)行步驟五之示意圖。[0035]圖7為本實用新型執(zhí)行步驟六之示意圖。[0036]圖8為本實用新型執(zhí)行步驟七之示意圖。[0037]附圖編號說明[0038]I-機臺93-橫移機構(gòu)[0039]10-待測預(yù)備模塊95-取放機構(gòu)[0040]20-檢測模塊[0041]30-分類模塊[0042]40-良品收取模塊[0043]50-空盤預(yù)備模塊[0044]60-不良品匯整模塊[0045]70-不良品收取模塊80-良品暫存模塊91-第一輸送裝置92-第二輸送裝置
具體實施方式
為便于說明本實用新型于上述實用新型內(nèi)容一欄中所表示的中心思想，茲以具體實施例表達。實施例中各種不同對象系按適于說明之比例、尺寸、變形量或位移量而描繪， 而非按實際組件的比例予以繪制，合先敘明。且以下的說明中，類似的組件是以相同的編號來表不。如圖1，本實用新型記憶卡檢測分類設(shè)備，包含一機臺1，該機臺I上設(shè)有一待測預(yù)備模塊10、一檢測模塊20、一分類模塊30、一良品收取模塊40、一空盤預(yù)備模塊50、一不良品匯整模塊60、一不良品收取模塊70、以及一良品暫存模塊80。上述待測預(yù)備模塊、檢測模塊、分類模塊、良品收取模塊構(gòu)成第一序列行程；上述空盤預(yù)備模塊、不良品匯整模塊以及不良品收取模塊構(gòu)成第二序列行程；該不良品匯整模塊60位于該分類模塊30的第一鄰側(cè)，該良品暫存模塊80位于該分類模塊30的第二鄰側(cè)。一第一輸送裝置91設(shè)于上述第一序列行程上，用以輸送料盤于該序列行程中位移。一第二輸送裝置92設(shè)于上述第二序列行程上，用以輸送料盤于該序列行程中位移。一橫移機構(gòu)93，設(shè)于該分類模塊30和該良品暫存模塊80之所在位置，用以將該分類模塊30 上的料盤移至該良品暫存模塊80暫置。一取放機構(gòu)95，設(shè)于該分類模塊30、不良品匯整模塊60、和良品暫存模塊80之所在位置上，該取放機構(gòu)95依據(jù)檢測模塊20的檢測結(jié)果，從該分類模塊30的料盤上，將不良品挑取出并移送至該不良品匯整模塊60的料盤上，并將該良品暫存模塊80之料盤中的良品挑取出并移送至該分類模塊30的料盤上。在本實用新型實施例中，該待測預(yù)備模塊10上定置堆棧有復(fù)數(shù)個料盤，每一料盤中以矩陣排列方式盛裝多數(shù)個待測之記憶卡。空盤預(yù)備模塊50則備有至少一空的料盤， 藉由該第二輸送裝置92將該空的料盤51移送至該不良品匯整模塊60，以便接收從分類模塊30挑取出來的不良品。茲以下列步驟并配合圖2至圖8，說明本實用新型之循序動作。步驟一，第一輸送裝置91將待測預(yù)備模塊10中盛有待測料品(記憶卡)之料盤輸送至該檢測模塊20。該第二輸送裝置92將一個空盤從該空盤預(yù)備模塊50輸送至該不良品匯整模塊60。(如圖2)步驟二，檢測完成后，第一輸送裝置91將該檢測模塊20的料盤輸送至該分類模塊 30。于此同時，第一輸送裝置91再將待測預(yù)備模塊10的一個料盤輸送至該檢測模塊20。 (如圖3)步驟三，該取放機構(gòu)95依據(jù)檢測模塊20的檢測結(jié)果，從該分類模塊30的料盤上， 將不良品挑取出并移送至該不良品匯整模塊60的料盤上。(如圖4)步驟四，不良品挑完后，該分類模塊30的料盤上只剩下良品，該橫移機構(gòu)93將分類模塊30上的料盤拉至該良品暫存模塊80暫置。該檢測模塊20業(yè)已完成第二個料盤之記憶卡檢測。(如圖5)步驟五，該第一輸送裝置91將第二個完成檢測的料盤輸送至該分類模塊30。同樣的，該取放機構(gòu)95依據(jù)檢測模塊20的檢測結(jié)果，從該分類模塊30的料盤上，將不良品挑取出并移送至該不良品匯整模塊60的料盤上，并將該良品暫存模塊80之料盤上的良品挑取出并移送至該分類模塊30的料盤上。(如圖6)步驟六，該分類模塊30的料盤填滿了良品后，該第一輸送裝置91將該料盤輸送至該良品收取模塊40堆棧。該不良品匯整模塊60的料盤填滿了不良品后，該第二輸送裝置 92將之輸送至該不良品收取模塊70堆棧。于此同時，一個完成檢測的料盤再從該檢測模塊20輸送至該分類模塊30，一個空盤從該空盤預(yù)備模塊50輸送至該不良品匯整模塊60。 (如圖7)步驟七，當(dāng)良品暫存模塊80料盤之良品被挑取而凈空后，即以人工取走該料盤。 該不良品收取模塊70及良品收取模塊40的料盤于堆棧至預(yù)定數(shù)量后撤走。(如圖8)?；谏鲜霾襟E，可歸納出本實用新型的幾種輸送單元，例如—第一輸送循序單兀，是由該第一輸送裝置91控制一料盤從該待測預(yù)備模塊10 循序經(jīng)過該檢測模塊20、分類模塊30所構(gòu)成?！诙斔脱騿呜?，是由該第二輸送裝置92將該空盤預(yù)備模塊50之一空的料盤輸送至該不良品匯整模塊60所構(gòu)成。一不良品揀取單元，是由該取放機構(gòu)95，依據(jù)該檢測模塊20的檢測結(jié)果，從該分類模塊30之料盤中，將不良品揀取至該不良品匯整模塊60之料盤中所構(gòu)成。一不良品匯整輸送單元，是由該第二輸送裝置92于該不良品匯整模塊60的料盤上填滿不良品后，將該料盤輸送至該不良品收取模塊70堆棧所構(gòu)成?！计窏澣呜?，是由該取放機構(gòu)95,將該良品暫存|旲塊80之料盤中的良品棟取至該分類模塊30之料盤中所構(gòu)成?！计穮R整輸送單元，是由該第一輸送裝置91于該分類模塊30之料盤中填滿良品后，將該料盤輸送至該良品收取模塊40堆棧所構(gòu)成。雖然本實用新型是以一個最佳實施例做說明，但精于此技藝者能在不脫離本實用新型精神與范疇下做各種不同形式的改變。以上所舉實施例僅用以說明本實用新型而已，非用以限制本實用新型之范圍。舉凡不違本實用新型精神所從事的種種修改或變化，俱屬本實用新型申請專利范圍。
權(quán)利要求1.一種記憶卡檢測分類設(shè)備，包含一機臺；該機臺上設(shè)有一待測預(yù)備模塊、一檢測模塊、一分類模塊、一良品收取模塊、一空盤預(yù)備模塊、一不良品匯整模塊、一不良品收取模塊、以及一良品暫存模塊；其特征在于， 所述的待測預(yù)備模塊、檢測模塊、分類模塊、良品收取模塊構(gòu)成一第一序列行程； 所述的空盤預(yù)備模塊、不良品匯整模塊以及不良品收取模塊構(gòu)成一第二序列行程； 該不良品匯整模塊位于該分類模塊的第一鄰側(cè)；該良品暫存模塊位于該分類模塊的第二鄰側(cè)；一第一輸送裝置，設(shè)于上述第一序列行程上；一第二輸送裝置，設(shè)于上述第二序列行程上；一橫移機構(gòu)，連接該分類模塊和該良品暫存模塊；一取放機構(gòu)，設(shè)于該分類模塊、不良品匯整模塊、和良品暫存模塊之所在區(qū)域。
2.如權(quán)利要求I所述的記憶卡檢測分類設(shè)備，其特征在于其更包含一第一輸送循序單元，由所述的的第一輸送裝置、待測預(yù)備模塊、檢測模塊、分類模塊所組成。
3.如權(quán)利要求I所述的記憶卡檢測分類設(shè)備，其特征在于其更包含一第二輸送循序單元，由所述的第二輸送裝置、空盤預(yù)備模塊、以及該不良品匯整模塊所構(gòu)成。
4.如權(quán)利要求I所述的記憶卡檢測分類設(shè)備，其特征在于其更包含一不良品揀取單元，是由所述的取放機構(gòu)、分類模塊、以及不良品匯整模塊所構(gòu)成。
5.如權(quán)利要求I所述的記憶卡檢測分類設(shè)備，其特征在于其更包含一不良品匯整輸送單元，是由所述的第二輸送裝置、不良品匯整模塊、以及不良品收取模塊所構(gòu)成。
6.如權(quán)利要求I所述的記憶卡檢測分類設(shè)備，其特征在于其更包含一良品揀取單元， 是由所述的取放機構(gòu)、分類模塊、橫移機構(gòu)、良品暫存模塊所構(gòu)成。
7.如權(quán)利要求I所述的記憶卡檢測分類設(shè)備，其特征在于其更包含一良品匯整輸送單元，是由所述的第一輸送裝置、分類模塊、以及該良品收取模塊所構(gòu)成。
專利摘要一種記憶卡檢測分類設(shè)備，包括一待測預(yù)備模塊、一檢測模塊、一分類模塊、一良品收取模塊、一空盤預(yù)備模塊、一不良品匯整模塊、一不良品收取模塊、以及一良品暫存模塊；上述各模塊以特定的排列組構(gòu)于一機臺上，該特定之排列組合使得檢測和分類步驟得以一貫化的循序進行，提升檢測效率，且分類更為精確。
文檔編號B07C5/00GK202343473SQ20112039589
公開日2012年7月25日 申請日期2011年10月18日 優(yōu)先權(quán)日2011年10月18日
發(fā)明者姚圳杰, 黃耿徹 申請人:益明精密科技有限公司