專利名稱：磁環(huán)測(cè)試分選機(jī)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及ー種測(cè)試篩選非晶、超微晶或鐵氧體等軟磁磁環(huán)的磁環(huán)測(cè)試分選機(jī)。
技術(shù)背景目前，用非晶、超微晶或鐵氧體等軟磁材料制成的磁環(huán)一般都具有不同強(qiáng)度的磁場(chǎng)，要進(jìn)行測(cè)試分類，只能靠人手ー個(gè)個(gè)來(lái)進(jìn)行，費(fèi)時(shí)費(fèi)力，生產(chǎn)成本高，效率低
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的是提供一種自動(dòng)測(cè)試篩選磁環(huán)的磁環(huán)測(cè)試分選機(jī)。為了解決背景技術(shù)所存在的問(wèn)題，本實(shí)用新型是采用以下技術(shù)方案磁環(huán)測(cè)試分選機(jī)，其包括供料倉(cāng)，供料倉(cāng)下安裝有傳送帯，傳送帶的一端下方安裝有排序盤，排序盤設(shè)有磁環(huán)出口，磁環(huán)出口連接有平送機(jī)構(gòu)，平送機(jī)構(gòu)的另一端為測(cè)試盤，測(cè)試盤旁安裝有測(cè)試探頭，測(cè)試探頭連接有測(cè)試儀表，測(cè)試儀表連接到PLC中央處理器。其中，所述供料倉(cāng)為漏斗型。其中，所述排序盤的表面向磁環(huán)出ロ處傾斜。其中，所述所述排序盤的表面設(shè)有篩板。其中，所述平送機(jī)構(gòu)主要由第二傳送帶及位于第二傳送帶兩側(cè)的擋板構(gòu)成。其中，所述測(cè)試盤設(shè)有若干個(gè)檔位卡ロ。本實(shí)用新型的有益效果將磁環(huán)放到供料倉(cāng)，傳送帶就會(huì)將磁環(huán)送到排序盤進(jìn)行排序整理，然后磁環(huán)再由平送機(jī)構(gòu)送到測(cè)試盤，由測(cè)試盤根據(jù)測(cè)試探頭測(cè)試的數(shù)值數(shù)據(jù)在儀表的分析分檔下，數(shù)據(jù)反饋給PLC中央處理器，PLC中央處理器對(duì)磁環(huán)進(jìn)行篩選，達(dá)到測(cè)試分選目的，整個(gè)過(guò)程全自動(dòng)進(jìn)行，省時(shí)省力，測(cè)試篩選精確，有效降低生產(chǎn)成本，提高生產(chǎn)效率。

圖I為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是圖I的左視部分結(jié)構(gòu)示意圖；圖3是圖I的俯視部分結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
參照?qǐng)DI至圖3，磁環(huán)測(cè)試分選機(jī)，其包括供料倉(cāng)1，供料倉(cāng)I下安裝有傳送帶2，傳送帶2的一端下方安裝有排序盤3，排序盤3設(shè)有磁環(huán)出口 4，磁環(huán)出口 4連接有平送機(jī)構(gòu)5，平送機(jī)構(gòu)5的另一端為測(cè)試盤6，測(cè)試盤6旁安裝有測(cè)試探頭7，測(cè)試頭連接測(cè)試儀表14a/b，儀表連接PLC中央處理器12，處理器連接控制檔位卡ロ氣門開關(guān)11。其中，所述測(cè)試盤6設(shè)有若干個(gè)檔位卡ロ 15,由平送機(jī)構(gòu)5送來(lái)的磁環(huán)是落入檔位卡ロ 15。本實(shí)用新型的工作原理大致是如下將磁環(huán)放到供料倉(cāng)1，傳送帶2就會(huì)將磁環(huán)送到排序盤3進(jìn)行排序整理，然后磁環(huán)再由平送機(jī)構(gòu)送到測(cè)試盤6由測(cè)試盤6根據(jù)測(cè)試探頭7測(cè)試的磁場(chǎng)強(qiáng)度數(shù)據(jù)顯示在測(cè)試儀表，數(shù)據(jù)反饋給PLC中央處理器12，處理器對(duì)磁環(huán)進(jìn)行篩選，控制檔位卡ロ氣門開關(guān)11，達(dá)到測(cè)試分選目的。整個(gè)過(guò)程全自動(dòng)進(jìn)行，省時(shí)省力，測(cè)試篩選精確，有效降低生產(chǎn)成本，提高生產(chǎn)效率。其中測(cè)試儀表分為電感量測(cè)試儀表14a和伏安特性測(cè)試儀表14b。 為了方便磁環(huán)方便地滑落傳送帶2，所述供料倉(cāng)I可設(shè)計(jì)成漏斗型。另外，所述排序盤3的表面向磁環(huán)出ロ 4處傾斜，以此方便磁環(huán)落入平送機(jī)構(gòu)5。為了進(jìn)一歩方便磁環(huán)有序方便地落入平送機(jī)構(gòu)5，所述排序盤3的表面設(shè)有篩板8。其中，所述平送機(jī)構(gòu)5主要由第二傳送帶9及位于第二傳送帶9兩側(cè)的擋板10構(gòu)成，從而有效防止磁環(huán)在移動(dòng)過(guò)程中跌落第ニ傳送帶9，保證磁環(huán)進(jìn)入測(cè)試盤6。當(dāng)然，本實(shí)用新型并不限于上述的實(shí)施例，與本實(shí)用新型等同或變劣的技術(shù)方案也屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求1.磁環(huán)測(cè)試分 選機(jī)，其特征在于包括供料倉(cāng)(1)，供料倉(cāng)(I)下安裝有傳送帶(2)，傳送帶(2)的一端下方安裝有排序盤(3)，排序盤(3)設(shè)有磁環(huán)出口(4)，磁環(huán)出口(4)連接有平送機(jī)構(gòu)(5)，平送機(jī)構(gòu)(5)的另一端為測(cè)試盤(6)，測(cè)試盤(6)旁安裝有測(cè)試探頭(7)，測(cè)試探頭連接有測(cè)試儀表，測(cè)試儀表連接到PLC中央處理器(12)。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的磁環(huán)測(cè)試分選機(jī)，其特征在于所述供料倉(cāng)(I)為漏斗型。
3.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的磁環(huán)測(cè)試分選機(jī)，其特征在干所述排序盤(3)的表面向磁環(huán)出口(4)處傾斜。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的磁環(huán)測(cè)試分選機(jī)，其特征在干所述排序盤(3)的表面設(shè)有篩板⑶。
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的磁環(huán)測(cè)試分選機(jī)，其特征在于所述平送機(jī)構(gòu)(5)主要由第ニ傳送帶(9)及位于第二傳送帶(9)兩側(cè)的擋板(10)構(gòu)成。
6.根據(jù)權(quán)利要求I所述的磁環(huán)測(cè)試分選機(jī)，其特征在于所述測(cè)試盤(6)設(shè)有若干個(gè)檔位卡ロ(15)。
專利摘要本實(shí)用新型公開了磁環(huán)測(cè)試分選機(jī)，其包括供料倉(cāng)，供料倉(cāng)下安裝有傳送帶，傳送帶的一端下方安裝有排序盤，排序盤設(shè)有磁環(huán)出口，磁環(huán)出口連接有平送機(jī)構(gòu)，平送機(jī)構(gòu)的另一端為測(cè)試盤，測(cè)試盤旁安裝有測(cè)試探頭，測(cè)試探頭連接有測(cè)試儀表，測(cè)試儀表連接到PLC中央處理器。將磁環(huán)放到供料倉(cāng)，傳送帶就會(huì)將磁環(huán)送到排序盤進(jìn)行排序整理，然后磁環(huán)再由平送機(jī)構(gòu)送到測(cè)試盤，由測(cè)試盤根據(jù)測(cè)試探頭測(cè)試的數(shù)值數(shù)據(jù)在儀表的分析分檔下，數(shù)據(jù)反饋給PLC中央處理器，PLC中央處理器對(duì)磁環(huán)進(jìn)行篩選，達(dá)到測(cè)試分選目的，整個(gè)過(guò)程全自動(dòng)進(jìn)行，省時(shí)省力，測(cè)試篩選精確，有效降低生產(chǎn)成本，提高生產(chǎn)效率。
文檔編號(hào)B07C5/344GK202366891SQ20112054428
公開日2012年8月8日 申請(qǐng)日期2011年12月13日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月13日
發(fā)明者何智良, 黃子鵬 申請(qǐng)人:肇慶市偉創(chuàng)力電子設(shè)備有限公司