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      對開采的材料進行分類的制作方法

      文檔序號:5071842閱讀:245來源:國知局
      專利名稱:對開采的材料進行分類的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及一種用于對開采的材料進行分類的方法和設(shè)備。本發(fā)明具體地但是絕對不是以排它的方式涉及用于對開采的材料進行分類以用于進行后續(xù)處理以便從開采的材料中回收貴重材料比如貴重金屬的方法和設(shè)備。本發(fā)明還涉及ー種從如上所述已經(jīng)被分類的開采的材料中回收貴重材料比如貴重金屬的方法和設(shè)備。本發(fā)明涉及使用電磁輻射來引起開采的材料的碎片的變化,該變化提供關(guān)于在碎片中開采的材料的特性的信息,該信息對碎片的分類和/或下游處理是有幫助的,并能夠通過ー個或多個的傳感器來檢測該信息。該信息可包括碎片的成分、硬度、孔隙度、結(jié)構(gòu)完整性和織構(gòu)的特性中的任何ー種或更多種。 本發(fā)明具體地但是絕對不是以排它的方式涉及用于以高呑吐量對低等級開采的材料進行分類的方法和設(shè)備。
      背景技術(shù)
      本發(fā)明不限于任何特定類型的電磁輻射。申請人的當前焦點是在電磁輻射光譜的微波能帯。然而,在申請人關(guān)注的且已經(jīng)是申請人工作的主題的電磁輻射光譜中的選擇范圍中的兩種其它選擇是射頻輻射和X-射線輻射。開采的材料可以為包含貴重材料比如貴重金屬的任何開采的材料。貴重材料的示例為諸如包含金屬氧化物或金屬硫化物的礦物中的貴重金屬。包含金屬氧化物的貴重材料的具體示例為鐵礦石和鎳紅土。包含金屬硫化物的貴重材料的具體示例為含銅礦石。貴重材料的另ー示例為鹽。術(shù)語“開采”的材料在本文中理解為包括但不限于(a)原礦材料和(b)在材料被開采之后且在分類之前經(jīng)受至少初級破碎或類似的尺寸減小的原礦材料。開采的材料包括在儲備中的開采的材料。申請人:所關(guān)注的具體領(lǐng)域為以采出礦石形式的開采的材料,其包括諸如黃銅礦的含銅礦物,以硫化物形式。本發(fā)明具體地但絕不僅適用于對低等級開采的材料進行分類。術(shù)語“低”等級在本文中理解為指開采的材料中諸如金屬的貴重材料的經(jīng)濟價值僅勉強大于開采和回收貴重材料以及將貴重材料運輸至客戶的成本。在任何給定的情形中,被認為是“低”等級的濃度將取決于貴重材料的經(jīng)濟價值以及在特定點及時從開采的材料中回收貴重材料的開采和其它成本。貴重材料的濃度可相對較高,但仍被認為是“低”等級。這是鐵礦的情況。在貴重材料為硫化銅礦物形式的情形中,當前“低”等級的礦石為礦石中包含的銅按重量小于I. 0%、典型小于0. 6wt. %的原礦石。從礦石中的貧瘠碎片中分類具有這種低濃度銅的貴重材料的碎片從技術(shù)觀點來看是很有挑戰(zhàn)性的任務(wù),尤其是在需要對很大量的礦石,典型至少10,000噸每小時的礦石進行分類的情形中,以及在貧瘠碎片表現(xiàn)出比包含經(jīng)濟上可回收的銅的礦石小的礦石比例的情形中。術(shù)語“貧瘠”碎片在用于含銅礦石的上下文中時在本文被理解為指沒有銅或者不能夠從碎片中經(jīng)濟地回收的很少量的銅的碎片。術(shù)語“貧瘠”碎片在用于貴重材料的上下文中的更為普遍的意思時在本文被理解為指沒有貴重材料 或者有不能夠從碎片中經(jīng)濟地回收的貴重材料的量的碎片。申請人:開發(fā)ー種自動分類設(shè)備,該設(shè)備處理以低等級含銅礦石形式的開采的材料。一般地說,處理這種給料礦石包括以下分離的步驟(a)激發(fā)給料礦石內(nèi)的目標材料,(b)基于礦物成分或織構(gòu)或其它特性識別礦石碎片,以及(C)物理分離目標碎片。申請人:已知的自動礦石分類設(shè)備已經(jīng)受限于低吞吐量、高等級和/或自識別系統(tǒng)。在這些低呑吐量分類系統(tǒng)中使用的一般方法是將礦石碎片輸送通過在水平帶上的設(shè)備。對于申請人的技術(shù)開發(fā)路徑來說問題涉及以低濃度和高呑吐量檢測礦化作用。礦化作用的低濃度檢測能夠通過利用電磁輻射選擇性地激發(fā)目標礦物來解決。然而,該方法需要使用“施用器”(其中電磁輻射能夠以可控方式施加到碎片)。一般地,施用器為使分類設(shè)備和分類方法復雜化的単獨裝置。上述說明不應被理解為對澳大利亞或其它地方的公知常識的承認。

      發(fā)明內(nèi)容
      根據(jù)本發(fā)明,提供一種用于對開采的材料比如開采的礦石進行分類的設(shè)備,其包括(a)室,該室用于使待分類的材料的碎片暴露到電磁輻射,其中該室包括用于使碎片從室的上入口向下且向外移動到室的下出口的內(nèi)壁,(b)檢測系統(tǒng),該檢測系統(tǒng)用于在碎片已經(jīng)暴露到電磁輻射之后評估碎片的ー個或多個的特性,以及(C)分類裝置,該分類裝置用于響應于檢測系統(tǒng)的評估而將碎片分離成多個分類流。在使用中,給料礦石的碎片被供應到暴露室的上入口并滑動、翻滾或者以其它方式沿所述室的內(nèi)壁向下移動。給料礦石碎片在其沿內(nèi)壁向下移動時暴露于電磁輻射。內(nèi)壁使給料礦石碎片從上入口在內(nèi)壁表面上向下且向外分配。給料礦石碎片的向下下落的幕從暴露室的下出口排出。檢測系統(tǒng)評估在碎片幕中的給料礦石碎片的ー個或多個的特性。分類裝置基于該評估對給料礦石碎片進行分類。該布置使得以高吞吐量處理給料礦石成為可能,且給料礦石碎片的幕為方便用于高吞吐量分析以及隨后的碎片分離的形式。術(shù)語“碎片”在本文理解為指顧及到設(shè)備的材料操作和處理能力的任何合適尺寸的開采的材料,所述設(shè)備用于執(zhí)行與檢測足夠的信息以對碎片中的開采的材料進行精確評估相關(guān)的該方法和問題。暴露室可形成為使得碎片作為分離碎片而向下且向外移動穿過室。暴露室可適合于將碎片作為向下下落的幕從下出口排出,其中幕中的碎片作為分離碎片移動。暴露室的內(nèi)壁可為倒置的內(nèi)圓錐形表面。內(nèi)圓錐形表面可限定與水平軸線成的任何合適的角度。內(nèi)圓錐形表面可限定與水平軸線成至少30°的角度。內(nèi)圓錐形表面可限定與水平軸線成至少45°的角度。內(nèi)圓錐形表面可限定與水平軸線成小于75°的角度。暴露室的內(nèi)壁可為傾斜的板。該板可為平板。
      平板的角度可為與水平軸線成的任何合適的角度。暴露室可包括從內(nèi)壁向外間隔開的外壁。在暴露室的內(nèi)壁包括倒置的內(nèi)圓錐形表面的布置的情形中,暴露室的外壁可具有倒置的外圓錐形表面,該外圓錐形表面與內(nèi)圓錐形表面同軸,使得暴露室在內(nèi)壁和外壁之間限定圓錐環(huán)形空間。在暴露室中使用的電磁輻射可為任何合適的輻射。例如,輻射可為X-射線、微波和射頻輻射。電磁輻射可為脈沖或連續(xù)電磁輻射。在暴露室中,可基于關(guān)于開采的材料和用于開采的材料的下游處理選擇的已知信息選擇暴露參數(shù),比如輻射類型和暴露的長度以及輻射能量。檢測系統(tǒng)可包括用于檢測每個碎片對電磁輻射的響應、比如熱響應的傳感器。檢測系統(tǒng)可包括至少ー個另外的傳感器,用于檢測碎片的別的特性。其它特性可包括碎片的硬度、織構(gòu)、結(jié)構(gòu)完整性和孔隙度中的任ー個或多個。檢測系統(tǒng)可包括處理器,該處理器用于分析對每個碎片感測的數(shù)據(jù),例如利用考慮感測數(shù)據(jù)的算法分析,并且對碎片進行歸類以用于碎片的分類和/或下游處理,比如堆浸和熔煉。碎片的評估可基于碎片中貴重金屬的等級。碎片的評估可基于碎片的別的特性(其也可描述為性能),比如碎片的硬度、織構(gòu)、結(jié)構(gòu)完整性和孔隙度中的ー個或多個。一般來說,碎片評估的目的是方便碎片的分類和/或碎片的下游處理。該設(shè)備可適合于以任何合適的吞吐量來對開采的材料進行分類。在任何給定情形中所需的吞吐量取決于一系列因素,包括但不限于上游和下游操作的操作需求。設(shè)備可適合于進行每小時至少100噸的開采的材料的分類。設(shè)備可適合于進行每小時至少500噸的開采的材料的分類。 開采的材料可為含銅礦石。含銅礦石可為低等級礦石。含銅礦石可包含黃銅礦。根據(jù)本發(fā)明,提供一種用于對開采的材料比如開采的礦石進行分類的方法,其包括以下步驟(a)當碎片穿過用于對開采的材料進行分類的設(shè)備的暴露室從室的上入口向下且向外移動到室的下出口吋,將開采的材料的各個碎片暴露到電磁輻射;(b)檢測碎片的ー個或多個的特性,
      (C)評估碎片的特性,以及(d)響應于檢測系統(tǒng)的評估,而將碎片分類成多個流。步驟(a)可包括使碎片作為分離的碎片向下且向外移動穿過暴露室;以及當碎片移動芽過暴露室時使碎片暴露到電磁福射。
      步驟(b)可包括檢測每個碎片對暴露于電磁輻射的響應,比如熱響應。步驟(b)不限于檢測開采的材料的碎片對電磁輻射的響應,并且延伸到檢測碎片的額外特性。例如,步驟(b)延伸到使用以下傳感器中的任一個或多個來檢測開采的材料的特性(i)近紅外光譜(“NIR”)傳感器,(ii)光學傳感器,(iii)聲波傳感器(用于浸出和研磨尺寸的內(nèi)部結(jié)構(gòu)),(iv)激光誘導光譜(“LIBS”)傳感器,和(V)磁性能傳感器。步驟(C)可包括評估每個碎片對暴露于電磁輻射的響應以識別碎片中的貴重材料。該方法可包括將從步驟(d)中分類的材料進行粉碎的步驟,作為用于從開采的材料中回收貴重礦物的預處理步驟。該方法可包括將從步驟(d)中分類的材料進行混合的步驟,作為用于從開采的材料中回收貴重礦物的預處理步驟。該方法可包括使用對每個碎片感測的數(shù)據(jù)作為用于下游處理選擇的前饋信息且作為上游開采和處理選擇的反饋信息,下游處理選擇比如浮選和粉碎。該方法可包括上游開采和處理選擇。上游開采和處理選擇可包括預分類步驟。上游開采和處理選擇可包括鉆孔和爆破操作、開采操作的定位和破碎操作。該方法可包括進行每小時至少100噸的開采的材料的分類。該方法可包括進行每小時至少500噸的開采的材料的分類。根據(jù)本發(fā)明,還提供一種用于從開采的材料比如開采礦石中回收貴重材料比如貴重金屬的方法,其包括根據(jù)上述方法對開采的材料進行分類;并且之后處理包含貴重材料的碎片并回收貴重材料。該方法可包括進行每小時至少100噸的開采的材料的分類。該方法可包括進行每小時至少500噸的開采的材料的分類。用于分類的碎片的處理選擇可為任何合適的選擇,比如熔煉和浸出選擇。


      進ー步通過舉例參考附圖來說明本發(fā)明,該附圖示意性地示出根據(jù)本發(fā)明的分類設(shè)備的關(guān)鍵部件的一個實施例的垂直橫截面。
      具體實施例方式在從低等級含銅礦石中回收銅形式的貴重金屬的方法和設(shè)備的背景下描述實施例,其中銅存在于含銅礦物比如黃銅礦中且礦石還包含非貴重脈石。該實施例中方法的目標是識別包含高于一定等級的含銅礦物的量的開采的材料的碎片并且根據(jù)需要處理含銅碎片以從碎片中回收銅。應注意,盡管以下描述沒有專注于下游處理選擇,但是這些選擇為從熔煉到浸出碎片的范圍的任何合適的選擇。還應注意,本發(fā)明不限于含銅礦石,并且不限于作為待回收的貴重材料的銅。一般而言,本發(fā)明提供對任何當暴露到電磁輻射時展現(xiàn)出不同熱響應的礦物進行分類的方法。還應注意,本文使用的術(shù)語“碎片”可被本領(lǐng)域技術(shù)人員理解為更好地描述為“顆粒”。本發(fā)明將兩個術(shù)語用作同義詞。參考附圖,已經(jīng)由初級破碎機(未示出)破碎成10-25cm碎片尺寸的含銅礦石碎片形式的給料材料經(jīng)由向下延伸的傳送溜槽3 (或者其它合適的傳送裝置)供應到通常由數(shù)字7表示并在下面進ー步描述的微波輻射處理站,井隨著碎片穿過處理站7的截頭錐形環(huán)形暴露室5向下移動而以逐個碎片為基礎(chǔ)受到微波輻射。當穿過暴露室5時,由于(a)暴露于微波能和(b)碎片的特性(比如成分和織構(gòu))而從碎片發(fā)出的輻射由捕捉碎片的熱像的高分辨率、高速紅外成像儀(未示出)檢測。盡管ー個熱成像儀是足夠的,但是可使用兩個或更多個熱成像儀來完全覆蓋碎片表面。注意,本 發(fā)明不限于使用這種高分辨率、高速紅外成像儀。還應注意,本發(fā)明不限于檢測碎片對微波能的熱響應并延伸到檢測其它類型的響應。此外,一個或多個可見光照相機(未示出)捕捉碎片的可見光成像,以允許確定碎片尺寸。本發(fā)明還延伸到使用其它檢測器來檢測碎片的其它特性,比如織構(gòu)。相對于碎片尺寸,從檢測的熱點(像素)的數(shù)量、溫度、其分布的圖案和其累積區(qū)域,可以估計觀察的巖石碎片的等級??赏ㄟ^該數(shù)據(jù)與前面建立的特定等級和尺寸的巖石碎片的微波誘導熱性能之間的關(guān)系的比較來支持該估計和/或量化多種礦物含量。利用配備有圖像處理和其它相關(guān)軟件的計算機(未示出)來處理由熱成像儀和可見光照相機收集的圖像。軟件設(shè)計成處理由熱成像儀和可見光照相機感測的數(shù)據(jù),以評估碎片,來進行分類和/或下游處理選擇。在任何給定情形中,軟件可設(shè)計成根據(jù)與數(shù)據(jù)相關(guān)的性能的相關(guān)重要性來加權(quán)不同數(shù)據(jù)。一旦通過計算機完成熱分析和可見光分析并評估每個碎片,將碎片分離到兩個(或者可能更多)類型中的ー個中。碎片從暴露室5自由下落,并借助于壓縮空氣射流(或者其它合適的流體射流,比如水射流,或者任何合適的機械裝置,比如機械擋板)而分離到環(huán)形收集箱17、19內(nèi),隨著碎片在來自暴露室5的下端的自由下落軌跡中移動,該壓縮空氣射流選擇性地偏轉(zhuǎn)該碎片。空氣射流噴嘴由數(shù)字13表示??諝馍淞鬟x擇性地將碎片偏轉(zhuǎn)到兩個環(huán)形碎片幕中,碎片自由下落到收集箱17、19內(nèi)。熱分析識別每個碎片的位置并且在碎片作為待偏轉(zhuǎn)的碎片被分析之后空氣射流被致動預定時間。處理站7包括上述的截頭錐形暴露室5。暴露室5包括具有倒置的內(nèi)圓錐表面11的內(nèi)壁,用于使顆粒滑動、翻滾或以其它方式從暴露室5的上中心入口 23向下和向外移動至暴露室5的下環(huán)形出口 25。內(nèi)圓錐形表面11描述了與水平軸線成60°的角度a。內(nèi)圓錐形表面11被具有第二同心的外倒置圓錐形表面15的外壁罩住。環(huán)形暴露室5起到施用器的作用。該布置使得供應到上中心入口 23的給料材料滑動、翻滾或以其它方式沿內(nèi)圓錐形表面11向下移動。內(nèi)圓錐形表面11將給料材料的碎片向下并向外分布在表面11上使得碎片相互分離并且作為分離碎片移動。這是用于操作高呑吐量的給料材料并使得以逐個碎片為基礎(chǔ)處理材料成為可能的有效布置。
      在射頻帶中的電磁輻射的情形中該設(shè)備具有特定的優(yōu)點,其中內(nèi)圓錐形表面11和外圓錐形表面15電氣地隔離,并構(gòu)造成形成射頻施用器的平行電極。微波輻射可為連續(xù)輻射或脈沖輻射的形式??稍诒仍谒槠挟a(chǎn)生微細裂縫所需的功率密度低的功率密度下施加微波輻射。在任何情況下,關(guān)于需要的信息來選擇微波處理站7的微波頻率和微波強度以及碎片暴露時間和其它操作參數(shù)。所需的信息為評估特定的開采的材料以進行碎片的分類和/或下游處理所需的信息。在任何給定的情形中,將存在特性的特別組合,比如等級、礦物學、硬度、織構(gòu)、結(jié)構(gòu)完整性和孔隙度,所述特性的特別組合將提供必須的信息以作出關(guān)于碎片的分類和/或下游處理的明智決定,例如適合特定的下游處理選擇的分類標準。可能存在除上面提到的定位在微波暴露室5內(nèi)和/或下游的熱成像儀和可見光照 相機之外的一系列其它傳感器(未示出),以根據(jù)把碎片進行歸類以進行分類和/或下游處理選擇所需的信息來檢測碎片的其它特性。在ー種操作模式中,熱分析基于在閾值溫度以上和以下的碎片之間的區(qū)分。碎片隨后能夠被歸類為“較熱”和“較冷”碎片。碎片溫度與碎片中銅礦物的量有夫。因此,如果已經(jīng)給定尺寸范圍并在給定條件下進行加熱的碎片包含至少“y”質(zhì)量百分比的銅,則該碎片將具有溫度増加到超過閾值溫度以上“X”度的溫度。能夠初始地基于經(jīng)濟因素來選擇井隨這些因素改變而調(diào)節(jié)閾值溫度。在暴露于射頻輻射時貧瘠碎片將通常不被加熱到超過閾值溫度的溫度。在本實例中,主要分類標準是碎片中銅的等級,其中臨界等級以上的碎片被分離到收集箱19內(nèi),且臨界等級以下的碎片被分離到收集箱17內(nèi)。箱19中的貴重碎片隨后被處理以從碎片回收銅。例如,箱19中的貴重碎片被傳送以進行包括碾磨和浮選的下游處理以形成精礦并隨后處理精礦來回收銅。收集箱17中的碎片可變?yōu)楦碑a(chǎn)物廢物流,并以合適的方式處置。并非總是這樣的情況。碎片具有較低濃度的銅礦物并且對于回收來說可以是足夠貴重的。在該情形中,較冷的碎片可被轉(zhuǎn)移到合適的回收エ序,比如浸出。本發(fā)明的優(yōu)點包括以下優(yōu)點 碎片取向在碎片在暴露室5中向下且向外移動期間改變(許多礦石具有特定取向的礦化作用,使其對電磁輻射不能透過)?;趲У南到y(tǒng)的特征在于固定的碎片取向,通過碎片沿內(nèi)錐體向下滑動將改變?nèi)∠蛞虼瞬灰资苋∠蜃饔糜绊憽?分散。較高的固體加載改善施用器的操作。然而,在常規(guī)的帶系統(tǒng)中,這被下游需求折中。為了最小化分離誤差,碎片需要以分散的方式被提供到檢測和分離單元(典型地一個碎片直徑與相鄰的碎片分離)。在水平帶系統(tǒng)中,這產(chǎn)生強度約束,因為帶寬度和速度具有限制。在本發(fā)明中,滑動、翻滾或以其它方式沿暴露室的內(nèi)壁向下移動的碎片連續(xù)地加速,因此可以在錐體的頂部具有高的強度(對于電磁輻射暴露是有益的)以及分散的(通過增加錐體直徑水平地且通過重力加速度垂直地)分布以進行檢測和分離階段。 處理強度(噸/h/m2平面面積)。為了可行的高呑吐量,分類機需要高強度。與帶系統(tǒng)不同,本發(fā)明能夠具有較高的材料呑吐量,至少100噸每小時,因為其不受諸如帶速度和負荷的機械問題限制。大部分主巖部位受平面區(qū)域可利用性限制,因此垂直處理增加可行性。施用器和加速、提供、檢測、分離階段能夠被并入?yún)g一裝置/空間。 機械地且電磁地簡化。本發(fā)明總的來說提供較少的移動部件,且在施用器中沒有移動部件,并且簡化電磁和機械設(shè)計。 規(guī)模經(jīng)濟性。本發(fā)明能夠容易地測量到非常大的尺寸,以產(chǎn)生高容量模塊。常規(guī)基于帶的系統(tǒng)實際上沒有規(guī)模潛力經(jīng)濟性且實際上也限制了各個帶寬度。 柔性階段處理。用于通過電磁輻射誘導的分類的溫度標記可被保存許多秒。垂直取向的同心錐體的實施例非常適合于堆疊(級聯(lián))且因此,可利用單個施用器來實施多個檢測分離階段以最小化分離誤差。 密閉通過上述實施例的同軸錐體方法更容易地實現(xiàn)灰塵、噪音和電磁輻射密閉,其中所有活動在環(huán)形空間中進行。該布置對于提高過程所識別的環(huán)境控制也是更有益的。在微波頻率下電磁輻射的情形中,實施例的沿給料管向下到錐體頂端的塞式流動起到 有效的主動扼流器的作用。
      一旦碎片在從暴露室排出之后進入自由下落,碎片滑動或翻滾或者以其它方式沿內(nèi)壁向下移動的旋轉(zhuǎn)賦予碎片扭轉(zhuǎn)運動。因為檢測通常以自由下落的顆粒來完成,所以實施例的錐體方法和賦予的扭轉(zhuǎn)可通過給出更多用于檢測的表面來提高該步驟的質(zhì)量。在不偏離本發(fā)明的精神和范圍的情況下可對上述的本發(fā)明的實施例作出許多修改。例如,盡管實施例描述了圓錐環(huán)形空間形式的暴露室5,但是本發(fā)明不限于此且延伸到方便碎片從室5的上入口 23向下且向外移動的任何布置。一種這樣的其它布置為傾斜的板。通過進ー步舉例,盡管實施例包括居中定位的垂直傳送溜槽3,但是本發(fā)明不限于此且延伸到方便碎片移動到暴露室5的上入口 23的任何布置。
      權(quán)利要求
      1.一種用于對開采的材料進行分類的設(shè)備,所述開采的材料例如為開采的礦石,所述設(shè)備包括 (a)室,所述室用于使待分類的材料的碎片暴露于電磁輻射,其中所述室包括用于使碎片從所述室的上入口向下且向外地移動到所述室的下出口的內(nèi)壁, (b)檢測系統(tǒng),所述檢測系統(tǒng)用于在所述碎片已經(jīng)暴露于電磁輻射之后評估所述碎片的一個或多于一個的特性,以及 (C)分類裝置,所述分類裝置用于響應于所述檢測系統(tǒng)的評估而將所述碎片分成多個分類流。
      2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的設(shè)備,其中,所述暴露室被形成為使得所述碎片作為分離碎片向下且向外地移動穿過所述室。
      3.根據(jù)權(quán)利要求I或權(quán)利要求2所述的設(shè)備,其中,所述暴露室的內(nèi)壁包括倒置的內(nèi)圓錐形表面。
      4.根據(jù)權(quán)利要求I或權(quán)利要求2所述的設(shè)備,其中,所述暴露室的內(nèi)壁包括傾斜的板。
      5.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項所述的設(shè)備,其中,所述暴露室包括從所述內(nèi)壁向外間隔開的外壁。
      6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的設(shè)備,其中,在所述暴露室的內(nèi)壁包括倒置的內(nèi)圓錐形表面的布置的情形中,所述暴露室的外壁包括倒置的外圓錐形表面,所述外圓錐形表面與所述內(nèi)圓錐形表面同軸,使得所述暴露室在所述內(nèi)壁和所述外壁之間限定圓錐環(huán)形空間。
      7.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項所述的設(shè)備,其中,所述電磁輻射包括X-射線、微波和射頻輻射中的任一種。
      8.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項所述的設(shè)備,其中,所述電磁輻射包括脈沖或連續(xù)電磁輻射。
      9.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項所述的設(shè)備,其中,所述檢測系統(tǒng)包括用于檢測每個碎片對電磁輻射的響應的傳感器,所述響應例如為熱響應。
      10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的設(shè)備,其中,所述檢測系統(tǒng)包括至少一個其它的傳感器,所述其它的傳感器用于檢測所述碎片的另外的特性,所述碎片的所述另外的特性包括碎片的硬度、織構(gòu)、結(jié)構(gòu)完整性和孔隙度中的任一個或多個。
      11.根據(jù)權(quán)利要求9或權(quán)利要求10所述的設(shè)備,其中,所述檢測系統(tǒng)包括處理器,所述處理器用于分析對于每個碎片感測的數(shù)據(jù),例如利用考慮感測的數(shù)據(jù)的算法來分析,并且對所述碎片進行歸類以用于對所述碎片進行分類和/或下游處理。
      12.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項所述的設(shè)備,其中,所述設(shè)備適合于進行每小時至少100噸的開采的材料的分類。
      13.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項所述的設(shè)備,其中,所述設(shè)備適合于進行每小時至少500噸的開采的材料的分類。
      14.一種對開采的材料進行分類的方法,所述開采的材料例如為開采的礦石,所述方法包括以下步驟 (a)當所述開采的材料的各個碎片穿過用于對開采的材料進行分類的設(shè)備的暴露室從所述室的上入口向下且向外地移動到所述室的下出口時,將所述碎片暴露到電磁輻射; (b)檢測所述碎片的一個或多于一個的特性,(C)評估所述碎片的特性,以及 (d)響應于檢測系統(tǒng)的評估,將所述碎片分類成多個流。
      15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的方法,其中,步驟(a)包括使所述碎片作為分離碎片向下且向外地移動穿過所述暴露室;以及當所述碎片移動穿過所述暴露室時,使所述碎片暴露到電磁輻射。
      16.根據(jù)權(quán)利要求14或權(quán)利要求15所述的方法,其中,步驟(b)包括檢測每個碎片對暴露于電磁輻射的響應,所述響應例如為熱響應。
      17.根據(jù)權(quán)利要求14至16中任一項所述的方法,其中,步驟(c)包括評估每個碎片對暴露于電磁輻射的響應,以識別所述碎片中的貴重材料。
      18.根據(jù)權(quán)利要求14至17中任一項所述的方法,包括將從步驟(d)中分類的材料進行粉碎的步驟,作為用于從開采的材料中回收貴重礦物的預處理步驟。
      19.根據(jù)權(quán)利要求14至18中任一項所述的方法,包括將從步驟(d)中分類的材料進行混合的步驟,作為用于從開采的材料中回收貴重礦物的預處理步驟。
      20.根據(jù)權(quán)利要求14至19中任一項所述的方法,包括使用對于每個碎片感測的數(shù)據(jù)作為用于下游處理選擇的前饋信息且作為上游開采和處理選擇的反饋信息,所述下游處理選擇例如為浮選和粉碎。
      21.根據(jù)權(quán)利要求14至20中任一項所述的方法,包括進行每小時至少100噸的開采的材料的分類。
      22.根據(jù)權(quán)利要求14至21中任一項所述的方法,包括進行每小時至少500噸的開采的材料的分類。
      23.一種用于從開采的材料中回收貴重材料的方法,所述貴重材料例如為貴重金屬,所述開采的材料例如為開采的礦石,所述方法包括根據(jù)權(quán)利要求14至22中任一項所述方法對開采的材料進行分類;并且之后處理包含貴重材料的碎片并回收貴重材料。
      24.根據(jù)權(quán)利要求23所述的方法,其中,用于分類的碎片的處理選擇包括熔煉和浸出選擇。
      全文摘要
      公開了用于對開采的材料比如開采的礦石進行分類的方法和設(shè)備。該設(shè)備包括室,其用于使待分類的材料的碎片暴露到電磁輻射,其中該室包括用于使碎片從室的上入口向下且向外移動到室的下出口的內(nèi)壁。該設(shè)備還包括用于評估碎片的一個或多個特性的檢測系統(tǒng)。該設(shè)備還包括分類裝置,其用于響應于檢測系統(tǒng)的評估而將碎片分離成多個流。
      文檔編號B07B13/00GK102869459SQ201180021542
      公開日2013年1月9日 申請日期2011年4月28日 優(yōu)先權(quán)日2010年4月28日
      發(fā)明者格朗特·阿什利·韋爾伍德, 塞繆爾·金曼 申請人:技術(shù)資源有限公司
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