電子元件作業(yè)單元、作業(yè)方法及其應(yīng)用的作業(yè)設(shè)備的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種電子元件作業(yè)單元、作業(yè)方法及其應(yīng)用的作業(yè)設(shè)備，該作業(yè)單元是在機(jī)臺上設(shè)有至少一移載取放裝置、至少一作業(yè)區(qū)、至少一對位檢查裝置及對位調(diào)整裝置；該移載取放裝置可移動而將待執(zhí)行作業(yè)的電子元件移載至作業(yè)區(qū)位置，該作業(yè)區(qū)設(shè)有供電子元件對位放置的承置座，一對位檢查裝置移動至作業(yè)區(qū)的承置座與移載取放裝置間的位置，以對移載取放裝置上的電子元件及作業(yè)區(qū)的承置座進(jìn)行雙向的位置取像，并將取像資料傳輸至中央控制單元進(jìn)行對比，并進(jìn)一步由對位調(diào)整裝置執(zhí)行對位調(diào)整作業(yè)；如此，利用對位檢查裝置對電子元件及承置座進(jìn)行雙向的位置取像，并經(jīng)由中央控制單元的對比，可使移載取放裝置上的電子元件精準(zhǔn)對位。
【專利說明】電子元件作業(yè)單元、作業(yè)方法及其應(yīng)用的作業(yè)設(shè)備
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種可使移載取放裝置上的電子元件精準(zhǔn)對位放置于作業(yè)區(qū)的承置座內(nèi)，進(jìn)而有效執(zhí)行作業(yè)的電子元件作業(yè)單元、作業(yè)方法及其應(yīng)用的作業(yè)設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)今電子元件正積極朝向小巧輕薄的小體積微接點(diǎn)發(fā)展，因此小體積微接點(diǎn)的電子元件置入于作業(yè)區(qū)的承置件內(nèi)的精準(zhǔn)度要求相當(dāng)高，若精準(zhǔn)度稍有偏差，即使得電子元件無法在承置件內(nèi)有效的執(zhí)行作業(yè)，而降低作業(yè)的品質(zhì)。
[0003]以電子元件的測試分類機(jī)為例，請參閱圖1，其是本 申請人:所申請的中國臺灣專利申請第96149417號可使電子元件精準(zhǔn)對位的移載裝置專利案，該測試分類機(jī)的機(jī)臺上包括有供料裝置10、輸入端輸送裝置11、作業(yè)區(qū)12、輸出端輸送裝置13及收料裝置14 ;輸入端輸送裝置11將供料裝置10上待測的電子元件分別輸送至作業(yè)區(qū)12內(nèi)的供料載具121，作業(yè)區(qū)12內(nèi)的第一、第二收料載具122、123上完測的電子元件，則依據(jù)檢測結(jié)果由輸出端輸送裝置13輸送至收料裝置14分類放置。請參閱圖2，作業(yè)區(qū)12包括有測試站124、取像機(jī)構(gòu)125、位于測試站124—側(cè)的第一收料載具122、位于測試站124另一側(cè)的供料載具121及第二收料載具123、第一移載取放器126及第二移載取放器127 ;其中，該供料載具121的上方設(shè)有復(fù)數(shù)個底面具鏤空孔且用來承置待測電子元件的承座1211，各承座1211配置有復(fù)數(shù)個可為伺服馬達(dá)且呈不同軸向設(shè)置的調(diào)整件1212、1213、1214，而可利用調(diào)整件1212、1213、1214驅(qū)動承座1211作X-Y兩軸向及Θ角的位移，而供料載具121的下方則設(shè)有滑軌組1215，而可于作業(yè)區(qū)12的供料處供輸入端輸送裝置將待測電子元件置入于各承座1211上后，利用滑軌組1215將待測電子元件移載至取像機(jī)構(gòu)125處取像，并以各調(diào)整件1212、1213、1214驅(qū)動承座1211作X-Y兩軸向及Θ角的補(bǔ)償校正，而可精確調(diào)整待測電子元件的擺置，另該第一、二收料載具122、123則供承置完測的電子元件，該第一、二收料載具122、123以固定的方式定位于相對測試站124的相關(guān)位置，以供第一、二移載取放器126、127及輸出端輸送裝置進(jìn)行收料作業(yè)，該平行位于供料載具121側(cè)方的取像機(jī)構(gòu)125，是CXD取像器，并設(shè)置于機(jī)臺的透明臺板下方，且以線路連接信號至中央控制器，在供料載具121移載電子元件至取像機(jī)構(gòu)125處取像后，將取像信號傳輸至中央控制器，且經(jīng)由中央控制器的對比，而運(yùn)算出其偏差量，進(jìn)而命令供料載具121的各承座1211作位置或角度的補(bǔ)償校正，使電子元件精準(zhǔn)正確擺置，以供第一移載取放器126取出并移載置入于測試站124上執(zhí)行檢測作業(yè)。
[0004]該設(shè)計雖然于機(jī)臺的透明臺板下方設(shè)有為CXD取像器的取像機(jī)構(gòu)125，以供供料載具121移載電子元件至該處取像，并令供料載具121的各承座1211作位置或角度的補(bǔ)償校正，使電子元件精準(zhǔn)正確擺置，供第一移載取放器126取出并移載置入于測試站124上執(zhí)行檢測作業(yè)；然而，第一移載取放器126在供料載具121上取出并移載電子元件的過程中，第一移載取放器126將會因本身結(jié)構(gòu)上的誤差或組裝間隙或移動上的定位問題，使得在移動至測試站124時，可能造成電子元件微幅偏移的現(xiàn)象，而無法準(zhǔn)確置入于測試站124，也即該設(shè)計可使電子元件精準(zhǔn)正確擺置于供料載具121，但在第一移載取放器126移載置入于測試站124的重要階段中，卻可能造成電子元件微幅偏移的現(xiàn)象，這種情形對于現(xiàn)今講求小體積微接點(diǎn)的電子元件而言，精準(zhǔn)度稍有偏差，即可能導(dǎo)致無法有效的執(zhí)行作業(yè)，而降低作業(yè)的品質(zhì)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]針對現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明的目的在于:提供一種可使移載取放裝置上的電子元件精準(zhǔn)對位放置于作業(yè)區(qū)的承置座內(nèi)，進(jìn)而有效執(zhí)行作業(yè)的電子元件作業(yè)單元、作業(yè)方法及其應(yīng)用的作業(yè)設(shè)備。
[0006]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:
[0007]一種電子元件作業(yè)單元，其特征在于，包含有:
[0008]作業(yè)區(qū):設(shè)有供待執(zhí)行作業(yè)的電子元件對位放置的承置座，以對該電子元件執(zhí)行預(yù)設(shè)的作業(yè)；
[0009]移載取放裝置:設(shè)有至少一移載取放器，以將待執(zhí)行作業(yè)的電子元件移載至作業(yè)區(qū)的承置座，以及將作業(yè)區(qū)承置座內(nèi)完成作業(yè)的電子元件移出承置座；
[0010]對位檢查裝置:移動至作業(yè)區(qū)的承置座與移載取放器間的位置，以對移載取放器上的電子元件及作業(yè)區(qū)的承置座進(jìn)行位置取像，并將取像資料傳輸至中央控制單元進(jìn)行對比。
[0011]該作業(yè)區(qū)設(shè)有測試電路板，以及于測試電路板上設(shè)有供電子元件對位放置的承置座，承置座內(nèi)并設(shè)有復(fù)數(shù)個連接至電路板的電性接點(diǎn)，以供電子元件對位放置并執(zhí)行電性測試作業(yè)。
[0012]該移載取放裝置至少于作業(yè)區(qū)設(shè)有至少一供料載臺、收料載臺及至少一移動于供料載臺、作業(yè)區(qū)與收料載臺間的移載取放器，該供料載臺并設(shè)有對位調(diào)整裝置，以對電子元件進(jìn)行對位調(diào)整。
[0013]該移載取放裝置是在作業(yè)區(qū)第一側(cè)設(shè)有第一供料載臺及第一收料載臺，在作業(yè)區(qū)第二側(cè)則設(shè)有的第二供料載臺及第二收料載臺，另設(shè)有移動于作業(yè)區(qū)與第一供料載臺及第一收料載臺間的第一移載取放器，以及移動于作業(yè)區(qū)與第二供料載臺及第二收料載臺間的第二移載取放器，該第一供料載臺上具有至少一第一供料承座，以于供料位置承置待執(zhí)行作業(yè)的電子元件，并移動至對應(yīng)作業(yè)區(qū)的側(cè)方位置，該第一收料載臺上具有至少一第一收料承座，并移動至對應(yīng)作業(yè)區(qū)的側(cè)方位置，以承置完成作業(yè)的電子元件并移動至收料位置，該第二供料載臺上具有至少一第二供料承座，以于供料位置承置待執(zhí)行作業(yè)的電子元件，并移動至對應(yīng)作業(yè)區(qū)的側(cè)方位置，該第二收料載臺上具有至少一第二收料承座，并移動至對應(yīng)作業(yè)區(qū)的側(cè)方位置，以承置完成作業(yè)的電子元件并移動至收料位置，該第一移載取放器可移動至第一側(cè)的第一供料載臺位置，以將第一供料載臺上待執(zhí)行作業(yè)的電子元件移載至作業(yè)區(qū)位置，或?qū)⒆鳂I(yè)區(qū)完成作業(yè)的電子元件移載至第一收料載臺上，該第二移載取放器可移動至第二側(cè)的第二供料載臺位置，以將第二供料載臺上待執(zhí)行作業(yè)的電子元件移載至作業(yè)區(qū)位置，或?qū)⒆鳂I(yè)區(qū)完成作業(yè)的電子元件移載至第二收料載臺上。
[0014]還包含在該作業(yè)區(qū)設(shè)有對位調(diào)整裝置，該對位調(diào)整裝置是在承置座的上方架置有調(diào)整平臺，以使移載取放裝置的移載取放器可移載電子元件至調(diào)整平臺位置，而直接于移載取放器上對電子元件進(jìn)行對位調(diào)整，或該對位調(diào)整裝置是在作業(yè)區(qū)架置有由機(jī)械手臂帶動的調(diào)整平臺，以使該調(diào)整平臺移動至移載取放裝置的移載取放器上的電子元件位置，而直接于移載取放器上對電子元件進(jìn)行對位調(diào)整。
[0015]該對位檢查裝置是棱鏡組及CXD取像器，其通過棱鏡組同時對移載取放器上的電子元件及作業(yè)區(qū)的承置座進(jìn)行雙向的位置取像，再由C⑶取像器攝取棱鏡組的影像，而獲致取像資料。
[0016]一種電子元件作業(yè)方法，其特征在于，包含有:
[0017]移入料程序:由移載取放裝置的移載取放器將待執(zhí)行作業(yè)的電子元件移載至對應(yīng)作業(yè)區(qū)的承置座位置；
[0018]取像對比程序:由對位檢查裝置移動至作業(yè)區(qū)的承置座與移載取放器間的位置，以對移載取放器上待執(zhí)行作業(yè)的電子元件及作業(yè)區(qū)的承置座進(jìn)行位置取像，并將取像資料傳輸至中央控制單元進(jìn)行對比；
[0019]置料執(zhí)行作業(yè)程序:由移載取放器將待執(zhí)行作業(yè)的電子元件置入作業(yè)區(qū)的承置座內(nèi)執(zhí)行作業(yè)；
[0020]移出料程序:由移載取放器將完成作業(yè)的電子元件移出作業(yè)區(qū)的承置座。
[0021]該取像對比程序若對比結(jié)果超出誤差值，則進(jìn)一步執(zhí)行對位調(diào)整程序，該對位調(diào)整程序由移載取放器將待執(zhí)行作業(yè)的電子元件重新置入供料載臺，并由供料載臺上的調(diào)整件進(jìn)行對位調(diào)整，完成對位調(diào)整程序后再移入作業(yè)區(qū)，重新進(jìn)行取像對比程序。
[0022]在該取像對比程序前，可先進(jìn)行對位檢查裝置本身水平向精準(zhǔn)度的校對程序，該校對程序由對位檢查裝置對機(jī)臺上的特定位置取像，并將取像資料傳輸至中央控制單元進(jìn)行對比，若對比結(jié)果超出誤差值，發(fā)出警報聲響通知現(xiàn)場人員進(jìn)行調(diào)整校正，或直接以程式計算出補(bǔ)償值，并以該補(bǔ)償值補(bǔ)正后續(xù)正式取像的數(shù)值。
[0023]一種應(yīng)用電子元件作業(yè)單元的作業(yè)設(shè)備，其特征在于，包含有:
[0024]供料裝置:設(shè)于機(jī)臺上，用來承置待執(zhí)行作業(yè)的電子元件；
[0025]收料裝置:設(shè)于機(jī)臺上，用來承置完成作業(yè)的電子元件；
[0026]作業(yè)單元:設(shè)于機(jī)臺上，并設(shè)有至少一根據(jù)權(quán)利要求1所述的作業(yè)區(qū)、移載取放裝置及對位檢查裝置，用來對電子元件執(zhí)行預(yù)設(shè)的作業(yè)；
[0027]輸入端輸送裝置:將供料裝置上待執(zhí)行作業(yè)的電子元件輸送至作業(yè)單元；
[0028]輸出端輸送裝置:將作業(yè)單元上完成測試作業(yè)的電子元件依據(jù)作業(yè)結(jié)果分類放置于收料裝置；
[0029]中央控制裝置:用來控制及整合各裝置作動，以執(zhí)行自動化作業(yè)。
[0030]與現(xiàn)有技術(shù)相比較，本發(fā)明具有的有益效果是:
[0031]本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)一，提供一種電子元件作業(yè)單元及作業(yè)方法，該作業(yè)單元是在機(jī)臺上設(shè)有至少一移載取放裝置、至少一作業(yè)區(qū)、至少一對位檢查裝置及對位調(diào)整裝置；該移載取放裝置可移動而將待執(zhí)行作業(yè)的電子元件移載至作業(yè)區(qū)位置，該作業(yè)區(qū)設(shè)有供電子元件對位放置的承置座，以對電子元件執(zhí)行預(yù)設(shè)的作業(yè)，一對位檢查裝置移動至作業(yè)區(qū)的承置座與移載取放裝置間的位置，以同時對移載取放裝置上的電子元件及作業(yè)區(qū)的承置座進(jìn)行雙向的位置取像，并將取像資料傳輸至中央控制單元進(jìn)行對比，并進(jìn)一步由對位調(diào)整裝置執(zhí)行對位調(diào)整作業(yè)；如此，利用對位檢查裝置同時對電子元件及承置座進(jìn)行雙向的位置取像，并經(jīng)由中央控制單元的對比，在執(zhí)行對位調(diào)整作業(yè)后，即可使移載取放裝置上的電子元件精準(zhǔn)對位放置于作業(yè)區(qū)的承置座內(nèi)，進(jìn)而達(dá)到有效執(zhí)行作業(yè)的實(shí)用效益。
[0032]本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)二，提供一種電子元件作業(yè)單元應(yīng)用的作業(yè)設(shè)備，該作業(yè)設(shè)備包含有供料裝置、收料裝置、作業(yè)單元、輸入端輸送裝置、輸出端輸送裝置及中央控制單元，供料裝置配置于機(jī)臺上，用來容納至少一待執(zhí)行作業(yè)的電子元件，收料裝置配置于機(jī)臺上，用來容納至少一完成作業(yè)的電子元件，作業(yè)單元配置于機(jī)臺上，并設(shè)有至少一移載取放裝置、至少一作業(yè)區(qū)及至少一對位檢查裝置，用來對電子元件執(zhí)行預(yù)設(shè)的作業(yè)，輸入端輸送裝置及輸出端輸送裝置配置于機(jī)臺上，用來將供料裝置上的電子元件輸入作業(yè)單元及自作業(yè)單元輸出電子元件至收料裝置，中央控制單元用來控制及整合各裝置作動，以執(zhí)行自動化作業(yè)，達(dá)到提升作業(yè)效能的實(shí)用效益。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0033]圖1是中國臺灣申請第96149417號專利案于測試分類機(jī)的配置示意圖；
[0034]圖2是中國臺灣申請第96149417號專利案作業(yè)區(qū)的配置示意圖；
[0035]圖3是本發(fā)明作業(yè)單元的配置示意圖；
[0036]圖4是本發(fā)明第二實(shí)施例對位調(diào)整的示意圖；
[0037]圖5是本發(fā)明第三實(shí)施例對位調(diào)整的示意圖；
[0038]圖6是本發(fā)明對位檢查裝置于作業(yè)前調(diào)整校正的示意圖；
[0039]圖7是本發(fā)明作業(yè)單元的動作示意圖(一)；
[0040]圖8是本發(fā)明作業(yè)單元的動作示意圖(二)；
[0041]圖9是本發(fā)明作業(yè)單元取像對比的示意圖；
[0042]圖10是本發(fā)明作業(yè)單元的動作示意圖(三)；
[0043]圖11是本發(fā)明作業(yè)單元置料的示意圖；
[0044]圖12是本發(fā)明作業(yè)單元的動作示意圖(四)；
[0045]圖13是本發(fā)明作業(yè)單元的動作示意圖(五)；
[0046]圖14是本發(fā)明作業(yè)單元應(yīng)用于作業(yè)設(shè)備的配置示意圖。
[0047]附圖標(biāo)記說明:
[0048]現(xiàn)有技術(shù)部分:10_供料裝置；11_輸入端輸送裝置；12_作業(yè)區(qū)；121_供料載具；1211-承座；1212_調(diào)整件；1213_調(diào)整件；1214_調(diào)整件；1215_滑軌組；121_第一收料載具；123-第二收料載具；124-測試站；125-取像機(jī)構(gòu)；126-第一移載取放器；127-第二移載取放器；13-輸出端輸送裝置；14_收料裝置；
[0049]本發(fā)明部分:20_作業(yè)單元；21_移載取放裝置；211_第一供料載臺；2111_第一供料承座；2112-X軸向調(diào)整件；2113-Y軸向調(diào)整件；2114_角度調(diào)整件；212_第一收料載臺；2121_第一收料承座；213_第二供料載臺；2131_第二供料承座；2132_Χ軸向調(diào)整件；2133-Υ軸向調(diào)整件；2134_角度調(diào)整件；214_第二收料載臺；2141_第二收料承座；215_第一移載取放器；216_第二移載取放器；22_作業(yè)區(qū)；221_測試電路板；222_承置座；223_電性接點(diǎn)；23_對位檢查裝置；24_調(diào)整平臺；241-穿槽；242-固定座；243_Χ軸向馬達(dá)；244-第一滑動座；245-Υ軸向馬達(dá)；246_第二滑動座；247_夾持件；248_夾持件；249_馬達(dá)；25-調(diào)整平臺；251-機(jī)械手臂；252-固定座；253_Χ軸向馬達(dá)；254-第一滑動座；255_Υ軸向馬達(dá)；256-第二滑動座；257_夾持件；258_夾持件；259_馬達(dá)；26a_電子元件；26b_電子元件；30_供料裝置；40_輸入端輸送裝置；50_輸出端輸送裝置；60_收料裝置。
【具體實(shí)施方式】
[0050]為使貴審查委員對本發(fā)明作更進(jìn)一步的了解，茲舉一較佳實(shí)施例并配合圖式，詳述如后:
[0051]請參閱圖3，本發(fā)明的作業(yè)單元20是在機(jī)臺上設(shè)有至少一移載取放裝置21、至少一作業(yè)區(qū)22及至少一對位檢查裝置23 ;該移載取放裝置21可移動而將待執(zhí)行作業(yè)的電子元件移載至作業(yè)區(qū)22位置，在本實(shí)施例中，該移載取放裝置21包括有位于作業(yè)區(qū)22第一側(cè)的第一供料載臺211及第一收料載臺212、位于作業(yè)區(qū)22第二側(cè)的第二供料載臺213及第二收料載臺214、移動于作業(yè)區(qū)22與第一供料載臺211及第一收料載臺212間的第一移載取放器215以及移動于作業(yè)區(qū)22與第二供料載臺213及第二收料載臺214間的第二移載取放器216 ;位于作業(yè)區(qū)22第一側(cè)的第一供料載臺211上具有至少一第一供料承座2111，以于供料位置承置待執(zhí)行作業(yè)的電子元件，并可移動至對應(yīng)作業(yè)區(qū)22的側(cè)方位置，第一收料載臺212上具有至少一第一收料承座2121，并可移動至對應(yīng)作業(yè)區(qū)22的側(cè)方位置，以承置完成作業(yè)的電子元件并移動至收料位置，位于作業(yè)區(qū)22第二側(cè)的第二供料載臺213上具有至少一第二供料承座2131，以于供料位置承置待執(zhí)行作業(yè)的電子元件，并可移動至對應(yīng)作業(yè)區(qū)22的側(cè)方位置，第二收料載臺214上具有至少一第二收料承座2141，并可移動至對應(yīng)作業(yè)區(qū)22的側(cè)方位置，以承置完成作業(yè)的電子元件并移動至收料位置，第一移載取放器215可移動至第一側(cè)的第一供料載臺211位置，以將第一供料載臺211上待執(zhí)行作業(yè)的電子元件移載至作業(yè)區(qū)22位置，或?qū)⒆鳂I(yè)區(qū)22完成作業(yè)的電子元件移載至第一收料載臺212上，第二移載取放器216可移動至第二側(cè)的第二供料載臺213位置，以將第二供料載臺213上待執(zhí)行作業(yè)的電子元件移載至作業(yè)區(qū)22位置，或?qū)⒆鳂I(yè)區(qū)22完成作業(yè)的電子元件移載至第二收料載臺214上；至少一作業(yè)區(qū)22，作業(yè)區(qū)22可供置入待執(zhí)行作業(yè)的電子元件，以對該電子元件執(zhí)行預(yù)設(shè)的作業(yè)，該預(yù)設(shè)的作業(yè)可以為印刷、模壓、外觀檢測或電性測試等，在本實(shí)施例中該作業(yè)區(qū)22執(zhí)行電性測試作業(yè)，而于作業(yè)區(qū)22內(nèi)設(shè)有測試電路板221，以及于測試電路板221上設(shè)有供電子元件對位放置的承置座222，由于本實(shí)施例為執(zhí)行電性測試作業(yè)，承置座222內(nèi)并設(shè)有復(fù)數(shù)個連接至電路板221的電性接點(diǎn)223，以供電子元件的接腳或錫球電性接觸該電性接點(diǎn)223 ;為了使第一移載取放器215或第二移載取放器216可以準(zhǔn)確的將電子元件放置于承置座222內(nèi)，并使電子元件的接腳或錫球可以精準(zhǔn)的電性接觸承置座222內(nèi)的電性接點(diǎn)223，本發(fā)明設(shè)有至少一對位檢查裝置23，該對位檢查裝置23是棱鏡組及CXD取像器，并可移動至作業(yè)區(qū)22的承置座222與第一移載取放器215或與第二移載取放器216間的位置，本發(fā)明的對位檢查裝置23由于裝設(shè)有棱鏡組，因此可通過棱鏡組同時對第一移載取放器215或第二移載取放器216上的電子元件及作業(yè)區(qū)22的承置座222進(jìn)行雙向的位置取像，再由C⑶取像器攝取棱鏡組的影像，而獲致取像資料，最后再將該取像資料傳輸至中央控制單元(圖式未示)進(jìn)行對比，此外，本發(fā)明的對位檢查裝置23當(dāng)然也可分別對第一移載取放器215或第二移載取放器216上的電子元件及作業(yè)區(qū)22的承置座222進(jìn)行各別位置的取像，以獲致取像資料，再將該取像資料傳輸至中央控制單元進(jìn)行對比；不論同時取像或各別取像，若中央控制單元對比結(jié)果超出誤差值，則進(jìn)一步執(zhí)行對位調(diào)整作業(yè)，本發(fā)明對位調(diào)整裝置的第一實(shí)施例，是在第一供料載臺211設(shè)有X、Y軸向及角度調(diào)整件2112、2113、2114，第二供料載臺213上也分別設(shè)有X、Y軸向及角度調(diào)整件2132、2133、2134，第一移載取放器215及第二移載取放器216可將電子元件重新分別置入第一供料載臺211及第二供料載臺213上，以手動或自動控制的方式，由第一供料載臺211上的X、Y軸向及角度調(diào)整件2112、2113、2114或第二供料載臺213上的X、Y軸向及角度調(diào)整件2132、2133、2134進(jìn)行對位調(diào)整；完成對位調(diào)整后再由第一移載取放器215或第二移載取放器216移入作業(yè)區(qū)22，由對位檢查裝置23再次進(jìn)行雙向的位置取像，以使電子元件的接腳或錫球可以精準(zhǔn)的電性接觸承置座222內(nèi)的電性接點(diǎn)223。
[0052]請參閱圖4，本發(fā)明對位調(diào)整裝置的第二實(shí)施例，其可于作業(yè)區(qū)22的承置座222的上方架置多層式的調(diào)整平臺24，該調(diào)整平臺24設(shè)有可供第一移載取放器215、第二移載取放器216及電子元件穿伸的穿槽241，以使電子元件可穿伸置入于承置座222內(nèi)，調(diào)整平臺24下方為固定座242，固定座242上方架設(shè)有一可由X軸向馬達(dá)243驅(qū)動作X軸向滑移的第一滑動座244，第一滑動座244上方再架設(shè)有一可由Y軸向馬達(dá)245驅(qū)動作Y軸向滑移及可由馬達(dá)249驅(qū)動作角度調(diào)整的第二滑動座246，由于多層式的調(diào)整平臺24已為現(xiàn)有的技術(shù)，因此其動作不再贅述，第二滑動座246于對應(yīng)穿槽241處設(shè)有二對向的夾持件247、248，該二夾持件247、248可調(diào)移夾持電子元件，使得第一移載取放器215或第二移載取放器216移載電子元件至對應(yīng)夾持件247、248的穿槽241位置時，二夾持件247、248調(diào)移夾持電子元件后，可利用第一滑動座244及第二滑動座246作X-Y 二軸向的滑移及角度調(diào)整，而使電子兀件在第一移載取放器215或第二移載取放器216上作微量的對位調(diào)整(第一移載取放器215或第二移載取放器216保持吸附電子元件的狀態(tài))，使得電子元件可直接于第一移載取放器215或第二移載取放器216上進(jìn)行對位調(diào)整。
[0053]請參閱圖5，本發(fā)明對位調(diào)整裝置的第三實(shí)施例，其可于作業(yè)區(qū)22架置移動式的調(diào)整平臺25，該調(diào)整平臺25設(shè)于一機(jī)械手臂251上，而可由機(jī)械手臂251帶動作X-Y-Z三軸向的移動，該調(diào)整平臺25下方為固定座252，固定座252上方架設(shè)有一可由X軸向馬達(dá)253驅(qū)動作X軸向滑移的第一滑動座254，第一滑動座254上方再架設(shè)有一可由Y軸向馬達(dá)255驅(qū)動作Y軸向滑移及可由馬達(dá)259驅(qū)動作角度調(diào)整的第二滑動座256，第二滑動座256上設(shè)有二對向的夾持件257、258，該二夾持件257、258可調(diào)移夾持電子元件，使得第一移載取放器215或第二移載取放器216移載電子元件至對應(yīng)承置座222上方位置或移動路徑中的任何位置時，機(jī)械手臂251可帶動調(diào)整平臺25移動至第一移載取放器215或第二移載取放器216上的電子元件的下方位置，接著機(jī)械手臂251可帶動調(diào)整平臺25上升或由第一移載取放器215或第二移載取放器216帶動電子元件下降，以使調(diào)整平臺25上的二夾持件257,258調(diào)移夾持電子元件，接著可利用第一滑動座254及第二滑動座256作X-Y 二軸向的滑移及角度調(diào)整，而使電子元件在第一移載取放器215或第二移載取放器216上作微量的對位調(diào)整(第一移載取放器215或第二移載取放器216保持吸附電子元件的狀態(tài))，使得電子元件可直接于第一移載取放器215或第二移載取放器216上進(jìn)行對位調(diào)整，完成對位調(diào)整后，機(jī)械手臂251可再帶動調(diào)整平臺25移開，使第一移載取放器215或第二移載取放器216移載電子元件至承置座222內(nèi)。
[0054]請參閱圖6，本發(fā)明于執(zhí)行作業(yè)前，為了確保對位檢查裝置23本身水平向的精準(zhǔn)度，可先進(jìn)行對位檢查裝置23本身水平向精準(zhǔn)度的校對程序，該校對程序由對位檢查裝置23對機(jī)臺上的特定位置(如承置座222框圍)取像，并將取像資料傳輸至中央控制單元進(jìn)行對比，由于中央控制單元所連結(jié)的資料庫內(nèi)儲存有特定位置(如承置座222框圍)的正確取像尺寸，因此對位檢查裝置23在水平度有偏差時，其獲得的取像尺寸相較于資料庫內(nèi)儲存的正確尺寸將會有差異，而可依據(jù)該差異的誤差值判斷對位檢查裝置23水平向的精準(zhǔn)度；若對比結(jié)果超出誤差值，可以發(fā)出警報聲響通知現(xiàn)場人員進(jìn)行調(diào)整校正，或直接以程式依據(jù)該誤差值計算出對位檢查裝置23的傾斜角度，再利用該傾斜角度計算出補(bǔ)償值，并以該補(bǔ)償值補(bǔ)正后續(xù)正式取像的數(shù)值。
[0055]請參閱圖7，本發(fā)明于執(zhí)行作業(yè)時先進(jìn)行移入料程序，其由移載取放裝置21將待執(zhí)行作業(yè)的電子元件移載至對應(yīng)作業(yè)區(qū)22位置，在本實(shí)施例中，移載取放裝置21的第一供料載臺211將第一供料承座2111內(nèi)待執(zhí)行作業(yè)的電子元件26a移載至對應(yīng)作業(yè)區(qū)22的側(cè)方位置，第一移載取放器215并移動至第一供料載臺211上方位置，以吸取待執(zhí)行作業(yè)的電子元件26a。請參閱圖8，接著第一移載取放器215移載待執(zhí)行作業(yè)的電子元件26a至對應(yīng)于作業(yè)區(qū)22的承置座222的上方位置。
[0056]請參閱圖9，本發(fā)明為了使待執(zhí)行作業(yè)的電子元件26a可以精準(zhǔn)對位放置于作業(yè)區(qū)22的承置座222內(nèi)，接著進(jìn)行取像對比程序，在本實(shí)施例中，其由對位檢查裝置23移動至作業(yè)區(qū)22的承置座222與第一移載取放器215之間的位置，以同時對第一移載取放器215上待執(zhí)行作業(yè)的電子元件26a及作業(yè)區(qū)22的承置座222進(jìn)行雙向的取像，在本實(shí)施例中，該對位檢查裝置23對待執(zhí)行作業(yè)的電子元件26a的接腳或錫球與承置座222內(nèi)的電性接點(diǎn)223進(jìn)行雙向的位置取像，本發(fā)明的對位檢查裝置23由于裝設(shè)有棱鏡組，因此可通過棱鏡組同時對第一移載取放器215上待執(zhí)行作業(yè)的電子元件26a及作業(yè)區(qū)22的承置座222進(jìn)行雙向的位置取像，再由CCD取像器攝取棱鏡組的影像，而獲致取像資料，最后再將取像資料傳輸至中央控制單元進(jìn)行對比，此外，本發(fā)明的取像對比程序當(dāng)然也可由對位檢查裝置23分別對第一移載取放器215上的電子元件及作業(yè)區(qū)22的承置座222進(jìn)行各別位置的取像，以獲致取像資料，再將該取像資料傳輸至中央控制單元進(jìn)行對比；不論同時取像或各別取像，如果對比結(jié)果在誤差值內(nèi)，即可進(jìn)行下一作業(yè)程序，若對比結(jié)果超出誤差值，則進(jìn)一步執(zhí)行對位調(diào)整程序，本發(fā)明由于在第一移載取放器215移載待執(zhí)行作業(yè)的電子元件26a至對應(yīng)于作業(yè)區(qū)22的承置座222的上方位置后才進(jìn)行位置取像，也即以對位前的最終位置進(jìn)行取像，而可以排除第一移載取放器215本身結(jié)構(gòu)上的誤差或組裝間隙或移動定位等問題所造成的偏移誤差，進(jìn)而獲致正確的取象樣本；此外當(dāng)對位檢查裝置23移動至作業(yè)區(qū)22的承置座222與第一移載取放器215之間的位置時，在未進(jìn)行取像對比程序前，也可進(jìn)行如圖6所示的對位檢查裝置23的校對程序，而不需于執(zhí)行作業(yè)前進(jìn)行該校對程序。
[0057]請參閱圖10，在完成取像對比程序后，若取像對比程序的對比結(jié)果超出誤差值時，則需進(jìn)一步執(zhí)行對位調(diào)整程序，在本實(shí)施例中，對位調(diào)整程序由第一移載取放器215將待執(zhí)行作業(yè)的電子元件26a重新置入第一供料載臺211，并由第一供料載臺211上對位調(diào)整裝置的X、Y軸向及角度調(diào)整件2112、2113、2114以手動或自動控制的方式進(jìn)行對位調(diào)整程序，完成對位調(diào)整程序后再移入作業(yè)區(qū)22，由對位檢查裝置23再次進(jìn)行雙向的位置取像，以使電子元件的接腳或錫球可以精準(zhǔn)的電性接觸承置座222內(nèi)的電性接點(diǎn)223，此外，對位調(diào)整程序也可由圖4或圖5所示對位調(diào)整裝置的調(diào)整平臺24、25，而直接于第一移載取放器215或第二移載取放器216上進(jìn)行電子元件的對位調(diào)整作業(yè)。[0058]請參閱圖11、圖12，完成取像對比程序后，若對比結(jié)果在誤差值內(nèi)或完成對位調(diào)整程序，則接著進(jìn)行置料執(zhí)行作業(yè)程序，其使第一移載取放器215下降，將待執(zhí)行作業(yè)的電子元件26a置入作業(yè)區(qū)22的承置座222內(nèi)執(zhí)行作業(yè)，本發(fā)明由于在第一移載取放器215將待執(zhí)行作業(yè)的電子元件26a移載至承置座222上方后，先以對位檢查裝置23進(jìn)行取像對比程序，而對第一移載取放器215上待執(zhí)行作業(yè)的電子元件26a及作業(yè)區(qū)22的承置座222進(jìn)行雙向的位置取像，而可有效改善第一移載取放器215因本身結(jié)構(gòu)上的誤差或組裝間隙或移動定位等問題所造成的偏移誤差，使得待執(zhí)行作業(yè)的電子元件26a的接腳或錫球可準(zhǔn)確電性接觸承置座222內(nèi)的電性接點(diǎn)223，以有效的執(zhí)行電性測試作業(yè)，并獲致正確的測試結(jié)果，在本實(shí)施例中，該電性測試作業(yè)采壓測的方式進(jìn)行，其第一移載取放器215上將待執(zhí)行作業(yè)的電子元件26a置入作業(yè)區(qū)22的承置座222內(nèi)后，以第一移載取放器215保持壓抵于待執(zhí)行作業(yè)的電子元件26a的上方，以確保待執(zhí)行作業(yè)的電子元件26a的接腳或錫球可保持電性接觸承置座222內(nèi)的電性接點(diǎn)223。此外，在第一移載取放器215壓抵待執(zhí)行作業(yè)的電子元件26a執(zhí)行電性測試作業(yè)時，第二移載取放器216移動至第二供料載臺213位置，并準(zhǔn)備進(jìn)行移入料程序，而吸取第二供料載臺213內(nèi)另一待執(zhí)行作業(yè)的電子元件26b。
[0059]請參閱圖13，作業(yè)區(qū)22完成電子元件26a的電性測試作業(yè)后，接著進(jìn)行移出料程序，其由移載取放裝置21將完成作業(yè)的電子元件移出作業(yè)區(qū)22，在本實(shí)施例中，其以第一移載取放器215將電子元件26a移出作業(yè)區(qū)22的承置座222，并將電子元件26a移載放置于第一收料載臺212上，第一收料載臺212再將完成作業(yè)的電子元件26a移載至收料位置；此時由于第一移載取放器215已經(jīng)移出作業(yè)區(qū)22，而由第二移載取放器216接替將待執(zhí)行作業(yè)的電子元件26b移載至作業(yè)區(qū)22位置，以進(jìn)行相同的移入料程序、取像對比程序、置料執(zhí)行作業(yè)程序以及移出料程序。
[0060]請參閱圖14，本發(fā)明的作業(yè)單元20應(yīng)用于作業(yè)設(shè)備時，以測試分類機(jī)為例，其是在機(jī)臺上設(shè)有供料裝置30、輸入端輸送裝置40、作業(yè)單元20、輸出端輸送裝置50及收料裝置60 ;輸入端輸送裝置40將供料裝置30上待執(zhí)行測試作業(yè)的電子元件分別輸送至作業(yè)單元20的第一供料載臺211及第二供料載臺213，作業(yè)單元20的第一收料載臺212及第二收料載臺214上完成測試作業(yè)的電子元件，則依據(jù)測試結(jié)果由輸出端輸送裝置50輸送至收料裝置60分類放置，中央控制單元用來控制及整合各裝置作動，以執(zhí)行自動化作業(yè)，達(dá)到提升作業(yè)效能的實(shí)用效益。
[0061]綜上所述，本發(fā)明的作業(yè)單元利用對位檢查裝置，以對電子元件及承置座進(jìn)行雙向的位置取像，并經(jīng)由中央控制單元的運(yùn)算對比，即可使移載取放裝置上的電子元件精準(zhǔn)對位放置于作業(yè)區(qū)的承置座內(nèi)，進(jìn)而可有效的執(zhí)行作業(yè)，并獲致正確的作業(yè)結(jié)果，達(dá)到有效執(zhí)行作業(yè)的實(shí)用效益。
【權(quán)利要求】
1.一種電子元件作業(yè)單元，其特征在于，包含有: 作業(yè)區(qū):設(shè)有供待執(zhí)行作業(yè)的電子元件對位放置的承置座，以對該電子元件執(zhí)行預(yù)設(shè)的作業(yè)； 移載取放裝置:設(shè)有至少一移載取放器，以將待執(zhí)行作業(yè)的電子元件移載至作業(yè)區(qū)的承置座，以及將作業(yè)區(qū)承置座內(nèi)完成作業(yè)的電子元件移出承置座； 對位檢查裝置:移動至作業(yè)區(qū)的承置座與移載取放器間的位置，以對移載取放器上的電子元件及作業(yè)區(qū)的承置座進(jìn)行位置取像，并將取像資料傳輸至中央控制單元進(jìn)行對比。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件作業(yè)單元，其特征在于，該作業(yè)區(qū)設(shè)有測試電路板，以及于測試電路板上設(shè)有供電子元件對位放置的承置座，承置座內(nèi)并設(shè)有復(fù)數(shù)個連接至電路板的電性接點(diǎn)，以供電子元件對位放置并執(zhí)行電性測試作業(yè)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件作業(yè)單元，其特征在于，該移載取放裝置至少于作業(yè)區(qū)設(shè)有至少一供料載臺、收料載臺及至少一移動于供料載臺、作業(yè)區(qū)與收料載臺間的移載取放器，該供料載臺并設(shè)有對位調(diào)整裝置，以對電子元件進(jìn)行對位調(diào)整。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電子元件作業(yè)單元，其特征在于，該移載取放裝置是在作業(yè)區(qū)第一側(cè)設(shè)有第一供料載臺及第一收料載臺，在作業(yè)區(qū)第二側(cè)則設(shè)有的第二供料載臺及第二收料載臺，另設(shè)有移動于作業(yè)區(qū)與第一供料載臺及第一收料載臺間的第一移載取放器，以及移動于作業(yè)區(qū)與第二供料載臺及第二收料載臺間的第二移載取放器，該第一供料載臺上具有至少一第一供料承座，以于供料位置承置待執(zhí)行作業(yè)的電子元件，并移動至對應(yīng)作業(yè)區(qū)的側(cè)方位置，該 第一收料載臺上具有至少一第一收料承座，并移動至對應(yīng)作業(yè)區(qū)的側(cè)方位置，以承置完成作業(yè)的電子元件并移動至收料位置，該第二供料載臺上具有至少一第二供料承座，以于供料位置承置待執(zhí)行作業(yè)的電子元件，并移動至對應(yīng)作業(yè)區(qū)的側(cè)方位置，該第二收料載臺上具有至少一第二收料承座，并移動至對應(yīng)作業(yè)區(qū)的側(cè)方位置，以承置完成作業(yè)的電子元件并移動至收料位置，該第一移載取放器可移動至第一側(cè)的第一供料載臺位置，以將第一供料載臺上待執(zhí)行作業(yè)的電子元件移載至作業(yè)區(qū)位置，或?qū)⒆鳂I(yè)區(qū)完成作業(yè)的電子元件移載至第一收料載臺上，該第二移載取放器可移動至第二側(cè)的第二供料載臺位置，以將第二供料載臺上待執(zhí)行作業(yè)的電子元件移載至作業(yè)區(qū)位置，或?qū)⒆鳂I(yè)區(qū)完成作業(yè)的電子元件移載至第二收料載臺上。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件作業(yè)單元，其特征在于，還包含在該作業(yè)區(qū)設(shè)有對位調(diào)整裝置，該對位調(diào)整裝置是在承置座的上方架置有調(diào)整平臺，以使移載取放裝置的移載取放器可移載電子元件至調(diào)整平臺位置，而直接于移載取放器上對電子元件進(jìn)行對位調(diào)整，或該對位調(diào)整裝置是在作業(yè)區(qū)架置有由機(jī)械手臂帶動的調(diào)整平臺，以使該調(diào)整平臺移動至移載取放裝置的移載取放器上的電子元件位置，而直接于移載取放器上對電子元件進(jìn)行對位調(diào)整。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件作業(yè)單元，其特征在于，該對位檢查裝置是棱鏡組及CCD取像器，其通過棱鏡組同時對移載取放器上的電子元件及作業(yè)區(qū)的承置座進(jìn)行雙向的位置取像，再由CCD取像器攝取棱鏡組的影像，而獲致取像資料。
7.—種電子兀件作業(yè)方法,其特征在于,包含有: 移入料程序:由移載取放裝置的移載取放器將待執(zhí)行作業(yè)的電子元件移載至對應(yīng)作業(yè)區(qū)的承置座位置；取像對比程序:由對位檢查裝置移動至作業(yè)區(qū)的承置座與移載取放器間的位置，以對移載取放器上待執(zhí)行作業(yè)的電子元件及作業(yè)區(qū)的承置座進(jìn)行位置取像，并將取像資料傳輸至中央控制單元進(jìn)行對比； 置料執(zhí)行作業(yè)程序:由移載取放器將待執(zhí)行作業(yè)的電子元件置入作業(yè)區(qū)的承置座內(nèi)執(zhí)行作業(yè)； 移出料程序:由移載取放器將完成作業(yè)的電子元件移出作業(yè)區(qū)的承置座。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的電子元件作業(yè)方法，其特征在于，該取像對比程序若對比結(jié)果超出誤差值，則進(jìn)一步執(zhí)行對位調(diào)整程序，該對位調(diào)整程序由移載取放器將待執(zhí)行作業(yè)的電子元件重新置入供料載臺，并由供料載臺上的調(diào)整件進(jìn)行對位調(diào)整，完成對位調(diào)整程序后再移入作業(yè)區(qū)，重新進(jìn)行取像對比程序。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的電子元件作業(yè)方法，其特征在于，在該取像對比程序前，可先進(jìn)行對位檢查裝置本身水平向精準(zhǔn)度的校對程序，該校對程序由對位檢查裝置對機(jī)臺上的特定位置取像，并將取像資料傳輸至中央控制單元進(jìn)行對比，若對比結(jié)果超出誤差值，發(fā)出警報聲響通知現(xiàn)場人員進(jìn)行調(diào)整校正，或直接以程式計算出補(bǔ)償值，并以該補(bǔ)償值補(bǔ)正后續(xù)正式取像的數(shù)值。
10.一種應(yīng)用電子元件作業(yè)單元的作業(yè)設(shè)備，其特征在于，包含有: 供料裝置:設(shè)于機(jī)臺上，用來承置 待執(zhí)行作業(yè)的電子元件； 收料裝置:設(shè)于機(jī)臺上，用來承置完成作業(yè)的電子元件； 作業(yè)單元:設(shè)于機(jī)臺上，并設(shè)有至少一根據(jù)權(quán)利要求1所述的作業(yè)區(qū)、移載取放裝置及對位檢查裝置，用來對電子元件執(zhí)行預(yù)設(shè)的作業(yè)； 輸入端輸送裝置:將供料裝置上待執(zhí)行作業(yè)的電子元件輸送至作業(yè)單元； 輸出端輸送裝置:將作業(yè)單元上完成測試作業(yè)的電子元件依據(jù)作業(yè)結(jié)果分類放置于收料裝置； 中央控制裝置:用來控制及整合各裝置作動，以執(zhí)行自動化作業(yè)。
【文檔編號】B07C5/00GK103934207SQ201310746448
【公開日】2014年7月23日 申請日期:2013年12月30日 優(yōu)先權(quán)日:2013年1月18日
【發(fā)明者】張簡榮力 申請人:鴻勁科技股份有限公司