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      一種磁性材料分揀的制造方法

      文檔序號:5091687閱讀:483來源:國知局
      一種磁性材料分揀的制造方法
      【專利摘要】一種磁性材料分揀機(jī),包括機(jī)架,機(jī)架上設(shè)輸送裝置、檢測裝置和磁塊分類存放裝置;輸送裝置包括設(shè)置在同一條直線上的入口輸送機(jī)構(gòu)和檢測輸送機(jī)構(gòu),入口輸送機(jī)構(gòu)與檢測輸送機(jī)構(gòu)之間設(shè)有間隙,輸送裝置還包括跨越設(shè)置在間隙上方的磁性輸送機(jī)構(gòu);磁性輸送機(jī)構(gòu)包括輸送帶Ⅰ和與間隙對應(yīng)設(shè)置的條形磁鐵;檢測裝置包括磁塊底面檢測工裝、磁塊兩側(cè)面檢測工裝、磁塊頂面檢測工裝和尺寸檢測工裝,磁塊底面檢測工裝、磁塊兩側(cè)面檢測工裝、磁塊頂面檢測工裝和磁塊側(cè)面檢測工裝上均設(shè)有攝像機(jī);磁塊分類存放裝置包括至少一個托盤裝置,托盤裝置包括托盤和存放輸送機(jī)構(gòu),檢測輸送機(jī)構(gòu)與存放輸送機(jī)構(gòu)對應(yīng)的另一側(cè)設(shè)有用于驅(qū)動磁塊至存放輸送機(jī)構(gòu)的驅(qū)動機(jī)構(gòu)。
      【專利說明】一種磁性材料分揀機(jī)
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本實用新型屬于機(jī)械設(shè)備【技術(shù)領(lǐng)域】,具體涉及一種用于檢測磁塊尺寸和表面質(zhì)量的檢測機(jī)。
      【背景技術(shù)】
      [0002]磁性材料在進(jìn)過加工后,需要對其質(zhì)量進(jìn)行檢測,最主要的是外觀缺陷(檢測機(jī)還應(yīng)該包括之前的提取機(jī),提取機(jī)可以檢測內(nèi)部裂痕),將產(chǎn)品分為合格品和廢品;另外還需對合格品進(jìn)行主要尺寸的檢測,根據(jù)主要尺寸分為A/B/C三檔。
      [0003]現(xiàn)有的檢測方式是以全人工的形式進(jìn)行的,檢測效率低下,漏檢率較高,存在很大的質(zhì)量隱患;每個人工的檢測標(biāo)準(zhǔn)含有相當(dāng)大的主觀因素,因此不可能實現(xiàn)產(chǎn)品檢測的標(biāo)準(zhǔn)化,為產(chǎn)品管理帶來風(fēng)險和困難;由于產(chǎn)品生產(chǎn)量大,又不能抽檢,所以人工需求量大,檢測成本也十分高,根據(jù)產(chǎn)品要求的不同,平均3飛個工人每生產(chǎn)線。隨著市場的發(fā)展,這一切成為企業(yè)發(fā)展的巨大阻礙。
      實用新型內(nèi)容
      [0004]有鑒于此,本實用新型旨在提出一種磁性材料分揀機(jī),該磁性材料分揀機(jī)能夠自動檢測磁瓦產(chǎn)品的尺寸和表面質(zhì)量,并根據(jù)檢測結(jié)果對磁瓦產(chǎn)品進(jìn)行分類存放,能夠有效提高檢測效率,并增加產(chǎn)品合格率。
      [0005]要實現(xiàn)上述技術(shù)目的,本實用新型采用如下技術(shù)方案:
      [0006]一種磁性材料分揀機(jī),包括機(jī)架,所述機(jī)架上設(shè)有用于輸送磁塊的輸送裝置、用于檢測磁塊的檢測裝置和位于所述檢測裝置后側(cè)并用于磁塊分類存放的磁塊分類存放裝置;
      [0007]所述輸送裝置包括設(shè)置在同一條直線上的入口輸送機(jī)構(gòu)和檢測輸送機(jī)構(gòu),所述入口輸送機(jī)構(gòu)與所述檢測輸送機(jī)構(gòu)之間設(shè)有間隙,且所述輸送裝置還包括跨越設(shè)置在所述間隙上方的磁性輸送機(jī)構(gòu);所述磁性輸送機(jī)構(gòu)包括輸送帶I和與所述間隙對應(yīng)設(shè)置并用于將磁塊吸附在所述輸送帶I底面上的條形磁鐵;
      [0008]所述檢測裝置包括與所述間隙對應(yīng)設(shè)置并用于檢測磁塊底面缺陷的磁塊底面檢測工裝、以及與所述檢測輸送機(jī)構(gòu)對應(yīng)設(shè)置的用于檢測磁塊兩側(cè)面缺陷的磁塊兩側(cè)面檢測工裝、用于檢測磁塊頂面缺陷的磁塊頂面檢測工裝和用于檢測磁塊側(cè)面尺寸的磁塊側(cè)面檢測工裝,所述磁塊底面檢測工裝、磁塊兩側(cè)面檢測工裝、磁塊頂面檢測工裝和磁塊側(cè)面檢測工裝上均設(shè)有攝像機(jī);
      [0009]所述磁塊分類存放裝置包括至少一個用于存放磁塊的托盤裝置,所述托盤裝置包括托盤和用于將磁塊從所述檢測輸送機(jī)構(gòu)運送至所述托盤的存放輸送機(jī)構(gòu),所述檢測輸送機(jī)構(gòu)與所述存放輸送機(jī)構(gòu)對應(yīng)的另一側(cè)設(shè)有用于驅(qū)動磁塊至所述存放輸送機(jī)構(gòu)的驅(qū)動機(jī)構(gòu)。
      [0010]進(jìn)一步,所述入口輸送機(jī)構(gòu)包括輸送帶輪II和套裝在所述輸送帶輪II上的輸送帶II ;所述檢測輸送機(jī)構(gòu)包括輸送帶輪III和套裝在所述輸送帶輪III上的輸送帶III,所述機(jī)架上設(shè)有用于驅(qū)動所述入口輸送機(jī)構(gòu)、檢測輸送機(jī)構(gòu)和磁性輸送機(jī)構(gòu)同步運動的驅(qū)動裝置;所述驅(qū)動裝置包括驅(qū)動電機(jī),所述驅(qū)動電機(jī)與所述輸送帶輪III相連,所述輸送帶輪III與所述磁性輸送機(jī)構(gòu)的輸送帶輪I之間、以及所述輸送帶輪I和所述輸送帶輪II之間分別設(shè)有傳動比為I的帶傳動機(jī)構(gòu)或齒輪傳動機(jī)構(gòu)。
      [0011]進(jìn)一步,所述磁塊底面檢測工裝包括設(shè)置在所述間隙下方的反射鏡1、與所述反射鏡I對應(yīng)設(shè)置并用于對所述磁塊底面成像的攝像機(jī)I和設(shè)置在所述反射鏡I與所述攝像機(jī)I之間的光源I。
      [0012]進(jìn)一步,所述磁塊兩側(cè)面檢測工裝包括分別設(shè)置在所述輸送帶III兩側(cè)的兩個反射鏡I1、分別與兩個所述反射鏡II垂直的兩個反射鏡III和分別與兩個所述反射鏡III平行的兩個反射鏡IV,兩個所述反射鏡IV的上方對應(yīng)設(shè)有用于對磁塊兩側(cè)面成像的攝像機(jī)II,所述攝像機(jī)II與所述反射鏡IV之間設(shè)有光源II ;兩個所述反射鏡IV設(shè)置為一體并位于所述輸送帶III的上方。
      [0013]進(jìn)一步,所述磁塊頂面檢測工裝包括設(shè)置在所述輸送帶III上方的反射鏡V和與所述反射鏡V對應(yīng)設(shè)置并用于對磁塊頂面成像的攝像機(jī)III,所述攝像機(jī)III與輸送帶III之間設(shè)有光源III;所述磁塊側(cè)面檢測工裝包括用于直接對磁塊側(cè)面成像的攝像機(jī)IV和設(shè)置在所述輸送帶III遠(yuǎn)離所述攝像機(jī)IV—側(cè)的背光源。
      [0014]進(jìn)一步,所述磁塊頂面檢測工裝并列設(shè)置為至少一個;
      [0015]還包括備用檢測工裝,所述備用檢測工裝包括與所述攝像機(jī)IV并列設(shè)置的至少一個備用攝像機(jī);
      [0016]所述反射鏡1、反射鏡I1、反射鏡II1、反射鏡IV和反射鏡V的反射鏡面與水平面之間的夾角均為45°。
      [0017]進(jìn)一步,所述存放輸送機(jī)構(gòu)包括存放輸送帶輪和套裝在所述存放輸送帶輪上的存放輸送帶,所述托盤設(shè)置在所述存放輸送帶的一側(cè),且所述存放輸送帶的上方與所述托盤對應(yīng)設(shè)有限位擋板,所述存放輸送帶的另一側(cè)設(shè)有用于推動磁塊至托盤上的推板和用于驅(qū)動所述推板運動的推板氣缸;所述存放輸送帶的入口側(cè)設(shè)有用于調(diào)節(jié)寬度的擋板機(jī)構(gòu)。
      [0018]進(jìn)一步,所述托盤裝置包括至少兩層托盤,所述機(jī)架上設(shè)有用于支撐所述托盤裝置的支撐桿,所述支撐桿為可上下伸縮的伸縮桿,所述機(jī)架上設(shè)有用于驅(qū)動所述托盤上下移動的托盤氣缸;所述驅(qū)動機(jī)構(gòu)包括用于將磁塊吹至所述存放輸送帶上的推送氣閥。
      [0019]進(jìn)一步,還包括分揀控制系統(tǒng),所述分揀控制系統(tǒng)包括處理器II和與所述處理器
      II電連接的顯示器II,所述推板氣缸的氣路上設(shè)有電磁換向閥I,所述托盤氣缸的氣路上設(shè)有電磁換向閥III,所述存放輸送機(jī)構(gòu)上設(shè)有用于磁塊計數(shù)的計數(shù)傳感器,所述處理器II接收來自所述計數(shù)傳感器的計數(shù)信號并向所述電磁換向閥I和電磁換向閥III發(fā)出控制指令。
      [0020]進(jìn)一步,還包括檢測控制系統(tǒng),所述檢測控制系統(tǒng)包括處理器1、與所述處理器I電連接的顯示器I和基于機(jī)器視覺的缺陷檢測裝置;所述驅(qū)動電機(jī)的轉(zhuǎn)軸上設(shè)有編碼器,所述檢測輸送機(jī)構(gòu)的兩側(cè)分別與所述磁塊底面檢測工裝、磁塊兩側(cè)面檢測工裝、磁塊頂面檢測工裝和磁塊側(cè)面檢測工裝一一對應(yīng)設(shè)有用于檢測磁塊位置的傳感器I,且所述檢測輸送機(jī)構(gòu)上還與所述存放輸送機(jī)構(gòu) 對應(yīng)設(shè)有用于檢測磁塊位置的傳感器II ;[0021]所述處理器I接收來自所述編碼器和傳感器I檢測得到的磁塊位置信號向?qū)?yīng)的所述攝像機(jī)發(fā)出控制指令;所述缺陷檢測裝置接收來自所述攝像機(jī)的圖像數(shù)據(jù),并向所述處理器I發(fā)出檢測數(shù)據(jù),所述處理器I接收該檢測數(shù)據(jù)、以及由所述編碼器和傳感器II檢測得到的磁塊位置信號向所述驅(qū)動機(jī)構(gòu)發(fā)出控制指令。
      [0022]本實用新型的有益效果為:
      [0023]本實用新型的磁性材料分揀機(jī),通過設(shè)置輸送裝置,不僅能夠自動運輸磁塊,而且利用入口輸送機(jī)構(gòu)、檢測輸送機(jī)構(gòu)和磁性輸送機(jī)構(gòu)的位置關(guān)系,將磁塊通過磁力吸附在輸送帶I的底面上后,可對磁塊的底面進(jìn)行缺陷檢測;通過沿著檢測輸送機(jī)構(gòu)設(shè)置磁塊兩側(cè)面檢測工裝和磁塊頂面檢測工裝對磁塊的側(cè)面缺陷和頂面缺陷進(jìn)行檢測,并利用磁塊側(cè)面檢測工裝對磁塊的尺寸進(jìn)行檢測;通過設(shè)置磁塊分類存放裝置,根據(jù)檢測結(jié)果,對各個磁塊進(jìn)行分類后,將合格產(chǎn)品進(jìn)行分類存放,便于對磁塊進(jìn)行再加工,以增加合格率,提高檢測效率,本實用新型的磁性材料分揀機(jī)主要用于對未充磁磁塊進(jìn)行檢測。
      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0024]圖1為本實用新型磁性材料分揀機(jī)的主視圖;
      [0025]圖2為圖1的軸測圖;
      [0026]圖3為本實施例磁性材料分揀機(jī)隱藏部分框架后的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0027]圖4為入口輸送機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0028]圖5為檢測輸送機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0029]圖6為磁性輸送機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0030]圖7為托盤裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0031]圖8為磁塊兩側(cè)面表面質(zhì)量檢測工裝的光路原理圖;
      [0032]圖9為分揀控制系統(tǒng)的原理框圖;
      [0033]圖10為檢測控制系統(tǒng)的原理框圖。
      [0034]附圖標(biāo)記說明:
      [0035]1-機(jī)架;2_間隙;3_輸送帶輪I ;4_輸送帶I ;5_條形磁鐵;6_輸送帶輪II ;7-輸送帶II ;8-輸送帶輪III ;9-輸送帶III ;10-驅(qū)動電機(jī);11_同步傳送帶;12_反射鏡
      I; 12a-取景框;13-攝像機(jī)I ;14_反射鏡II ; 15-反射鏡III ; 16-反射鏡IV ;16a_取景框;17_攝像機(jī)II ;18_反射鏡V ; 18a_取景框;19-攝像機(jī)III ;20_攝像機(jī)IV ;20a_備用攝像機(jī);21-托盤;22_驅(qū)動機(jī)構(gòu);23_存放輸送帶;23a-擋板機(jī)構(gòu);24_限位擋板;25_推板;26_推板氣缸;27_支撐桿;28_托盤氣缸;29_處理器I ;30_缺陷檢測裝置;31_顯示器I ;32_顯示器II ;33_編碼器;34_電磁換向閥I ;35_電磁換向閥II ;36_電磁換向閥III ;37_計數(shù)傳感器;38-傳感器I ;39_傳感器II ;40_處理器II。
      【具體實施方式】
      [0036]下面結(jié)合具體實施例對本實用新型的【具體實施方式】進(jìn)行詳細(xì)說明。
      [0037]如圖1所示,為本實用新型磁性材料分揀機(jī)實施例的結(jié)構(gòu)示意圖。本實施例的磁性材料分揀機(jī),包括機(jī)架1,機(jī)架I上設(shè)有用于輸送磁塊的輸送裝置、用于檢測磁塊的檢測裝置和位于所述檢測裝置后側(cè)并用于磁塊分類存放的磁塊分類存放裝置。[0038]輸送裝置包括設(shè)置在同一條直線上的入口輸送機(jī)構(gòu)和檢測輸送機(jī)構(gòu),入口輸送機(jī)構(gòu)與所述檢測輸送機(jī)構(gòu)之間設(shè)有間隙2,且輸送裝置還包括跨越設(shè)置在間隙2上方的磁性輸送機(jī)構(gòu)。磁性輸送機(jī)構(gòu)包括輸送帶輪I 3、套裝在輸送帶輪I 3上的輸送帶I 4和與間隙2對應(yīng)設(shè)置并用于將磁塊吸附在輸送帶I 4底面上的條形磁鐵5。本實施例的入口輸送機(jī)構(gòu)包括輸送帶輪II 6和套裝在輸送帶輪II 6上的輸送帶II 7。檢測輸送機(jī)構(gòu)包括輸送帶輪
      III8和套裝在輸送帶輪III 8上的輸送帶III 9,機(jī)架I上設(shè)有用于驅(qū)動入口輸送機(jī)構(gòu)、檢測輸送機(jī)構(gòu)和磁性輸送機(jī)構(gòu)同步運動的驅(qū)動裝置。本實施例的驅(qū)動裝置包括驅(qū)動電機(jī)10,驅(qū)動電機(jī)10與輸送帶輪III 9相連,輸送帶輪III 9與磁性輸送機(jī)構(gòu)的輸送帶輪I 3之間、以及輸送帶輪I 3和所述輸送帶輪II 6之間分別設(shè)有傳動比為I的帶傳動機(jī)構(gòu)或齒輪傳動機(jī)構(gòu),本實施例的輸送帶輪III 9與輸送帶輪I 3之間設(shè)有同步傳送帶11,輸送帶輪I 3和所述輸送帶輪II 6之間設(shè)有相互嚙合的齒輪傳動機(jī)構(gòu)。通過采用該輸送裝置,磁塊首先被運送至輸送帶II 7向前運輸,然后在磁力的作用下被吸附在輸送帶I 4的底面上繼續(xù)向前運輸,當(dāng)磁塊位于輸送帶III 9得上方時,由于磁力失效,磁塊落在輸送帶III 9上繼續(xù)向前運輸。
      [0039]本實施例的檢測裝置包括與間隙2對應(yīng)設(shè)置并用于檢測磁塊底面缺陷的磁塊底面檢測工裝、以及與檢測輸送機(jī)構(gòu)對應(yīng)設(shè)置的用于檢測磁塊兩側(cè)面缺陷的磁塊兩側(cè)面檢測工裝、用于檢測磁塊頂面缺陷的磁塊頂面檢測工裝和用于檢測磁塊側(cè)面尺寸的磁塊側(cè)面檢測工裝,磁塊底面檢測工裝、磁塊兩側(cè)面檢測工裝、磁塊頂面檢測工裝和磁塊側(cè)面檢測工裝上均設(shè)有攝像機(jī)。本實施例的磁塊底面檢測工裝包括設(shè)置在間隙2下方的反射鏡I 12和與反射鏡I 12對應(yīng)設(shè)置的攝像機(jī)I 13,間隙2處設(shè)有位于反射鏡I 12和攝像機(jī)I 13之間的取景框12a,所述取景框12a上設(shè)有光源I,通過反射鏡I 12,能夠?qū)⒋艍K底面鏡面成像,利用攝像機(jī)I 13攝像后,將圖像信息傳輸至缺陷檢測裝置進(jìn)行分析處理,能夠檢測磁塊底面的表面缺陷。本實施例的磁塊兩側(cè)面檢測工裝包括分別設(shè)置在輸送帶III9兩側(cè)的兩個反射鏡II 14、分別與兩個反射鏡II 14垂直的兩個反射鏡III15和分別與兩個反射鏡III15平行的兩個反射鏡IV 16,兩個反射鏡IV 16的上方對應(yīng)設(shè)有攝像機(jī)II 17,攝像機(jī)II 17與反射鏡
      IV16之間設(shè)有取景框16a,取景框16a上設(shè)有光源II,通過利用反射鏡II 14、反射鏡III 15和反射鏡IV 16,能夠?qū)⒋艍K的左右兩側(cè)對稱成像在兩個反射鏡IV 16上,并利用一個攝像機(jī)II 17攝像,能夠方便對比分析。優(yōu)選的,本實施例的兩個反射鏡IV 16設(shè)置為一體并位于所述輸送帶III9的上方。本實施例的磁塊頂面檢測工裝包括設(shè)置在輸送帶III9上方的反射鏡
      V18和與反射鏡V 18對應(yīng)設(shè)置并用于對磁塊頂面成像的攝像機(jī)III19,反射鏡V 18與輸送帶III9之間設(shè)有取景框18a,取景框18a上設(shè)有光源III。磁塊側(cè)面檢測工裝包括用于直接對磁塊側(cè)面成像的攝像機(jī)IV 20和設(shè)置在輸送帶III 9遠(yuǎn)離攝像機(jī)IV 20 一側(cè)的背光源,通過攝像機(jī)IV 20成像,能夠利用缺陷處理裝置處理得到磁塊的側(cè)面尺寸大小。具體的,磁塊頂面檢測工裝可以并列設(shè)置為至少一個,實際應(yīng)用中,磁塊頂面檢測工裝的設(shè)計個數(shù)與磁塊頂面的層數(shù)相等,本實施例的磁塊頂面檢測工裝并列設(shè)置為兩個。本實施例的檢測裝置還包括備用檢測工裝,備用檢測工裝包括與攝像機(jī)IV 20并列設(shè)置的至少一個備用攝像機(jī)20a,本實施例的備用攝像機(jī)20a設(shè)置為一個。優(yōu)選的,反射鏡I 12、反射鏡II 14、反射鏡III 15、反射鏡IV 16和反射鏡V 18的反射鏡面與水平面之間的夾角均為45°,方便攝像機(jī)的布置。
      [0040]本實施例的磁塊分類存放裝置包括至少兩個用于存放磁塊的托盤裝置,托盤裝置包括托盤21和用于將磁塊從檢測輸送機(jī)構(gòu)運送至托盤21的存放輸送機(jī)構(gòu),檢測輸送機(jī)構(gòu)與存放輸送機(jī)構(gòu)對應(yīng)的另一側(cè)設(shè)有用于驅(qū)動磁塊至存放輸送機(jī)構(gòu)的驅(qū)動機(jī)構(gòu)22。本實施例的存放輸送機(jī)構(gòu)包括存放輸送帶輪和套裝在存放輸送帶輪上的存放輸送帶23,存放輸送帶23的入口端設(shè)有用于調(diào)節(jié)入口寬度的擋板機(jī)構(gòu)23a。托盤設(shè)置在存放輸送帶23的一側(cè),且存放輸送帶的上方與托盤21對應(yīng)設(shè)有限位擋板24,防止磁塊被運送至托盤21的范圍外,存放輸送帶23的另一側(cè)設(shè)有用于推動磁塊至托盤21上的推板25和用于驅(qū)動推板25運動的推板氣缸26,當(dāng)位于存放輸送帶23上的磁塊的個數(shù)等于設(shè)定個數(shù)時,啟動推板氣缸26將磁塊推至托盤21上,使托盤21上能夠規(guī)則地裝滿磁塊。托盤設(shè)置包括至少兩層托盤21,機(jī)架I上設(shè)有用于支撐托盤裝置的支撐桿27,支撐桿27為可上下伸縮的伸縮桿,機(jī)架I上設(shè)有用于驅(qū)動托盤裝置上下移動的托盤氣缸28。通過將托盤21設(shè)置為至少兩層,當(dāng)上層的托盤21裝滿磁塊后,托盤氣缸28推動托盤裝置向上運動,利用下層的空托盤21繼續(xù)存放磁塊,可有效增大托盤裝置存放磁塊的個數(shù),減少托盤裝置的更換次數(shù),另外,在同樣容量的托盤中,本實施例的托盤裝置占用的空間更小。本實施例的托盤裝置設(shè)有兩層托盤21。本實施例的驅(qū)動機(jī)構(gòu)22為用于將磁塊吹至存放輸送帶23上的推送氣閥。具體的,本實施例的磁塊分類存放裝置包括4個用于存放磁塊的托盤裝置,根據(jù)實際需要,托盤裝置還可設(shè)置為3個或4個以上,其原理相同,不再累述。
      [0041]進(jìn)一步,本實施例的磁性材料分揀機(jī)還包括分揀控制系統(tǒng),所述分揀控制系統(tǒng)包括處理器II 40和與處理器II 40電連接的顯示器II 32,推板氣缸26的氣路上設(shè)有電磁換向閥I 34,托盤氣缸28的氣路上設(shè)有電磁換向閥III36,存放輸送機(jī)構(gòu)上設(shè)有用于磁塊計數(shù)的計數(shù)傳感器37,處理器II 40接收來自計數(shù)傳感器37的計數(shù)信號并向電磁換向閥I 34和電磁換向閥III 36發(fā)出控制指令,即當(dāng)存放輸送帶23上的磁塊個數(shù)等于設(shè)定個數(shù)時,開啟推板汽缸26推動磁塊至托盤21上,當(dāng)托盤21上裝滿磁塊時,控制器29控制托盤氣缸28推動托盤裝置上相運動,利用下層的托盤21存放磁塊。
      [0042]進(jìn)一步,本實施例的磁性材料分揀機(jī)還包括檢測控制系統(tǒng),所述檢測控制系統(tǒng)包括處理器I 29、與處理器I 21電連接的顯示器I 31和基于機(jī)器視覺的缺陷檢測裝置30。驅(qū)動電機(jī)10的轉(zhuǎn)軸上設(shè)有編碼器33,檢測輸送機(jī)構(gòu)的兩側(cè)分別與磁塊底面檢測工裝、磁塊兩側(cè)面檢測工裝、磁塊頂面檢測工裝和磁塊側(cè)面檢測工裝一一對應(yīng)設(shè)有用于檢測磁塊位置的傳感器I 38,且檢測輸送機(jī)構(gòu)上還與存放輸送機(jī)構(gòu) 對應(yīng)設(shè)有用于檢測磁塊位置的傳感器II 39。處理器I 29接收來自編碼器33和傳感器I 38檢測得到的磁塊位置信號向?qū)?yīng)的攝像機(jī)發(fā)出控制指令,對應(yīng)的攝像機(jī)拍照攝像后,將圖像信息傳輸至缺陷檢測裝置30,缺陷檢測裝置30接收來自攝像機(jī)的圖像數(shù)據(jù)分析處理后,向處理器I 29發(fā)出檢測數(shù)據(jù),處理器I 29接收該檢測數(shù)據(jù)、以及由編碼器33和傳感器II 39檢測得到的磁塊位置信號向驅(qū)動機(jī)構(gòu)發(fā)出控制指令,具體的,本實施例的驅(qū)動機(jī)構(gòu)的推送氣閥的氣路上設(shè)有電磁換向閥
      II35,處理器I 29通過控制電磁換向閥II 35來控制推送氣閥開閉。
      [0043]當(dāng)然,分揀控制系統(tǒng)和檢測控制系統(tǒng)還可集成設(shè)置為一個控制系統(tǒng),其控制原理相當(dāng),不再累述。
      [0044]最后說明的是,以上實施例僅用以說明本實用新型的技術(shù)方案而非限制,盡管參照較佳實施例對本實用新型進(jìn)行了詳細(xì)說明,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解,可以對本實用新型的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換,而不脫離本實用新型技術(shù)方案的宗旨和范圍,其均應(yīng)涵蓋在本實用新型的權(quán)利要求范圍當(dāng)中。
      【權(quán)利要求】
      1.一種磁性材料分揀機(jī),包括機(jī)架,其特征在于:所述機(jī)架上設(shè)有用于輸送磁塊的輸送裝置、用于檢測磁塊的檢測裝置和位于所述檢測裝置后側(cè)并用于磁塊分類存放的磁塊分類存放裝置; 所述輸送裝置包括設(shè)置在同一條直線上的入口輸送機(jī)構(gòu)和檢測輸送機(jī)構(gòu),所述入口輸送機(jī)構(gòu)與所述檢測輸送機(jī)構(gòu)之間設(shè)有間隙,且所述輸送裝置還包括跨越設(shè)置在所述間隙上方的磁性輸送機(jī)構(gòu);所述磁性輸送機(jī)構(gòu)包括輸送帶I和與所述間隙對應(yīng)設(shè)置并用于將磁塊吸附在所述輸送帶I底面上的條形磁鐵; 所述檢測裝置包括與所述間隙對應(yīng)設(shè)置并用于檢測磁塊底面缺陷的磁塊底面檢測工裝,以及與所述檢測輸送機(jī)構(gòu)對應(yīng)設(shè)置的用于檢測磁塊兩側(cè)面缺陷的磁塊兩側(cè)面檢測工裝、用于檢測磁塊頂面缺陷的磁塊頂面檢測工裝和用于檢測磁塊側(cè)面尺寸的磁塊側(cè)面檢測工裝,所述磁塊底面檢測工裝、磁塊兩側(cè)面檢測工裝、磁塊頂面檢測工裝和磁塊側(cè)面檢測工裝上均設(shè)有攝像機(jī); 所述磁塊分類存放裝置包括至少一個用于存放磁塊的托盤裝置,所述托盤裝置包括托盤和用于將磁塊從所述檢測輸送機(jī)構(gòu)運送至所述托盤的存放輸送機(jī)構(gòu),所述檢測輸送機(jī)構(gòu)與所述存放輸送機(jī)構(gòu)對應(yīng)的另一側(cè)設(shè)有用于驅(qū)動磁塊至所述存放輸送機(jī)構(gòu)的驅(qū)動機(jī)構(gòu)。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁性材料分揀機(jī),其特征在于:所述入口輸送機(jī)構(gòu)包括輸送帶輪II和套裝在 所述輸送帶輪II上的輸送帶II ;所述檢測輸送機(jī)構(gòu)包括輸送帶輪III和套裝在所述輸送帶輪III上的輸送帶III,所述機(jī)架上設(shè)有用于驅(qū)動所述入口輸送機(jī)構(gòu)、檢測輸送機(jī)構(gòu)和磁性輸送機(jī)構(gòu)同步運動的驅(qū)動裝置;所述驅(qū)動裝置包括驅(qū)動電機(jī),所述驅(qū)動電機(jī)與所述輸送帶輪III相連,所述輸送帶輪III與所述磁性輸送機(jī)構(gòu)的輸送帶輪I之間、以及所述輸送帶輪I和所述輸送帶輪II之間分別設(shè)有傳動比為I的帶傳動機(jī)構(gòu)或齒輪傳動機(jī)構(gòu)。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁性材料分揀機(jī),其特征在于:所述磁塊底面檢測工裝包括設(shè)置在所述間隙下方的反射鏡1、與所述反射鏡I對應(yīng)設(shè)置并用于對所述磁塊底面成像的攝像機(jī)I和設(shè)置在所述反射鏡I與所述攝像機(jī)I之間的光源I。
      4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的磁性材料分揀機(jī),其特征在于:所述磁塊兩側(cè)面檢測工裝包括分別設(shè)置在所述輸送帶III兩側(cè)的兩個反射鏡I1、分別與兩個所述反射鏡II垂直的兩個反射鏡III和分別與兩個所述反射鏡III平行的兩個反射鏡IV,兩個所述反射鏡IV的上方對應(yīng)設(shè)有用于對磁塊兩側(cè)面成像的攝像機(jī)II,所述攝像機(jī)II與所述反射鏡IV之間設(shè)有光源II ;兩個所述反射鏡IV設(shè)置為一體并位于所述輸送帶III的上方。
      5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的磁性材料分揀機(jī),其特征在于:所述磁塊頂面檢測工裝包括設(shè)置在所述輸送帶III上方的反射鏡V和與所述反射鏡V對應(yīng)設(shè)置并用于對磁塊頂面成像的攝像機(jī)III,所述攝像機(jī)III與輸送帶III之間設(shè)有光源III;所述磁塊側(cè)面檢測工裝包括用于直接對磁塊側(cè)面成像的攝像機(jī)IV和設(shè)置在所述輸送帶III遠(yuǎn)離所述攝像機(jī)IV—側(cè)的背光源。
      6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的磁性材料分揀機(jī),其特征在于:所述磁塊頂面檢測工裝并列設(shè)置為至少一個; 還包括備用檢測工裝,所述備用檢測工裝包括與所述攝像機(jī)IV并列設(shè)置的至少一個備用攝像機(jī); 所述反射鏡1、反射鏡I1、反射鏡II1、反射鏡IV和反射鏡V的反射鏡面與水平面之間的夾角均為45°。
      7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁性材料分揀機(jī),其特征在于:所述存放輸送機(jī)構(gòu)包括存放輸送帶輪和套裝在所述存放輸送帶輪上的存放輸送帶,所述托盤設(shè)置在所述存放輸送帶的一側(cè),且所述存放輸送帶的上方與所述托盤對應(yīng)設(shè)有限位擋板,所述存放輸送帶的另一側(cè)設(shè)有用于推動磁塊至托盤上的推板和用于驅(qū)動所述推板運動的推板氣缸;所述存放輸送帶的入口側(cè)設(shè)有用于調(diào)節(jié)寬度的擋板機(jī)構(gòu)。
      8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的磁性材料分揀機(jī),其特征在于:所述托盤裝置包括至少兩層托盤,所述機(jī)架上設(shè)有用于支撐所述托盤裝置的支撐桿,所述支撐桿為可上下伸縮的伸縮桿,所述機(jī)架上設(shè)有用于驅(qū)動所述托盤上下移動的托盤氣缸;所述驅(qū)動機(jī)構(gòu)包括用于將磁塊吹至所述存放輸送帶上的推送氣閥。
      9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的磁性材料分揀機(jī),其特征在于:還包括分揀控制系統(tǒng),所述分揀控制系統(tǒng)包括處理器II和與所述處理器II電連接的顯示器II,所述推板氣缸的氣路上設(shè)有電磁換向閥I,所述托盤氣缸的氣路上設(shè)有電磁換向閥III,所述存放輸送機(jī)構(gòu)上設(shè)有用于磁塊計數(shù)的計數(shù)傳感器,所述處理器II接收來自所述計數(shù)傳感器的計數(shù)信號并向所述電磁換向閥I和電磁換向閥III發(fā)出控制指令。
      10.根據(jù)權(quán)利要求1-9任一項所述的磁性材料分揀機(jī),其特征在于:還包括檢測控制系統(tǒng),所述檢測控制系統(tǒng)包括處理器1、與所述處理器I電連接的顯示器I和基于機(jī)器視覺的缺陷檢測裝置;所述驅(qū)動電機(jī)的轉(zhuǎn)軸上設(shè)有編碼器,所述檢測輸送機(jī)構(gòu)的兩側(cè)分別與所述磁塊底面檢測工裝、磁塊兩側(cè)面檢測工裝、磁塊頂面檢測工裝和磁塊側(cè)面檢測工裝一一對應(yīng)設(shè)有用于檢測磁塊位置的傳感器I,且所述檢測輸送機(jī)構(gòu)上還與所述存放輸送機(jī)構(gòu) 對應(yīng)設(shè)有用于檢測磁塊位置的傳感器II ; 所述處理器I接收來自所述編碼器和傳感器I檢測得到的磁塊位置信號向?qū)?yīng)的所述攝像機(jī)發(fā)出控制指令;所述缺陷檢測裝置接收來自所述攝像機(jī)的圖像數(shù)據(jù),并向所述處理器I發(fā)出檢測數(shù)據(jù),所述處理器I接收該檢測數(shù)據(jù)、以及由所述編碼器和傳感器II檢測得到的磁塊位置信號向所述驅(qū)動機(jī)構(gòu)發(fā)出控制指令。
      【文檔編號】B07C5/38GK203750869SQ201420077975
      【公開日】2014年8月6日 申請日期:2014年2月24日 優(yōu)先權(quán)日:2014年2月24日
      【發(fā)明者】王旭龍琦, 白云峰, 楊綠松, 陳理誠, 楊堃 申請人:杭州利珀科技有限公司
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