一種片式阻容元件分選裝置制造方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種片式阻容元件分選裝置，它包括金屬空腔體（1），金屬空腔體（1）上表面固定有電極板（3），電極板（3）上表面固定有垂直導(dǎo)電橡膠（4），垂直導(dǎo)電橡膠（4）上表面固定有限位板（2），金屬空腔體（1）上的抽氣孔（5）與電極板（3）和垂直導(dǎo)電橡膠（4）上的圓孔相通，抽氣孔（5）與限位板（2）上的限位孔（7）相對應(yīng)，金屬空腔體（1）通過管道（13）與真空泵（12）連接；與相比現(xiàn)有技術(shù)，本實用新型具有結(jié)構(gòu)簡單、通用性強(qiáng)、安裝方便等特點，不僅降低了片式阻容元件的分選成本，提高了效率，解決了小批量片式阻容元件分選的難題。
【專利說明】一種片式阻容元件分選裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型屬于阻容元件測試【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種片式阻容元件分選裝置。

【背景技術(shù)】
[0002]目前使用的電阻、電容或電感等元件統(tǒng)稱為阻容元件，多采用片狀形式封裝，封裝成矩形，兩端有焊盤。為了保證元件的質(zhì)量就必須對其進(jìn)行電氣測試，目前對于片式封裝的阻容元件多采用自動分選和手工測試的方式進(jìn)行。但是自動分選成本高、體積大、操作復(fù)雜不適合小批量元件的測試。手工測試存在效率低、誤差大等問題，同樣不適合小批量元件的測試。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實用新型要解決的技術(shù)問題:提供一種片式阻容元件分選裝置，以解決現(xiàn)有技術(shù)對小批量阻容元件的測試采用自動分揀存在成本高、體積大、操作復(fù)雜；手工測試存在效率低、誤差大等問題。
[0004]本實用新型技術(shù)方案:
[0005]一種片式阻容元件分選裝置，它包括金屬空腔體，金屬空腔體上表面固定有電極板，電極板上表面固定有垂直導(dǎo)電橡膠，垂直導(dǎo)電橡膠上表面固定有限位板，金屬空腔體上的抽氣孔與電極板和垂直導(dǎo)電橡膠上的圓孔相通，抽氣孔與限位板上的限位孔相對應(yīng)，金屬空腔體通過管道與真空泵連接。
[0006]所述金屬空腔體、電極板、垂直導(dǎo)電橡膠和限位板之間分別通過膠水粘合，垂直導(dǎo)電橡膠與電極板通過導(dǎo)電膠水粘合。
[0007]所述的電極板為柔性印制電路板，電路板上的金屬電極采用矩陣方式連接，每個正負(fù)電極組成一對，其電極對中間有圓孔，電極板末端安裝有多針插座。
[0008]所述限位板上的限位孔成矩陣排列，與電極板上的圓孔相對應(yīng)，限位孔的長寬比被測阻容元件長寬大0.3_。
[0009]電極對的長A和寬C分別比被測阻容元件長寬大0.5mm,電極對正負(fù)電極之間的間距B比被測阻容元件兩焊盤間的距離小0.2mm。
[0010]電極板上每一列的正電極通過覆銅導(dǎo)線連接后連接到多針插座的第一排插針上，每一行的負(fù)電極通過覆銅導(dǎo)線連接后連接到多針插座的第二排插針上。限位板的厚度比被測阻容元件高0.5mm。
[0011]本實用新型的有益效果:
[0012]本實用新型公開的片式阻容元件分選裝置設(shè)有矩陣排列的電極、限位孔和圓形抽氣孔，且相對應(yīng)；被測元件通過限位孔后，整齊的落到電極板上的垂直導(dǎo)電橡膠上，真空泵抽走金屬空腔體內(nèi)的空氣，使被測元件被吸合在電極板上，被測阻容元件的焊盤與導(dǎo)電橡膠完全可靠接觸；與分選裝置的多針插座連接的測試儀器通過掃描的方式逐個完成對被測阻容元件的測試，實現(xiàn)對小批量片式阻容元件的分選，與相比現(xiàn)有技術(shù)，本實用新型具有結(jié)構(gòu)簡單、通用性強(qiáng)、安裝方便等特點，不僅降低了片式阻容元件的分選成本，提高了效率，解決了小批量片式阻容元件分選的難題。
[0013]【專利附圖】

【附圖說明】:
[0014]圖1為本實用新型器件組成示意圖；
[0015]圖2為圖1所示金屬腔體部分剖視示意圖；
[0016]圖3為本實用新型電極板俯視示意圖。
[0017]【具體實施方式】:
[0018]為使本實用新型的目的、技術(shù)方案、及優(yōu)點更加清楚明白，以下參照附圖并舉實施例，對本實用新型進(jìn)一步詳細(xì)說明。
[0019]本實用新型的核心思想是:通過抖動分選裝置使被測阻容元件整齊的落到限位孔7內(nèi)，真空泵抽走金屬空腔體I內(nèi)的空氣，使被測阻容元件被吸合在電極板3上的垂直導(dǎo)電橡膠4上，被測阻容元件焊盤與垂直導(dǎo)電橡膠4完全可靠接觸，隨后翻轉(zhuǎn)分選裝置即可清除表面上的多余器件；測試儀器通過掃描的方式逐個完成對被測阻容元件的測試，實現(xiàn)對小批量片式阻容元件的分選。
[0020]如圖1和圖2所示，一種片式阻容元件分選裝置，它包括金屬空腔體1，其特征在于:金屬空腔體I上表面固定有電極板3,電極板3上表面固定有垂直導(dǎo)電橡膠4,垂直導(dǎo)電橡膠4上表面固定有限位板2，金屬空腔體I上的抽氣孔5與電極板3和垂直導(dǎo)電橡膠4上的圓孔相通，抽氣孔5與限位板2上的限位孔7相對應(yīng)，金屬空腔體I通過管道13與真空泵12連接。
[0021]所述金屬空腔體1、電極板3、垂直導(dǎo)電橡膠4和限位板2之間分別通過膠水粘合，垂直導(dǎo)電橡膠4與電極板3通過導(dǎo)電膠水粘合。
[0022]所述的電極板3為柔性印制電路板，電路板上的金屬電極采用矩陣方式連接，每個正負(fù)電極組成一對，其電極對6中間有圓孔，電極板3末端安裝有多針插座8。
[0023]所述限位板2上的限位孔7成矩陣排列，與電極板上的圓孔相對應(yīng)，限位孔的長寬比被測阻容元件長寬大0.3mm,限位板2的厚度比被測阻容元件高0.5mm,樣可以保證每個穿孔中落入一個被測元件。
[0024]如圖3所示，本實用新型實施例中電極板3上的電極對6采用1X 10的方式排列，即橫向與縱向分別分布著10個距離相等的相同電極對6。每個電極對6由一個正電極10和一個負(fù)電極11構(gòu)成。每縱列的正電極10通過覆銅導(dǎo)線連接在一起,并連接到插座8上的第一排針上。每橫行的負(fù)電極11通過覆銅導(dǎo)線連接在一起，并連接到插座8上的第二排針上。電極對6的長A和寬C分別比被測阻容元件長寬大0.5mm,電極對6正負(fù)電極之間的間距B比被測阻容元件兩焊盤間的距離小0.2mm，這樣100個電極對通過這20根行列導(dǎo)線，組成了一個矩陣，測試設(shè)備通過逐行掃描的方式即可完成100個元件的測試。采用這種行列交替連接的方式，不僅減少了連接導(dǎo)線的數(shù)量，還減少了測試設(shè)備的1通道，降低測試成本。
[0025]實施測試時，將批量被測阻容元件14置于分選裝置上，然后抖動整個裝置確保每個限位孔7內(nèi)都落入一個被測元件，打開真空泵12抽走金屬空腔體I內(nèi)的空氣，使被測阻容元件14被吸合在電極板上的垂直導(dǎo)電橡膠上，被測阻容元件14的焊盤與導(dǎo)電橡膠完全可靠接觸，翻轉(zhuǎn)分選裝置即可清除表面上的多余器件。在多針插座上8上接上測試設(shè)備，通過測試設(shè)備的掃描測試即可完成被測元件14的批量測試。
【權(quán)利要求】
1.一種片式阻容元件分選裝置，它包括金屬空腔體(1)，其特征在于:金屬空腔體(I)上表面固定有電極板(3)，電極板(3)上表面固定有垂直導(dǎo)電橡膠(4)，垂直導(dǎo)電橡膠(4)上表面固定有限位板(2)，金屬空腔體(I)上的抽氣孔(5)與電極板(3)和垂直導(dǎo)電橡膠(4)上的圓孔相通，抽氣孔(5)與限位板(2)上的限位孔(7)相對應(yīng)，金屬空腔體(I)通過管道(13)與真空泵(12)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種片式阻容元件分選裝置，其特征在于:所述金屬空腔體(I)、電極板(3)、垂直導(dǎo)電橡膠(4)和限位板(2)之間分別通過膠水粘合，垂直導(dǎo)電橡膠(4)與電極板(3)通過導(dǎo)電膠水粘合。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種片式阻容元件分選裝置，其特征在于:所述的電極板(3)為柔性印制電路板，電路板上的金屬電極采用矩陣方式連接，每個正負(fù)電極組成一對，其電極對(6)中間有圓孔，電極板(3)末端安裝有多針插座(8)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種片式阻容元件分選裝置，其特征在于:所述限位板(2)上的限位孔(7)成矩陣排列，與電極板上的圓孔相對應(yīng)，限位孔的長寬比被測阻容元件長寬大0.3mmο
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種片式阻容元件分選裝置，其特征在于:電極對(6)的長A和寬C分別比被測阻容元件長寬大0.5mm,電極對(6)正負(fù)電極之間的間距B比被測阻容元件兩焊盤間的距離小0.2mm。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種片式阻容元件分選裝置，其特征在于:電極板(3)上每一列的正電極通過覆銅導(dǎo)線連接后連接到多針插座(8)的第一排插針上，每一行的負(fù)電極通過覆銅導(dǎo)線連接后連接到多針插座(8)的第二排插針上。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種片式阻容元件分選裝置，其特征在于:限位板(2)的厚度比被測阻容元件高0.5mm。
【文檔編號】B07C5/344GK204159566SQ201420561505
【公開日】2015年2月18日 申請日期:2014年9月26日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月26日
【發(fā)明者】邱云峰, 袁文, 雷蕓, 張文輝 申請人:貴州航天計量測試技術(shù)研究所