本發(fā)明有關(guān)于一種測試設(shè)備，尤指一種適于對電子元件進(jìn)行測試的電子元件測試設(shè)備。

背景技術(shù)：

1、一般電子元件在制造完成后通常需經(jīng)過測試以確定其物理特性，例如用于電容類的電子元件測試的公告號碼第411735號的「電路元件裝卸裝置」專利申請案所提供的現(xiàn)有技術(shù)，其以一個或數(shù)個元件槽座的同心環(huán)座可相對于環(huán)心旋轉(zhuǎn)，槽座均勻地以角度間隔并以增量方式旋轉(zhuǎn)，而該旋轉(zhuǎn)增量即是相鄰槽座間的角度間隔，該環(huán)座以某個角度頃斜，而且當(dāng)環(huán)座旋轉(zhuǎn)時，元件流路向環(huán)座傾倒元件，鄰接于槽座的外板側(cè)邊的固定柵板局限未歸位的元件因動力而隨機(jī)滾落于通過環(huán)座旋轉(zhuǎn)路徑的弧段的空槽座，隨機(jī)的滾動使元件歸位入槽座中，在旋轉(zhuǎn)環(huán)座的路徑中有用以連接元件和測試機(jī)的電子接觸器，被測試過的元件經(jīng)過一噴出歧管的下方，該噴出歧管板界定了許多噴出孔，而每當(dāng)環(huán)座旋轉(zhuǎn)一增量時噴出孔則與一組槽座相互對齊，噴出管與噴出口相連接，元件被選擇性啟動的各個氣壓閥門的空氣的鼓風(fēng)而從槽座噴出，由空氣的鼓風(fēng)和重力作用，噴出的元件經(jīng)由管子落下并依管路板的導(dǎo)引進(jìn)入分類儲盒中，元件流路能響應(yīng)于表示柵板缺少元件的檢測器的信號而選擇性地被引向該柵板，感應(yīng)器能檢測出在座槽中尚未被噴出歧管所噴出的元件。

2、其中，該現(xiàn)有技術(shù)的端子組成是經(jīng)由一框架上開設(shè)五個鏤空的槽間，再于各槽間中分別各設(shè)一端子模組，五個端子模組以及其伴隨的下方端子，可被當(dāng)作五個分立的測試臺使用，如此在測試陶磁電容器時，該陶磁電容器經(jīng)五階段的測試。在典型的第一階段中元件的電容和消散系數(shù)被測試。在典型的第二階段測試中，通常稱為“閃擊”測試，包含加諸一高電壓(典型值為元件額定電壓的2-2.5倍)于一短時間內(nèi)(典型值為40-50ms)。在典型的第三階段測試中，低電壓(例如50v)被用以測試泄漏電流及絕緣阻抗。在典型的第四階段測試中，元件的額定電壓被用以加諸元件上一段飽和時間(典型值為數(shù)百個ms)且泄漏/絕緣阻抗又再度被測試。在典型的第五階段測試中，元件的電容值再度被測試以檢驗(yàn)是否受到之前測試影響。在測試板旋轉(zhuǎn)方向上第一個被元件遇到的端子模組可用于對各經(jīng)過的槽列進(jìn)行第一階段測試。在測試板旋轉(zhuǎn)方向上第二個被元件遇到的端子模組可用于對各經(jīng)過的槽列進(jìn)行第二階段測試，依此類推。以此方式，該五項(xiàng)測試時間可被重疊并縮短至最小范圍。

3、另一現(xiàn)有技術(shù)為公告第55038號「電容器的絕緣電阻測定裝置」專利申請案，其則揭露在供給有電容器的轉(zhuǎn)盤以斷續(xù)旋轉(zhuǎn)中歷經(jīng)多個工作站，除檢測低電壓電阻外，并進(jìn)行一耐電壓的測定，所述耐電壓的測定使用高于絕緣電阻測定的高電壓。

4、該公告號碼第411735號專利申請案的現(xiàn)有技術(shù)雖然提供電容類電子元件的測試及分類收集，但其在作測試時采用“閃擊”測試，包含加諸一高電壓(典型值為元件額定電壓的2-2.5倍)于一短時間內(nèi)(典型值為40-50ms)，其屬于一次性的瞬間高壓；該公告第55038號專利申請案的耐電壓測定同樣也屬于一次性的瞬間高壓，雖然所述兩件現(xiàn)有技術(shù)都可以對電容類電子元進(jìn)行耐高壓的測試，但在現(xiàn)今逐步發(fā)展的電容類電子產(chǎn)品，僅以“閃擊”方式的一次性瞬間高壓測試，仍不足以因應(yīng)其在實(shí)際應(yīng)用上所面臨的高壓沖擊，特別是電動車及低軌衛(wèi)星中所使用的電容類電子產(chǎn)品。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、因此，本發(fā)明的目的在于提供一種至少改善現(xiàn)有技術(shù)一缺點(diǎn)的電子元件測試設(shè)備。

2、依據(jù)本發(fā)明目的的電子元件測試設(shè)備，包括：一機(jī)臺，其上設(shè)有一機(jī)臺臺面；一測試板，設(shè)于該機(jī)臺臺面，可被驅(qū)動依一方向間歇進(jìn)行旋轉(zhuǎn)，該測試板周緣外設(shè)置有一入料單元、一檢查單元、一排出單元及一收集機(jī)構(gòu)；該檢查單元設(shè)有可用以進(jìn)行電容的絕緣阻抗檢查的一第一檢查單元，該第一檢查單元設(shè)有多個量測站；該量測站包括進(jìn)行施加脈沖電壓的一脈沖電壓站。

3、本發(fā)明實(shí)施例的電子元件測試設(shè)備，該檢查單元用以進(jìn)行電容的絕緣阻抗檢查的一第一檢查單元中設(shè)有包括進(jìn)行施加脈沖電壓的一脈沖電壓站，該脈沖電壓站可對電子元件受電壓沖擊的能力作充分檢測，對于通過檢測的電子元件例如電容，未來在相關(guān)應(yīng)用上可以更安全。

技術(shù)特征：

1.一種電子元件測試設(shè)備，包括：

2.如權(quán)利要求1所述的電子元件測試設(shè)備，其中，該脈沖電壓站供給脈沖頻率為電壓大小為的脈沖電壓，只進(jìn)行施加所述電壓而不進(jìn)行量測。

3.如權(quán)利要求1所述的電子元件測試設(shè)備，其中，該第一檢查單元設(shè)有進(jìn)行電容的絕緣阻抗量測的一高壓站，位于該脈沖電壓站下游鄰側(cè)，供給的直流電或交流電的電壓，或同時供給的直流電加交流電的電壓。

4.如權(quán)利要求3所述的電子元件測試設(shè)備，其中，該高壓站可作多步驟不同電壓的量測方式選擇，其作電容的絕緣阻抗量測或泄漏電流量測。

5.如權(quán)利要求1所述的電子元件測試設(shè)備，其中，該檢查單元設(shè)有用以進(jìn)行電容的電容量、損耗或品質(zhì)因子檢查的分別位于該測試板間歇進(jìn)行旋轉(zhuǎn)的方向該第一檢查單元前、后的第二檢查單元及第三檢查單元。

6.如權(quán)利要求5所述的電子元件測試設(shè)備，其中，依該測試板間歇進(jìn)行旋轉(zhuǎn)的方向，該第三檢查單元前為供進(jìn)行放電的一放電站。

7.如權(quán)利要求1所述的電子元件測試設(shè)備，其中，該量測站依該測試板間歇進(jìn)行旋轉(zhuǎn)的方向依序設(shè)有：

8.如權(quán)利要求7所述的電子元件測試設(shè)備，其中，該低壓站供給的電壓進(jìn)行量測。

9.如權(quán)利要求7所述的電子元件測試設(shè)備，其中，該一般站設(shè)有十個站，分別供給1kv的電壓進(jìn)行量測。

10.如權(quán)利要求9所述的電子元件測試設(shè)備，其中，該一般站的每一站都有放電功能、可選擇充電方向、或單站以多步驟的不同電壓進(jìn)行量測其中之一。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供一種電子元件測試設(shè)備，包括：一機(jī)臺，其上設(shè)有一機(jī)臺臺面；一測試板，設(shè)于該機(jī)臺臺面，可被驅(qū)動依一方向間歇進(jìn)行旋轉(zhuǎn)，該測試板周緣外設(shè)置有一入料單元、一檢查單元、一排出單元及一收集機(jī)構(gòu)；該檢查單元設(shè)有可用以進(jìn)行電容的絕緣阻抗檢查的一第一檢查單元，該第一檢查單元設(shè)有多個量測站；該量測站包括進(jìn)行施加脈沖電壓的一脈沖電壓站；借此使電子元件充分通過耐沖擊電壓的檢測。

技術(shù)研發(fā)人員：盧昱呈,林芳旭,陸志益,吳振維
受保護(hù)的技術(shù)使用者：萬潤科技股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/19