本技術(shù)涉及硬盤，尤其涉及一種ssd全自動(dòng)化測試系統(tǒng)及ssd生產(chǎn)線。

背景技術(shù)：

1、固態(tài)硬盤在制造廠家出廠前需仿真出一種常溫的環(huán)境，并且提供穩(wěn)定的電壓對ssd進(jìn)行讀取、寫入測試，通過此高溫環(huán)境、穩(wěn)定的電壓對ssd固態(tài)硬盤進(jìn)行測試，篩選出存在隱患、不穩(wěn)定的產(chǎn)品，從而保證出廠的產(chǎn)品各性能、參數(shù)達(dá)到行業(yè)使用要求。

2、目前，市場上大都是通過人工將ssd卡插入測試載具，然后通過人工將插有ssd卡的測試載具依次裝入開卡柜、rdt測試柜、bit測試柜進(jìn)行測試。整個(gè)測試過程需要人工搬運(yùn)多次測試載具、并將測試載具的金手指插入柜體內(nèi)測試腔內(nèi)的連接器，這種方式導(dǎo)致整個(gè)測試過程費(fèi)時(shí)費(fèi)力，生產(chǎn)效率低。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、有鑒于此，本實(shí)用新型的目的是為了克服現(xiàn)有技術(shù)中的不足，提供一種ssd全自動(dòng)化測試系統(tǒng)，能夠替代人工完成上料和下料，無需人工參與，有效提高生產(chǎn)效率；

2、另，提供一種應(yīng)用上述ssd全自動(dòng)化測試系統(tǒng)的ssd生產(chǎn)線。

3、本實(shí)用新型提供如下技術(shù)方案：

4、根據(jù)本實(shí)用新型公開的第一方面，提供一種ssd全自動(dòng)化測試系統(tǒng)，所述ssd全自動(dòng)化測試系統(tǒng)包括：

5、測試機(jī)構(gòu)，若干所述測試機(jī)構(gòu)沿第一方向依次設(shè)置并形成有測試通道，所述測試機(jī)構(gòu)能夠檢測ssd卡的性能參數(shù)；

6、上料機(jī)構(gòu)，所述上料機(jī)構(gòu)能夠輸送所述ssd卡；

7、第一夾持機(jī)構(gòu)，所述第一夾持機(jī)構(gòu)能夠?qū)⒂伤錾狭蠙C(jī)構(gòu)輸送的所述ssd卡夾取至檢測位；

8、外形檢測機(jī)構(gòu)，所述外形檢測機(jī)構(gòu)能夠獲取位于所述檢測位的所述ssd卡的外形參數(shù)；

9、裝卡機(jī)構(gòu)，所述裝卡機(jī)構(gòu)能夠承載、并將處于插卡位的測試載具輸送至中轉(zhuǎn)位；其中，所述第一夾持機(jī)構(gòu)能夠?qū)⒔?jīng)過所述外形檢測機(jī)構(gòu)檢測的所述ssd卡插入位于所述插卡位的所述測試載具；

10、堆垛機(jī)構(gòu)，所述堆垛機(jī)構(gòu)能夠接收由所述裝卡機(jī)構(gòu)輸送至所述中轉(zhuǎn)位的所述測試載具，并將所述測試載具輸送至所述測試機(jī)構(gòu)；

11、下料機(jī)構(gòu)，所述下料機(jī)構(gòu)能夠接收由所述堆垛機(jī)構(gòu)輸送的測試載具，并分揀所述測試載具上的所述ssd卡。

12、進(jìn)一步，所述上料機(jī)構(gòu)包括：

13、可移動(dòng)載料臺，所述可移動(dòng)載料臺具有多層容納腔，所述容納腔用于放置裝載有所述ssd卡的料盤，且所述可移動(dòng)載料臺能夠移動(dòng)至上料位；

14、第一夾持件，所述第一夾持件能夠?qū)⑽挥谒錾狭衔坏乃隹梢苿?dòng)載料臺上的所述料盤夾取至取料位；其中，所述第一夾持機(jī)構(gòu)能夠夾取并移動(dòng)位于所述取料位的所述料盤上的所述ssd卡。

15、進(jìn)一步，所述下料機(jī)構(gòu)包括：

16、分揀臺，所述分揀臺具有下料位和多個(gè)分揀位，多個(gè)所述分揀位分別用于接收不同質(zhì)量等級的所述ssd卡，所述下料位用于接收由所述堆垛機(jī)構(gòu)輸送的所述測試載具；

17、第二夾持件，所述第二夾持件能夠?qū)⑽挥谒鱿铝衔坏乃鰷y試載具內(nèi)的所述ssd卡夾取至對應(yīng)質(zhì)量等級的所述分揀位。

18、進(jìn)一步，所述測試機(jī)構(gòu)包括：

19、多個(gè)測試柜，所述測試柜具有多個(gè)測試腔，所述測試腔內(nèi)設(shè)有能夠與所述測試載具插接的連接器；

20、多個(gè)測試機(jī)構(gòu)沿測試通道依次設(shè)置，所述測試通道設(shè)置有轉(zhuǎn)料位，且每個(gè)所述測試柜均對應(yīng)有轉(zhuǎn)料位；所述堆垛機(jī)構(gòu)包括：

21、可移動(dòng)車體，所述可移動(dòng)車體能夠沿測試通道移動(dòng)；

22、第三夾持件，所述第三夾持件能夠夾持所述測試載具；

23、驅(qū)動(dòng)件，所述第三夾持件通過驅(qū)動(dòng)件連接于所述可移動(dòng)車體，所述驅(qū)動(dòng)件能夠驅(qū)動(dòng)位于所述轉(zhuǎn)料位的所述第三夾持件進(jìn)出相對應(yīng)的所述測試腔，以拔插所述測試載具。

24、進(jìn)一步，所述第三夾持件包括托臂和夾緊部，所述托臂具有能夠容納所述測試載具的卡槽，所述夾緊部安裝于所述托臂，所述夾緊部能夠驅(qū)動(dòng)位于所述卡槽內(nèi)的所述測試載具靠近所述卡槽的側(cè)壁；

25、所述驅(qū)動(dòng)件包括機(jī)械臂，所述機(jī)械臂的執(zhí)行端和所述托臂連接，所述機(jī)械臂能夠驅(qū)動(dòng)所述托臂沿設(shè)定路徑移動(dòng)，以能夠使所述測試載具部分進(jìn)出所述卡槽。

26、進(jìn)一步，所述下料機(jī)構(gòu)還包括：

27、第一輸送件，所述第一輸送件用于接收由所述堆垛機(jī)構(gòu)輸送的所述測試載具，并依次輸送至所述下料位和所述插卡位。

28、進(jìn)一步，所述第一輸送件包括：

29、第一輸送帶，所述第一輸送帶自所述下料位至所述插卡位延伸設(shè)置。

30、進(jìn)一步，所述外形檢測機(jī)構(gòu)包括：

31、第一攝像件，所述第一攝像件用于獲取所述ssd卡的外形；

32、第二攝像件，所述第二攝像件用于獲取所述ssd卡的金手指的姿態(tài)。

33、進(jìn)一步，所述第一攝像件包括：

34、第一相機(jī)，所述第一相機(jī)位于所述ssd卡的側(cè)面；

35、第一驅(qū)動(dòng)部，所述第一驅(qū)動(dòng)部和所述第一相機(jī)連接，所述第一驅(qū)動(dòng)部用于驅(qū)動(dòng)所述第一相機(jī)繞位于所述檢測位的所述ssd卡轉(zhuǎn)動(dòng)；

36、和/或，所述第二攝像件包括第二相機(jī)，所述第二相機(jī)位于所述ssd卡的下方。

37、進(jìn)一步，所述裝卡機(jī)構(gòu)包括：

38、第二輸送件，所述第二輸送件用于接收由所述第一輸送件輸送至所述插卡位的所述測試載具、并能夠輸送所述測試載具至所述中轉(zhuǎn)位。

39、進(jìn)一步，所述第二輸送件包括：

40、限位滑槽；

41、第二驅(qū)動(dòng)部，所述第二驅(qū)動(dòng)部用于推動(dòng)測試載具沿所述限位滑槽移動(dòng)。

42、根據(jù)本實(shí)用新型公開的第二方面，提供一種ssd生產(chǎn)線，所述ssd生產(chǎn)線包括任一項(xiàng)所述的ssd全自動(dòng)化測試系統(tǒng)。

43、本實(shí)用新型的實(shí)施例具有如下優(yōu)點(diǎn)：

44、采用本實(shí)用新型提供的ssd全自動(dòng)化測試系統(tǒng)，通過上料機(jī)構(gòu)持續(xù)輸送ssd卡，并利用第一夾持機(jī)構(gòu)將ssd卡夾取至檢測位，通過外形檢測機(jī)構(gòu)檢測ssd卡的外形，并識別ssd卡的金手指的朝向，進(jìn)而控制第一夾持機(jī)構(gòu)根據(jù)ssd卡的金手指的朝向以將ssd卡插入裝卡機(jī)構(gòu)上的測試載具，且待測試載具裝滿ssd卡后，利用裝卡機(jī)構(gòu)將測試載具輸送至堆垛機(jī)構(gòu)，并通過堆垛機(jī)構(gòu)將測試載具輸送至測試機(jī)構(gòu)，以通過測試機(jī)構(gòu)連接測試載具進(jìn)行測試；且待測試機(jī)構(gòu)測試完成后，堆垛機(jī)構(gòu)將測試載具取出，并輸送至下料機(jī)構(gòu)，最后通過下料機(jī)構(gòu)拔出ssd卡并按照測試質(zhì)量分揀。整個(gè)測試過程實(shí)現(xiàn)無人化，能夠替代人工完成上料和下料，無需人工參與，有效提高生產(chǎn)效率。

45、此外，本實(shí)用新型還涉及一種ssd生產(chǎn)線，由于上述ssd全自動(dòng)化測試系統(tǒng)具有上述技術(shù)效果，因此包括該ssd全自動(dòng)化測試系統(tǒng)的ssd生產(chǎn)線應(yīng)當(dāng)具有相同的技術(shù)效果，在此不再贅述。

46、為使本實(shí)用新型的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯和易懂，下文特舉較佳實(shí)施例，并配合所附附圖，做詳細(xì)說明如下。

技術(shù)特征：

1.一種ssd全自動(dòng)化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述ssd全自動(dòng)化測試系統(tǒng)包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的ssd全自動(dòng)化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述上料機(jī)構(gòu)包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的ssd全自動(dòng)化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述下料機(jī)構(gòu)包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的ssd全自動(dòng)化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試機(jī)構(gòu)包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的ssd全自動(dòng)化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述第三夾持件包括托臂和夾緊部，所述托臂具有能夠容納所述測試載具的卡槽，所述夾緊部安裝于所述托臂，所述夾緊部能夠驅(qū)動(dòng)位于所述卡槽內(nèi)的所述測試載具靠近所述卡槽的側(cè)壁；

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的ssd全自動(dòng)化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述下料機(jī)構(gòu)還包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的ssd全自動(dòng)化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述第一輸送件包括第一輸送帶，所述第一輸送帶自所述下料位至所述上料位延伸設(shè)置。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的ssd全自動(dòng)化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述外形檢測機(jī)構(gòu)包括：

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的ssd全自動(dòng)化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述第一攝像件包括：

10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的ssd全自動(dòng)化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述裝卡機(jī)構(gòu)包括：

11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的ssd全自動(dòng)化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述第二輸送件包括：

12.一種ssd生產(chǎn)線，其特征在于，所述ssd生產(chǎn)線包括如權(quán)利要求1至11中任一項(xiàng)所述的ssd全自動(dòng)化測試系統(tǒng)。

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)提供一種SSD全自動(dòng)化測試系統(tǒng)及SSD生產(chǎn)線，涉及硬盤技術(shù)領(lǐng)域。SSD全自動(dòng)化測試系統(tǒng)包括測試機(jī)構(gòu)、上料機(jī)構(gòu)、下料機(jī)構(gòu)、第一夾持機(jī)構(gòu)、外形檢測機(jī)構(gòu)、裝卡機(jī)構(gòu)和堆垛機(jī)構(gòu)，測試機(jī)構(gòu)能夠檢測SSD卡的性能參數(shù)；上料機(jī)構(gòu)能夠輸送SSD卡；下料機(jī)構(gòu)用于接收并分揀SSD卡；第一夾持機(jī)構(gòu)能夠?qū)⒂缮狭蠙C(jī)構(gòu)輸送的所述SSD卡夾取至檢測位；外形檢測機(jī)構(gòu)能夠獲取SSD卡的外形參數(shù)；裝卡機(jī)構(gòu)能夠承載、并輸送測試載具；第一夾持機(jī)構(gòu)能夠?qū)⒔?jīng)過外形檢測機(jī)構(gòu)檢測的SSD卡插入所述測試載具；堆垛機(jī)構(gòu)能夠接收由裝卡機(jī)構(gòu)輸送的測試載具，并將測試載具輸送至測試機(jī)構(gòu)。本裝置能夠替代人工完成上料和下料，無需人工參與，有效提高生產(chǎn)效率。

技術(shù)研發(fā)人員：何瀚,徐永剛,柏艾林,孫成思,王燦
受保護(hù)的技術(shù)使用者：成都態(tài)坦測試科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20231229
技術(shù)公布日：2024/12/23