本發(fā)明涉及電感生產(chǎn)檢測(cè)，具體為基于視覺(jué)分析的電感表面缺陷掃描檢測(cè)設(shè)備。

背景技術(shù)：

1、電感器是能夠把電能轉(zhuǎn)化為磁能而存儲(chǔ)起來(lái)的元件，電感器的結(jié)構(gòu)類似于變壓器，但只有一個(gè)繞組，電感器具有一定的電感，只阻礙電流的變化，電感器又稱扼流器、電抗器、動(dòng)態(tài)電抗器，電感器一般由骨架、繞組、屏蔽罩、封裝材料、磁心或鐵心等組成；

2、結(jié)合上述內(nèi)容需要說(shuō)明的是：傳統(tǒng)的電感工件在生產(chǎn)過(guò)程中，受前序工藝影響，導(dǎo)致部分電感工件存在外部缺損、封裝異常和殘次品的產(chǎn)生，以及部分電感工件外壁上存在雜質(zhì)殘留，其對(duì)電感工件的外部檢測(cè)結(jié)果存在干擾，同時(shí)傳統(tǒng)的電感外觀檢測(cè)所配備的視覺(jué)分析，僅用于淺層次的外部是否異常，據(jù)此來(lái)判斷電感工件是否存在異常，容易導(dǎo)致異常檢測(cè)或可修復(fù)電感直接進(jìn)行報(bào)廢處理，徒增電感工件生產(chǎn)成本；

3、針對(duì)上述的技術(shù)缺陷，現(xiàn)提出解決方案。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的目的在于提供基于視覺(jué)分析的電感表面缺陷掃描檢測(cè)設(shè)備，在對(duì)電感工件檢測(cè)期間的數(shù)據(jù)進(jìn)行采集，獲得到封損量值和外差比對(duì)值，及從檢測(cè)前、檢測(cè)中對(duì)電感工件基于視覺(jué)數(shù)據(jù)全面監(jiān)管分析，即將采集數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)分析，獲得相關(guān)的評(píng)級(jí)信號(hào)，并據(jù)此控制相關(guān)部件進(jìn)行彌補(bǔ)式操作，故而既能輸送攔截的電感工件進(jìn)行連續(xù)性180°往復(fù)循環(huán)旋轉(zhuǎn)吸附遞送檢測(cè)，實(shí)現(xiàn)對(duì)電感工件的外部細(xì)致視覺(jué)數(shù)據(jù)采集，以便于后續(xù)根據(jù)視覺(jué)采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理，又能配合后續(xù)旋轉(zhuǎn)輸送環(huán)和多組外輸架，對(duì)分析后且標(biāo)記的電感工件進(jìn)行逐一針對(duì)性分流，有助于可修復(fù)電感工件再利用，去解決提出的問(wèn)題。

2、為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案：基于視覺(jué)分析的電感表面缺陷掃描檢測(cè)設(shè)備，包括檢測(cè)機(jī)座，所述檢測(cè)機(jī)座頂部中心設(shè)置有中心盤，所述中心盤一端外周設(shè)置有多組外推擋板，所述中心盤外周底部設(shè)置有旋轉(zhuǎn)輸送環(huán)，且旋轉(zhuǎn)輸送環(huán)底部設(shè)置有伺服電機(jī)；

3、所述中心盤內(nèi)部設(shè)置有多組內(nèi)推氣缸，所述中心盤上方設(shè)置有密封透明罩，所述檢測(cè)機(jī)座一端頂部設(shè)置有進(jìn)料輸送架，且進(jìn)料輸送架上方設(shè)置有檢測(cè)箱；

4、所述檢測(cè)箱一端外壁上設(shè)置有噴氣口，且檢測(cè)箱內(nèi)部中心設(shè)置有朝向進(jìn)料輸送架的升降氣缸，所述升降氣缸底部?jī)啥藢?duì)稱設(shè)置有吸盤，所述檢測(cè)箱兩側(cè)內(nèi)壁上設(shè)置有檢測(cè)機(jī)構(gòu)，所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括弧形下檢測(cè)盤和矩形上檢測(cè)盤，所述檢測(cè)箱外壁上設(shè)置有控制面板。

5、進(jìn)一步的，所述檢測(cè)機(jī)座兩側(cè)外周壁上設(shè)置有進(jìn)氣格柵，所述檢測(cè)機(jī)座兩側(cè)內(nèi)部設(shè)置有靠近進(jìn)氣格柵的抽風(fēng)機(jī)，所述檢測(cè)機(jī)座一端設(shè)置有與進(jìn)料輸送架連接的凸臺(tái)。

6、進(jìn)一步的，所述凸臺(tái)頂部設(shè)置有延伸至進(jìn)料輸送架上方的限位氣缸，所述檢測(cè)機(jī)座另一端設(shè)置有與旋轉(zhuǎn)輸送環(huán)連接的良品外輸架，且良品外輸架兩側(cè)對(duì)稱設(shè)置有外損外輸架、殘次品外輸架和封損外輸架。

7、進(jìn)一步的，所述中心盤一端外周壁上凹陷設(shè)置有多組注氣口，所述內(nèi)推氣缸與外推擋板連接，所述伺服電機(jī)嵌設(shè)在檢測(cè)機(jī)座底部中心，所述旋轉(zhuǎn)輸送環(huán)底部設(shè)置有與檢測(cè)機(jī)座連接的導(dǎo)軌，所述密封透明罩一端設(shè)置有與檢測(cè)箱外壁連接密封套件。

8、進(jìn)一步的，所述升降氣缸底部表面滑動(dòng)套接有內(nèi)套環(huán)，所述內(nèi)套環(huán)外周設(shè)置有回轉(zhuǎn)氣缸一，且回轉(zhuǎn)氣缸一外周設(shè)置有外套環(huán)，所述外套環(huán)兩端外周壁上對(duì)稱設(shè)置有多組回轉(zhuǎn)氣缸二。

9、進(jìn)一步的，所述回轉(zhuǎn)氣缸二內(nèi)壁上連接有微調(diào)氣缸臂，所述微調(diào)氣缸臂遠(yuǎn)離回轉(zhuǎn)氣缸二的一端套接有延伸套桿，所述延伸套桿遠(yuǎn)離微調(diào)氣缸臂的一端貫穿套接有垂直氣缸臂，所述垂直氣缸臂底部設(shè)置有吸盤，且吸盤與垂直氣缸臂之間設(shè)置有回轉(zhuǎn)氣缸三。

10、進(jìn)一步的，所述弧形下檢測(cè)盤外側(cè)頂部設(shè)置有與矩形上檢測(cè)盤連接的龍門架，所述龍門架內(nèi)壁中設(shè)置有內(nèi)嵌氣缸，所述內(nèi)嵌氣缸之間設(shè)置有梁架，所述梁架中部設(shè)置有滑動(dòng)架，所述滑動(dòng)架表面設(shè)置有內(nèi)夾板和外夾板，所述矩形上檢測(cè)盤底部中心設(shè)置有接電檢測(cè)器。

11、進(jìn)一步的，所述控制面板內(nèi)部設(shè)置有處理器、數(shù)據(jù)采集模塊、自檢分析模塊、信號(hào)執(zhí)行模塊和次級(jí)分析模塊；

12、數(shù)據(jù)采集模塊用于采集檢測(cè)裝置在使用期間，位于弧形下檢測(cè)盤上電感工件的封損量值fsz和位于進(jìn)料輸送架上的電感工件的外差比對(duì)值wcz，將封損量值fsz和外差比對(duì)值wcz經(jīng)處理器發(fā)送至自檢反饋模塊；

13、自檢反饋模塊在接收到封損量值fsz和外差比對(duì)值wcz后，立即對(duì)檢測(cè)裝置的過(guò)檢效率進(jìn)行分析，具體分析過(guò)程如下：獲得到時(shí)間閾值內(nèi)封損量值fsz和外差比對(duì)值wcz，經(jīng)公式獲得到過(guò)檢效率系數(shù)gjx，并從處理器中調(diào)取存儲(chǔ)錄入的預(yù)設(shè)過(guò)檢效率系數(shù)yjx與過(guò)檢效率系數(shù)gjx進(jìn)行比對(duì)分析；

14、若過(guò)檢效率系數(shù)gjx≥預(yù)設(shè)過(guò)檢效率系數(shù)yjx，則判定該時(shí)間閾值內(nèi)檢測(cè)存在異常，生成調(diào)控信號(hào)，并將生成的信號(hào)經(jīng)處理器發(fā)送至信號(hào)執(zhí)行模塊和次級(jí)分析模塊，信號(hào)執(zhí)行模塊在接收到調(diào)控信號(hào)后，立即控制伺服電機(jī)進(jìn)行工作；

15、若過(guò)檢效率系數(shù)gjx＜預(yù)設(shè)過(guò)檢效率系數(shù)yjx，則不生成任何信號(hào)；

16、次級(jí)分析模塊在接收到調(diào)控信號(hào)后，立即獲取到生成調(diào)控信號(hào)的封損量值fsz和外差比對(duì)值wcz，從處理器中調(diào)取存儲(chǔ)錄入的封損異常參考值fi和外差異常參考值wi與封損量值fsz和外差比對(duì)值wcz進(jìn)行比對(duì)分析；

17、若封損量值fsz位于封損異常參考值fi的范圍內(nèi)，且外差比對(duì)值wcz不位于外差異常參考值wi內(nèi)，則生成一級(jí)信號(hào)；

18、若封損量值fsz不位于封損異常參考值fi的范圍內(nèi)，且外差比對(duì)值wcz位于外差異常參考值wi內(nèi)，則生成二級(jí)信號(hào)；

19、若封損量值fsz位于封損異常參考值fi的范圍內(nèi)，且外差比對(duì)值wcz位于外差異常參考值wi內(nèi)，則生成三級(jí)信號(hào)，將生成的信號(hào)經(jīng)處理器發(fā)送至信號(hào)執(zhí)行模塊，信號(hào)執(zhí)行模塊控制內(nèi)推氣缸進(jìn)行工作。

20、本發(fā)明的有益效果是：

21、1、本發(fā)明是通過(guò)檢測(cè)裝置在對(duì)電感工件檢測(cè)期間的數(shù)據(jù)進(jìn)行采集，獲得到封損量值和外差比對(duì)值，及從檢測(cè)前、檢測(cè)中對(duì)電感工件基于視覺(jué)數(shù)據(jù)全面監(jiān)管分析，即將采集數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)分析，獲得相關(guān)的評(píng)級(jí)信號(hào)，并據(jù)此控制相關(guān)部件進(jìn)行彌補(bǔ)式操作，故而既能輸送攔截的電感工件進(jìn)行連續(xù)性180°往復(fù)循環(huán)旋轉(zhuǎn)吸附遞送檢測(cè)，實(shí)現(xiàn)對(duì)電感工件的外部細(xì)致視覺(jué)數(shù)據(jù)采集，以便于后續(xù)根據(jù)視覺(jué)采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理，又能配合后續(xù)旋轉(zhuǎn)輸送環(huán)和多組外輸架，對(duì)分析后且標(biāo)記的電感工件進(jìn)行逐一針對(duì)性分流，有助于可修復(fù)電感工件再利用；

22、2、本發(fā)明是通過(guò)抽風(fēng)機(jī)輔助噴氣口和注氣口使用，結(jié)合密封透明罩和檢測(cè)箱，對(duì)檢測(cè)裝置內(nèi)部構(gòu)成持續(xù)增壓，有效阻止外部含塵氣流的進(jìn)入，同時(shí)將待檢測(cè)的電感工件表面進(jìn)行氣動(dòng)清理，

技術(shù)特征：

1.基于視覺(jué)分析的電感表面缺陷掃描檢測(cè)設(shè)備，包括檢測(cè)機(jī)座(1)，所述檢測(cè)機(jī)座(1)頂部中心設(shè)置有中心盤(5)，所述中心盤(5)一端外周設(shè)置有多組外推擋板(503)，所述中心盤(5)外周底部設(shè)置有旋轉(zhuǎn)輸送環(huán)(6)，且旋轉(zhuǎn)輸送環(huán)(6)底部設(shè)置有伺服電機(jī)(602)，其特征在于：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于視覺(jué)分析的電感表面缺陷掃描檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，所述檢測(cè)機(jī)座(1)兩側(cè)外周壁上設(shè)置有進(jìn)氣格柵(102)，所述檢測(cè)機(jī)座(1)兩側(cè)內(nèi)部設(shè)置有靠近進(jìn)氣格柵(102)的抽風(fēng)機(jī)(107)，所述檢測(cè)機(jī)座(1)一端設(shè)置有與進(jìn)料輸送架(3)連接的凸臺(tái)(101)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于視覺(jué)分析的電感表面缺陷掃描檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，所述凸臺(tái)(101)頂部設(shè)置有延伸至進(jìn)料輸送架(3)上方的限位氣缸(106)，所述檢測(cè)機(jī)座(1)另一端設(shè)置有與旋轉(zhuǎn)輸送環(huán)(6)連接的良品外輸架(103)，且良品外輸架(103)兩側(cè)對(duì)稱設(shè)置有外損外輸架(105)、殘次品外輸架(104)和封損外輸架(108)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于視覺(jué)分析的電感表面缺陷掃描檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，所述中心盤(5)一端外周壁上凹陷設(shè)置有多組注氣口(501)，所述內(nèi)推氣缸(502)與外推擋板(503)連接，所述伺服電機(jī)(602)嵌設(shè)在檢測(cè)機(jī)座(1)底部中心，所述旋轉(zhuǎn)輸送環(huán)(6)底部設(shè)置有與檢測(cè)機(jī)座(1)連接的導(dǎo)軌(601)，所述密封透明罩(4)一端設(shè)置有與檢測(cè)箱(2)外壁連接密封套件(401)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于視覺(jué)分析的電感表面缺陷掃描檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，所述升降氣缸(202)底部表面滑動(dòng)套接有內(nèi)套環(huán)(203)，所述內(nèi)套環(huán)(203)外周設(shè)置有回轉(zhuǎn)氣缸一(204)，且回轉(zhuǎn)氣缸一(204)外周設(shè)置有外套環(huán)(205)，所述外套環(huán)(205)兩端外周壁上對(duì)稱設(shè)置有多組回轉(zhuǎn)氣缸二(206)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的基于視覺(jué)分析的電感表面缺陷掃描檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，所述回轉(zhuǎn)氣缸二(206)內(nèi)壁上連接有微調(diào)氣缸臂(207)，所述微調(diào)氣缸臂(207)遠(yuǎn)離回轉(zhuǎn)氣缸二(206)的一端套接有延伸套桿(208)，所述延伸套桿(208)遠(yuǎn)離微調(diào)氣缸臂(207)的一端貫穿套接有垂直氣缸臂(209)，所述垂直氣缸臂(209)底部設(shè)置有吸盤(211)，且吸盤(211)與垂直氣缸臂(209)之間設(shè)置有回轉(zhuǎn)氣缸三(210)。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于視覺(jué)分析的電感表面缺陷掃描檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，所述弧形下檢測(cè)盤(801)外側(cè)頂部設(shè)置有與矩形上檢測(cè)盤(805)連接的龍門架(802)，所述龍門架(802)內(nèi)壁中設(shè)置有內(nèi)嵌氣缸(803)，所述內(nèi)嵌氣缸(803)之間設(shè)置有梁架(806)，所述梁架(806)中部設(shè)置有滑動(dòng)架(807)，所述滑動(dòng)架(807)表面設(shè)置有內(nèi)夾板(808)和外夾板(809)，所述矩形上檢測(cè)盤(805)底部中心設(shè)置有接電檢測(cè)器(804)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于視覺(jué)分析的電感表面缺陷掃描檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，所述控制面板(7)內(nèi)部設(shè)置有處理器、數(shù)據(jù)采集模塊、自檢分析模塊、信號(hào)執(zhí)行模塊和次級(jí)分析模塊；

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開(kāi)了基于視覺(jué)分析的電感表面缺陷掃描檢測(cè)設(shè)備，屬于電感生產(chǎn)檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，本發(fā)明包括檢測(cè)機(jī)座，檢測(cè)機(jī)座頂部中心設(shè)置有中心盤，中心盤一端外周設(shè)置有多組外推擋板，中心盤外周底部設(shè)置有旋轉(zhuǎn)輸送環(huán)，且旋轉(zhuǎn)輸送環(huán)底部設(shè)置有伺服電機(jī)，中心盤內(nèi)部設(shè)置有多組內(nèi)推氣缸，中心盤上方設(shè)置有密封透明罩；本發(fā)明中，既能輸送攔截的電感工件進(jìn)行連續(xù)性180°往復(fù)循環(huán)旋轉(zhuǎn)吸附遞送檢測(cè)，實(shí)現(xiàn)對(duì)電感工件的外部細(xì)致視覺(jué)數(shù)據(jù)采集，以便于后續(xù)根據(jù)視覺(jué)采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理，又能配合后續(xù)旋轉(zhuǎn)輸送環(huán)和多組外輸架，對(duì)分析后且標(biāo)記的電感工件進(jìn)行逐一針對(duì)性分流，有助于可修復(fù)電感工件再利用。

技術(shù)研發(fā)人員：廖華明,李迎賓,龍浩宇
受保護(hù)的技術(shù)使用者：蘇州致微半導(dǎo)體有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/9/9