本發(fā)明涉及電子元件測試，具體是電子元件測試設(shè)備。

背景技術(shù)：

1、根據(jù)設(shè)備工藝的需求，電容、re?l?ay等電子元件在裝載探針卡上之前，需對電子元件的好壞進(jìn)行測試。由于現(xiàn)有工藝是將未測試過的電子元件不經(jīng)測試直接裝載探針卡上使用，沒有經(jīng)過測試，有些電子元件在功能上可能會有些缺陷從外觀上是看不出的，但在探針卡使用時有功能缺陷的電子元件出現(xiàn)異常會導(dǎo)致探針卡運(yùn)行不穩(wěn)定。因此本申請?zhí)峁┮环N電子元件測試設(shè)備，用于實現(xiàn)電子元件的高效測試。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的目的在于提供電子元件測試設(shè)備，以解決上述背景技術(shù)中提出的現(xiàn)有技術(shù)將未測試過的電子元件不經(jīng)測試直接裝載探針卡上使用，沒有經(jīng)過測試，導(dǎo)致探針卡運(yùn)行不穩(wěn)定的問題。

2、為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案：

3、電子元件測試設(shè)備，包括機(jī)臺，所述機(jī)臺的頂部固定連接有安裝架，所述安裝架的內(nèi)壁固定連接有若干個分隔板，若干個所述分隔板將安裝架的內(nèi)腔分隔為若干個裝配倉，若干個所述裝配倉內(nèi)均滑動安裝有檢測儀，所述機(jī)臺的一側(cè)設(shè)置有用于電子元件進(jìn)行上料的轉(zhuǎn)盤上料機(jī)構(gòu)，所述轉(zhuǎn)盤上料機(jī)構(gòu)的上方設(shè)置有用于對電子元件進(jìn)行移動的抓取移料機(jī)構(gòu)；

4、所述抓取移料機(jī)構(gòu)包括移料架，所述移料架的頂部開設(shè)有移位滑槽，所述移位滑槽的內(nèi)壁固定安裝有移位導(dǎo)軌，所述移位導(dǎo)軌的內(nèi)壁滑動安裝有推送架，所述推送架的一側(cè)固定連接有安裝座，所述安裝座的頂部固定連接有調(diào)節(jié)氣缸，所述調(diào)節(jié)氣缸的輸出端固定安裝有夾取組件，所述夾取組件包括調(diào)節(jié)座，所述調(diào)節(jié)座的內(nèi)壁固定安裝有調(diào)向電機(jī)，所述調(diào)向電機(jī)的輸出端固定連接有夾取架，所述夾取架的底部固定安裝有固定夾爪，所述夾取架的一端固定連接有調(diào)節(jié)導(dǎo)軌，所述調(diào)節(jié)導(dǎo)軌的內(nèi)壁滑動安裝有活動夾爪。

5、作為本發(fā)明進(jìn)一步的方案：所述檢測儀包括殼體，所述殼體的內(nèi)部設(shè)置有檢測儀主體，所述殼體的兩側(cè)均固定連接有限位滑塊，所述裝配倉的內(nèi)壁兩側(cè)均開設(shè)有滑槽，所述限位滑塊與滑槽滑動連接，所述殼體的頂部固定連接有連接座，所述連接座的頂部固定連接有模擬探針卡，所述模擬探針卡與檢測儀主體電性連接。

6、作為本發(fā)明進(jìn)一步的方案：所述安裝架的一側(cè)固定安裝有卸料機(jī)構(gòu)，所述卸料機(jī)構(gòu)包括卸料導(dǎo)引罩，所述卸料導(dǎo)引罩的內(nèi)壁中部固定安裝有阻攔板，所述阻攔板將卸料導(dǎo)引罩的內(nèi)腔分隔為合格品料倉和不合格料倉，所述卸料導(dǎo)引罩的內(nèi)壁底部傾斜設(shè)置。

7、作為本發(fā)明進(jìn)一步的方案：所述卸料導(dǎo)引罩的一端固定連接有檢測架，所述檢測架的底部兩側(cè)均固定安裝有計數(shù)器，兩個所述計數(shù)器分別與合格品料倉和不合格料倉一端對應(yīng)設(shè)置。

8、作為本發(fā)明進(jìn)一步的方案：所述轉(zhuǎn)盤上料機(jī)構(gòu)包括驅(qū)動電機(jī)，所述驅(qū)動電機(jī)的輸出端固定安裝有上料轉(zhuǎn)盤，所述上料轉(zhuǎn)盤的頂部邊沿開設(shè)有若干個上料限位孔。

9、作為本發(fā)明進(jìn)一步的方案：若干個所述上料限位孔的一側(cè)均設(shè)置有上料推送組件，所述上料推送組件包括推送電機(jī)，所述推送電機(jī)的輸出端固定連接有推送螺桿，所述推送螺桿的中部螺紋連接有推送塊，所述推送塊的一側(cè)固定連接有推送盤，所述推送盤滑動設(shè)置于上料限位孔內(nèi)。

10、作為本發(fā)明進(jìn)一步的方案：所述上料限位孔的內(nèi)壁一側(cè)頂部嵌設(shè)有調(diào)姿電機(jī)，所述調(diào)姿電機(jī)的輸出端固定連接有調(diào)姿塊，所述調(diào)姿塊的外壁設(shè)置有若干個突出部。

11、作為本發(fā)明進(jìn)一步的方案：所述連接座的內(nèi)部開設(shè)有送風(fēng)腔，所述送風(fēng)腔的內(nèi)壁固定開設(shè)有若干個送風(fēng)槽，若干個所述送風(fēng)槽均向上傾斜設(shè)置，所述送風(fēng)腔的一側(cè)固定連接有送風(fēng)管，所述送風(fēng)管的一端與送風(fēng)泵的輸出端固定連接。

12、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果是：本發(fā)明通過對安裝架的分隔，使得本裝置可以根據(jù)實際的檢測操作需要安裝使用多個不同的檢測儀，以此滿足對多種不同類型的電子元件的檢測需要，也可以通過多個同類型的檢測儀的同步安裝操作提高檢測效率；

13、本發(fā)明通過移位導(dǎo)軌帶動夾取組件整體沿檢測上長度方向運(yùn)動，以實現(xiàn)對電子元件的取料和移料操作，由調(diào)節(jié)氣缸帶動夾取組件整體進(jìn)行升降運(yùn)動，再由夾爪進(jìn)行電子元件的取料和放料，由調(diào)向電機(jī)帶動夾取架轉(zhuǎn)動，進(jìn)而帶動固定夾爪轉(zhuǎn)動，實現(xiàn)對電子元件角度和位置的調(diào)整，以此便于電子元件與模擬探針卡的插接安裝；電子元件檢測完成后，由活動夾爪夾取并配合調(diào)節(jié)導(dǎo)軌的推送將活動夾爪推送至卸料機(jī)構(gòu)上方，完成卸料，同時活動夾爪的設(shè)置也使得對上料工位上的取料操作更加方便；

14、本發(fā)明通過設(shè)置卸料機(jī)構(gòu)，利用阻攔板將卸料導(dǎo)引罩的內(nèi)腔分隔為合格品料倉和不合格料倉，實現(xiàn)對檢測完成后的電子元件的分類收集，通過計數(shù)器對完成檢測的元件的數(shù)量進(jìn)行統(tǒng)計，以方便操作人員實時了解檢測數(shù)量，并通過對合格品與不合格品分別統(tǒng)計，方便對合格率的計算和記錄。

技術(shù)特征：

1.電子元件測試設(shè)備，其特征在于，包括機(jī)臺(1)，所述機(jī)臺(1)的頂部固定連接有安裝架(201)，所述安裝架(201)的內(nèi)部設(shè)置有若干個裝配倉，所述裝配倉內(nèi)滑動安裝有檢測儀(3)，所述機(jī)臺(1)的一側(cè)設(shè)置有用于電子元件進(jìn)行上料的轉(zhuǎn)盤上料機(jī)構(gòu)(5)，所述轉(zhuǎn)盤上料機(jī)構(gòu)(5)的上方設(shè)置有用于對電子元件進(jìn)行移動的抓取移料機(jī)構(gòu)(4)；

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件測試設(shè)備，其特征在于，所述夾取組件包括調(diào)節(jié)座，所述調(diào)節(jié)座的內(nèi)壁固定安裝有調(diào)向電機(jī)(405)，所述調(diào)向電機(jī)(405)的輸出端固定連接有夾取架(406)，所述夾取架(406)的底部固定安裝有固定夾爪(4071)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電子元件測試設(shè)備，其特征在于，所述夾取架(406)的一端固定連接有調(diào)節(jié)導(dǎo)軌，所述調(diào)節(jié)導(dǎo)軌的內(nèi)壁滑動安裝有活動夾爪(4072)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件測試設(shè)備，其特征在于，所述檢測儀(3)包括殼體(301)，所述殼體(301)的內(nèi)部設(shè)置有檢測儀(3)主體，所述殼體(301)的兩側(cè)均固定連接有限位滑塊，所述裝配倉的內(nèi)壁兩側(cè)均開設(shè)有滑槽，所述限位滑塊與滑槽滑動連接，所述殼體(301)的頂部固定連接有連接座(302)，所述連接座(302)的頂部固定連接有模擬探針卡(303)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件測試設(shè)備，其特征在于，所述轉(zhuǎn)盤上料機(jī)構(gòu)(5)包括驅(qū)動電機(jī)，所述驅(qū)動電機(jī)的輸出端固定安裝有上料轉(zhuǎn)盤(501)，所述上料轉(zhuǎn)盤(501)的頂部邊沿開設(shè)有若干個上料限位孔(502)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電子元件測試設(shè)備，其特征在于，若干個所述上料限位孔(502)的一側(cè)均設(shè)置有上料推送組件，所述上料推送組件包括推送電機(jī)(503)，所述推送電機(jī)(503)的輸出端固定連接有推送螺桿(504)，所述推送螺桿(504)的中部螺紋連接有推送塊，所述推送塊的一側(cè)固定連接有推送盤(505)，所述推送盤(505)滑動設(shè)置于上料限位孔(502)內(nèi)。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電子元件測試設(shè)備，其特征在于，所述上料限位孔(502)的內(nèi)壁一側(cè)頂部嵌設(shè)有調(diào)姿電機(jī)，所述調(diào)姿電機(jī)的輸出端固定連接有調(diào)姿塊(506)，所述調(diào)姿塊(506)的外壁設(shè)置有若干個突出部。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件測試設(shè)備，其特征在于，所述安裝架(201)的一側(cè)固定安裝有卸料機(jī)構(gòu)，所述卸料機(jī)構(gòu)包括卸料導(dǎo)引罩(601)，所述卸料導(dǎo)引罩(601)的內(nèi)壁中部固定安裝有阻攔板(602)，所述阻攔板(602)將卸料導(dǎo)引罩(601)的內(nèi)腔分隔為合格品料倉和不合格料倉，所述卸料導(dǎo)引罩(601)的內(nèi)壁底部傾斜設(shè)置。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的電子元件測試設(shè)備，其特征在于，所述卸料導(dǎo)引罩(601)的一端固定連接有檢測架(603)，所述檢測架(603)的底部兩側(cè)均固定安裝有計數(shù)器(604)，兩個所述計數(shù)器(604)分別與合格品料倉和不合格料倉一端對應(yīng)設(shè)置。

10.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電子元件測試設(shè)備，其特征在于，所述連接座(302)的內(nèi)部開設(shè)有送風(fēng)腔，所述送風(fēng)腔的內(nèi)壁固定開設(shè)有若干個送風(fēng)槽(304)，若干個所述送風(fēng)槽(304)均向上傾斜設(shè)置，所述送風(fēng)腔的一側(cè)固定連接有送風(fēng)管(305)，所述送風(fēng)管(305)的一端與送風(fēng)泵的輸出端固定連接。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了電子元件測試設(shè)備，涉及電子元件測試技術(shù)領(lǐng)域，包括機(jī)臺，所述機(jī)臺的頂部固定連接有安裝架，所述安裝架的內(nèi)部設(shè)置有若干個裝配倉，所述裝配倉內(nèi)滑動安裝有檢測儀，所述機(jī)臺的一側(cè)設(shè)置有用于電子元件進(jìn)行上料的轉(zhuǎn)盤上料機(jī)構(gòu)，所述轉(zhuǎn)盤上料機(jī)構(gòu)的上方設(shè)置有用于對電子元件進(jìn)行移動的抓取移料機(jī)構(gòu)；所述抓取移料機(jī)構(gòu)包括移料架，所述移料架的頂部開設(shè)有移位滑槽，所述移位滑槽的內(nèi)壁固定安裝有移位導(dǎo)軌，本發(fā)明通過對安裝架的分隔，使得本裝置可以根據(jù)實際的檢測操作需要安裝使用多個不同的檢測儀，以此滿足對多種不同類型的電子元件的檢測需要，也可以通過多個同類型的檢測儀的同步安裝操作提高檢測效率。

技術(shù)研發(fā)人員：王大為,陳世杰,高俊,葛小虎
受保護(hù)的技術(shù)使用者：合肥新匯成微電子股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/10