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      一種具有Si-V發(fā)光的納米金剛石薄膜及制備方法

      文檔序號:5269140閱讀:345來源:國知局
      一種具有Si-V發(fā)光的納米金剛石薄膜及制備方法
      【專利摘要】本發(fā)明提供了一種具有Si-V發(fā)光的納米金剛石薄膜及制備方法:采用熱絲化學(xué)氣相沉積方法,在單晶硅襯底上制備納米金剛石薄膜;然后對薄膜在500-700℃溫度下的空氣中保溫5~150分鐘,即制得所述具有Si-V發(fā)光的納米金剛石薄膜。本發(fā)明制備獲得的納米金剛石薄膜的Si-V發(fā)光強(qiáng)度較強(qiáng),對于實(shí)現(xiàn)其在單光子源、量子信息處理、光電子器件、生物標(biāo)記、半導(dǎo)體器件和場致發(fā)射顯示器等領(lǐng)域的應(yīng)用具有十分重要的科學(xué)意義和工程價(jià)值。
      【專利說明】-種具有Si-V發(fā)光的納米金剛石薄膜及制備方法 (一)

      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001] 本發(fā)明涉及一種具有Si-v發(fā)光(在光致發(fā)光譜中的發(fā)光峰位于738nm)的納米金 剛石薄膜及其制備方法。 (二)

      【背景技術(shù)】
      [0002] 金剛石中存在500多個(gè)發(fā)光中心,其中最典型的發(fā)光中心有三種:氮-空位 (N-V)、NE8和硅-空位(Si-V)中心,他們已被證實(shí)可以作為明亮穩(wěn)定的室溫單光子源,在 單光子源、量子信息處理、光電子器件、生物標(biāo)記、半導(dǎo)體器件和場致發(fā)射顯示器等領(lǐng)域的 應(yīng)用具有十分重要的科學(xué)意義和工程價(jià)值。
      [0003] 金剛石中的Si-V發(fā)光中心在光致發(fā)光譜(PL譜)中的發(fā)光峰位于738nm,線寬較 窄(?5nm),發(fā)光壽命很短(1. 2ns),使得Si-V成為極具潛力的單光子源。在納米金剛石晶 粒中構(gòu)建光學(xué)活性的缺陷,可以獲得具有更強(qiáng)更窄發(fā)光的單一光學(xué)活性的薄膜?;瘜W(xué)氣相 沉積(CVD)制備的納米金剛石薄膜中的Si-V發(fā)光中心通常是在薄膜生長過程中,由襯底或 石英管中的硅以非有意摻雜的形式進(jìn)入薄膜而形成的;使得制備的薄膜有的具有Si-V發(fā) 光,而有的薄膜并不具有Si-V發(fā)光性能,即薄膜的Si-V發(fā)光性能難以控制。因此,本發(fā)明 探索具有Si-V發(fā)光的納米金剛石薄膜的制備方法,對于實(shí)現(xiàn)納米金剛石薄膜在單光子源、 量子信息處理、光電子器件和場致發(fā)射顯示器等領(lǐng)域的應(yīng)用具有十分重要的科學(xué)意義和工 程價(jià)值。
      [0004] 在 申請人:的授權(quán)專利"一種η型納米金剛石薄膜及制備方法"(ZL200910155306.3) 中,提出在納米金剛石薄膜中注入施主雜質(zhì)離子,并對薄膜進(jìn)行真空退火處理,獲得了電阻 率較低,遷移率較高的η型納米金剛石薄膜。該專利涉及真空退火及薄膜的電學(xué)性能。本 申請對薄膜進(jìn)行空氣中的氧化處理,提高了薄膜的Si-V發(fā)光性能。目前文獻(xiàn)中對薄膜進(jìn)行 氧化處理,主要研究氧化對薄膜微結(jié)構(gòu)和力學(xué)性能等的影響;而氧化處理對薄膜的Si-V發(fā) 光性能的影響等研究未見報(bào)道。 (三)


      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0005] 本發(fā)明的目的是提供一種具有Si-V發(fā)光(Si-V發(fā)光是指在光致發(fā)光譜(PL譜) 中特征峰位于738nm處,線寬較窄(?5nm),發(fā)光壽命很短(1. 2ns),使得Si-V成為極具潛 力的單光子源)的納米金剛石薄膜及制備方法。
      [0006] 本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:
      [0007] -種具有Si-V發(fā)光的納米金剛石薄膜的制備方法,所述方法包括:(1)在單晶硅 襯底上采用熱絲化學(xué)氣相沉積方法制備納米金剛石薄膜;(2)將步驟(1)得到的納米金剛 石薄膜在500-700°C (優(yōu)選600-700°C )溫度下的空氣中保溫5?150分鐘,即制得所述 具有Si-V發(fā)光的納米金剛石薄膜。本發(fā)明采用熱絲化學(xué)氣相沉積方法,制備納米金剛石 薄膜,并對薄膜在空氣中進(jìn)行熱氧化處理,制備得到具有Si-V發(fā)光的納米金剛石薄膜。該 方案解決了熱絲化學(xué)氣相沉積法制備得到的納米金剛石薄膜的Si-V發(fā)光性能不穩(wěn)定的問 題。
      [0008] 本發(fā)明還提供一種具有Si-V發(fā)光的納米金剛石薄膜,所述薄膜按以下方法制得: (1)在單晶硅襯底上采用熱絲化學(xué)氣相沉積方法制備納米金剛石薄膜;(2)將步驟(1)得到 的納米金剛石薄膜在500-700°C溫度下的空氣中保溫5?150分鐘,即制得所述具有Si-V 發(fā)光的納米金剛石薄膜。制得的薄膜表面發(fā)生了氧化,薄膜表面為氧終止。
      [0009] 所述納米金剛石薄膜采用熱絲化學(xué)氣相沉積(HFCVD)法在單晶硅襯底上制備,可 采用常規(guī)化學(xué)氣相沉積設(shè)備進(jìn)行,制備獲得的納米金剛石薄膜厚度通常在1?10 μ m。
      [0010] 優(yōu)選的,所述步驟(1)具體方法如下:對單晶硅襯底采用金剛石研磨膏打磨半小 時(shí),打磨后的金剛硅襯底放入化學(xué)氣相沉積設(shè)備,以丙酮為碳源,采用氫氣鼓泡方式將丙酮 帶入到反應(yīng)室中,反應(yīng)溫度600?700°C、反應(yīng)時(shí)間5?6小時(shí),在單晶硅襯底上制備得到厚 度為1?10^的納米金剛石薄膜。
      [0011] 所述步驟(2)優(yōu)選為以下操作方法之一:
      [0012] ⑴將步驟⑴得到的納米金剛石薄膜在500°C溫度下的空氣中保溫150分鐘,即 制得所述具有Si-V發(fā)光的納米金剛石薄膜;
      [0013] (ii)將步驟(1)得到的納米金剛石薄膜在600°C溫度下的空氣中保溫30分鐘,即 制得所述具有Si-V發(fā)光的納米金剛石薄膜;
      [0014] (iii)將步驟(1)得到的納米金剛石薄膜在700°C溫度下的空氣中保溫5分鐘,即 制得所述具有Si-V發(fā)光的納米金剛石薄膜。
      [0015] 更優(yōu)選所述步驟(2)為上述方法(ii)或(iii)。
      [0016] 本發(fā)明的有益效果主要體現(xiàn)在:(1)該方法將納米金剛石薄膜在空氣中加熱一定 時(shí)間,使得不具備Si-ν發(fā)光的薄膜呈Si-V發(fā)光,該方法簡單、易于操作;(2)采用CVD方法 制備納米金剛石薄膜,然后對薄膜在一定溫度的空氣中保溫一定時(shí)間,使得納米金剛石薄 膜具有Si-V發(fā)光性能。該方案解決了化學(xué)氣相沉積制備得到的薄膜的Si-V發(fā)光性能不穩(wěn) 定的問題,為制備納米金剛石光電子器件奠定了基礎(chǔ)。(3)制備獲得的納米金剛石薄膜的 Si-V發(fā)光性能較強(qiáng),對于實(shí)現(xiàn)其在單光子源、量子信息處理、光電子器件、生物標(biāo)記、半導(dǎo)體 器件和場致發(fā)射顯示器等領(lǐng)域的應(yīng)用具有十分重要的科學(xué)意義和工程價(jià)值。 (四)

      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0017] 圖1為納米金剛石薄膜的場發(fā)射掃描電鏡(FESEM)照片。
      [0018] 圖2為納米金剛石薄膜的高分辨透射電鏡(HRTEM)照片。
      [0019] 圖3為納米金剛石薄膜的光致發(fā)光譜,其右上小圖為薄膜的Raman光譜圖。
      [0020] 圖4為500°C空氣中保溫150分鐘的納米金剛石薄膜的Raman光譜圖。
      [0021] 圖5為500°C空氣中保溫150分鐘的納米金剛石薄膜的光致發(fā)光譜圖。
      [0022] 圖6為600°C空氣中保溫30分鐘的納米金剛石薄膜的Raman光譜圖。
      [0023] 圖7為600°C空氣中保溫30分鐘的納米金剛石薄膜的光致發(fā)光譜圖。
      [0024] 圖8為700°C空氣中保溫5分鐘的納米金剛石薄膜的Raman光譜圖。
      [0025] 圖9為700°C空氣中保溫5分鐘的納米金剛石薄膜的光致發(fā)光譜圖。 (五)

      【具體實(shí)施方式】
      [0026] 下面結(jié)合具體實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步描述,但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不僅限于 此:
      [0027] 實(shí)施例1 :
      [0028] 用納米級金剛石粉打磨單晶硅片,打磨時(shí)間約半小時(shí)。打磨過的硅片經(jīng)過超聲清 洗后,作為納米金剛石薄膜生長的襯底。采用熱絲化學(xué)氣相沉積方法(化學(xué)氣相沉積設(shè)備 購自上海交友鉆石涂層有限公司),以丙酮為碳源,采用氫氣鼓泡方式將丙酮帶入到反應(yīng)室 中,反應(yīng)室溫度控制在600?700°C,制備時(shí)間為5小時(shí),制備出厚度為3 μ m的納米金剛石 薄膜。采用場發(fā)射掃描電鏡觀察薄膜的表面形貌,采用高分辨透射電鏡(HRTEM)觀察薄膜 的微結(jié)構(gòu);采用光致發(fā)光譜測試薄膜的發(fā)光性能。
      [0029] 圖1為納米金剛石薄膜的場發(fā)射掃描電鏡(FESEM)照片,可見薄膜是由納米級的 金剛石晶粒組成;圖2為薄膜的高分辨透射電鏡(HRTEM)照片,可以看出直徑為3?5nm的 金剛石晶粒(黑色)鑲嵌在非晶碳相(淺灰色)中,表明納米金剛石薄膜是由納米金剛石 晶粒和非晶碳晶界組成的復(fù)合結(jié)構(gòu)。圖3為薄膜的光致發(fā)光譜圖,可以看出,薄膜在738nm 處不具有Si-V發(fā)光峰,說明熱絲化學(xué)氣相沉積制備得到的納米金剛石薄膜不具有Si-V發(fā) 光性能。圖3右上小圖為納米金剛石薄膜的Raman光譜,圖譜表明在1332CHT 1處出現(xiàn)了金 剛石特征峰,在1560CHT1還可觀察到無序sp2鍵的石墨峰,說明薄膜主要由金剛石相和無序 石墨相組成,為普通的納米金剛石薄膜。
      [0030] 將上述納米金剛石薄膜在500°C的空氣中保溫150分鐘,采用波長為514nm的 Raman光譜對薄膜成分進(jìn)行分析,如圖4所示??梢钥闯?,譜圖中出現(xiàn)了 1332CHT1的金剛石 特征峰,表明薄膜中存在金剛石相;在1560CHT1還可觀察到無序sp 2鍵的石墨峰,說明薄膜 主要由金剛石相和無序石墨相組成,與通常的納米金剛石薄膜的Raman特征譜圖(圖3右 上小圖)一致。
      [0031] 圖5為500°C空氣中保溫150分鐘的納米金剛石薄膜的光致發(fā)光譜圖,測試結(jié)果表 明,在500°C的空氣中熱氧化后的納米金剛石薄膜開始出現(xiàn)738nm的Si-V發(fā)光峰,說明熱氧 化處理使納米金剛石薄膜產(chǎn)生了 Si-V發(fā)光性能。
      [0032] 實(shí)施例2 :
      [0033] 采用納米級金剛石粉打磨單晶硅片,打磨時(shí)間約半小時(shí)。打磨過的硅片經(jīng)過超聲 機(jī)清洗后,作為納米金剛石薄膜生長的襯底。采用熱絲化學(xué)氣相沉積方法(化學(xué)氣相沉積 設(shè)備購自上海交友鉆石涂層有限公司),以丙酮為碳源,采用氫氣鼓泡方式將丙酮帶入到反 應(yīng)室中,反應(yīng)室溫度控制在600?700°C,制備時(shí)間為6小時(shí),制備出厚度為3. 5 μ m的納米 金剛石薄膜。光致發(fā)光譜測試結(jié)果表明,薄膜不具有Si-V發(fā)光峰,說明制備得到的納米金 剛石薄膜不具有Si-V發(fā)光性能。
      [0034] 將上述的納米金剛石薄膜在600°C的空氣中保溫30分鐘,采用波長為514nm的 Raman光譜對薄膜成分進(jìn)行分析,如圖6所示。可以看出,譜圖中出現(xiàn)了 1332CHT1的金剛石 特征峰,表明薄膜中存在金剛石相;在1560CHT1還可觀察到無序sp 2鍵的石墨峰,說明薄膜 主要由金剛石相和無序石墨相組成,與通常的納米金剛石薄膜的Raman特征譜圖一致。
      [0035] 圖7為600°C空氣中保溫30分鐘的納米金剛石薄膜的光致發(fā)光譜圖,測試結(jié)果表 明,在600°C的空氣中熱氧化30分鐘后的納米金剛石薄膜出現(xiàn)了 738nm的Si-V發(fā)光峰,并 且其Si-V發(fā)光強(qiáng)度較500°C的空氣中熱氧化150分鐘后的薄膜強(qiáng),說明該溫度和時(shí)間的熱 氧化處理能使納米金剛石薄膜產(chǎn)生更明顯的Si-v發(fā)光峰。
      [0036] 實(shí)施例3 :
      [0037] 采用納米級金剛石粉打磨單晶硅片,打磨時(shí)間約半小時(shí)。打磨過的硅片經(jīng)過超聲 機(jī)清洗后,作為納米金剛石薄膜生長的襯底。采用熱絲化學(xué)氣相沉積方法(化學(xué)氣相沉積 設(shè)備購自上海交友鉆石涂層有限公司),以丙酮為碳源,采用氫氣鼓泡方式將丙酮帶入到反 應(yīng)室中,反應(yīng)室溫度控制在600?700°C,制備時(shí)間為5小時(shí),制備出厚度為3 μ m的納米金 剛石薄膜。光致發(fā)光譜測試結(jié)果表明,薄膜不具有Si-V發(fā)光峰,說明制備得到的納米金剛 石薄膜不具有Si-V發(fā)光性能。
      [0038] 將上述的納米金剛石薄膜在700°C的空氣中保溫5分鐘,采用波長為514nm的 Raman光譜對薄膜成分進(jìn)行分析,如圖8所示??梢钥闯觯V圖中出現(xiàn)了 1332CHT1的金剛石 特征峰,表明薄膜中存在金剛石相;在1560CHT1還可觀察到無序sp 2鍵的石墨峰,說明薄膜 主要由金剛石相和無序石墨相組成,與通常的納米金剛石薄膜的Raman特征譜圖一致。
      [0039] 圖9為700°C空氣中保溫5分鐘的納米金剛石薄膜的光致發(fā)光譜圖,測試結(jié)果表 明,在700°C的空氣中熱氧化5分鐘后的納米金剛石薄膜出現(xiàn)了 738nm的Si-V發(fā)光峰,說明 熱氧化處理使納米金剛石薄膜產(chǎn)生了 Si-V發(fā)光峰。
      【權(quán)利要求】
      1. 一種具有Si-v發(fā)光的納米金剛石薄膜的制備方法,其特征在于所述方法包括以下 步驟:(1)在單晶硅襯底上采用熱絲化學(xué)氣相沉積方法制備納米金剛石薄膜;(2)將步驟 (1)得到的納米金剛石薄膜在500-700°C溫度下的空氣中保溫5?150分鐘,即制得所述具 有Si-V發(fā)光的納米金剛石薄膜。
      2. 如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于所述步驟(1)的方法如下:對單晶硅襯底采 用金剛石研磨膏打磨半小時(shí),打磨后的金剛硅襯底放入化學(xué)氣相沉積設(shè)備,以丙酮為碳源, 采用氫氣鼓泡方式將丙酮帶入到反應(yīng)室中,反應(yīng)溫度600?700°C、反應(yīng)時(shí)間5?6小時(shí),在 單晶硅襯底上制備得到厚度為1?10 μ m的納米金剛石薄膜。
      3. 如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于所述步驟(2)中,在空氣中保溫的溫度為 600 ?700。。。
      4. 如權(quán)利要求1?3之一所述的方法制得的納米金剛石薄膜,在光致發(fā)光譜的738nm 處具有明顯的發(fā)光峰,具有Si-V發(fā)光性能。
      【文檔編號】B82Y30/00GK104060237SQ201410256615
      【公開日】2014年9月24日 申請日期:2014年6月10日 優(yōu)先權(quán)日:2014年6月10日
      【發(fā)明者】胡曉君, 梅盈爽 申請人:浙江工業(yè)大學(xué)
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