本發(fā)明系關(guān)于一種慣性傳感器之制作方法,且特別關(guān)于一種互補性氧化金屬半導(dǎo)體慣性傳感器之制作方法。
背景技術(shù):
1、互補性氧化金屬半導(dǎo)體(cmos)已廣泛用于集成電路(i?c)的制造,特別是在高階智能型手機芯片及影像感測芯片(ci?s)。由于大量的研究人力和投入,集成電路的發(fā)展和創(chuàng)新取得了突飛猛進的發(fā)展,顯著提高了其可靠性和產(chǎn)量,同時,生產(chǎn)成本大幅降低。目前,此技術(shù)已達到成熟穩(wěn)定的水平,對于半導(dǎo)體的持續(xù)發(fā)展,除了緊跟當(dāng)前技術(shù)發(fā)展趨勢外,必須實現(xiàn)突破,提供特殊的生產(chǎn)工藝,增強系統(tǒng)整合度。
2、在這方面,微機電系統(tǒng)(mems)是一種完全不同于傳統(tǒng)技術(shù)的新型加工技術(shù)。它主要利用半導(dǎo)體技術(shù)生產(chǎn)mems結(jié)構(gòu);同時它能夠制造具有電子和機械功能的結(jié)構(gòu)。因此,它具有批量處理,小型化和高性能的優(yōu)點,并且非常適用于需要以降低的成本進行大規(guī)模生產(chǎn)的技術(shù)。因此,對于cmos電路集成和mems合在一起可以是實現(xiàn)系統(tǒng)集成最佳的方法。在傳統(tǒng)技術(shù)中,如第1圖所示,微機電慣性傳感器1通常有固定電極10、絕緣層9、質(zhì)量塊12、彈簧11、感測電極13與一半導(dǎo)體基板14。固定電極10與13中間有空隙。當(dāng)外界產(chǎn)生慣性力作用在質(zhì)量塊12時,質(zhì)量塊12會移動。當(dāng)質(zhì)量塊12移動時,感測電極13與固定電極10之間會產(chǎn)生電容變化,將電容變化轉(zhuǎn)換成電壓訊號即可獲得慣性力的變化及大小。一般微機電慣性傳感器的彈簧結(jié)構(gòu)都是單晶硅或多晶硅,原因是有良好可靠度及對溫度變化的影響較低。本專利提出以互補性氧化金屬半導(dǎo)體制程(cmos)來制作微機電慣性傳感器,此方法可以將微機電慣性傳感器及感測電路整合在同一芯片中,并且可以降低封裝測試成本及制造本,同時需要透過制程來解決在互補性氧化金屬半導(dǎo)體制程中微機電慣性傳感器對溫度的變化影響及結(jié)構(gòu)翹曲等問題。先前技術(shù),美國專利us7258012b2中可以明顯了解,其彈簧結(jié)構(gòu)為復(fù)合材料,此復(fù)合材料包含金屬及二氧化硅。本專利彈簧結(jié)構(gòu)為單一材料或復(fù)合對稱材料。在本專利中,復(fù)合對稱材料意指金屬層、二氧化硅層及金屬層,并且二氧化硅層在兩個金屬層中間,上下金屬層的厚度是一樣。在先前技術(shù)中可了解到,雖然前案為cmos?mems制成,并且整合電路在芯片中,但是在同一芯片中結(jié)構(gòu)區(qū)域與cmos區(qū)域是分開,這樣會增加整體芯片的面積。在上述中,本案為了提升產(chǎn)品競爭力,故將cmos感測電路區(qū)域置于結(jié)構(gòu)區(qū)域中或在質(zhì)量塊中。因此,本發(fā)明系在針對上述的困擾,提出一種互補性氧化金屬半導(dǎo)體慣性傳感器之制作方法,以解決cmos工藝所產(chǎn)生的問題。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、本發(fā)明的主要目的,在于提供一種互補性氧化金屬半導(dǎo)體慣性傳感器之制作方法,其主要是可以提升傳感器的性能及降低生產(chǎn)測試成本。
2、為達上述目的,本發(fā)明提供一種互補性氧化金屬半導(dǎo)體慣性傳感器之制作方法。首先,提供一互補性氧化金屬半導(dǎo)體制程,其系包含依序由下而上設(shè)置的一半導(dǎo)體基板、一第一氧化絕緣層、一有摻雜多晶硅層、一第二氧化絕緣層、一金屬布線層。在互補性氧化金屬半導(dǎo)體制程中通常會有多層金屬布線層,每個金屬布線層中間為氧化絕緣層或金屬通孔(via)。因此,通?;パa性氧化金屬半導(dǎo)體制程中至少有一層摻雜多晶硅層及一層金屬布線層。在傳感器的制作,可以使用活性離子蝕刻(react?i?ve?i?on?etch?i?ng)來移除互補性氧化金屬半導(dǎo)體制程中氧化絕緣層及感應(yīng)耦合電漿(i?nduct?i?ve?l?y?coup?ledp?lasma)蝕刻基板完成空腔,從而形成一互補性氧化金屬半導(dǎo)體慣性傳感器。
3、在本發(fā)明之一實施例中,金屬布線層更包含多個圖案化金屬層與多個金屬通孔,其為感測電極。質(zhì)量塊是由鎢、二氧化硅及金屬所構(gòu)成,彈簧結(jié)構(gòu)是由金屬所構(gòu)成,同時彈簧結(jié)構(gòu)與質(zhì)量塊連接,感測電極屬于質(zhì)量塊一部份,感測電極的另一端為固定端。在此,特別說明彈簧結(jié)構(gòu)為單一金屬材料,并非復(fù)合材料。
4、在本發(fā)明之一實施例中,金屬布線層更包含多個圖案化金屬層與多個金屬通孔,其為感測電極。質(zhì)量塊是由鎢、二氧化硅及金屬所構(gòu)成,彈簧結(jié)構(gòu)是由多晶硅所構(gòu)成,同時彈簧結(jié)構(gòu)與質(zhì)量塊連接,感測電極屬于質(zhì)量塊一部份,感測電極的另一端為固定端。
5、在本發(fā)明之一實施例中,金屬布線層更包含多個圖案化金屬層與多個金屬通孔,其為感測電極。質(zhì)量塊是由鎢、二氧化硅及金屬所構(gòu)成,彈簧結(jié)構(gòu)是由復(fù)合材料所構(gòu)成,同時彈簧結(jié)構(gòu)與質(zhì)量塊連接,感測電極屬于質(zhì)量塊一部份,感測電極的另一端為固定端。
6、在本發(fā)明之一實施例中,金屬布線層更包含多個圖案化金屬層與多個金屬通孔,其為感測電極。質(zhì)量塊是由鎢、二氧化硅及金屬所構(gòu)成,并且在質(zhì)量塊中有cmos電路,彈簧結(jié)構(gòu)是由金屬所構(gòu)成,同時彈簧結(jié)構(gòu)與質(zhì)量塊連接,感測電極屬于質(zhì)量塊一部份,感測電極的另一端為固定端。在此,特別說明彈簧結(jié)構(gòu)為單一金屬材料,并非復(fù)合材料。
7、在本發(fā)明之一實施例中,互補性氧化金屬半導(dǎo)體慣性傳感器可為一數(shù)組式傳感器,在一芯片中有數(shù)個相同尺寸互補性氧化金屬半導(dǎo)體慣性傳感器。
8、在本發(fā)明之一實施例中,互補性氧化金屬半導(dǎo)體慣性測器可為一數(shù)組式傳感器,在一芯片中有數(shù)個不同尺寸互補性氧化金屬半導(dǎo)體慣性傳感器。
9、基于上述,互補性氧化金屬半導(dǎo)體慣性傳感器之制作,方可以有效提升傳感器性能及降低測試封裝成本。
1.一種互補性氧化金屬半導(dǎo)體慣性傳感器之制作方法:
2.如請求項1所述之互補性氧化金屬半導(dǎo)體慣性傳感器之制作方法,其彈簧結(jié)構(gòu)為單一金屬材料或多晶硅材料。
3.如請求項1所述之互補性氧化金屬半導(dǎo)體慣性傳感器之制作方法,其彈簧結(jié)構(gòu)為復(fù)合材料。
4.一種互補性氧化金屬半導(dǎo)體慣性傳感器之制作方法:
5.如請求項4所述之互補性氧化金屬半導(dǎo)體慣性傳感器之制作方法,其彈簧結(jié)構(gòu)為單一金屬材料或多晶硅材料。
6.如請求項4所述之互補性氧化金屬半導(dǎo)體慣性傳感器之制作方法,其彈簧結(jié)構(gòu)為復(fù)合材料。