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      一種基于鐃鈸結(jié)構(gòu)的MEMS傳感器的制作方法

      文檔序號:39867572發(fā)布日期:2024-11-05 16:20閱讀:187來源:國知局
      一種基于鐃鈸結(jié)構(gòu)的MEMS傳感器的制作方法

      本發(fā)明涉及mems傳感器的,尤其涉及一種基于鐃鈸結(jié)構(gòu)的mems傳感器。


      背景技術(shù):

      1、目前,mems(micro-electro-mechanical?system,微電子機(jī)械系統(tǒng))技術(shù)取得了飛速的發(fā)展,mems器件在結(jié)構(gòu)上具有尺寸小、厚度薄等特點,產(chǎn)品可批量生產(chǎn),全自動化組裝具有成本優(yōu)勢,很多宏觀上的大尺寸的傳感器、執(zhí)行器都轉(zhuǎn)向mems結(jié)構(gòu)。

      2、現(xiàn)有的mems傳感器結(jié)構(gòu)多樣,整體可以分類為懸臂梁和圓膜結(jié)構(gòu)。然而,圓膜結(jié)構(gòu)由于四周固定,其產(chǎn)生的中心位移變化量較?。欢鴳冶哿宏嚵信帕袝r,相鄰的兩個懸臂梁之間會產(chǎn)生狹縫,該狹縫會導(dǎo)致mems傳感器處于低頻時的響應(yīng)產(chǎn)生較大程度的衰減,也就是常說的漏氣,從而使得mems傳感器的輸出響應(yīng)低,性能較差。


      技術(shù)實現(xiàn)思路

      1、本發(fā)明提供了一種基于鐃鈸結(jié)構(gòu)的mems傳感器,以避免mems傳感器在低頻下的響應(yīng)衰減,提高了mems傳感器的輸出響應(yīng),同時將壓電層的橫向位移與上端蓋層和下端蓋層的縱向位移相互轉(zhuǎn)化,增大了mems傳感器的位移變化量,提高了mems傳感器的輸出電壓和靈敏度。

      2、本發(fā)明提供了一種基于鐃鈸結(jié)構(gòu)的mems傳感器,mems傳感器包括基底和位于基底一側(cè)的鐃鈸結(jié)構(gòu),鐃鈸結(jié)構(gòu)包括沿垂直基底一側(cè)表面的方向依次設(shè)置的下端蓋層、下電極層、壓電層、上電極層和上端蓋層;

      3、下端蓋層與基底之間形成第一空隙,下端蓋層朝向背離下電極層的方向突出形成第一凸起,第一凸起與下電極層之間形成第二空隙;上端蓋層朝向背離上電極層的方向突出形成第二凸起,第二凸起與上電極層之間形成第三空隙。

      4、可選的,上端蓋層和下端蓋層均包括鐃鈸區(qū),第一凸起和第二凸起均位于鐃鈸區(qū);

      5、第一凸起包括第一頂面和與第一頂面邊緣一體連接的第一斜面,第一頂面與下電極層平行,第一斜面和下電極層之間存在第一夾角a,a<90°;

      6、第二凸起包括第二頂面和與第二頂面邊緣一體連接的第二斜面,第二頂面與上電極層平行,第二斜面和上電極層之間存在第二夾角b,b<90°。

      7、可選的,5°≤a≤45°,5°≤b≤45°。

      8、可選的,下端蓋層和上端蓋層還包括平面區(qū),平面區(qū)圍繞鐃鈸區(qū);

      9、平面區(qū)的上端蓋層與下電極層平行;平面區(qū)的下端蓋層與上電極層平行。

      10、可選的,鐃鈸結(jié)構(gòu)在第一方向上的最大長度為d,第一方向為任意經(jīng)過鐃鈸結(jié)構(gòu)的中心且平行基底的表面的方向;壓電層厚度為h;在第一方向上,第一頂面與第二頂面的長度相等,第一頂面或第二頂面的長度為w,平面區(qū)的長度為k;

      11、其中,10≤d/h≤20,2≤d/w≤8,10≤d/k≤35。

      12、可選的,上端蓋層的厚度為t2,5um≤t2≤100um。

      13、可選的,鐃鈸結(jié)構(gòu)還包括密封層;

      14、密封層設(shè)置于上端蓋層遠(yuǎn)離基底的一側(cè)表面,且部分覆蓋上端蓋層,以使鐃鈸結(jié)構(gòu)密封。

      15、可選的,上端蓋層和下端蓋層的鐃鈸區(qū)在基底所在平面投影的形狀呈正多邊形或圓形。

      16、可選的,第一斜面包括多個開孔,開孔與第一空隙連通;和/或,第二斜面包括多個開孔,開孔與第二空隙連通。

      17、可選的,開孔的數(shù)量與鐃鈸結(jié)構(gòu)的邊數(shù)相等,多個開孔圍繞第一頂面或第二頂面呈中心對稱。

      18、本發(fā)明的技術(shù)方案,通過在基底一側(cè)設(shè)置鐃鈸結(jié)構(gòu),鐃鈸結(jié)構(gòu)包括沿垂直基底一側(cè)表面的方向依次設(shè)置的下端蓋層、下電極層、壓電層、上電極層和上端蓋層,且基底與下端蓋層之間形成第一空隙,下端蓋層朝向背離下電極層的方向突出形成第一凸起,第一凸起與下電極層之間形成第二空隙;上端蓋層朝向背離上電極層的方向突出形成第二凸起,第二凸起與上電極層之間形成第三空隙。通過上述結(jié)構(gòu),當(dāng)作為發(fā)射應(yīng)用時,通過向上電極層和下電極層兩端施加電壓,對應(yīng)的位于上電極層和下電極層之間的壓電層會在橫向方向上發(fā)生一定大小的位移變化,從而產(chǎn)生位移變化量,產(chǎn)生的位移變化量會帶動上端蓋層和下端蓋層在縱向方向上產(chǎn)生一定大小的位移變化,從而將壓電層的橫向位移轉(zhuǎn)換為上端蓋層和下端蓋層的縱向位移,增大了mems傳感器的位移變化量;當(dāng)作為接收應(yīng)用時,聲信號作用在上端蓋層上,引起上端蓋層和下端蓋層產(chǎn)生一定大小的縱向位移,從而實現(xiàn)了將上端蓋層和下端蓋層的縱向位移轉(zhuǎn)化成壓電層的橫向位移,提高了mems傳感器的輸出電壓和靈敏度,且不會降低mems傳感器處于低頻時的輸出響應(yīng)。

      19、應(yīng)當(dāng)理解,本部分所描述的內(nèi)容并非旨在標(biāo)識本發(fā)明的實施例的關(guān)鍵或重要特征,也不用于限制本發(fā)明的范圍。本發(fā)明的其它特征將通過以下的說明書而變得容易理解。



      技術(shù)特征:

      1.一種基于鐃鈸結(jié)構(gòu)的mems傳感器,其特征在于,所述mems傳感器包括基底和位于所述基底一側(cè)的所述鐃鈸結(jié)構(gòu),所述鐃鈸結(jié)構(gòu)包括沿垂直所述基底一側(cè)表面的方向依次設(shè)置的下端蓋層、下電極層、壓電層、上電極層和上端蓋層;

      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的mems傳感器,其特征在于,所述上端蓋層和所述下端蓋層均包括鐃鈸區(qū),所述第一凸起和所述第二凸起均位于所述鐃鈸區(qū);

      3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的mems傳感器,其特征在于,5°≤a≤45°,5°≤b≤45°。

      4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的mems傳感器,其特征在于,所述下端蓋層和所述上端蓋層還包括平面區(qū),所述平面區(qū)圍繞所述鐃鈸區(qū);

      5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的mems傳感器,其特征在于,所述鐃鈸結(jié)構(gòu)在第一方向上的最大長度為d,所述第一方向為任意經(jīng)過所述鐃鈸結(jié)構(gòu)的中心且平行所述基底的表面的方向;所述壓電層厚度為h;在第一方向上,所述第一頂面與所述第二頂面的長度相等,所述第一頂面或所述第二頂面的長度為w,所述平面區(qū)的長度為k;

      6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的mems傳感器,其特征在于,所述上端蓋層的厚度為t2,5um≤t2≤100um。

      7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的mems傳感器,其特征在于,所述鐃鈸結(jié)構(gòu)還包括密封層;

      8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的mems傳感器,其特征在于,所述上端蓋層和所述下端蓋層的所述鐃鈸區(qū)在所述基底所在平面投影的形狀呈正多邊形或圓形。

      9.根據(jù)權(quán)利要求2所述的mems傳感器,其特征在于,所述第一斜面包括多個開孔,所述開孔與所述第一空隙連通;和/或,所述第二斜面包括多個開孔,所述開孔與所述第二空隙連通。

      10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的mems傳感器,其特征在于,所述開孔的數(shù)量與所述鐃鈸結(jié)構(gòu)的邊數(shù)相等,所述多個開孔圍繞所述第一頂面或所述第二頂面呈中心對稱。


      技術(shù)總結(jié)
      本發(fā)明公開了一種基于鐃鈸結(jié)構(gòu)的MEMS傳感器,包括基底和位于基底一側(cè)的鐃鈸結(jié)構(gòu),鐃鈸結(jié)構(gòu)包括沿垂直基底一側(cè)表面的方向依次設(shè)置的下端蓋層、下電極層、壓電層、上電極層和上端蓋層;下端蓋層與基底之間形成第一空隙,下端蓋層朝向背離下電極層的方向突出形成第一凸起,第一凸起與下電極層之間形成第二空隙;上端蓋層朝向背離上電極層的方向突出形成第二凸起,第二凸起與上電極層之間形成第三空隙。利用上述結(jié)構(gòu),實現(xiàn)了MEMS傳感器的發(fā)射與接收應(yīng)用,將壓電層的橫向位移與上端蓋層和下端蓋層的縱向位移相互轉(zhuǎn)化,增大了MEMS傳感器的位移變化量,避免了MEMS傳感器在低頻下的響應(yīng)衰減,提高了MEMS傳感器的輸出電壓和靈敏度。

      技術(shù)研發(fā)人員:孫成亮,楊超翔,劉炎,蔡耀,國世上,孫博文
      受保護(hù)的技術(shù)使用者:武漢敏聲新技術(shù)有限公司
      技術(shù)研發(fā)日:
      技術(shù)公布日:2024/11/4
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