專利名稱：一種測量鋁電解槽熔體內(nèi)部電壓降的測量管的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種測量管，尤其涉及一種測量鋁電解槽熔體內(nèi)部電壓降的測量管。
背景技術(shù)：
目前通用的鋁電解槽呈一個長方體的箱形，內(nèi)部裝有90(Tl00(rC左右的熔融冰晶 石電解液和鋁液?，F(xiàn)在的電解槽越來越大，電流強度達到400— 500kA，大電流必然產(chǎn)生強 磁場。槽內(nèi)的電解質(zhì)液和鋁液都是高溫導(dǎo)電流體，在磁場中必然受電磁力，每個微小熔體所 受電磁力取決于熔體處的磁場和電流的方向和大小。鋁電解槽的熔體，有兩層熔液，下層是 鋁液，上層是熔融的冰晶石電解質(zhì)液。電化學(xué)反應(yīng)在電解質(zhì)液內(nèi)進行，并在陽極生成C02氣 體，在鋁液面生成金屬鋁。在電解質(zhì)液內(nèi)，反應(yīng)復(fù)雜，電壓降很大，發(fā)熱多，在不同的深度電 壓降有差別，研究和測量鋁電解槽高溫熔體的內(nèi)部電壓降，即可獲知電解槽熔體內(nèi)的電流 分布。因此，研究可在鋁電解槽內(nèi)高溫，強腐蝕環(huán)境中測量鋁電解槽高溫熔體的內(nèi)部電壓的 測量管已成為一個急需解決的問題。發(fā)明內(nèi)容本實用新型要解決的技術(shù)問題是在鋁電解槽內(nèi)高溫，強腐蝕環(huán)境中測量鋁電解槽 高溫熔體的內(nèi)部電壓，提供了 一種測量鋁電解槽熔體內(nèi)部電壓降的測量管。本實用新型通過下述技術(shù)方案得以解決一種測量鋁電解槽熔體內(nèi)部電壓降的測量管，它包括一根氧化鋁陶瓷管和探針， 探針均布固定在氧化鋁陶瓷管內(nèi)壁，氧化鋁陶瓷管的下端用陶瓷板封堵。所述探針選用金屬絲。所述氧化鋁陶瓷管的直徑為2(T50mm。按照本實用新型的技術(shù)方案，測量時，將電解質(zhì)的結(jié)殼打開，將氧化鋁陶瓷測量管 插進熔體，測量管下端的金屬絲探針侵入熔體，從氧化鋁陶瓷測量管上端的金屬絲探針頭 即可用萬用表測量各金屬絲探針之間的電壓降，選取電解槽的不同位置，插入不同深度，就 可以使用該測量管在高溫，強腐蝕條件下測量鋁電解槽高溫熔體的內(nèi)部電壓降，選用金屬 絲作為探針，材料易取，成本低；氧化鋁陶瓷管的直徑在2(T50mm之間，操作方便，容易制 作。


圖1為4個探針測量管的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為圖1的A向視圖；圖3為8個探針測量管的結(jié)構(gòu)示意圖；圖4為圖3的A向視圖。
具體實施方式

以下結(jié)合附圖與具體實施方式
對本實用新型作進一步詳細描述[0016]實施例如圖1和圖2所示，圖1是裝有四根金屬絲探針2的測量管，由一根氧化鋁陶瓷管 1和四根金屬絲探針2組成，氧化鋁陶瓷管1的直徑以2(T50mm為宜，直徑過大不易操作，過 小制作麻煩；四根金屬絲探針2均布固定在氧化鋁陶瓷管1內(nèi)壁，金屬絲探針2的材料可用 鐵絲，不銹鋼絲或鉬絲，這三種金屬絲成本和高溫耐蝕性相比鉬絲 > 不銹鋼絲 > 鐵絲，故考 慮性能、價格和生產(chǎn)需要，選擇鐵絲作為探針，氧化鋁陶瓷管1的下端用陶瓷板3封堵，避免 熔體進入，金屬絲探針2的下端伸出氧化鋁陶瓷管1。測量時，將電解質(zhì)的結(jié)殼打開，將氧化 鋁陶瓷管1插進熔體，測量管下端的金屬絲探針2侵入熔體，從測量管上端的金屬絲探針2 的頭即可用萬用表測量各探針之間的電壓降，選取電解槽的不同位置，插入不同深度，即可 獲得電解槽熔體內(nèi)各點的電流分布；如圖3和圖4所示，是有八根探針的測量管。將兩根金 屬絲探針2并排靠攏，其中一根套在分段的導(dǎo)線短瓷套管4中，以保持探針之間的絕緣。此 兩根金屬絲探針2伸出氧化鋁陶瓷管1下部以后，一根金屬絲探針2剛剛露出測量管，另一 根金屬絲探針2穿過導(dǎo)線短瓷套管4，露出位置低3 — 10mm。用此并排的兩根探針代替圖1 的測量管的一根探針，就構(gòu)成八根探針的測量管。鋁電解槽的熔體，有兩層熔液，下層是鋁 液，上層是熔融的冰晶石電解質(zhì)液。電化學(xué)反應(yīng)在電解質(zhì)液內(nèi)進行，并在陽極生成CO2氣體， 在鋁液面生成金屬鋁。在電解質(zhì)液內(nèi)，反應(yīng)復(fù)雜，電壓降很大，發(fā)熱多，在不同的深度電壓降 有差別。用八根探針的測量管垂直插入電解質(zhì)液，可以測量內(nèi)部各層的電壓降。探針靠近 鋁液面，可以測量鋁液的波動。總之，以上所述僅為本實用新型的較佳實施例，凡依本實用新型申請專利范圍所 作的均等變化與修飾，皆應(yīng)屬本實用新型專利的涵蓋范圍。權(quán)利要求1.一種測量鋁電解槽熔體內(nèi)部電壓降的測量管，其特征在于它包括一根氧化鋁陶瓷 管(1)和探針(2)，探針(2)均勻固定在氧化鋁陶瓷管(1)內(nèi)壁，氧化鋁陶瓷管(1)的下端用 陶瓷板(3)封堵。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測量鋁電解槽熔體內(nèi)部電壓降的測量管，其特征在于 所述探針(2)選用金屬絲。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測量鋁電解槽熔體內(nèi)部電壓降的測量管，其特征在于 所述氧化鋁陶瓷管(1)的直徑在2(T50mm。
專利摘要本實用新型公開了一種測量鋁電解槽熔體內(nèi)部電壓降的測量管，它包括一根氧化鋁陶瓷管(1)和探針(2)，探針(2)均勻固定在氧化鋁陶瓷管(1)內(nèi)壁，氧化鋁陶瓷管(1)的下端用陶瓷板(3)封堵；探針(2)選用金屬絲；氧化鋁陶瓷管(1)的直徑在20~50mm。測量時，將電解質(zhì)的結(jié)殼打開，將陶瓷測量管插進熔體，測量管下端的探針侵入熔體，從測量管上端的探針頭即可用萬用表測量各探針之間的電壓降，選取電解槽的不同位置，插入不同深度，即可在高溫，強腐蝕條件下獲得電解槽熔體內(nèi)各點的電流分布，且節(jié)約成本。
文檔編號C25C3/18GK201834989SQ20102058800
公開日2011年5月18日 申請日期2010年11月3日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月3日
發(fā)明者王愚 申請人:貴陽鋁鎂設(shè)計研究院