專利名稱：獲取高分辨率測井曲線的方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明實施例涉及油氣勘探技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種獲取高分辨率測井曲線的方 法及裝置。
背景技術(shù)：
隨著人類文明的快速發(fā)展，對能源的需求與日俱增，其中對石油、天然氣的需求更 為強(qiáng)烈。為了有效探測油層，通常在地層測井時會對目標(biāo)地層進(jìn)行地質(zhì)參數(shù)采集，這些地 質(zhì)參數(shù)包括地層電阻率、放射性等，通過將獲取到相同屬性的大量地質(zhì)參數(shù)連成一條曲線 (即測井曲線)來描述目標(biāo)地層的相應(yīng)地質(zhì)狀況，從而有助于研究人員可以更直觀了解地 層的地質(zhì)結(jié)構(gòu)，作出判斷。然而，地層的結(jié)構(gòu)非常復(fù)雜，比如對于一些較薄的地層，測井曲線的分辨率較低， 不能對地層進(jìn)行準(zhǔn)確的描述。雖然現(xiàn)有技術(shù)中會對測井曲線進(jìn)行校正，但這種校正并沒有 針對性，即用統(tǒng)一的公式來校正不同地層不同特征的測井曲線，所以校正效果不佳。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實施例的目的在于提供一種獲取高分辨率測井曲線的方法及裝置，在分析 地層結(jié)構(gòu)中，本發(fā)明實施例所提供的方法及裝置可以針對不同地層的測井曲線進(jìn)行校正， 提高測井曲線的分辨率，從而獲取高分辨率的測井曲線。為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明實施例提供一種獲取高分辨率測井曲線的方法，所述方 法包括通過巖心實驗采集目標(biāo)巖心的目標(biāo)地質(zhì)參數(shù)；根據(jù)各個多級反褶積校正公式以及原始測井曲線獲取對應(yīng)各個校正公式的多級 校正曲線；根據(jù)獲取到的各個多級校正曲線判斷與所述采集到的目標(biāo)地質(zhì)參數(shù)最接近的一 條多級校正曲線。為了較準(zhǔn)確的采集地質(zhì)數(shù)據(jù)，在采集所述目標(biāo)巖心的目標(biāo)地質(zhì)參數(shù)時，采樣間距 不大于0. 125米，比如0. 1米。為了有效對測井曲線進(jìn)行校正，多級反褶積校正公式為3+(n-l)X2級反褶積校 正公式，其中η為自然數(shù)。其中各個多級反褶積校正公式至少包括當(dāng)η為1時的三級的校正公式XR (Zi) =M [-X (Zh) +N · X (Zi) -X (zi+1)]其中XR(Zi)表示對應(yīng)目標(biāo)巖心上目標(biāo)采集點的校正值，X(Zi)表示原始測井曲線 上對應(yīng)目標(biāo)采集點的原始值，Zi為目標(biāo)采集點，Zi+1和Zp1為目標(biāo)采集點具有一個采樣間距 的相鄰采樣點，M= 1/(α Δζ)2，α為地質(zhì)特征參數(shù)，Δ ζ為采樣間距，N = 2+( α Δζ)2。各個多級反褶積校正公式還包括當(dāng)η為2時的五級的校正公式 其中XR(Zi)表示對應(yīng)目標(biāo)巖心上目標(biāo)采集點的校正值，X(Zi)表示原始測井曲線 上對應(yīng)目標(biāo)采集點的原始值，Zi為目標(biāo)采集點，Zi+1和Zp1為目標(biāo)采集點具有一個采樣間距 的相鄰采樣點，M= 1/(α Δζ)2，α為地質(zhì)特征參數(shù)，Δ ζ為采樣間距，N = 2+( α Δζ)2，λ 和μ均為權(quán)重系數(shù)。各個多級反褶積校正公式還包括當(dāng)η為3時的七級的校正公式 - 36(1 - A - μ)Χ(ζ _ι )-9μ· X(Z,_2 )-4Λ· X(Zt_3)]其中XR(Zi)表示對應(yīng)目標(biāo)巖心上目標(biāo)采集點的校正值，X(Zi)表示原始測井曲線 上對應(yīng)目標(biāo)采集點的原始值，Zi為目標(biāo)采集點，Zi+1和Zp1為目標(biāo)采集點具有一個采樣間距 的相鄰采樣點，M= 1/(α Δζ)2, α為地質(zhì)特征參數(shù)，Δ ζ為采樣間距，N = 2+( α Δζ)2, λ 和μ均為權(quán)重系數(shù)。為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明實施例還提供一種獲取高分辨率測井曲線的裝置，所述 裝置包括采集單元，用于通過巖心實驗采集目標(biāo)巖心的目標(biāo)地質(zhì)參數(shù)；獲取單元，用于根據(jù)各個多級反褶積校正公式以及原始測井曲線獲取對應(yīng)各個校 正公式的多級校正曲線；決策單元，用于根據(jù)所述獲取單元獲取到的各個多級校正曲線判斷與所述采集單 元采集到的目標(biāo)地質(zhì)參數(shù)最接近的一條多級校正曲線。所述裝置還包括存儲單元，用于存儲3+(η-1) X2級反褶積校正公式，其中η為自然數(shù)。其中所述3+(η-1) X 2級反褶積校正公式至少包括η為1時的三級的校正公式XR (Zi) =M [-X (Zh) +N · X (Zi) -X (zi+1)]其中XR(Zi)表示對應(yīng)目標(biāo)巖心上目標(biāo)采集點的地質(zhì)參數(shù)校正值，X(Zi)表示原始 測井曲線上對應(yīng)目標(biāo)采集點的地質(zhì)參數(shù)原始值，Zi為目標(biāo)采集點，Zi+1和Zh為目標(biāo)采集點 具有一個采樣間距的相鄰采樣點，M= 1/(α Δζ)2, α為地質(zhì)特征參數(shù)，Δζ為采樣間距，N =2+(α Δζ)2。為了有效獲取多級校正曲線，所述獲取單元包括計算模塊，用于根據(jù)存儲單元存儲的3+(η-1) Χ2級反褶積校正公式計算地質(zhì)參 數(shù)校正值；曲線擬合模塊，用于根據(jù)計算模塊計算出的地質(zhì)參數(shù)校正值擬合曲線。本發(fā)明實施例的優(yōu)點在于可以對不同地層的測井曲線進(jìn)行有效校正，提高測井曲 線的分辨率，從而根據(jù)獲取到的高分辨率測井曲線準(zhǔn)確分析地層的地質(zhì)狀況。


為了更清楚地說明本發(fā)明實施例的技術(shù)方案，下面將對實施例描述中所需要使用 的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本 領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他
5的附圖。圖1為本發(fā)明實施例的一種獲取高分辨率測井曲線的方法的示意流程圖。圖2為巖心實驗采集目標(biāo)巖心自然伽馬值數(shù)據(jù)與校正前后測井曲線的對比圖。圖3為本發(fā)明實施例的獲取高分辨率測井曲線裝置的功能結(jié)構(gòu)框圖。
具體實施例方式下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完 整地描述，顯然，所描述的實施例是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例。本發(fā)明的 示意性實施例及其說明用于解釋本發(fā)明，但并不作為對本發(fā)明的限定，基于本發(fā)明中的實 施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬 于本發(fā)明保護(hù)的范圍。本發(fā)明實施例提供一種獲取高分辨率測井曲線的技術(shù)，該技術(shù)通過對測井曲線的 校正使得校正后的測井曲線更加符合目標(biāo)地層的真實地質(zhì)狀況，從而為準(zhǔn)確描述目標(biāo)地層 的地質(zhì)奠定良好基礎(chǔ)?；诖?，本實施例提供一種獲取高分辨率測井曲線的方法，如圖1所示，圖1為本 實施例的一種獲取高分辨率測井曲線的方法的示意流程圖，該流程包括如下步驟101.通過巖心實驗采集目標(biāo)巖心的目標(biāo)地質(zhì)參數(shù)。本實施例得先采集目標(biāo)巖心的目標(biāo)地質(zhì)參數(shù)，該步驟通過巖心實驗來采集，其中 目標(biāo)巖心為從目標(biāo)測井地層采樣的地質(zhì)標(biāo)本，該標(biāo)本可以代表該地層的地質(zhì)特性，比如若 要對探測較薄的地層的原始測井曲線進(jìn)行校正，那就將在該較薄的地層中采集巖心。而目 標(biāo)地質(zhì)參數(shù)是指欲采集的地質(zhì)參數(shù)，該參數(shù)是與原始測井曲線地質(zhì)屬性相同的參數(shù)，比如 當(dāng)原始測井曲線是描述較薄地層電阻率的，那目標(biāo)地質(zhì)參數(shù)就是待測電阻率參數(shù)；當(dāng)原始 測井曲線是描述較薄地層放射性的(即由自然伽馬值組成的曲線)，那目標(biāo)地質(zhì)參數(shù)就是 待測自然伽馬值。而為了較準(zhǔn)確的采集地質(zhì)數(shù)據(jù)，本步驟在采集目標(biāo)巖心的目標(biāo)地質(zhì)參數(shù)時，采樣 間距不大于0. 125米，比如在目標(biāo)巖心上每隔0. 1米采樣一次地質(zhì)數(shù)據(jù)。102.根據(jù)各個多級反褶積校正公式以及原始測井曲線獲取對應(yīng)各個校正公式的 多級校正曲線。本實施例通過多級反褶積校正公式來獲取校正曲線，該多級反褶積公式可以為 3+(n-l) X 2級反褶積校正公式，其中η為自然數(shù)。這樣該多級反褶積校正公式至少為3級 反褶積，所以本實施例中該各個多級反褶積校正公式至少包括當(dāng)η為1時的3級的校正公 式XR (Zi) =M [-X (Zh) +N · X (Zi) -X (zi+1)]其中XR(Zi)表示對應(yīng)目標(biāo)巖心上目標(biāo)采集點的地質(zhì)參數(shù)校正值，X(Zi)表示原始 測井曲線上對應(yīng)目標(biāo)采集點的地質(zhì)參數(shù)原始值，該參數(shù)可通過原始測井曲線獲得，Zi為目 標(biāo)采集點，zi+1和Zp1為目標(biāo)采集點具有一個采樣間距的相鄰采樣點，M= 1/(α Δζ)2, α為 地質(zhì)特征參數(shù)，Δ ζ為采樣間距，N= 2+( α Δ ζ)2。該公式可由下述方法推導(dǎo)而來，當(dāng)確定了采集點Zi后，即可確定距該采集點Zi — 個采樣間距Δ ζ的相鄰采樣點Zi+1和Zg，由于該地質(zhì)參數(shù)校正值XR(Zi)可以表示為
所以在離散化二階導(dǎo)數(shù)，通過二階中心差商可導(dǎo)出公式 將導(dǎo)出公式代入地質(zhì)參數(shù)校正值XR(Zi)公式后，即可獲得3級反褶積校正公式 為了更準(zhǔn)確的校正原始測井曲線，確定與目標(biāo)地質(zhì)參數(shù)最接近的校正曲線，本實 施例可以通過更多的多級反褶積校正公式來獲取校正曲線。比如當(dāng)η為2時的5級的校正 公式 當(dāng)根據(jù)加權(quán)平均獲得公式 后，將其代入地質(zhì)參數(shù)校正值XR(Zi)公式即可獲得5級的校正公式。其中各個參 量的含義與3級的校正公式相同，故不再贅述，而Zi+2和Ζ"為目標(biāo)采集點具有兩個采樣間 距的采樣點。同理，多級反褶積校正公式還包括當(dāng)η為3時的七級的校正公式 其中各個參量的含義與3級的校正公式相同，故不再贅述，而Zi+3和Ζ"為目標(biāo)采 集點具有三個采樣間距的采樣點。這樣就可以獲取每個反褶積校正公式所對應(yīng)的離散地質(zhì)參數(shù)校正值，將這些相鄰 的離散地質(zhì)參數(shù)校正值各個連接即可獲得每個反褶積校正公式所對應(yīng)的多級校正曲線。203.根據(jù)獲取到的各個多級校正曲線判斷與所述采集到的目標(biāo)地質(zhì)參數(shù)最接近 的一條多級校正曲線。由于通過巖心實驗采集的地質(zhì)參數(shù)是比較準(zhǔn)確的，所以越靠近通過巖心實驗采集 的地質(zhì)參數(shù)，則校正曲線的校正效果越好。本步驟根據(jù)步驟202獲取到的各個多級校正曲 線判斷與所述采集到的目標(biāo)地質(zhì)參數(shù)最接近的一條多級校正曲線。比如當(dāng)通過巖心實驗采 集的地質(zhì)參數(shù)幾乎都與3級校正公式對應(yīng)的3級校正曲線吻合(即通過巖心實驗采集的地 質(zhì)參數(shù)幾乎都落在曲線上)，那么該3級校正曲線就是最接近目標(biāo)地質(zhì)參數(shù)的曲線。對于目 標(biāo)巖心對應(yīng)的油井，可以通過3級校正曲線來描述該油井的地質(zhì)狀況。而對于該地層上的 其他油井，則可以通過3級反褶積校正公式來對測井曲線進(jìn)行校正。這樣可以對不同地層 的測井曲線進(jìn)行有效校正，提高測井曲線的分辨率，從而根據(jù)獲取到的高分辨率測井曲線 準(zhǔn)確分析地層的地質(zhì)狀況。為了本領(lǐng)域技術(shù)人員能更清楚的理解本發(fā)明實施例所述的方法，下面引用一示例來說明，需要注意的是本示例中的數(shù)字及地質(zhì)參數(shù)僅僅是示例性的，不能將其做為限制本 發(fā)明保護(hù)范圍的解釋，本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)清楚了解本發(fā)明實施例所述的方法還可以通過其 他具體的示例來表達(dá)。如圖2所示，圖2為巖心實驗采集目標(biāo)巖心自然伽馬值數(shù)據(jù)與校正前后測井曲線 的對比圖，從圖2可以清楚看出目標(biāo)巖心為2313 2320米的巖心樣本，在這段深度內(nèi)的巖 心自然伽馬值通過巖心實驗采集獲得并反映在了圖2中，其中采樣間距ΔΖ為0. 125米。圖 2中的連續(xù)曲線為原始測井曲線，該測井曲線是實地測量的描述該地層放射性的測井曲線。為了對該原始測井曲線進(jìn)行校正，本示例計算了三條多級反褶積校正曲線3級 反褶積校正曲線、5級反褶積校正曲線和7級反褶積校正曲線，其中3級反褶積校正公式中 取α =2, Δζ = 0. 125，所以M = 16，N = 2. 0625，將這些參數(shù)代入公式，即XR (Zi) = 16 [-X (ZiJ +2. 0625 · X (Zi) -X (zi+1)]根據(jù)原始測井曲線將采集點的地質(zhì)參數(shù)原始值代入后可以算出各采集點的地質(zhì) 參數(shù)校正值，將相鄰的校正值連接后即為3級反褶積校正曲線。同理，當(dāng)取λ =0.6，μ = 0. 4時，5級反褶積校正公式為
XR(z.) = ^·χ 16[(0.6- l)X(z/+2)-4χ0.6^Γ(ζ +1 ) + (4χ2.0625 + 6x0.6 + 2)X{zi)-4χ0.6Χ(ζ,_,) + (0.6 — 1)Χ(Ζ,_2)]從而也可以算出各采集點的地質(zhì)參數(shù)校正值，將相鄰的校正值連接后即為5級反 褶積校正曲線。當(dāng)取λ =0.2，μ =0.3時，7級反褶積校正公式為
XRizi ) = —χ 6[-4 χ 0.2GR(z/+3 ) - 9 χ 0.3GR(zi+2) - 36 χ 0.5GR(zm ) + (36 χ 2.0625 - 64 χ 0.5)G/ (z,) 36- 36 χ 0.5G/ (z,_,) - 9 χ 0.3Gi (Z,_2) - 4 χ 0.2Gi (Z,_3)]從而也可以算出各采集點的地質(zhì)參數(shù)校正值，將相鄰的校正值連接后即為7級反 褶積校正曲線。將采集到的目標(biāo)巖心自然伽馬值與各個多級校正曲線進(jìn)行對比，即可判斷 出與采集到的目標(biāo)巖心自然伽馬值最接近的一條多級校正曲線為7級反褶積校正曲線。從 圖2中也可以清楚看出GRR7曲線(即7級反褶積校正曲線)與巖心自然伽馬能夠較好的 吻合。實現(xiàn)上述方法實施例的裝置可以是一個獨立設(shè)備，下面對實現(xiàn)上述功能的裝置進(jìn) 行說明。如圖3所示，圖3為本發(fā)明實施例的獲取高分辨率測井曲線裝置的功能結(jié)構(gòu)框圖， 從圖3中可知，該裝置可以包括采集單元301，用于通過巖心實驗采集目標(biāo)巖心的目標(biāo)地質(zhì)參數(shù)；獲取單元302，用于根據(jù)各個多級反褶積校正公式以及原始測井曲線獲取對應(yīng)各 個校正公式的多級校正曲線；決策單元303，用于根據(jù)獲取單元302獲取到的各個多級校正曲線判斷與采集單 元301采集到的目標(biāo)地質(zhì)參數(shù)最接近的一條多級校正曲線。存儲單元304，用于存儲3+(n-l)X2級反褶積校正公式，其中η為自然數(shù)。其中所 述3+(η-1) X 2級反褶積校正公式至少包括η為1時的三級的校正公式 XR(Zi) = M [-X (Zh) +N · X (Zi) -X (zi+1)] 其中XR(Zi)表示對應(yīng)目標(biāo)巖心上目標(biāo)采集點的地質(zhì)參數(shù)校正值，X(Zi)表示原始測井曲線上對應(yīng)目標(biāo)采集點的地質(zhì)參數(shù)原始值，Zi為目標(biāo)采集點，Zi+1和Zg為目標(biāo)采集點 具有一個采樣間距的相鄰采樣點，M= 1/(α Δζ)2, α為地質(zhì)特征參數(shù)，Δζ為采樣間距，N = 2+(α Δ ζ)2。各個多級反褶積校正公式還包括當(dāng)η為2時的五級的校正公式XR(z, ) = ^Μ[{λ- 1)Χ(ζ,+2 )-4λ· Χ{ζΜ ) + (^Ν + 6λ+ 2)X(zt )-4λ· X(z._t ) + (λ- 1)Χ(Ζ^2)]其中XR(Zi)表示對應(yīng)目標(biāo)巖心上目標(biāo)采集點的校正值，X(Zi)表示原始測井曲線 上對應(yīng)目標(biāo)采集點的原始值，Zi為目標(biāo)采集點，Zi+1和Zp1為目標(biāo)采集點具有一個采樣間距 的相鄰采樣點，M= 1/(α Δζ)2, α為地質(zhì)特征參數(shù)，Δ ζ為采樣間距，N = 2+( α Δζ)2, λ 和μ均為權(quán)重系數(shù)。各個多級反褶積校正公式還包括當(dāng)η為3時的七級的校正公式
XR(z,)=丄 MH^ · ΙΟ,+3 )-9μ· X(zi+2) - 36(1 -義-μ)Χ{ζΜ ) + (367V - 64A — 64μ)Χ(ζ,) 36_ 36(1 - A - μ)Χ(ζ,_λ )-9μ· )-4Λ· Χ(Ζ,_3)]其中XR(Zi)表示對應(yīng)目標(biāo)巖心上目標(biāo)采集點的校正值，X(Zi)表示原始測井曲線 上對應(yīng)目標(biāo)采集點的原始值，Zi為目標(biāo)采集點，Zi+1和Zp1為目標(biāo)采集點具有一個采樣間距 的相鄰采樣點，M= 1/(α Δζ)2, α為地質(zhì)特征參數(shù)，Δ ζ為采樣間距，N = 2+( α Δζ)2, λ 和μ均為權(quán)重系數(shù)。為了有效獲取多級校正曲線，獲取單元302包括計算模塊321，用于根據(jù)存儲單元304存儲的3+(η_1) Χ2級反褶積校正公式計算 地質(zhì)參數(shù)校正值；曲線擬合模塊322，用于根據(jù)計算模塊321計算出的地質(zhì)參數(shù)校正值擬合曲線。本實施例所述的裝置可以是計算機(jī)等具有信息處理能力的設(shè)備，通過對不同地層 的測井曲線進(jìn)行有效校正，提高測井曲線的分辨率，從而根據(jù)獲取到的高分辨率測井曲線 準(zhǔn)確分析地層的地質(zhì)狀況。當(dāng)然，以上所述的具體實施例，對本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和有益效果進(jìn)行了進(jìn)一 步詳細(xì)說明，所應(yīng)理解的是，以上所述僅為本發(fā)明的具體實施例而已，并不用于限定本發(fā)明 的保護(hù)范圍，凡在本發(fā)明的邏輯和原則之內(nèi)，所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含 在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
一種獲取高分辨率測井曲線的方法，其特征在于，所述方法包括通過巖心實驗采集目標(biāo)巖心的目標(biāo)地質(zhì)參數(shù)；根據(jù)各個多級反褶積校正公式以及原始測井曲線獲取對應(yīng)各個校正公式的多級校正曲線；根據(jù)獲取到的各個多級校正曲線判斷與所述采集到的目標(biāo)地質(zhì)參數(shù)最接近的一條多級校正曲線。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在采集所述目標(biāo)巖心的目標(biāo)地質(zhì)參數(shù)時， 采樣間距不大于0. 125米。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述多級反褶積校正公式為3+(n-l)X 2 級反褶積校正公式，其中η為自然數(shù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述各個多級反褶積校正公式至少包括 當(dāng)η為1時的三級的校正公式XR (Zi) = M [-X (Zh) +N · X(Zi) -X (zi+1)]其中XR(Zi)表示對應(yīng)目標(biāo)巖心上目標(biāo)采集點的地質(zhì)參數(shù)校正值，X(Zi)表示原始測井 曲線上對應(yīng)目標(biāo)采集點的地質(zhì)參數(shù)原始值，Zi為目標(biāo)采集點，Zi+1和Zp1為目標(biāo)采集點具有 一個采樣間距的相鄰采樣點，M= 1/(α Δζ)2，α為地質(zhì)特征參數(shù)，Δζ為采樣間距，N = 2+(α Δζ)2。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述各個多級反褶積校正公式還包括當(dāng)η 為2時的五級的校正公式 其中XR(Zi)表示對應(yīng)目標(biāo)巖心上目標(biāo)采集點的校正值，X(Zi)表示原始測井曲線上對 應(yīng)目標(biāo)采集點的原始值，Zi為目標(biāo)采集點，Zi+2和Ζ"為目標(biāo)采集點具有兩個采樣間距的采 樣點，M=I/(α Δζ)2, α為地質(zhì)特征參數(shù)，Δ ζ為采樣間距，N = 2+( α Δζ)2，λ和μ均 為權(quán)重系數(shù)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述各個多級反褶積校正公式還包括當(dāng)η 為3時的七級的校正公式 其中XR(Zi)表示對應(yīng)目標(biāo)巖心上目標(biāo)采集點的校正值，X(Zi)表示原始測井曲線上對 應(yīng)目標(biāo)采集點的原始值，Zi為目標(biāo)采集點，Zi+3和Ζ"為目標(biāo)采集點具有三個采樣間距的采 樣點，M=I/(α Δζ)2, α為地質(zhì)特征參數(shù)，Δ ζ為采樣間距，N = 2+( α Δζ)2，λ和μ均 為權(quán)重系數(shù)。
7.一種獲取高分辨率測井曲線的裝置，其特征在于，所述裝置包括采集單元，用于通過巖心實驗采集目標(biāo)巖心的目標(biāo)地質(zhì)參數(shù)；獲取單元，用于根據(jù)各個多級反褶積校正公式以及原始測井曲線獲取對應(yīng)各個校正公 式的多級校正曲線；決策單元，用于根據(jù)所述獲取單元獲取到的各個多級校正曲線判斷與所述采集單元采集到的目標(biāo)地質(zhì)參數(shù)最接近的一條多級校正曲線。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括 存儲單元，用于存儲3+(n-l) X 2級反褶積校正公式，其中η為自然數(shù)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，所述3+(η-1)X 2級反褶積校正公式至少 包括η為1時的三級的校正公式XR (Zi) =M [-X (Zh) +N · X(Zi) -X (zi+1)]其中XR(Zi)表示對應(yīng)目標(biāo)巖心上目標(biāo)采集點的地質(zhì)參數(shù)校正值，X(Zi)表示原始測井 曲線上對應(yīng)目標(biāo)采集點的地質(zhì)參數(shù)原始值，Zi為目標(biāo)采集點，Zi+1和Zp1為目標(biāo)采集點具有 一個采樣間距的相鄰采樣點，M= 1/(α Δζ)2，α為地質(zhì)特征參數(shù)，Δζ為采樣間距，N = 2+(α Δζ)2。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，所述獲取單元包括計算模塊，用于根據(jù)存儲單元存儲的3+(η-1) Χ2級反褶積校正公式計算地質(zhì)參數(shù)校 正值；曲線擬合模塊，用于根據(jù)計算模塊計算出的地質(zhì)參數(shù)校正值擬合曲線。
全文摘要
本發(fā)明實施例為一種獲取高分辨率測井曲線的方法及裝置，涉及油氣勘探技術(shù)領(lǐng)域，其中所述方法包括通過巖心實驗采集目標(biāo)巖心的目標(biāo)地質(zhì)參數(shù)；根據(jù)各個多級反褶積校正公式以及原始測井曲線獲取對應(yīng)各個校正公式的多級校正曲線；根據(jù)獲取到的各個多級校正曲線判斷與所述采集到的目標(biāo)地質(zhì)參數(shù)最接近的一條多級校正曲線。本發(fā)明實施例所提供的方法及裝置可以針對不同地層的測井曲線進(jìn)行校正，提高測井曲線的分辨率，從而獲取高分辨率的測井曲線。
文檔編號E21B49/00GK101892838SQ20101021520
公開日2010年11月24日 申請日期2010年6月22日 優(yōu)先權(quán)日2010年6月22日
發(fā)明者劉新美, 司馬立強(qiáng), 吳豐, 段生盛, 馬建海 申請人:中國石油天然氣股份有限公司