專利名稱：一種用于校準瞬變電磁場場均勻性的支撐裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種支撐裝置，特別涉及一種用于校準瞬變電磁場場均勻性的支撐裝置。
背景技術(shù)：
用于校準瞬變電磁場的場均勻性的系統(tǒng)通常需要測試多個位置。校準瞬變電磁場的場均勻性時，不但需要支架支撐和固定測試探頭，而且需要通過支架調(diào)節(jié)測試探頭的位置和角度。具體地，校準瞬變電磁場的場均勻性時，通常需要通過調(diào)節(jié)支架來改變固定有探頭的測試桿的角度和長度，甚至需要通過調(diào)節(jié)支架實現(xiàn)測試桿繞固定軸的轉(zhuǎn)動?，F(xiàn)有技術(shù) 中的支架都不能直接實現(xiàn)上述功能，因此在用于校準瞬變電磁場的場均勻性時非常不便。目前，非常需要一種能夠用于校準瞬變電磁場的場均勻性的支撐裝置。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種用于校準瞬變電磁場場均勻性的支撐裝置。本發(fā)明提供的用于校準瞬變電磁場場均勻性的支撐裝置包括底座、轉(zhuǎn)軸、主體架、第一旋轉(zhuǎn)盤、第二旋轉(zhuǎn)盤、第一探頭固定裝置和第二探頭固定裝置；所述底座包括固定盤、第一座臂和第二座臂，所述第一座臂和所述第二座臂被設置于同一平面內(nèi)，且在該平面內(nèi)所述第一座臂與所述第二座臂之間成一夾角，所述固定盤固定于所述第一座臂與所述第二座臂連接處的頂端，所述轉(zhuǎn)軸固定于所述固定盤的中心位置；所述主體架包括測試桿、第一支桿、第二支桿、第一立柱和第二立柱，所述測試桿的一端與所述轉(zhuǎn)軸可旋轉(zhuǎn)連接且所述測試桿能夠繞所述轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動，所述第一支桿和所述第二支桿設于所述測試桿的下側(cè)，所述第一支桿和所述第二支桿的頂端連接呈倒置的“V”字形，且所述第一支桿和所述第二支桿的頂端連接處與所述測試桿固接，所述第一立柱和所述第二立柱分別固接于所述測試桿的中間和末端位置，且所述第一立柱和所述第二立柱設于所述測試桿的上側(cè)；所述第一旋轉(zhuǎn)盤設置于所述第一立柱的頂端且能夠繞所述第一立柱轉(zhuǎn)動，所述第二旋轉(zhuǎn)盤設置于所述第二立柱的頂端且能夠繞所述第二立柱轉(zhuǎn)動，所述第一探頭固定裝置設于所述第一旋轉(zhuǎn)盤上，所述第二探頭固定裝置設于所述第二旋轉(zhuǎn)盤上。優(yōu)選地，所述第一支桿底端設有滾輪，所述第二支桿的底端設有滾輪。優(yōu)選地，所述第一座臂與所述第二座臂之間的夾角為90°。優(yōu)選地，所述固定盤的下方能夠固定探頭。本發(fā)明具有如下有益效果(I)當校準瞬變電磁場的場均勻性的系統(tǒng)中采用所述支架時，所述支架不僅能夠用于支撐和固定探頭，而且能夠用于調(diào)節(jié)探頭的位置和角度；(2)所述支架對探頭的位置和角度的調(diào)節(jié)精度高；
(3)所述支架制作成本低，使用方便。


圖I為本發(fā)明實施例提供的用于校準瞬變電磁場場均勻性的支撐裝置的示意圖。
具體實施例方式下面結(jié)合附圖及實施例對本發(fā)明的發(fā)明內(nèi)容作進一步的描述。本實施例提供的本發(fā)明提供的用于校準瞬變電磁場場均勻性的支撐裝置包括底座I、轉(zhuǎn)軸2、主體架3、第一旋轉(zhuǎn)盤4、第二旋轉(zhuǎn)盤5、第一探頭固定裝置6和第二探頭固定裝置7,如圖I所示。所述底座I包括固定盤11、第一座臂12和第二座臂13，如圖I所示。在本實施例中，所述固定盤11呈例如圓形。所述第一座臂12和所述第二座臂13被設置于同一平面 內(nèi)，且在該平面內(nèi)所述第一座臂12與所述第二座臂13之間成一夾角。在本實施例中，所述第一座臂12與所述第二座臂13之間的夾角為例如90°。所述固定盤11固定于所述第一座臂12與所述第二座臂13連接處的頂端。所述轉(zhuǎn)軸2固定于所述固定盤11的中心位置。所述主體架3包括測試桿31、第一支桿32、第二支桿33、第一立柱34和第二立柱35,如圖I所示。所述測試桿31的一端與所述轉(zhuǎn)軸2可旋轉(zhuǎn)連接且所述測試桿31能夠繞所述轉(zhuǎn)軸2轉(zhuǎn)動。所述第一支桿32和所述第二支桿33設于所述測試桿31的下側(cè)。所述第一支桿32和所述第二支桿33的頂端連接呈倒置的“V”字形，且所述第一支桿32和所述第二支桿32的頂端連接處與所述測試桿31固接。所述第一立柱34和所述第二立柱35分別固接于所述測試桿31的中間和末端位置，且所述第一立柱34和所述第二立柱35設于所述測試桿31的上側(cè)。在本實施例中，所述第一支桿32底端設有滾輪36，所述第二支桿33的底端設有滾輪37。所述第一旋轉(zhuǎn)盤4設置于所述第一立柱34的頂端且能夠繞所述第一立柱34轉(zhuǎn)動，所述第二旋轉(zhuǎn)盤5設置于所述第二立柱35的頂端且能夠繞所述第二立柱35轉(zhuǎn)動。所述第一探頭固定裝置6設于所述第一旋轉(zhuǎn)盤4上，所述第二探頭固定裝置7設于所述第二旋轉(zhuǎn)盤5上。所述第一探頭固定裝置6和所述第二探頭固定裝置7用于固定探頭。在本實施例中，所述第一探頭固定裝置6用于固定例如第一探頭8，所述第二探頭固定裝置7用于固定例如第二探頭9。所述固定盤11的下方也能夠固定探頭。在本實施例中，所述固定盤11的下方固定有例如第三探頭(圖中未示出)。當校準瞬變電磁場的場均勻性的系統(tǒng)中采用所述支架時，所述支架不僅能夠用于支撐和固定探頭，而且能夠用于調(diào)節(jié)探頭的位置和角度。所述支架對探頭的位置和角度的調(diào)節(jié)精度高。所述支架制作成本低，使用方便。應當理解，以上借助優(yōu)選實施例對本發(fā)明的技術(shù)方案進行的詳細說明是示意性的而非限制性的。本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員在閱讀本發(fā)明說明書的基礎(chǔ)上可以對各實施例所記載的技術(shù)方案進行修改，或者對其中部分技術(shù)特征進行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明各實施例技術(shù)方案的精神和范圍。
權(quán)利要求
1.用于校準瞬變電磁場場均勻性的支撐裝置，其特征在于， 該支撐裝置包括底座(I)、轉(zhuǎn)軸(2)、主體架(3)、第一旋轉(zhuǎn)盤(4)、第二旋轉(zhuǎn)盤(5)、第一探頭固定裝置(6)和第二探頭固定裝置(7)； 所述底座(I)包括固定盤(11)、第一座臂(12)和第二座臂(13)，所述第一座臂(12)和所述第二座臂(13)被設置于同一平面內(nèi)，且在該平面內(nèi)所述第一座臂(12)與所述第二座臂(13)之間成一夾角，所述固定盤(11)固定于所述第一座臂(12)與所述第二座臂(13)連接處的頂端，所述轉(zhuǎn)軸(2)固定于所述固定盤(11)的中心位置； 所述主體架(3)包括測試桿(31)、第一支桿(32)、第二支桿(33)、第一立柱(34)和第二立柱(35)，所述測試桿(31)的一端與所述轉(zhuǎn)軸(2)可旋轉(zhuǎn)連接且所述測試桿(31)能夠繞所述轉(zhuǎn)軸(2)轉(zhuǎn)動，所述第一支桿(32)和所述第二支桿(33)設于所述測試桿(31)的下偵牝所述第一支桿(32)和所述第二支桿(33)的頂端連接呈倒置的“V”字形，且所述第一支桿(32)和所述第二支桿(32)的頂端連接處與所述測試桿(31)固接，所述第一立柱(34)和所述第二立柱(35)分別固接于所述測試桿(31)的中間和末端位置，且所述第一立柱(34)和所述第二立柱(35)設于所述測試桿(31)的上側(cè)； 所述第一旋轉(zhuǎn)盤(4)設置于所述第一立柱(34)的頂端且能夠繞所述第一立柱(34)轉(zhuǎn)動，所述第二旋轉(zhuǎn)盤(5)設置于所述第二立柱(35)的頂端且能夠繞所述第二立柱(35)轉(zhuǎn)動，所述第一探頭固定裝置(6)設于所述第一旋轉(zhuǎn)盤(4)上，所述第二探頭固定裝置(7)設于所述第二旋轉(zhuǎn)盤(5)上。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的用于校準瞬變電磁場場均勻性的支撐裝置，其特征在于，所述第一支桿(32)底端設有滾輪(36)，所述第二支桿(33)的底端設有滾輪(37)。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的用于校準瞬變電磁場場均勻性的支撐裝置，其特征在于，所述第一座臂(12)與所述第二座臂(13)之間的夾角為90°。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的用于校準瞬變電磁場場均勻性的支撐裝置，其特征在于，所述固定盤(11)的下方能夠固定探頭。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種用于校準瞬變電磁場場均勻性的支撐裝置，該支撐裝置包括底座(1)、轉(zhuǎn)軸(2)、主體架(3)、第一旋轉(zhuǎn)盤(4)、第二旋轉(zhuǎn)盤(5)、第一探頭固定裝置(6)和第二探頭固定裝置(7)；所述底座(1)包括固定盤(11)、第一座臂(12)和第二座臂(13)；所述主體架(3)包括測試桿(31)、第一支桿(32)、第二支桿(33)、第一立柱(34)和第二立柱(35)。當校準瞬變電磁場的場均勻性的系統(tǒng)中采用所述支架時，所述支架不僅能夠用于支撐和固定探頭，而且能夠用于調(diào)節(jié)探頭的位置和角度。所述支架對探頭的位置和角度的調(diào)節(jié)精度高。所述支架制作成本低，使用方便。
文檔編號F16M11/06GK102829296SQ20121030863
公開日2012年12月19日 申請日期2012年8月27日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月27日
發(fā)明者黃建領(lǐng), 沈濤, 姚利軍 申請人:北京無線電計量測試研究所