国产精品1024永久观看,大尺度欧美暖暖视频在线观看,亚洲宅男精品一区在线观看,欧美日韩一区二区三区视频,2021中文字幕在线观看

  • <option id="fbvk0"></option>
    1. <rt id="fbvk0"><tr id="fbvk0"></tr></rt>
      <center id="fbvk0"><optgroup id="fbvk0"></optgroup></center>
      <center id="fbvk0"></center>

      <li id="fbvk0"><abbr id="fbvk0"><dl id="fbvk0"></dl></abbr></li>

      壓力可調(diào)之探針座裝置的制作方法

      文檔序號(hào):64042閱讀:422來(lái)源:國(guó)知局
      專利名稱:壓力可調(diào)之探針座裝置的制作方法
      &lt;一&gt;技術(shù)領(lǐng)域
      本實(shí)用新型系與晶粒探針座裝置的結(jié)構(gòu)有關(guān),主要系將一般習(xí)用者的使用弊端,作一改良使之更為完善,更詳而言之,尤指一種操作容易與便捷的壓力可調(diào)之探針座裝置。
      &lt;二&gt;背景技術(shù)
      以往習(xí)用之晶粒探針座的作動(dòng)機(jī)構(gòu),在實(shí)施時(shí)有以下幾點(diǎn)弊端1、作動(dòng)時(shí)常會(huì)有不準(zhǔn)確且不順暢的作動(dòng)。
      2、敏銳度不夠,因此,精確度不高,品質(zhì)就大幅下降。
      3、生產(chǎn)率低,故障率偏高,不能符合經(jīng)濟(jì)效益。
      4、壓力不能調(diào)整,以致造成無(wú)法令探針準(zhǔn)確作動(dòng)。
      目前這種習(xí)用之晶粒探針座,弊端多,極待改進(jìn)。
      &lt;三&gt;
      發(fā)明內(nèi)容
      本實(shí)用新型之主要目的,旨在于利用本實(shí)用新型之探針座結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì),達(dá)到操作便捷及提高工作效率的目的;使習(xí)用者弊端得以改善,可提供產(chǎn)業(yè)界利用的價(jià)值,使之具有經(jīng)濟(jì)效益。
      本實(shí)用新型一種壓力可調(diào)之探針座裝置,系包含一臂座及與之連接的作動(dòng)機(jī)構(gòu),其中,該臂座在X、Y、Z軸的三個(gè)方向上各設(shè)有調(diào)整手輪,以供調(diào)整各軸上的塊體移動(dòng);另該作動(dòng)機(jī)構(gòu)含有一具有貫穿孔的探針臂動(dòng)件,及其下方連接一具有突柱的接點(diǎn)懸臂板,而該接點(diǎn)懸臂板的一端塞入一具有溝槽的探針臂,以及藉突柱穿伸置入該探針臂動(dòng)件的貫穿孔內(nèi),并由一壓力調(diào)整彈簧置入,及上方鎖入一壓力調(diào)整鈕,而在該接點(diǎn)懸臂板的底端接設(shè)一彈簧片,以形成一彈性接點(diǎn),另在該探針臂動(dòng)件的前端處設(shè)一金接點(diǎn)并連接一探針,由金接點(diǎn)之開(kāi)關(guān)感知探針是否觸及晶粒,并藉探針導(dǎo)入電訊號(hào)以此感測(cè)晶粒的好壞(良窳)及其質(zhì)量的高低。
      本實(shí)用新型一種壓力可調(diào)之探針座裝置,其優(yōu)點(diǎn)是1、它具備接觸感應(yīng)及接觸力調(diào)整之三軸精密調(diào)整測(cè)定之測(cè)試針座。
      2、X、Y、Z軸可調(diào)整,并且大直徑的調(diào)整手輪具備有微調(diào)的功能。
      3、探針接觸到目標(biāo)物時(shí),由一接觸感應(yīng)接點(diǎn)感應(yīng)得知后,可避免探針過(guò)渡下壓。
      4、接觸壓力可微調(diào),可提供穩(wěn)定精確的接觸力,避免破壞被測(cè)的晶粒。
      5、工作效率高,操作省時(shí)省力,具有推廣使用價(jià)值。
      &lt;四&gt;

      圖1系本實(shí)用新型之立體分解示意圖。
      圖2系本實(shí)用新型之組合立體示意圖。
      圖3系本實(shí)用新型之組合立體示意圖。
      圖4系本實(shí)用新型之X軸作動(dòng)示意圖。
      圖5系本實(shí)用新型之Y軸作動(dòng)示意圖。
      圖6系本實(shí)用新型之Z軸作動(dòng)示意圖。
      圖7系本實(shí)用新型之平面作動(dòng)示意圖。
      圖中標(biāo)號(hào)如下10臂座 20作動(dòng)機(jī)構(gòu) 11、12、13X、Y、Z軸調(diào)整手輪21貫穿孔 22探針臂動(dòng)件 231突柱23接點(diǎn)懸臂板 24溝槽 25探針臂26壓力調(diào)整彈簧 27壓力調(diào)整鈕 28彈簧片29金接點(diǎn) 30探針 40晶粒&lt;五&gt;具體實(shí)施方式
      首先,請(qǐng)參閱圖1至圖7所示,本實(shí)用新型一種壓力可調(diào)之探針座裝置,它包含一臂座10及與之連接的作動(dòng)機(jī)構(gòu)20,其中,該臂座10在X、Y、Z軸的三個(gè)方向上各設(shè)有調(diào)整手輪11、12、13,以供調(diào)整各軸上的塊體移動(dòng);另該作動(dòng)機(jī)構(gòu)20系含有一具有貫穿孔21的探針臂動(dòng)件22,及其下方連接具有一突柱231的接點(diǎn)懸臂板23,而該接點(diǎn)懸臂板23的一端則塞入一具有溝槽24的探針臂25上,以及藉突柱231穿伸置入該探針臂動(dòng)件22的貫穿孔21內(nèi),并由一壓力調(diào)整彈簧26置入,及上方鎖入一壓力調(diào)整鈕27,而在接點(diǎn)懸臂板23底端接設(shè)一彈簧片28,以形成一彈性接點(diǎn),另在該探針臂動(dòng)件22的前端處設(shè)一金接點(diǎn)29并連接一探針30,由金接點(diǎn)29之開(kāi)關(guān)感知探針30是否觸及晶粒40,并藉探針30導(dǎo)入電訊號(hào)以此感測(cè)晶粒40的好壞(良窳)及其質(zhì)量的高低。
      當(dāng)組裝實(shí)施時(shí),請(qǐng)繼續(xù)參閱圖1至圖7所示,首先,本實(shí)用新型之臂座10得以藉由X、Y、Z軸的調(diào)整手輪11、12、13,去調(diào)整各軸移動(dòng),使作動(dòng)機(jī)構(gòu)20移至適當(dāng)位置,如圖4至圖6所示;再者,本實(shí)用新型之作動(dòng)機(jī)構(gòu)20可藉由該壓力調(diào)整鈕27去微調(diào)該探針臂動(dòng)件22上的探針30的精準(zhǔn)度,而該探針30當(dāng)在空中往下碰觸到晶粒40表面時(shí),則能導(dǎo)通訊號(hào)去進(jìn)行偵測(cè)工作,倘若探針30持續(xù)往下壓,而壓力大于壓力調(diào)整彈簧26所設(shè)定的力量時(shí),則該接點(diǎn)即刻分離,如此可保護(hù)晶粒40,避免晶粒40遭受破壞,如此,本實(shí)用新型不僅可準(zhǔn)確測(cè)試晶粒40,更能提高產(chǎn)品品質(zhì)。
      權(quán)利要求
      1.一種壓力可調(diào)之探針座裝置,其特征在于它包含一臂座及與之連接的作動(dòng)機(jī)構(gòu);該臂座在X、Y、Z軸的三個(gè)方向上各設(shè)有調(diào)整手輪;該作動(dòng)機(jī)構(gòu)含有一具有貫穿孔的探針臂動(dòng)件及其下方連接具有一突柱的接點(diǎn)懸臂板,而該接點(diǎn)懸臂板的一端塞入一具有溝槽的探針臂上,以及藉突柱穿伸置入該探針臂動(dòng)件的貫穿孔內(nèi),并由一壓力調(diào)整彈簧置入,及上方鎖入一壓力調(diào)整鈕,而在該接點(diǎn)懸臂板的底端接設(shè)一彈簧片形成一彈性接點(diǎn),另在該探針臂動(dòng)件的前端處設(shè)有一金接點(diǎn)并連接一探針,并藉探針導(dǎo)入電訊號(hào)。
      專利摘要
      一種壓力可調(diào)之探針座裝置,它包含一臂座及與之連接的作動(dòng)機(jī)構(gòu),該臂座在X、Y、Z軸的三個(gè)方向上各設(shè)有調(diào)整手輪,以供調(diào)整各軸上之塊體移動(dòng);另該作動(dòng)機(jī)構(gòu)含有一具有貫穿孔的探針臂動(dòng)件,及其下方連接具有一突柱之接點(diǎn)懸臂板,而該接點(diǎn)懸臂板的一端塞入一具有溝槽的探針臂上,以及藉突柱穿伸置入該探針臂動(dòng)件的貫穿孔內(nèi),并由一壓力調(diào)整彈簧置入,及上方鎖入一壓力調(diào)整鈕,而在該接點(diǎn)懸臂板的底端接設(shè)一彈簧片,以形成一彈性接點(diǎn),另在該探針臂動(dòng)件的前端處設(shè)有一金接點(diǎn)并連接一探針,由金接點(diǎn)之開(kāi)關(guān)感知探針是否觸及晶粒,并藉探針導(dǎo)入電訊號(hào)以此感測(cè)晶粒的好壞及其質(zhì)量的高低。
      文檔編號(hào)G01Q30/00GKCN2757300SQ200420096482
      公開(kāi)日2006年2月8日 申請(qǐng)日期2004年10月11日
      發(fā)明者盧彥豪 申請(qǐng)人:盧彥豪導(dǎo)出引文BiBTeX, EndNote, RefMan
      網(wǎng)友詢問(wèn)留言 已有0條留言
      • 還沒(méi)有人留言評(píng)論。精彩留言會(huì)獲得點(diǎn)贊!
      1