專利名稱：大規(guī)模集成電路邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于電子線路測(cè)量中邏輯電路測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，涉及一種大規(guī)模集成電路邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)，該系統(tǒng)通過(guò)軟件設(shè)計(jì)和硬件電路兩部分來(lái)實(shí)現(xiàn)。
旨在改善維護(hù)性、可靠性與可生產(chǎn)性而提出的可測(cè)試性問(wèn)題，是隨著超大規(guī)模集成電路芯片與印制板復(fù)雜性的不斷上升和對(duì)其更短的設(shè)計(jì)周期、更系統(tǒng)規(guī)則的可測(cè)試性設(shè)計(jì)要求而產(chǎn)生的。當(dāng)今世界各國(guó)的公司越來(lái)越清楚地認(rèn)識(shí)到可測(cè)試性在產(chǎn)品中所扮演的角色，并在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)時(shí)就注重產(chǎn)品的測(cè)試。這是一項(xiàng)難度大且不易很好實(shí)現(xiàn)的的測(cè)試技術(shù)，因?yàn)楫?dāng)前板級(jí)互連技術(shù)在表面封裝和大規(guī)模集成電路IC門密度等方面的進(jìn)步雖然促進(jìn)了現(xiàn)代電子技術(shù)的發(fā)展，但對(duì)系統(tǒng)的可測(cè)試性卻有著很不利的影響，采用傳統(tǒng)的物理手段來(lái)訪問(wèn)電路板已越來(lái)越困難，甚至不可能。因此，在電子產(chǎn)業(yè)中不論是軍事還是商業(yè)領(lǐng)域，為串行測(cè)試總線建立一個(gè)邊界掃描體系結(jié)構(gòu)及其標(biāo)準(zhǔn)已得到廣泛的認(rèn)可。邊界掃描就是在大規(guī)模集成電路芯片內(nèi)的邊界上引入一條邊界掃描鏈，通過(guò)掃描操作提供掃描的可控制性與可觀察性，在邊界掃描測(cè)試狀態(tài)下，對(duì)于內(nèi)部邏輯的測(cè)試是通過(guò)輸入端口上施加測(cè)試激勵(lì)，并以輸出端口上獲取測(cè)試響應(yīng)來(lái)完成的，對(duì)芯片間互連線和板級(jí)組裝時(shí)的相鄰IC的測(cè)試是由輸出端口上施加的測(cè)試激勵(lì)，輸入端口上獲取的測(cè)試響應(yīng)來(lái)完成的。1986年，聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組JTAG(Joint Test Action Group)提出了一種邊界掃描體系結(jié)構(gòu)，以便支持所有的大規(guī)模集成電路的芯片測(cè)試、印制板測(cè)試以及系統(tǒng)診斷。1988年，IEEE與JTAG共同制定了P1149.1邊界掃描體系結(jié)構(gòu)的標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了邊界掃描體系的一套標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)。之后，已有不少?gòu)S家生產(chǎn)了具有JTAG協(xié)議所規(guī)定的邊界掃描測(cè)試功能的組件。在本發(fā)明以前的現(xiàn)有技術(shù)中，我們通過(guò)國(guó)內(nèi)專利及非專利文獻(xiàn)的檢索，共查到了10篇相關(guān)文獻(xiàn)(見(jiàn)檢索報(bào)告)，相關(guān)文獻(xiàn)偏重于邊界掃描測(cè)試技術(shù)理論的分析，設(shè)計(jì)的測(cè)試系統(tǒng)功能比較單一，對(duì)于集成測(cè)試編譯環(huán)境未見(jiàn)述及。與本發(fā)明比較相近的技術(shù)是航天科技集團(tuán)公司九院771所研制的大規(guī)模集成電路的邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)，該樣機(jī)采用單片機(jī)組成測(cè)試系統(tǒng)，通過(guò)串口通訊和PC機(jī)相連，在DOS界面下進(jìn)行測(cè)試操作，與本發(fā)明有層次上的差別。此外，據(jù)我們所了解，國(guó)外有貫徹JTAG協(xié)議的相關(guān)產(chǎn)品出售，但沒(méi)有與此相關(guān)的技術(shù)內(nèi)容披露。
針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)狀況，本發(fā)明的目的在于，提供一種大規(guī)模集成電路的邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)，使該系統(tǒng)與探針臺(tái)結(jié)合，能對(duì)超大規(guī)模集成電路芯片進(jìn)行中測(cè)，與相應(yīng)的測(cè)試卡結(jié)合，能對(duì)各種大規(guī)模集成電路芯片進(jìn)行成測(cè)，使大規(guī)模集成電路的可測(cè)試性問(wèn)題變得簡(jiǎn)單易行、使用方便、造價(jià)低廉。
現(xiàn)將本發(fā)明構(gòu)思及技術(shù)解決方案敘述如下本發(fā)明大規(guī)模集成電路邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)，由軟件和硬件兩部分組成。
系統(tǒng)的軟件部分具有類似于編寫一般C語(yǔ)言的規(guī)則實(shí)現(xiàn)源程序的編寫，編譯程序的各個(gè)過(guò)程采用面向?qū)ο蟮姆椒ㄟM(jìn)行設(shè)計(jì)，其特征在于包括一個(gè)芯片測(cè)試的集成開(kāi)發(fā)環(huán)境IDE及可編程邏輯芯片F(xiàn)LEX10K30編程的實(shí)現(xiàn)。芯片測(cè)試的集成開(kāi)發(fā)環(huán)境IDE包括以下幾部分1、芯片測(cè)試的IDE軟件平臺(tái)設(shè)計(jì)了一種新的JTAG Builder語(yǔ)言，具有簡(jiǎn)單的語(yǔ)法規(guī)則，數(shù)據(jù)類型有四種Int、Hex、Bin、Str，函數(shù)的返回值除了以上四種類型以外，還具有一種Void類型；對(duì)于語(yǔ)言結(jié)構(gòu)而言，實(shí)現(xiàn)順序結(jié)構(gòu)語(yǔ)句、判斷結(jié)構(gòu)語(yǔ)句、循環(huán)語(yǔ)句；對(duì)于作用域而言，每個(gè)變量都有其作用域，包括全局變量和局部變量。用戶可以按照該語(yǔ)言的各種規(guī)則或語(yǔ)法象編寫一般的C語(yǔ)言一樣實(shí)現(xiàn)其測(cè)試源程序的編寫。
2、該IDE可以將用戶按照其語(yǔ)法規(guī)則編寫的源程序編譯成測(cè)試目標(biāo)代碼，所有目標(biāo)代碼的生成依賴于對(duì)系統(tǒng)函數(shù)WritToObj BINWENCHEN(strcode)的調(diào)用，即該函數(shù)將字符串code寫入目標(biāo)文件中。最后，通過(guò)該IDE可以對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試并判斷結(jié)果，可選擇自動(dòng)測(cè)試方式和手動(dòng)測(cè)試方式。
3、作為IDE的一部分，編譯模塊對(duì)編譯程序的各個(gè)過(guò)程詞法分析、文法分析、語(yǔ)法和語(yǔ)義分析等都采用面向?qū)ο蟮姆椒ㄟM(jìn)行設(shè)計(jì)。傳統(tǒng)的編譯方法有許多缺陷或不足之處，如詞法分析過(guò)程通常會(huì)有兩個(gè)問(wèn)題一是緩沖區(qū)問(wèn)題，二是超前搜索與回退字符問(wèn)題；文法分析會(huì)有文法錯(cuò)誤的排除、文法歧義性、文法左遞歸等幾個(gè)基本問(wèn)題；在傳統(tǒng)語(yǔ)義處理中存在空間上的一致性問(wèn)題和符號(hào)表的處理問(wèn)題；語(yǔ)法分析過(guò)程中的無(wú)限循環(huán)與回溯問(wèn)題、移進(jìn)/規(guī)約沖突和規(guī)約/規(guī)約沖突等。為了解決傳統(tǒng)方法中的這些問(wèn)題，本項(xiàng)目中的編譯程序設(shè)計(jì)采用面向?qū)ο蠹夹g(shù)，主要進(jìn)行了以下設(shè)計(jì)詞法分析過(guò)程，采用面向?qū)ο蠓椒ㄖ械牧鳈C(jī)制，設(shè)計(jì)了詞法分析的輸入子系統(tǒng)，并通過(guò)表達(dá)式類庫(kù)建立詞法分析器的類，并實(shí)現(xiàn)了從正規(guī)表達(dá)式模式轉(zhuǎn)化為表達(dá)式類庫(kù)中的類的簡(jiǎn)便算法，以此解決了緩沖區(qū)問(wèn)題與超前搜索與回退字符問(wèn)題。在文法分析過(guò)程中，首先分析了傳統(tǒng)文法與面向?qū)ο筇卣鞯年P(guān)系，然后提出了面向?qū)ο蟮奈姆ǜ拍?，?duì)于分隔符號(hào)作為特殊處理，以此解決傳統(tǒng)文法分析中的左遞歸問(wèn)題、歧義問(wèn)題與回退字符問(wèn)題及回溯問(wèn)題。語(yǔ)義分析過(guò)程基于面向?qū)ο笪姆ǎ脑觳?shí)現(xiàn)了語(yǔ)句類庫(kù)，針對(duì)類型檢查的各個(gè)環(huán)節(jié)(包括表達(dá)式類檢查、語(yǔ)句類型檢查)進(jìn)行設(shè)計(jì)，并分別就聲明語(yǔ)句(包括變量與函數(shù)的聲明)與使用語(yǔ)句(包括變量與函數(shù)的使用)進(jìn)行了面向?qū)ο蠹夹g(shù)的改造，對(duì)常見(jiàn)的語(yǔ)句結(jié)構(gòu)(包括順序、條件、循環(huán)及返回語(yǔ)句等)進(jìn)行面向?qū)ο蟮恼Z(yǔ)義分析，同時(shí)針對(duì)作用域也進(jìn)行了專門設(shè)計(jì)。語(yǔ)法分析過(guò)程也是基于面向?qū)ο笪姆ㄉ系?，提出了面向?qū)ο蟮恼Z(yǔ)法分析器并針對(duì)其算法進(jìn)行了實(shí)現(xiàn)，同時(shí)還針對(duì)錯(cuò)誤恢復(fù)這個(gè)傳統(tǒng)語(yǔ)法分析中的難題進(jìn)行了專門設(shè)計(jì)。同樣，對(duì)于編譯過(guò)程中的代碼生成與優(yōu)化等過(guò)程也進(jìn)行了面向?qū)ο蠹夹g(shù)的改造與實(shí)現(xiàn)?？傊到y(tǒng)中編譯技術(shù)是利用面向?qū)ο筇幚砑夹g(shù)，將整個(gè)編譯過(guò)程的各種特性進(jìn)行了系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn)，克服了傳統(tǒng)編譯方法的主要缺點(diǎn)，如不利用通用化、處理過(guò)程繁瑣、不利于程序擴(kuò)展等，目前已能對(duì)函數(shù)的調(diào)用、各種語(yǔ)句的實(shí)現(xiàn)、各種變量與常量的使用等各個(gè)基本方面進(jìn)行相應(yīng)的處理。
4、利用WinDriver在Window98平臺(tái)上實(shí)現(xiàn)了PCI插卡的操作并將之進(jìn)行了可視化設(shè)計(jì)。一般而言，在Windows的環(huán)境下，所有在用戶態(tài)下的對(duì)硬件的直接操作都被禁止，如果想訪問(wèn)硬件，必須通過(guò)設(shè)備驅(qū)動(dòng)程序來(lái)實(shí)現(xiàn)，設(shè)備驅(qū)動(dòng)程序提供連接到計(jì)算機(jī)的硬件的軟件接口，它是操作系統(tǒng)的一個(gè)信任部分。用戶應(yīng)用程序以一種規(guī)范的方式訪問(wèn)硬件，而不必考慮如何控制硬件，因此作為計(jì)算機(jī)中的一個(gè)物理硬件，本項(xiàng)目中的邊界掃描測(cè)試接口卡也必須通過(guò)一個(gè)驅(qū)動(dòng)程序才能進(jìn)行訪問(wèn)，但編寫驅(qū)動(dòng)程序是一個(gè)復(fù)雜的過(guò)程，本項(xiàng)目為了節(jié)省時(shí)間和精力，利用了WinDriver軟件向?qū)г谠闯绦蛑袑?shí)現(xiàn)了對(duì)邊界掃描測(cè)試接口卡物理硬件的訪問(wèn)。這種訪問(wèn)其實(shí)是針對(duì)PCI的一個(gè)從設(shè)備的訪問(wèn)，而PCI總線的操作是一個(gè)繁瑣且不易理解的過(guò)程，本項(xiàng)目為了更好地操作PCI總線，開(kāi)發(fā)出了PCI總線的可視化程序，通過(guò)該程序，可以清楚地知道PCI總線的各種配置與各寄存器中的內(nèi)容，并能輕松地對(duì)PCI總線上的擴(kuò)展卡進(jìn)行讀寫操作。
5、軟件部分的第二部分采用AHDL(Altero Hardnase DeascriptionLanguage)，該語(yǔ)言具有支持層次結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及文體圖形文件的混合翻譯的技術(shù)，簡(jiǎn)化了對(duì)JTAG的設(shè)計(jì)任務(wù)。根據(jù)IEEE1149.1測(cè)試協(xié)議，我們采用存儲(chǔ)器接口、命令集解釋器和協(xié)議信號(hào)接口的設(shè)計(jì)方案，命令集合為控制、掃描、比較、屏蔽、測(cè)試模式、轉(zhuǎn)移、條件轉(zhuǎn)移、存儲(chǔ)和計(jì)數(shù)九個(gè)命令，用與之相應(yīng)的寄存器及地址、程序指針寄存器實(shí)現(xiàn)協(xié)議信號(hào)產(chǎn)生邏輯；充分利用Maxplus II開(kāi)發(fā)平臺(tái)，對(duì)可編程邏輯芯片F(xiàn)LEX10K30進(jìn)行優(yōu)化配置。
本發(fā)明系統(tǒng)硬件部分是一個(gè)基于PCI總線的JTAG測(cè)試卡，其特征在于1、該測(cè)試卡由四部分組成，即PCI接口、測(cè)試代碼存儲(chǔ)模塊、JTAG協(xié)議產(chǎn)生模塊、被測(cè)對(duì)象接口。JTAG測(cè)試卡的主要工作流程是宿主計(jì)算機(jī)通過(guò)PCI接口將測(cè)試代碼下載到代碼存儲(chǔ)區(qū)，然后啟動(dòng)JTAG測(cè)試協(xié)議產(chǎn)生部分，該部分通過(guò)讀取存儲(chǔ)的測(cè)試代碼，生成相應(yīng)的JTAG測(cè)試協(xié)議，即測(cè)試數(shù)據(jù)輸入端口TDI、測(cè)試數(shù)據(jù)輸出端口TDO、測(cè)試方式選擇TMS、測(cè)試時(shí)鐘TCK、測(cè)試復(fù)位輸入TRST等測(cè)試信號(hào)，測(cè)試結(jié)束將測(cè)試結(jié)果存儲(chǔ)到結(jié)果存儲(chǔ)器中，最后宿主計(jì)算機(jī)再通過(guò)PCI接口將測(cè)試結(jié)果取回，并判斷芯片的狀態(tài)；2、PCI接口采用PLX9052芯片進(jìn)行功能實(shí)現(xiàn)，即通過(guò)它與計(jì)算機(jī)宿主機(jī)的總線打交道，可靠地完成繁瑣的PCI通信接口操作；3、代碼存儲(chǔ)部分采用4個(gè)存儲(chǔ)器芯片實(shí)現(xiàn)，測(cè)試代碼和測(cè)試結(jié)果供操作和判斷使用；4、JTAG測(cè)試協(xié)議產(chǎn)生部分采用可編程邏輯器件Flex10K30實(shí)現(xiàn)，主要功能是根據(jù)存儲(chǔ)代碼區(qū)中的測(cè)試代碼來(lái)生成測(cè)試協(xié)議接口，通過(guò)被測(cè)對(duì)象接口部分對(duì)被測(cè)試芯片進(jìn)行JTAG功能測(cè)試；被測(cè)對(duì)象接口用以給被測(cè)對(duì)象以JTAG協(xié)議輸入，得到其輸出并返回給JTAG測(cè)試協(xié)議產(chǎn)生部分以備處理。
現(xiàn)將本發(fā)明


如下圖1本發(fā)明大規(guī)模集成電路的邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框2～圖6本發(fā)明的硬件設(shè)計(jì)原理圖，體現(xiàn)了在硬件設(shè)計(jì)時(shí)的模塊化設(shè)計(jì)思想。
其中圖2為PCI插槽連接原理圖，為標(biāo)準(zhǔn)的插槽連接，它提供測(cè)試儀的通信通道；圖3為SRAM原理框圖，其主要元器件是4片存儲(chǔ)器芯片，它們連接在PLX9052芯片的局部總線上，其功能是存儲(chǔ)測(cè)試代碼和測(cè)試結(jié)果供宿主機(jī)和主控芯片處理，即準(zhǔn)備開(kāi)始測(cè)試時(shí)，由宿主機(jī)啟動(dòng)可編程邏輯主控芯片F(xiàn)LEX10K30，該主控芯片讀取存器中的測(cè)試代碼并進(jìn)行相應(yīng)的譯碼，以生成JTAG測(cè)試協(xié)議，再通過(guò)測(cè)試接口對(duì)被測(cè)對(duì)象進(jìn)行測(cè)試，并將結(jié)果存入存儲(chǔ)器中，最后，宿主機(jī)將這些測(cè)試結(jié)果讀回進(jìn)行處理并顯示結(jié)果。
圖4為測(cè)試卡與被測(cè)對(duì)象連接原理圖，提供JTAG測(cè)試協(xié)議圖5為PLX9052連接原理圖。PCI總線的操作是一個(gè)非常繁瑣的過(guò)程，其協(xié)議較難實(shí)現(xiàn)，而PLX9052芯片是一個(gè)專門的PCI接口芯片，在其內(nèi)部已實(shí)現(xiàn)了PCI接口協(xié)議，剩下的工作只是擴(kuò)展其局部總線，實(shí)現(xiàn)與外部的連接。在該原理圖中，實(shí)現(xiàn)了PLX9052芯片與PCI接口、存儲(chǔ)器接口、主控芯片之間的連接。
圖6為FLEX10K30芯片的管腳配置圖。利用AHDL語(yǔ)言編寫的邊界掃描測(cè)試主控器即集成在該芯片內(nèi)。
本發(fā)明集成電路和超大規(guī)模集成電路的邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)新穎、使用方便，屬國(guó)內(nèi)首創(chuàng)，整體達(dá)到國(guó)內(nèi)領(lǐng)先水平。對(duì)于我國(guó)相對(duì)落后的集成電路和超大規(guī)模集成電路的測(cè)試技術(shù)來(lái)說(shuō)，具有非常重要的實(shí)際意義和推廣應(yīng)用價(jià)值。同國(guó)外進(jìn)口的需幾百萬(wàn)美元的同類產(chǎn)品相比，本發(fā)明系統(tǒng)的相應(yīng)產(chǎn)品具有很高的性能價(jià)格比，易于在全國(guó)各集成電路生產(chǎn)廠家推廣使用。
權(quán)利要求
1.一種大規(guī)模集成電路邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)，通過(guò)軟件設(shè)計(jì)和硬件電路兩部分來(lái)實(shí)現(xiàn)；系統(tǒng)軟件部分具有類似于編寫一般C語(yǔ)言的規(guī)則實(shí)現(xiàn)源程序的編寫，編譯程序的各個(gè)過(guò)程采用面向?qū)ο蟮姆椒ㄟM(jìn)行設(shè)計(jì)，其特征在于包括一個(gè)芯片測(cè)試的集成開(kāi)發(fā)環(huán)境IDE及可編程邏輯芯片F(xiàn)LEX10K30編程的實(shí)現(xiàn)；芯片測(cè)試的IDE包括以下幾部分(1)為芯片測(cè)試的IDE軟件平臺(tái)設(shè)計(jì)了JTAG Builder語(yǔ)言，其語(yǔ)法規(guī)則有四種數(shù)據(jù)類型Int、Hex、Bin、Str，函數(shù)的返回值除了以上四種類型以外，還有一種Void類型；對(duì)于語(yǔ)言結(jié)構(gòu)而言，實(shí)現(xiàn)順序結(jié)構(gòu)語(yǔ)句、判斷結(jié)構(gòu)語(yǔ)句、循環(huán)語(yǔ)句；對(duì)于作用域而言，每個(gè)變量都有其作用域，包括全局變量和局部變量；(2)該IDE將用戶按照其語(yǔ)法規(guī)則編寫的源程序編譯成測(cè)試目標(biāo)代碼，所有目標(biāo)代碼的生成依賴于對(duì)系統(tǒng)函數(shù)WritToObj BINWENCHEN(strcode)的調(diào)用，即該函數(shù)將字符串code寫入目標(biāo)文件中；通過(guò)該IDE對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試并判斷結(jié)果，可選擇自動(dòng)測(cè)試方式和手動(dòng)測(cè)試方式。(3)作為IDE的一部分，編譯模塊對(duì)編譯程序的各個(gè)過(guò)程詞法分析、文法分析、語(yǔ)法和語(yǔ)義分析等都采用面向?qū)ο蟮姆椒ㄟM(jìn)行設(shè)計(jì)；(4)利用WinDriver在Window98平臺(tái)上實(shí)現(xiàn)PCI插卡的操作并將之進(jìn)行可視化設(shè)計(jì)，利用了WinDriver軟件向?qū)г谠闯绦蛑袑?shí)現(xiàn)對(duì)邊界掃描測(cè)試接口卡物理硬件的訪問(wèn)，開(kāi)發(fā)出PCI總線的可視化程序；軟件部分的第二部分采用AHDL(Altero Hardnase DeascriptionLanguage)，該語(yǔ)言具有支持層次結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及文體圖形文件的混合翻譯的技術(shù)，簡(jiǎn)化了對(duì)JTAG的設(shè)計(jì)任務(wù)。根據(jù)IEEE1149.1測(cè)試協(xié)議，我們采用存儲(chǔ)器接口、命令集解釋器和協(xié)議信號(hào)接口的設(shè)計(jì)方案，命令集合為控制、掃描、比較、屏蔽、測(cè)試模式、轉(zhuǎn)移、條件轉(zhuǎn)移、存儲(chǔ)和計(jì)數(shù)九個(gè)命令，用與之相應(yīng)的寄存器及地址、程序指針寄存器實(shí)現(xiàn)協(xié)議信號(hào)產(chǎn)生邏輯；充分利用Maxplus II開(kāi)發(fā)平臺(tái)，對(duì)可編程邏輯芯片F(xiàn)LEX10K30進(jìn)行優(yōu)化配置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種大規(guī)模集成電路邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)，系統(tǒng)軟件部分的特征在于作為IDE的一部分編譯模塊對(duì)編譯程序的詞法分析過(guò)程，采用面向?qū)ο蠓椒ㄖ械牧鳈C(jī)制，設(shè)計(jì)詞法分析的輸入子系統(tǒng)，并通過(guò)表達(dá)式類庫(kù)建立詞法分析器的類，并實(shí)現(xiàn)從正規(guī)表達(dá)式模式轉(zhuǎn)化為表達(dá)式類庫(kù)中的類的簡(jiǎn)便算法，以解決緩沖區(qū)問(wèn)題與超前搜索與回退字符問(wèn)題；文法分析過(guò)程，提出面向?qū)ο蟮奈姆ǜ拍?，?duì)于分隔符號(hào)作為特殊處理，以解決傳統(tǒng)文法分析中的左遞歸問(wèn)題、歧義問(wèn)題與回退字符問(wèn)題及回溯問(wèn)題；語(yǔ)義分析過(guò)程，基于面向?qū)ο笪姆?，改造并?shí)現(xiàn)語(yǔ)句類庫(kù)，針對(duì)類型檢查的各個(gè)環(huán)節(jié)(包括表達(dá)式類檢查、語(yǔ)句類型檢查)進(jìn)行設(shè)計(jì)，并分別就聲明語(yǔ)句(包括變量與函數(shù)的聲明)與使用語(yǔ)句(包括變量與函數(shù)的使用)進(jìn)行面向?qū)ο蠹夹g(shù)改造，對(duì)常見(jiàn)的語(yǔ)句結(jié)構(gòu)(包括順序、條件、循環(huán)及返回語(yǔ)句等)進(jìn)行面向?qū)ο蟮恼Z(yǔ)義分析，針對(duì)作用域進(jìn)行專門設(shè)計(jì)；語(yǔ)法分析過(guò)程，基于面向?qū)ο笪姆ㄌ岢雒嫦驅(qū)ο蟮恼Z(yǔ)法分析器并實(shí)現(xiàn)其算法；針對(duì)錯(cuò)誤恢復(fù)進(jìn)行專門設(shè)計(jì)；在編譯過(guò)程的代碼生成與優(yōu)化過(guò)程中進(jìn)行面向?qū)ο蠹夹g(shù)的改造與實(shí)現(xiàn)。
3.一種根據(jù)權(quán)利要求1所述的大規(guī)模集成電路邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)，系統(tǒng)硬件部分是一個(gè)基于PCI總線的邊界掃描測(cè)試接口卡和測(cè)試附件，其特征在于(1)測(cè)試卡由四部分組成，即PCI接口、測(cè)試代碼存儲(chǔ)、JTAG協(xié)議產(chǎn)生、被測(cè)對(duì)象接口；(2)PCI接口采用PLX9052芯片進(jìn)行功能實(shí)現(xiàn)，即通過(guò)它與宿主計(jì)算機(jī)的PCI總線打交道，可靠地完成繁瑣的PCI通信接口操作；(3)代碼存儲(chǔ)部分采用4個(gè)存儲(chǔ)芯片實(shí)現(xiàn)，測(cè)試代碼和測(cè)試結(jié)果供操作和判斷使用；(4)JTAG測(cè)試協(xié)議產(chǎn)生部分采用可編程邏輯器件Flex10K30實(shí)現(xiàn)，根據(jù)存儲(chǔ)代碼區(qū)中的測(cè)試代碼來(lái)生成測(cè)試協(xié)議接口，通過(guò)被測(cè)對(duì)象接口部分對(duì)被測(cè)試芯片進(jìn)行JTAG功能測(cè)試；被測(cè)對(duì)象接口用以給被測(cè)對(duì)象以JTAG協(xié)議輸入，得到其輸出并返回給JTAG測(cè)試協(xié)議產(chǎn)生部分以備處理。
全文摘要
本發(fā)明屬于電子線路測(cè)量中邏輯電路測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,涉及一種大規(guī)模集成電路邊界掃描測(cè)試系統(tǒng),該系統(tǒng)通過(guò)軟件設(shè)計(jì)和硬件電路兩部分來(lái)實(shí)現(xiàn),系統(tǒng)軟件部分具有類似于C語(yǔ)言的規(guī)則,編譯程序采用面向?qū)ο蟮姆皆O(shè)計(jì),其特征在于:包括一個(gè)芯片測(cè)試的集成開(kāi)發(fā)環(huán)境IDE及可編程邏輯芯片F(xiàn)LEX10K30編程的實(shí)現(xiàn)。本系統(tǒng)設(shè)計(jì)新穎、使用方便,整體達(dá)到國(guó)內(nèi)領(lǐng)先水平,具有推廣應(yīng)用價(jià)值和很高的性能價(jià)格比,易于在各集成電路生產(chǎn)廠家推廣使用。
文檔編號(hào)G01R31/303GK1369714SQ01128718
公開(kāi)日2002年9月18日 申請(qǐng)日期2001年7月18日 優(yōu)先權(quán)日2001年7月18日
發(fā)明者繆棟, 陳斌文, 周戰(zhàn)馨, 王毓政, 孫東 申請(qǐng)人:中國(guó)人民解放軍第二炮兵工程學(xué)院技術(shù)開(kāi)發(fā)中心