專利名稱：激光光斑測量儀的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種激光光斑測量儀。
人們?yōu)榱私鉀Q激光在大氣傳輸實驗中的光斑測量問題，曾使用過集成化的測量器件如CCD(光藕合固體器件)，但它受光譜響應范圍、動態(tài)范圍等因素的限制；為此，現(xiàn)多采用分離傳感器件排成面陣來測量光斑，它的構成為，256只傳感器呈面陣排列，每一傳感器后電連接有放大器、保持器，所有保持器的輸出均接至并轉串模擬切換開關以將探測到的光斑信號變換為串行的信號供后續(xù)的采集信號處理器處理，其中，放大器、保持器和并轉串模擬切換開關均被置于電路板上且與采集信號處理器電連接；如物控院電子研究所研制的256單元陣列式光斑測量儀。但是，這種陣列式光斑測量儀存在著不足，首先，傳感器的數(shù)量較多，使總造價非常昂貴；其次，結構繁雜，可靠性差。
本實用新型的目的是提供一種造價低、結構簡單的激光光斑測量儀 。
為實現(xiàn)上述目的，本實用新型包括依次電連接的傳感器、前置放大保持器、并轉串模擬切換開關和采集信號處理器，所說的傳感器和前置放大保持器為多只，所說的前置放大保持器和并轉串模擬切換開關置于電路板上，特別是傳感器呈線陣嵌于轉盤上，所述的轉盤的背面設有電路板和與其電連接的導電環(huán)，所述的導電環(huán)與電連接采集信號處理器的電刷動配合電連接。
作為本實用新型的進一步改進，所述的轉盤與電機的轉軸固接，導電環(huán)置于轉軸上；所述的轉盤外套有防護罩；所述的防護罩和電連接采集信號處理器的電機分別固定在支撐架的兩側；所述的電刷置于防護罩或支撐架上。
采用這樣的結構后，由于傳感器由面陣改為線陣排列，傳感器及與其電連接的放大器、保持器的數(shù)量大大地減少，造價自然就降下來了；又由于所用元器件的急劇減少，其結構也就簡單多了，可靠性也相應地得到提高。
以下結合附圖對本實用新型的具體實施方式
作進一步詳細的描述。


圖1是本實用新型的一種基本結構示意圖。
參見圖1，16只傳感器1自盤心沿徑向呈線狀嵌于轉盤12上，緊固在轉盤12背面的電路板11上置有與傳感器1電連接的前置放大保持器2和并轉串模擬切換開關3。轉盤12的盤心與電機7的轉軸6相固接，導電環(huán)4置于轉軸6上、且與電路板11上的并轉串模擬切換開關3電連接。轉盤12外套有防護罩10，該防護罩10與電機7分別固定在支撐架8的兩側。采集信號處理器9設于支撐架8的下部，與它電連接的電刷5置于支撐架8上，并與轉軸6上的導電環(huán)4動配合電連接。電機7與采集信號處理器9電連接，并受其控制。
測量時，打開采集信號處理器9的開關，轉盤12在電機7的帶動下旋轉，置于轉盤12上的呈線狀排列的16只傳感器1旋轉起來后，其線陣就會掃過一個圓面，從而可對圓面范圍內的激光光斑進行測量；此時，如線陣的旋轉速度足夠快，則旋轉線陣等效為一個面陣。經傳感器1測得的激光光斑信號由前置放大保持器2、并轉串模擬切換開關3處理后，成為一路串行的電信號，再由導電環(huán)4、電刷5傳至采集信號處理器9進行進一步處理。
權利要求1.一種激光光斑測量儀，包括依次電連接的傳感器(1)、前置放大保持器(2)、并轉串模擬切換開關(3)和采集信號處理器(9)，所說的傳感器(1)和前置放大保持器(2)為多只，所說的前置放大保持器(2)和并轉串模擬切換開關(3)置于電路板(11)上，其特征在于傳感器(1)呈線陣嵌于轉盤(12)上，所述的轉盤(12)的背面設有電路板(11)和與其電連接的導電環(huán)(4)，所述的導電環(huán)(4)與電連接采集信號處理器(9)的電刷(5)動配合電連接。
2.根據(jù)權利要求1所述的測量儀，其特征是轉盤(12)與電機(7)的轉軸(6)固接，導電環(huán)(4)置于轉軸(6)上。
3.根據(jù)權利要求1所述的測量儀，其特征是轉盤(12)外套有防護罩(10)。
4.根據(jù)權利要求1、2或3所述的測量儀，其特征是防護罩(10)和電連接采集信號處理器(9)的電機(7)分別固定在支撐架(8)的兩側。
5.根據(jù)權利要求4所述的測量儀，其特征是電刷(5)置于防護罩(10)或支撐架(8)上。
專利摘要本實用新型公開了一種激光光斑測量儀。它包括依次電連接的傳感器、前置放大保持器、并轉串模擬切換開關和采集信號處理器,所說的傳感器和前置放大保持器為多只,所說的前置放大保持器和并轉串模擬切換開關置于電路板上,特別是傳感器呈線陣嵌于轉盤上,所述的轉盤的背面設有電路板和與其電連接的導電環(huán),所述的導電環(huán)與電連接采集信號處理器的電刷動配合電連接。它具有造價低、結構簡單、可靠性高的特點。
文檔編號G01J1/42GK2478088SQ0123787
公開日2002年2月20日 申請日期2001年5月17日 優(yōu)先權日2001年5月17日
發(fā)明者侯再紅, 吳毅, 汪超, 袁育凱, 李保生 申請人:中國科學院安徽光學精密機械研究所