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      金屬原位分析儀的制作方法

      文檔序號(hào):6042341閱讀:281來源:國(guó)知局
      專利名稱:金屬原位分析儀的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明屬于借助測(cè)定材料的物理性質(zhì)來分析材料的領(lǐng)域,主要涉及金屬材料的化學(xué)成分分析領(lǐng)域。
      背景技術(shù)
      化學(xué)成分、成分偏析、表面缺陷、夾雜物的含量是鋼鐵生產(chǎn)中質(zhì)量控制的最重要的四項(xiàng)內(nèi)容。在現(xiàn)有技術(shù)中,采用硫印試驗(yàn)來檢驗(yàn)合金元素在鋼中的偏析或分布,用酸浸試驗(yàn)來檢驗(yàn)中心疏松,采用金相法檢驗(yàn)夾雜物種類、形貌、尺寸大小及分布,上述傳統(tǒng)方法操作繁鎖,分析速度慢,所需時(shí)間長(zhǎng),同時(shí)無法定量化(《光學(xué)顯微分析》P21-40,孫業(yè)英著,清華大學(xué)出版社,1996年10月)。
      在現(xiàn)有技術(shù)中,火花源原子發(fā)射光譜儀可以進(jìn)行材料中的化學(xué)成分分析,但只能得到各元素平均含量,無法進(jìn)行成分的分布分析,更無法進(jìn)行偏析度、疏松度、夾雜物定量分析。究其原因,主要是目前火花源原子發(fā)射光譜儀存在以下三項(xiàng)主要技術(shù)缺陷1、靜態(tài)激發(fā)。分析過程中保持樣品固定,每次只是激發(fā)熔融一個(gè)5mm直徑的斑點(diǎn),為靜態(tài)激發(fā),不能記錄單次放電的位置,從而無法進(jìn)行元素與夾雜物的分布分析;2、積分檢測(cè)方式。采集的對(duì)象為幾千個(gè)放電脈沖的積分電壓,無法識(shí)別每個(gè)火花特性,從而無法解析蘊(yùn)藏在單次火花放電中的化學(xué)信息;3、高能預(yù)燃。經(jīng)過20至30秒的預(yù)燃,大部分夾雜物被重融,從而無法觀察到那些反映夾雜物信息的異?;鸹?。

      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明的目的在于提供一種不必預(yù)燃,可以同時(shí)測(cè)定金屬材料的化學(xué)成分、元素成分分布、夾雜物分布及偏析度、疏松度的金屬材料原位分析裝置。
      基于上述目的,本發(fā)明的主要技術(shù)方案是利用同步掃描平臺(tái)夾持樣品,實(shí)現(xiàn)連續(xù)移動(dòng)激發(fā)樣品的火花放電,通過分光,由高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)采集每次放電火花的譜線強(qiáng)度與位置,以數(shù)字方式實(shí)時(shí)記錄,并通過統(tǒng)計(jì)解析,進(jìn)行樣品的化學(xué)成分分析,元素分布分析(偏析度分析)、疏松度分析以及夾雜物分布分析。
      根據(jù)上述技術(shù)方案,金屬原位分析裝置包括如下系統(tǒng)激發(fā)光源系統(tǒng),對(duì)樣品進(jìn)行火花放電,提供樣品蒸發(fā)和原子化能量,分光系統(tǒng),將接收的火花光譜轉(zhuǎn)化為線性光譜,信號(hào)高速采集系統(tǒng),對(duì)單次火花放電的進(jìn)行高速采集,信號(hào)分析系統(tǒng),對(duì)上述單次火花放電的火花光譜進(jìn)行數(shù)字解析,樣品移動(dòng)/定位系統(tǒng),使樣品相對(duì)于激發(fā)光源進(jìn)行連續(xù)的二維移動(dòng)。
      激發(fā)光源系統(tǒng)由高純氬氣控制器(1)、鎢電極(2)、樣品(3)和火花發(fā)生器(4)組成,鎢電極(2)與火花發(fā)生器(4)相連,并與樣品(3)縱向相對(duì),高純氬氣控制器(1)的噴嘴(18)對(duì)準(zhǔn)火花中心。
      分光系統(tǒng)包括入射狹縫(5)單色計(jì)(6)和出射狹縫(7),所述的入射狹縫(5)和出射狹縫(7)分別處于單色計(jì)(6)的兩側(cè),出射狹縫(7)的狹縫個(gè)數(shù)為n。
      入射狹縫(5)的寬度為20-30μm,出射狹縫(7)的寬度為50-80μm,單色計(jì)(6)采用凹面光柵和帕邢一龍格(Paschen-Runge)裝置,出射狹縫(7)的狹縫個(gè)數(shù)n為3-55個(gè)。
      信號(hào)采集系統(tǒng),由n組包括如下元件的電路組成(a)光電倍增管8將出射狹縫輸出的線性光譜的光信號(hào)轉(zhuǎn)化為電流信號(hào),(b)放大板10將上述光電倍增管8輸出的電流信號(hào)進(jìn)行放大,(c)高速采集板11將上述放大板輸出的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào),然后,上述n組電路并聯(lián)后與高壓板9連接,(d)高壓板9為光電倍增管8提供600-1000伏的負(fù)高壓,使得光電倍增管8的陰極產(chǎn)生的很小的光電子電流,被放大成較大的陽極輸出電流。
      信號(hào)分析系統(tǒng),包括控制機(jī)(12),接收高速采集板(11)輸出的信號(hào),并控制樣品移動(dòng)/定位系統(tǒng)15的運(yùn)動(dòng),計(jì)算機(jī)(13),對(duì)控制機(jī)輸出的樣品信號(hào)進(jìn)行分析,按照預(yù)先設(shè)定的數(shù)學(xué)模型,得到樣品的元素化學(xué)成分、偏析度、夾雜物含量及分布,和疏松度,打印機(jī)(14),輸出上述分析結(jié)果。
      激發(fā)光源系統(tǒng)激發(fā)的光譜通過反射鏡(16)輸入分光系統(tǒng)的入射狹縫(5)。
      樣品移動(dòng)/定位系統(tǒng)由框架(21)、叉架(22)、連接筒(23)、升降臺(tái)(25)、X軸導(dǎo)軌(29)、Y軸導(dǎo)軌(27)、壓桿(32)、步進(jìn)電機(jī)(29,31)組成;升降臺(tái)(25)固定在X軸導(dǎo)軌(29)上,升降臺(tái)(25)通過連接筒(23)與叉架(22)相連,框架(21)固定在叉架(22)上,壓桿(32)通過壓頭(33)緊固樣品(3),旋緊螺母(24)也用于固定樣品(3),步進(jìn)電機(jī)(31)通過其絲杠(30)與X軸導(dǎo)軌(29)相連,步進(jìn)電機(jī)(28)通過絲杠(26)與Y軸導(dǎo)軌(27)相連,兩者構(gòu)成X-Y直角坐標(biāo)掃描軌道。
      激發(fā)光源系統(tǒng)通過樣品(3)與連續(xù)激發(fā)同步描述定位系統(tǒng)的框架(21)相連。
      整個(gè)分光系統(tǒng)處于恒溫控制狀態(tài)之下。
      分光系統(tǒng)的光學(xué)基本參數(shù)為光柵焦距750mm,譜線范圍120-800nm。


      附圖1為本發(fā)明金屬原位分析儀的結(jié)構(gòu)示意圖。
      附圖2為連續(xù)激發(fā)同步掃描定位系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
      由附圖1可看出,本發(fā)明金屬原位分析儀包括激發(fā)光源系統(tǒng)、分光系統(tǒng)、信號(hào)高速采集系統(tǒng)、信號(hào)分析系統(tǒng)和樣品移動(dòng)/定位系統(tǒng)。
      激發(fā)光源系統(tǒng)所激發(fā)的光通過反射鏡16輸入分光系統(tǒng)的入射狹縫5相連,分光系統(tǒng)通過出射狹縫7所輸出的線性光譜與單次火花放電高速采集系統(tǒng)的光電倍增管8相連,信號(hào)高速采集系統(tǒng)的高速采集板11通過導(dǎo)線與信號(hào)分析系統(tǒng)中的控制機(jī)12相連,信號(hào)分析系統(tǒng)中的控制機(jī)12通過導(dǎo)線17與樣品移動(dòng)/定位系統(tǒng)中的步進(jìn)電機(jī)28和31相連。
      所述的激發(fā)光源系統(tǒng)由高純氬氣控制器1、鎢電極2、樣品3和火花發(fā)生器4組成;鎢電極2與火花發(fā)生器4相連,并與樣品3縱向相對(duì),高純氬氣控制器1的噴嘴18對(duì)準(zhǔn)火花發(fā)生器4所產(chǎn)生的火花中心。
      所述的分光系統(tǒng)由入射狹縫5、單色計(jì)6和出射狹縫7組成;入射狹縫5和出射狹縫7分別處于單色計(jì)6的兩側(cè)。入射狹縫5的寬度為20-30μm,出射狹縫7的寬度為50-80μm,出射狹縫的狹縫個(gè)數(shù)n為3-55個(gè),可以形成3-55個(gè)線狀譜線通道,同時(shí)分析樣品中的多個(gè)元素。
      單色計(jì)6采用凹面光柵、帕邢-龍格(Paschen-Runge)裝置。分光系統(tǒng)的光學(xué)基本參數(shù)為光柵焦距750mm,譜線范圍120-800nm。整個(gè)分光系統(tǒng)處于恒溫控制狀態(tài)之下。
      本裝置由于對(duì)單次火花放電進(jìn)行信號(hào)采集,取消了現(xiàn)有技術(shù)中的積分電路,所述的信號(hào)高速采集系統(tǒng)由光電倍增管8、高壓板9、放大板10和高速采集板(A/D)11組成;相對(duì)于分光系統(tǒng)中出射狹縫的狹縫個(gè)數(shù)n,對(duì)應(yīng)的也有n組對(duì)應(yīng)的單次火花放電高速采集系統(tǒng)。每一組單次火花放電采集系統(tǒng)中光電倍增管8、放大板10和高速采集板11均通過導(dǎo)線串聯(lián),各組之間則相互并聯(lián),而高壓板9則通過導(dǎo)線19與每一組中的光電倍增管8相通。
      所述的火花光譜單次放電數(shù)字解析系統(tǒng)由控制機(jī)12、計(jì)算機(jī)13和打印機(jī)14組成;三者通過導(dǎo)線相連。
      所述的樣品移動(dòng)/定位系統(tǒng),對(duì)樣品進(jìn)行連續(xù)激發(fā)、同步掃描,是一種可編程的自動(dòng)化機(jī)械裝置,它由框架21,叉架22、連接筒23、升降臺(tái)25、X軸導(dǎo)軌29、Y軸導(dǎo)軌27、壓桿32、步進(jìn)電機(jī)28和31組成。升降臺(tái)25固定在X軸導(dǎo)軌29上,升降臺(tái)25通過連接筒23與叉架22相連,框架21固定在叉架22上,壓桿32通過壓頭33緊固樣品3,旋緊螺栓24也用于固定樣品3;步進(jìn)電機(jī)31通過其絲杠30與X軸導(dǎo)軌29相接,步進(jìn)電機(jī)28通過絲杠26與y軸導(dǎo)軌27連接,兩者構(gòu)成X-Y直角坐標(biāo)掃描軌道。
      信號(hào)分析系統(tǒng)中,控制機(jī)12通過導(dǎo)線17發(fā)出運(yùn)動(dòng)命令,控制步進(jìn)電機(jī)28和31帶動(dòng)框架21在選定區(qū)域內(nèi)進(jìn)行掃描,運(yùn)動(dòng)范圍和軌跡可根據(jù)分析任務(wù)隨時(shí)調(diào)整,能夠?qū)崟r(shí)記錄火花發(fā)生器放電電極的準(zhǔn)確位置。樣品的移動(dòng)速度達(dá)到0.1-1mm/sec,可以在樣品沒有發(fā)生重融的情況下,進(jìn)行連續(xù)激發(fā)和同步掃描,得到樣品最原始狀態(tài)的性能參數(shù)。
      具體實(shí)施例方式
      采用本發(fā)明金屬原位分析儀分析金屬材料化學(xué)成分是通過測(cè)量各元素的特征譜線的強(qiáng)度來測(cè)定各成分的含量,并結(jié)合位置信號(hào),確定元素的分布,下面介紹本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例,其具體的工作過程如下1、確定X-Y軸原點(diǎn)由連續(xù)激發(fā)同步掃描定位系統(tǒng)15夾持樣品3移動(dòng),確定一個(gè)相對(duì)零點(diǎn)。
      2.樣品參數(shù)設(shè)置。
      由計(jì)算機(jī)13設(shè)置樣品掃描范圍。
      3.激發(fā)采樣激發(fā)光源系統(tǒng)在程序的控制下,在樣品表面進(jìn)行火花放電,連續(xù)光譜經(jīng)分光系統(tǒng)分光后,由單次火花放電高速采集系統(tǒng)采集、存儲(chǔ)。
      4.數(shù)據(jù)處理由計(jì)算機(jī)13通過控制機(jī)12接受的每次火花放電能量的相對(duì)大小,進(jìn)行統(tǒng)計(jì)解析,計(jì)算出各元素的化學(xué)成分和夾雜物含量,結(jié)合由控制機(jī)12所接受的來自連續(xù)激發(fā)同步掃描定位系統(tǒng)中的火花位置信息,就可計(jì)算材料表面各成分的偏析度和疏松度,并繪出各元素的成分布和夾雜物分布圖象,以二維、三維立體方式顯示。并通過打印機(jī),打印輸出。
      與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明具有如下優(yōu)點(diǎn)(1)一次掃描分析,同時(shí)得到材料中元素含量、元素成分分布、偏析度、疏松度和夾雜物的定量分析結(jié)果。分析測(cè)試信息全面,對(duì)照性強(qiáng)。
      (2)以掃描范圍內(nèi)各點(diǎn)的元素含量的平均值來計(jì)算樣品的化學(xué)成分,避免了元素偏析時(shí)取樣點(diǎn)的差異而帶來的誤差,分析結(jié)果更可靠。
      (3)以二維圖形顯示材料任意點(diǎn)、線上的各元素成分含量,并標(biāo)明最嚴(yán)重偏析出現(xiàn)的位置,結(jié)果定量準(zhǔn)確,實(shí)用性強(qiáng)。
      (4)以二維圖形顯示材料任意點(diǎn)、線上的疏松狀況,并標(biāo)明最嚴(yán)重疏松出現(xiàn)的位置,結(jié)果定量準(zhǔn)確,實(shí)用性強(qiáng)。
      (5)以三維立體圖形顯示材料中元素成分和夾雜物的分布,形象直觀。
      (6)分析周期短,適用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的實(shí)時(shí)監(jiān)控。
      權(quán)利要求
      1.金屬原位分析裝置,其特征是,它包括如下系統(tǒng)激發(fā)光源系統(tǒng),對(duì)樣品進(jìn)行火花放電,提供樣品蒸發(fā)和原子化能量,分光系統(tǒng),將接收的火花光譜轉(zhuǎn)化為線性光譜,信號(hào)高速采集系統(tǒng),對(duì)單次火花放電的進(jìn)行高速采集,信號(hào)分析系統(tǒng),對(duì)上述單次火花放電的火花光譜進(jìn)行數(shù)字解析,樣品移動(dòng)/定位系統(tǒng),使樣品相對(duì)于激發(fā)光源進(jìn)行連續(xù)的二維移動(dòng)。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的金屬原位分析裝置,其特征是,所述的激發(fā)光源系統(tǒng)由高純氬氣控制器(1)、鎢電極(2)、樣品(3)和火花發(fā)生器(4)組成,鎢電極(2)與火花發(fā)生器(4)相連,并與樣品(3)縱向相對(duì),高純氬氣控制器(1)的噴嘴(18)對(duì)準(zhǔn)火花中心。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的金屬原位分析裝置,其特征是,所述的分光系統(tǒng)包括入射狹縫(5)單色計(jì)(6)和出射狹縫(7),所述的入射狹縫(5)和出射狹縫(7)分別處于單色計(jì)(6)的兩側(cè),出射狹縫(7)的狹縫個(gè)數(shù)為n。
      4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的金屬原位分析裝置,其特征是,所述的入射狹縫(5)的寬度為20-30μm,出射狹縫(7)的寬度為50-80μm,單色計(jì)(6)采用凹面光柵和帕邢一龍格(Paschen-Runge)裝置,出射狹縫(7)的狹縫個(gè)數(shù)n為3-55個(gè)。
      5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的金屬原位分析裝置,其特征是,所述的信號(hào)采集系統(tǒng),由n組包括如下元件的電路組成(a)光電倍增管8將出射狹縫輸出的線性光譜的光信號(hào)轉(zhuǎn)化為電流信號(hào),(b)放大板10將上述光電倍增管8輸出的電流信號(hào)進(jìn)行放大,(c)高速采集板11將上述放大板輸出的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào),然后,上述n組電路并聯(lián)后與高壓板9連接,(d)高壓板9為光電倍增管8提供600-1000伏的負(fù)高壓,使得光電倍增管8的陰極產(chǎn)生的很小的光電子電流,被放大成較大的陽極輸出電流。
      6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的金屬原位分析裝置,其特征是,所述的信號(hào)分析系統(tǒng),包括控制機(jī)(12),接收高速采集板(11)輸出的信號(hào),并控制樣品移動(dòng)/定位系統(tǒng)15的運(yùn)動(dòng),計(jì)算機(jī)(13),對(duì)控制機(jī)輸出的樣品信號(hào)進(jìn)行分析,按照預(yù)先設(shè)定的數(shù)學(xué)模型,得到樣品的元素化學(xué)成分、偏析度、夾雜物含量及分布,和疏松度,打印機(jī)(14),輸出上述分析結(jié)果。
      7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的金屬原位分析裝置,其特征是,所述的激發(fā)光源系統(tǒng)激發(fā)的光譜通過反射鏡(16)輸入分光系統(tǒng)的入射狹縫(5)。
      8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的金屬原位分析裝置,其特征是,所述的樣品移動(dòng)/定位系統(tǒng)由框架(21)、叉架(22)、連接筒(23)、升降臺(tái)(25)、X軸導(dǎo)軌(29)、Y軸導(dǎo)軌(27)、壓桿(32)、步進(jìn)電機(jī)(29,31)組成;升降臺(tái)(25)固定在X軸導(dǎo)軌(29)上,升降臺(tái)(25)通過連接筒(23)與叉架(22)相連,框架(21)固定在叉架(22)上,壓桿(32)通過壓頭(33)緊固樣品(3),旋緊螺母(24)也用于固定樣品(3),步進(jìn)電機(jī)(31)通過其絲杠(30)與X軸導(dǎo)軌(29)相連,步進(jìn)電機(jī)(28)通過絲杠(26)與Y軸導(dǎo)軌(27)相連,兩者構(gòu)成X-Y直角坐標(biāo)掃描軌道。
      9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的金屬原位分析裝置,其特征是,所述的激發(fā)光源系統(tǒng)通過樣品(3)與連續(xù)激發(fā)同步描述定位系統(tǒng)的框架(21)相連。
      10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分析裝置,其特征是,整個(gè)分光系統(tǒng)處于恒溫控制狀態(tài)之下。
      11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分析裝置,其特征是,分光系統(tǒng)的光學(xué)基本參數(shù)為光柵焦距750mm,譜線范圍120-800nm。
      全文摘要
      本發(fā)明涉及金屬材料化學(xué)分析領(lǐng)域。所述的金屬原位分析儀由激發(fā)光源系統(tǒng)、分光系統(tǒng)、單次火花放電信號(hào)高速采集系統(tǒng)、對(duì)火花光譜單次放電進(jìn)行數(shù)字解析的信號(hào)分析系統(tǒng)和連續(xù)激發(fā)同步掃描的樣品移動(dòng)/定位系統(tǒng)組成。本發(fā)明利用同步掃描樣品,實(shí)現(xiàn)樣品連續(xù)移動(dòng),連續(xù)火花放電,通過分光、高速信號(hào)采集,以數(shù)字方式實(shí)時(shí)記錄,通過統(tǒng)計(jì)解析,可同時(shí)進(jìn)行樣品的化學(xué)成分、元素分布、疏松度和類雜物分布的分析,結(jié)果準(zhǔn)確全面。
      文檔編號(hào)G01N21/63GK1504741SQ0215370
      公開日2004年6月16日 申請(qǐng)日期2002年12月2日 優(yōu)先權(quán)日2002年12月2日
      發(fā)明者王海舟, 陳吉文, 楊志軍, 楊新生, 高宏斌, 賈云海, 袁良經(jīng), 屈文俊, 王哲寧 申請(qǐng)人:鋼鐵研究總院
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