專利名稱：可調(diào)整角度的基材檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種可調(diào)整角度的基材檢測(cè)裝置，尤指一種使攝影元件與光源可調(diào)整其相對(duì)于基材的角度而發(fā)揮最完美的反射效果，進(jìn)而達(dá)到判別與分析目的的檢測(cè)角度裝置。
由此可見(jiàn)，目前基材檢測(cè)裝置下的檢測(cè)角度仍有改良的空間，需要作進(jìn)一步的改進(jìn)。
為實(shí)現(xiàn)上述目的，提供了一種可調(diào)整角度的基材檢測(cè)裝置，其包括在一機(jī)架上分設(shè)的一輸送基材的輸送滾輪組；分別設(shè)于輸送滾輪組上/下方并可調(diào)整角度的光源；及分設(shè)于輸送滾輪組上/下方且可調(diào)整角度的攝影元件。
本實(shí)用新型的可調(diào)整角度的基材檢測(cè)裝置利用基材的反射特性，使攝影元件及光源與基材間分別呈90與45度，并可做適當(dāng)?shù)慕嵌日{(diào)整，以達(dá)到最適當(dāng)?shù)幕姆瓷湫Ч?，而供分析及判別該基材上的缺陷，以控制生產(chǎn)優(yōu)良率，達(dá)到自動(dòng)化檢測(cè)目的。
圖2為根據(jù)本實(shí)用新型的一較佳實(shí)施例的平面圖。
圖3為根據(jù)本實(shí)用新型的又一較佳實(shí)施例的示意圖。
圖4為變形基材的局部剖視圖。
圖5為現(xiàn)有檢測(cè)裝置的示意圖。
附圖
中11為輸送滾輪組；101為上層固定架；102為中層固定架；103為下層固定架；111為滾輪；112為軸承；12和12’為旋轉(zhuǎn)燈具；13和13’為攝影元件；130為調(diào)整桿；14為反光板；50為基材；71為攝影元件；72為光源。
該攝影元件13用來(lái)取得基材50表面的影像信號(hào)，以供分析其上的反射變化特性。
又請(qǐng)配合參閱圖2所示，前述攝影元件13與輸送滾輪組11上所輸送基材50的相對(duì)角度可做90±20度的調(diào)整，又旋轉(zhuǎn)燈具12可配合攝影元件13與基材50作45±15度的相對(duì)角度調(diào)整，以便使光線在基材50表面產(chǎn)生理想的反射效果。
再者，攝影元件13拾取的影像信號(hào)可通過(guò)外部的控制單元分析后將基材50分級(jí)，并將不同等級(jí)的基材50通過(guò)區(qū)分裝置(圖中未示)的區(qū)分而分別由不同的輸送滾輪組向前輸送。
由上述配合附圖所作的描述，可看出本實(shí)用新型一較佳實(shí)施例的詳細(xì)構(gòu)造，至于其使用方式如下首先請(qǐng)參照?qǐng)D2所示，常態(tài)下的基材檢測(cè)裝置其要求的基材50優(yōu)劣條件較高，因此該攝影元件13、旋轉(zhuǎn)燈具12與基材50之間呈一定的相對(duì)角度，以使由基材50反射的來(lái)自光源的光能顯示出雜質(zhì)或不良瑕疵品供攝影元件13接收，并傳輸至外部的控制單元以分析其材質(zhì)。又如遇基材50其本身在生產(chǎn)時(shí)有產(chǎn)生一些細(xì)小的物理變化，但這些物理變化是在可容忍的狀況下，故期望基材檢測(cè)裝置通過(guò)而視為正?；?0時(shí)，因此可將攝影元件13與旋轉(zhuǎn)燈具12調(diào)整為不同的相對(duì)角度，以使基材檢測(cè)裝置檢測(cè)忽略基材50表面的細(xì)微物理變化，而視為合乎規(guī)定的基材。
在前一實(shí)施例中，是在輸送滾輪組11的上方分設(shè)可個(gè)別調(diào)整角度的攝影元件13與旋轉(zhuǎn)燈具12。而如圖3所示，為本實(shí)用新型又一較佳實(shí)施例的示意圖，在本實(shí)施例中，分別在輸送滾輪組11的上方及下方分設(shè)攝影元件13和13’及旋轉(zhuǎn)燈具12和12’，兩組攝影元件13和13’、旋轉(zhuǎn)燈具12和12’可分別調(diào)整其與輸送滾輪組11所傳送基材50的相對(duì)角度，以便同時(shí)拾取基材50表面與底面的影像。
由上述可知，本實(shí)用新型解決了傳統(tǒng)檢測(cè)裝置的角度問(wèn)題，可用以檢測(cè)不同類(lèi)別的基材，并有效解決單純物理性變化因素而影響優(yōu)良率的情形。
綜合上述可知，本實(shí)用新型對(duì)現(xiàn)有傳統(tǒng)檢測(cè)裝置的角度有不同的思考及改進(jìn)，并具備有顯著之功效增進(jìn)，因此兼具實(shí)用性與創(chuàng)造性。
權(quán)利要求1.一種可調(diào)整角度的基材檢測(cè)裝置，其特征在于；包括在一機(jī)架上分設(shè)的一輸送滾輪組，由兩組滾輪組成，其平行設(shè)置于前述機(jī)臺(tái)的底層；至少一組光源，分別設(shè)于輸送滾輪組上方，并可調(diào)整其與輸送滾輪組上輸送基材的相對(duì)角度；及至少一組攝影元件，分別設(shè)于輸送滾輪組上方，且可調(diào)整其與基材的相對(duì)角度。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的可調(diào)整角度的基材檢測(cè)裝置，其特征在于，該機(jī)架前后端分設(shè)有相對(duì)應(yīng)的上層固定架、中層固定架及底層固定架，其中底層固定架上是用以固定輸送滾輪組，中層固定架是供固定光源，上層固定架則以一調(diào)整桿固定攝影元件。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的可調(diào)整角度的基材檢測(cè)裝置，其特征在于，該機(jī)架于光源下方設(shè)有一可調(diào)整角度的反光板。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的可調(diào)整角度的基材檢測(cè)裝置，其特征在于，該機(jī)架在輸送滾輪組下方分設(shè)有一攝影元件及一光源，該攝影元件與光源可調(diào)整其與輸送滾輪組上所傳輸基材的相對(duì)角度。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或4所述的可調(diào)整角度的基材檢測(cè)裝置，其特征在于，該輸送滾輪組由兩平行設(shè)置的滾輪組成。
6.根據(jù)權(quán)利要求1或3或4所述的可調(diào)整角度的基材檢測(cè)裝置，其特征在于，該光源由一旋轉(zhuǎn)燈具構(gòu)成。
7.根據(jù)權(quán)利要求1或4所述的可調(diào)整角度的基材檢測(cè)裝置，其特征在于，該攝影元件由電耦合器件構(gòu)成。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種可調(diào)整角度的基材檢測(cè)裝置，主要是于一機(jī)架上分設(shè)有一輸送基材的輸送滾輪組、分別位于輸送滾輪組上/下方并可調(diào)整角度的光源、分設(shè)于輸送滾輪組上/下方且可調(diào)整角度的攝影元件；其中前述光源與攝影元件呈固定的相對(duì)角度，以便利用基材反射的光源特性分析與判別基材的種類(lèi)與缺陷，且二者可同時(shí)通過(guò)同步調(diào)整而改變其與基材間的相對(duì)角度，從而可檢測(cè)相同類(lèi)別的基材，以調(diào)整控制生產(chǎn)優(yōu)良率。
文檔編號(hào)G01N21/55GK2544276SQ0223183
公開(kāi)日2003年4月9日 申請(qǐng)日期2002年5月29日 優(yōu)先權(quán)日2002年5月29日
發(fā)明者陳天寶 申請(qǐng)人:臺(tái)量科技股份有限公司