專利名稱：分檢裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種分檢裝置，尤指一種針對光學(xué)鍍膜元件的分類檢測，可提供較佳量測品質(zhì)及更大量測產(chǎn)能的分檢裝置。
現(xiàn)有鍍膜光學(xué)零組件的檢測儀器主要為光波量測系統(tǒng)，藉由掃描波長測試系統(tǒng)的分析，將光學(xué)零件做等級分類，并將不良品篩檢出來，傳統(tǒng)的此一量測分檢動作，系采用人力作業(yè)及人為比對，利用人力將待測零件夾持到測式系統(tǒng)的載臺，加以定位后并開啟雷射光源，再由人力讀取分析結(jié)果后參考資料庫數(shù)據(jù)將產(chǎn)品分類，此種辦法牽涉人力先天上的限制，無法穩(wěn)定持續(xù)提供大量且高品質(zhì)的分檢結(jié)果，因此也使生產(chǎn)成本居高不下。
本實用新型的上述目的是這樣實現(xiàn)的，一種分檢裝置主要包括一上料機構(gòu)，一量測定位機構(gòu)及一下料機構(gòu)；其中上料機構(gòu)于作業(yè)平臺一側(cè)設(shè)有標(biāo)準(zhǔn)料盤，于標(biāo)準(zhǔn)料盤上方跨設(shè)有一可帶動上料滑座進行兩軸水平移動的平移滑臺，上料滑座上固設(shè)有復(fù)數(shù)組吸座；量測定位機構(gòu)設(shè)于上料機構(gòu)的一側(cè)，于作業(yè)平臺上設(shè)有可置放元件的載臺；下料機構(gòu)于作業(yè)平臺相對標(biāo)準(zhǔn)料盤的另一側(cè)設(shè)有成品料盤，于成品料盤上方跨設(shè)有一可帶動下料滑座進行兩軸水平移動的平移滑臺，下料滑座上并固設(shè)有復(fù)數(shù)組吸座。
通過上述各機構(gòu)的配合連動，及量測條件的精密控制，可提供更穩(wěn)定精確的分檢結(jié)果及測試產(chǎn)能，以有效降低生產(chǎn)成本。
以下結(jié)合附圖
以較佳實施例對關(guān)本實用新型進行詳細說明。此等實例僅供舉例說明之用，而非限制本實用新型。
附圖標(biāo)號說明10上料機構(gòu)；11標(biāo)準(zhǔn)料盤；12平移滑臺；13上料滑座；14吸座 20量測定位機構(gòu)；21載臺；22定位桿；30下料機構(gòu)；31成品料盤；32平移滑臺；33下料滑座；34吸座；40作業(yè)平臺。
本實用新型上料滑座13及下料滑座33經(jīng)由平移滑臺12、32的帶動可進行兩軸的水平移動，吸座14、34藉由上料滑座13及下料滑座33的帶動則可平移至標(biāo)準(zhǔn)料盤11、載臺21或成品料盤31、載臺21上方任意位置處。
待測元件系置放于標(biāo)準(zhǔn)料盤11上，元件經(jīng)由吸座14的吸附搬送取放至載臺21，相應(yīng)的定位桿22將元件推移定位，載臺21并同步與光學(xué)測試組發(fā)射光源配合比對進行水平角度的自動調(diào)整，以取得最佳的量測角度，當(dāng)光學(xué)測試組完成待測元件的檢測，檢測數(shù)據(jù)經(jīng)軟體解讀后再與資料庫內(nèi)容進行比對，可得出該待測元件的等級，并釋出訊號至下料機構(gòu)30，吸座34于接收訊號后作動工載臺21上方，將已量測元件依比對結(jié)果分類放至相應(yīng)成品料盤31上，上述各機構(gòu)動作的連動及相關(guān)對應(yīng)位置的決定則經(jīng)由可程控器的設(shè)定而達成。
傳統(tǒng)光學(xué)元件的分類檢測系以人力方式將的取放于光學(xué)測試組的檢測頭下，再加以定位后啟動發(fā)射光束，使光束穿過待測元件，并將接受器所測得的各類光學(xué)數(shù)據(jù)經(jīng)比對后以人為方式分類，此等方式皆使分檢產(chǎn)能與量測品質(zhì)無法有效提升；本實用新型藉由各機構(gòu)的相對作動，可大幅縮短被測-元件檢測流程所需花費的時間，并有效避免人力動作造成的疏失，使產(chǎn)能及量測品質(zhì)能同時有所增益。
雖然本實用新型實施例僅顯示一種態(tài)樣，但以上所述僅為本實用新型的較佳實施例，不能用來限定本實用新型實施的范圍，凡依本實用新型所述內(nèi)容所作的等效變化與修飾，皆應(yīng)屬于本實用新型涵蓋的范圍。
權(quán)利要求1.一種分檢裝置主要包括一上料機構(gòu)，—量測定位機構(gòu)及一下料機構(gòu)；其特征在于上料機構(gòu)于作業(yè)平臺一側(cè)設(shè)有標(biāo)準(zhǔn)料盤，于標(biāo)準(zhǔn)料盤上方跨設(shè)有一可帶動上料滑座進行兩軸水平移動的平移滑臺，上料滑座上固設(shè)有復(fù)數(shù)組吸座；量測定位機構(gòu)設(shè)于上料機構(gòu)的一側(cè)，于作業(yè)平臺上設(shè)有可置放元件的載臺；下料機構(gòu)于作業(yè)平臺相對標(biāo)準(zhǔn)料盤的另一側(cè)設(shè)有成品料盤，于成品料盤上方跨設(shè)有一可帶動下料滑座進行兩軸水平移動的平移滑臺，下料滑座上并固設(shè)有復(fù)數(shù)組吸座。
2.如權(quán)利要求1所述的分檢裝置，其特征在于量測定位機構(gòu)的載臺是可調(diào)整水平角度的載臺。
3.如權(quán)利要求1所述的分檢裝置，其特征在于量測定位機構(gòu)的載臺設(shè)有可對置放于載臺的元件進行定位的相應(yīng)定位桿。
專利摘要本實用新型是一種分檢裝置，主要包括一上料機構(gòu)，一量測定位機構(gòu)及一下料機構(gòu)，該上料機構(gòu)可供承載及搬移待測物；該量測定位機構(gòu)可對待測物進行角度調(diào)整及定位動作；該下料機構(gòu)可將檢測完成的已測物搬移并分類置放于定位；藉由各機構(gòu)的配合連動及量測條件的精密控制，取代人為量測動作，可大幅縮短被測元件檢測流程所花時間，提升產(chǎn)能，并減少人為造成的檢測疏失，提升量測品質(zhì)。
文檔編號G01N21/88GK2544277SQ0223934
公開日2003年4月9日 申請日期2002年6月21日 優(yōu)先權(quán)日2002年6月21日
發(fā)明者陳杲卿, 王連能 申請人:技創(chuàng)科技股份有限公司