專利名稱：螺紋測(cè)試器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型是關(guān)于一種螺紋測(cè)試器，特別是關(guān)于一種測(cè)試螺紋規(guī)格的螺紋測(cè)試器。
背景技術(shù)：
目前螺紋的種類不可勝數(shù)，例如JIS公制螺紋、美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)螺紋、管用螺紋、梯形螺紋、正方螺紋及斜方螺紋等，其他特殊規(guī)格的螺紋亦不再少數(shù)。因此目前螺絲及螺釘?shù)嚷菁y制品，若再加上直徑、長(zhǎng)度、公英制等變化，非常容易造成使用上的混淆。尤其使用在目前復(fù)雜的高科技設(shè)備，工作者進(jìn)行螺鎖的空間相當(dāng)狹小而造成工作上的不便，此時(shí)若所選擇的螺栓尺寸不對(duì)，常造成該螺栓或被結(jié)合體滑絲，甚至螺栓會(huì)斷裂于被結(jié)合體中，嚴(yán)重影響設(shè)備的運(yùn)作及其安全。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一螺紋測(cè)試器，可于使用前預(yù)先測(cè)試出螺絲及螺釘?shù)嚷菁y元件的規(guī)格，以避免因規(guī)格不吻合而造成該螺絲及螺釘在實(shí)際應(yīng)用時(shí)滑絲或造成被結(jié)合機(jī)件的損害，并可用于具有大量螺紋元件的設(shè)備拆解時(shí)螺紋元件的分類整理。
本實(shí)用新型提供一種螺紋測(cè)試器，其特征在于包含一基座，由耐磨耗的材料制成，并具有至少一平面；多數(shù)個(gè)螺紋孔，設(shè)于該基座中，且其螺紋前進(jìn)方向垂直該平面；及多數(shù)個(gè)螺紋標(biāo)稱，分別設(shè)于該平面上鄰近該螺紋孔處。
在實(shí)際使用中，本實(shí)用新型還可以具有如下附加的技術(shù)特征該平面上可設(shè)有一長(zhǎng)度尺寸標(biāo)記，用于量測(cè)該螺紋元件的長(zhǎng)度。
該多數(shù)個(gè)螺紋孔可為貫穿孔。
該基座可以金屬材料制成。
該多數(shù)個(gè)螺紋孔包括公制螺紋孔及英制螺紋孔。
該平面上另具有英制及公制的字樣。
該基座也可為一立方體，且該公制螺紋孔及英制螺紋孔均為盲孔。
該公制螺紋孔及英制螺紋孔可為盲孔，且其螺紋前進(jìn)方向分別垂直于該基座的上、下兩平面。
該公制螺紋孔及英制螺紋孔可分別位于該基座的上、下兩平面上。
本實(shí)用新型的螺紋測(cè)試器，可于使用前預(yù)先測(cè)試出螺絲及螺釘?shù)嚷菁y元件的規(guī)格，以避免因規(guī)格不吻合而造成該螺絲及螺釘在實(shí)際應(yīng)用時(shí)滑絲或造成被結(jié)合機(jī)件的損害，并可用于具有大量螺紋元件的設(shè)備拆解時(shí)螺紋元件的分類整理。此外，本實(shí)用新型的螺紋測(cè)試器結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，易于制造；該基座可以耐磨耗的材料制成，經(jīng)久耐用且便于攜帶。

圖1(a)是本實(shí)用新型的第一較佳實(shí)施例的螺紋測(cè)試器的立體圖；圖1(b)是圖1(a)的螺紋測(cè)試器的俯視圖；圖2(a)及圖2(b)是本實(shí)用新型的第二較佳實(shí)施例的螺紋測(cè)試器的立體圖；及圖3是本實(shí)用新型的第三較佳實(shí)施例的螺紋測(cè)試器的立體圖。
具體實(shí)施方式參照?qǐng)D1(a)，本實(shí)用新型的第一較佳實(shí)施例的螺紋測(cè)試器的立體圖。使用者101于進(jìn)行一螺栓102接合前，可先將該螺拴102于一平板狀的螺紋測(cè)試器10進(jìn)行測(cè)試，看其是否可非常平順地旋入該螺紋測(cè)試器10中。若測(cè)試中發(fā)現(xiàn)該螺栓102卡住或旋轉(zhuǎn)的動(dòng)作不順，即表示該螺栓102的直徑不對(duì)或其螺紋已遭破壞，而可及早更換以避免日后滑絲的情形。
圖1(b)是為該螺紋測(cè)試器10的俯視圖。該螺紋測(cè)試器10是于一金屬板的一平面19上以絲錐(圖未示出)攻出多數(shù)個(gè)垂直于該平面19的螺紋孔11，而該螺紋孔11旁則賦予其相對(duì)應(yīng)的螺紋標(biāo)稱12。該螺紋測(cè)試器10的側(cè)邊則分別標(biāo)上公制尺寸標(biāo)記13及英制尺寸標(biāo)記14，以作為量尺之用。并于該公制尺寸標(biāo)記13及英制尺寸標(biāo)記14旁分別注以公制字樣15及英制字樣16以利辨識(shí)。該螺紋孔11包含公制及英制的螺紋孔，分別置于該螺紋測(cè)試器10的上部及下部，于其左側(cè)分別標(biāo)上英制字樣17及公制字樣18以供辨識(shí)之用。該螺紋標(biāo)稱12是依據(jù)JIS公制細(xì)牙螺紋規(guī)范及UNC、NC的英制粗牙螺紋及UNF、NF的英制細(xì)牙螺紋的規(guī)范。例如英制的#1-64即代表1號(hào)外徑螺紋且每英寸的螺紋數(shù)為64個(gè)，而公制的M2×0.25即代表該螺紋外徑為2mm而節(jié)距(pitch)為0.25mm。該螺紋測(cè)試器10的長(zhǎng)度及寬度分別為18及10cm，而厚度僅8mm，非常方便攜帶，可直接置于工作者的工具箱中。
圖2(a)及圖2(b)為本實(shí)用新型的第二較佳實(shí)施例的螺紋測(cè)試器的立體圖，圖2(b)顯示圖2(a)的螺紋測(cè)試器20反面后的狀態(tài)。該螺紋測(cè)試器20是將公制螺紋孔202及其螺紋標(biāo)稱204與英制螺紋孔210及其螺紋標(biāo)稱212分別置于該螺紋測(cè)試器20的上下兩平面21、22，并分別注上公制和英制字樣206、214及公制和英制尺寸標(biāo)記208、216。本第二較佳實(shí)施例的螺紋測(cè)試器20所需的平面面積可較第一較佳實(shí)施例的螺紋測(cè)試器10減半，使用上更為輕便。但該螺紋孔202、210需為盲孔，其可藉由厚度的增加，使該公制及英制紋孔202、210的底部仍保持一定的距離。另外亦可將該公制及英制螺紋孔202、210在該螺紋測(cè)試器20的位置互相錯(cuò)開以有效減少所需厚度。
圖3顯示本實(shí)用新型的第三較佳實(shí)施例的螺紋測(cè)試器30，其是為一六面立方體，其中平面31、32、33各具有4個(gè)公制螺紋盲孔34及螺紋標(biāo)稱35，而英制的螺紋盲孔(圖未示出)則設(shè)于其余3個(gè)平面上。
權(quán)利要求1.一種螺紋測(cè)試器，其特征在于包含一基座，由耐磨耗的材料制成，并具有至少一平面；多數(shù)個(gè)螺紋孔，設(shè)于該基座中，且其螺紋前進(jìn)方向垂直該平面；及多數(shù)個(gè)螺紋標(biāo)稱，分別設(shè)于該平面上鄰近該螺紋孔處。
2.如權(quán)利要求1所述的螺紋測(cè)試器，其特征在于該平面上設(shè)有一長(zhǎng)度尺寸標(biāo)記，用于量測(cè)該螺紋元件的長(zhǎng)度。
3.如權(quán)利要求1所述的螺紋測(cè)試器，其特征在于該多數(shù)個(gè)螺紋孔為貫穿孔。
4.如權(quán)利要求1所述的螺紋測(cè)試器，其特征在于該基座是以金屬材料制成。
5.如權(quán)利要求1所述的螺紋測(cè)試器，其特征在于該多數(shù)個(gè)螺紋孔包括公制螺紋孔及英制螺紋孔。
6.如權(quán)利要求5所述的螺紋測(cè)試器，其特征在于該平面上另具有英制及公制的字樣。
7.如權(quán)利要求5所述的螺紋測(cè)試器，其特征在于該基座為一立方體，且該公制螺紋孔及英制螺紋孔均為盲孔。
8.如權(quán)利要求5所述的螺紋測(cè)試器，其特征在于該公制螺紋孔及英制螺紋孔為盲孔，且其螺紋前進(jìn)方向分別垂直于該基座的上、下兩平面。
9.如權(quán)利要求8所述的螺紋測(cè)試器，其特征在于該公制螺紋孔及英制螺紋孔是分別位于該基座的上、下兩平面上。
專利摘要本實(shí)用新型提供一種螺紋測(cè)試器，包含一基座，由耐磨耗的材料制成，并具有至少一平面；多數(shù)個(gè)螺紋孔，設(shè)于該基座中，且其螺紋前進(jìn)方向垂直該平面；及多數(shù)個(gè)螺紋標(biāo)稱，分別設(shè)于該平面上鄰近該螺紋孔處。本實(shí)用新型的螺紋測(cè)試器，可于使用前預(yù)先測(cè)試出螺絲及螺釘?shù)嚷菁y元件的規(guī)格，以避免因規(guī)格不吻合而造成該螺絲及螺釘在實(shí)際應(yīng)用時(shí)滑絲或造成被結(jié)合機(jī)件的損害，并可用于具有大量螺紋元件的設(shè)備拆解時(shí)螺紋元件的分類整理。
文檔編號(hào)G01B3/34GK2558952SQ0224300
公開日2003年7月2日 申請(qǐng)日期2002年7月22日 優(yōu)先權(quán)日2002年7月22日
發(fā)明者沈茂發(fā) 申請(qǐng)人:尚源股份有限公司