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      一種電感耦合等離子體檢測(cè)微流控芯片的制作方法

      文檔序號(hào):6132671閱讀:161來(lái)源:國(guó)知局
      專利名稱:一種電感耦合等離子體檢測(cè)微流控芯片的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本實(shí)用新型涉及微全分析技術(shù),特別提供了一種用電感耦合等離子體進(jìn)行檢測(cè)分析的微流控芯片。
      由于元素的不同形態(tài)具有不同的化學(xué)和生物行為,因此元素的形態(tài)研究在環(huán)境、生物、地質(zhì)以及藥學(xué)等領(lǐng)域逐漸引起人們的關(guān)注。電感耦合等離子體(ICP)做為一種高效原子發(fā)射光源,與光譜/質(zhì)譜儀的聯(lián)用已經(jīng)在地球化學(xué)、生命科學(xué)及環(huán)境科學(xué)中各種元素的測(cè)定方面得到了廣泛的應(yīng)用,但卻無(wú)法進(jìn)行元素形態(tài)分析。以毛細(xì)管電泳做為一種分離手段,與ICP光譜/質(zhì)譜聯(lián)用后,對(duì)各種樣品的元素形態(tài)分析已見報(bào)道,文獻(xiàn)1B′Hymer C,Day AJ,Caruso JA,Applied Spectroscopy,2000,54(7)1040-1046,文獻(xiàn)2Stewart II,Olesik JW,J.Chromatogr.,2000,872227-246,文獻(xiàn)3Michalke B,J.Anal.At.Spectrom.,1999,141297-1302。但是在微流控芯片中使用ICP光譜/質(zhì)譜至今未見報(bào)道。
      發(fā)明技術(shù)內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一種電感耦合等離子體檢測(cè)微流控芯片,其可以與電感耦合等離子體—光譜/質(zhì)譜儀聯(lián)用,實(shí)現(xiàn)對(duì)元素形態(tài)的分析檢測(cè)。
      本實(shí)用新型提供了一種電感耦合等離子體檢測(cè)微流控芯片,其特征在于該芯片具有電感耦合等離子體檢測(cè)接口。
      本實(shí)用新型電感耦合等離子體檢測(cè)微流控芯片中,所述接口由位于芯片檢測(cè)口處的霧化室和載氣管構(gòu)成,檢測(cè)口為通孔結(jié)構(gòu),檢測(cè)電極從芯片中引出到芯片外,芯片上檢測(cè)口的一面封接霧化室,另一面封接載氣管。
      本實(shí)用新型電感耦合等離子體檢測(cè)微流控芯片中,霧化室的材料可以為石英或者玻璃,載氣管的材料可以為PTFE或者各種塑料,芯片材料為石英、玻璃、或者PMMA、PDMS聚合物。
      本實(shí)用新型將芯片設(shè)計(jì)與接口設(shè)計(jì)融為一體,解決了毛細(xì)管電泳芯片所需的確保電流回路的要求,同時(shí)可簡(jiǎn)單、方便地與ICP光譜/質(zhì)譜等儀器實(shí)現(xiàn)連接。可以對(duì)環(huán)境、生命科學(xué)等樣品中的元素進(jìn)行形態(tài)分析,并且所需樣品量少、分析迅速。
      圖4為實(shí)施例1金屬硫蛋白的分離譜圖;圖5為實(shí)施例2Cr的不同形態(tài)的分離譜圖。
      權(quán)利要求1.一種電感耦合等離子體檢測(cè)微流控芯片,其特征在于該芯片具有電感耦合等離子體檢測(cè)接口。
      2.按照權(quán)利要求1所述電感耦合等離子體檢測(cè)微流控芯片,其特征在于所述接口由位于芯片檢測(cè)口處的霧化室和載氣管構(gòu)成,檢測(cè)口為通孔結(jié)構(gòu),檢測(cè)電極從芯片中引出到芯片外,芯片上檢測(cè)口的一面封接霧化室,另一面封接載氣管。
      3.按照權(quán)利要求1或2所述電感耦合等離子體檢測(cè)微流控芯片,其特征在于所述霧化室的材料為石英或者玻璃,載氣管材料為PTFE或者各種塑料管。
      4.按照權(quán)利要求1或2所述電感耦合等離子體檢測(cè)微流控芯片,其特征在于所述芯片材料為石英、玻璃、或者PMMA、PDMS聚合物。
      專利摘要一種電感耦合等離子體檢測(cè)微流控芯片,其特征在于該芯片具有電感耦合等離子體檢測(cè)接口。所述接口由位于芯片檢測(cè)口處的霧化室和載氣管構(gòu)成,檢測(cè)口為通孔結(jié)構(gòu),檢測(cè)電極從芯片中引出到芯片外,芯片上檢測(cè)口的一面封接霧化室,另一面封接載氣管。本實(shí)用新型可以與電感耦合等離子體-光譜/質(zhì)譜儀聯(lián)用,實(shí)現(xiàn)對(duì)元素形態(tài)的分析檢測(cè)。
      文檔編號(hào)G01N21/73GK2569133SQ0225734
      公開日2003年8月27日 申請(qǐng)日期2002年9月18日 優(yōu)先權(quán)日2002年9月18日
      發(fā)明者王剛, 許英毅, 陳榮達(dá), 周小棉, 羅勇, 戴忠鵬, 林炳承 申請(qǐng)人:中國(guó)科學(xué)院大連化學(xué)物理研究所
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