專利名稱：電子裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種電子裝置，它包括多個子裝置；具有第一輸入、第二輸入和輸出的旁路多路復用器；測試數(shù)據(jù)輸入；與旁路多路復用器的輸出相連的測試數(shù)據(jù)輸出；多個測試接口，這些測試接口包括一組測試接口，此測試接口組中的各測試接口與所述多個子裝置中的一個子裝置相連，所述測試接口組形成測試接口鏈，因為測試接口鏈中的前驅測試接口的測試數(shù)據(jù)輸出接觸點與測試接口鏈中的后繼測試接口的測試數(shù)據(jù)輸入接觸點相連；以及與邊界掃描兼容的附加測試接口，用于控制所述旁路多路復用器，附加測試接口具有與測試數(shù)據(jù)輸入相連的附加測試數(shù)據(jù)輸入接觸點；以及與旁路多路復用器的第一輸入相連的附加測試數(shù)據(jù)輸出接觸點。
這種電子裝置的實施方式公開于Steven F.Oakland所著的題為“在片上系統(tǒng)集成電路上實現(xiàn)IEEE 1149.1的考慮”的國際測試會議文獻論文(the conference joumal Proceedings of the international testconference(ITC)2000，p.628-637)中，具體參見該論文的圖7。
在IC設計領域，重用現(xiàn)有構件模塊已越來越成為減少上市時間的共識。隨著集成尺寸不斷減小，這些構件模塊的復雜度也增加到了這樣一種程度，即電子裝置，如承載多個子裝置的印制電路板(PCB)、片上系統(tǒng)結構、多芯片模塊(MCM)等是用更小且已經(jīng)很復雜的電子裝置如IP核、嵌入式處理器、集成電路等來構建的。當組裝一個電子裝置時，通常由若干子裝置構成該裝置，這些子裝置分別具有各自的測試結構，如可通過測試接口訪問的邊界掃描測試裝置。通常，測試接口如測試訪問端口(TAP)通過用于控制測試接口的各種狀態(tài)的TAP控制器接收控制信號。此外，集成了各種子裝置的電子裝置還可包括一些其自身的待測試邏輯，如時鐘同步邏輯。這造成測試和/或調試這種裝置的復雜性，因為通過該電子裝置外圍的輸入/輸出接觸點直接訪問那些測試接口中的每一個測試接口從接觸點資源和成本的觀點來看是不可行的。此外，所述各種測試接口必須這樣設置，使得其中每個子裝置可以獨立以及成組加以測試/調試，最大限度是以整個電子裝置作為一個被測裝置來進行測試ITC 2000論文公開了一種采用邊界掃描體系結構的具有多個嵌入式處理器的電子裝置?？赏ㄟ^使這些嵌入式處理器的TAP串聯(lián)而實現(xiàn)對TAP的訪問，其中，下一TAP的測試數(shù)據(jù)輸入接觸點連接到前一TAP的測試數(shù)據(jù)輸出接觸點，從而形成嵌入式處理器TAP鏈。此外，系統(tǒng)級主TAP的指令寄存器也包括在該鏈中，而系統(tǒng)級TAP的數(shù)據(jù)寄存器和旁路寄存器與該鏈中的測試接口的對應的寄存器并行配置，因而在訪問機制的數(shù)據(jù)和旁路部分中形成一種層次結構。
已知配置的缺點在于，分層訪問機制阻礙同時使用主測試接口的數(shù)據(jù)寄存器和嵌入式處理器的TAP的數(shù)據(jù)寄存器。尤其是在調試嵌入式處理器時，其與周圍系統(tǒng)級邏輯的交互對在調試期間取得大的故障覆蓋率會很重要。這在已知的配置中很困難，因為在調試嵌入式處理器時，不能向受主TAP控制的系統(tǒng)級邏輯饋送調試數(shù)據(jù)。
本發(fā)明的目的主要是提供一種在開頭段中描述的電子裝置，該電子裝置具有增加的調試功能。
現(xiàn)在，本發(fā)明的目的是這樣實現(xiàn)的測試接口鏈中最末的測試接口的測試數(shù)據(jù)輸出接觸點與旁路多路復用器的第二輸入相連；以及附加測試數(shù)據(jù)輸出接觸點還連接到測試接口鏈中的第一測試接口的測試數(shù)據(jù)輸入接觸點。
將附加測試接口完整地添加到測試接口鏈中尤其有利，因為可以將數(shù)據(jù)同時提供給子裝置測試接口和附加測試接口。例如，在調試子裝置的同時，還通過附加測試接口或另一測試接口將調試數(shù)據(jù)提供給不屬于子裝置的周圍邏輯，從而在調試期間得到改善的故障覆蓋率。顯然，在其它功能測試期間可獲得其它類似的優(yōu)點。
有利的是，附加測試接口包括與附加測試接口的指令寄存器相連的、用于控制旁路多路復用器的旁路控制器。
通常，與邊界掃描兼容的測試接口的指令寄存器的內容指定要激活測試接口的哪一個寄存器，例如旁路、數(shù)據(jù)、邊界掃描或可選的標識寄存器。通過監(jiān)測指令寄存器的內容，旁路控制器可以在指令寄存器中存在適當?shù)闹噶睿邕吔鐠呙铚y試或旁路指令時迫使旁路多路復用器切換到旁路狀態(tài)。此外，它有助于檢測附加、專用的其它測試接口指令，如調試用旁路指令(在此指令下，可以使附加測試接口旁路而無須選擇旁路多路復用器的旁路狀態(tài))。這樣，可以容易地將測試接口鏈中的其它測試接口選為待測裝置或待調試裝置另一有利特征的是，附加測試接口包括與旁路控制器相連的、用于存儲測試接口組中各測試接口的指令信息的寄存器。
當測試或調試軟件不利于使用專用測試或調試指令時，包含用于存儲測試接口組中各測試接口的指令信息如指令操作碼的寄存器是有用的。這在附加測試接口被BYPASS(旁路)指令旁路以利于測試或調試測試接口組中的測試接口時，可防止錯誤地將旁路多路復用器切換到旁路狀態(tài)，因為附加寄存器中的旁路控制器也將檢測到迫使測試接口進入期望模式的指令。
有利的特征還有，該寄存器還與旁路多路復用器的第三輸入相連。
將該寄存器連接到旁路寄存器使得可通過電子裝置的測試數(shù)據(jù)輸入和測試數(shù)據(jù)輸出對該寄存器進行測試，這提高了該裝置的測試覆蓋率。
在本發(fā)明的實施例中，所述電子裝置還包括測試模式控制單元，用于控制測試接口鏈中測試接口的測試模式，該測試模式控制單元包括與附加測試接口的指令寄存器相連的位模式譯碼器；以及具有與附加測試接口的測試模式選擇接觸點相連的第一輸入、與位模式譯碼器相連的第二輸入以及與測試接口鏈相連的輸出的邏輯電路。如果指示利用指定的位模式對受附加測試接口控制的電子裝置的組成部分進行測試或調試的指令存在于指令寄存器中，則位模式譯碼器將檢測到該模式并向邏輯電路如“與”門轉發(fā)信號。測試接口鏈中的所有測試接口均通過它們各自的TMS接觸點與該邏輯電路的輸出相連，因此，可以使整個鏈斷開，從而提供這樣一種測試或調試模式，其中，可以單獨測試或調試在附加測試接口控制下的電子裝置的組成部分。
在本發(fā)明的另一實施例中，所述電子裝置包括為多個測試接口中的測試接口提供各自的測試模式選擇信號的測試模式控制單元；一組多路復用器，此多路復用器組中的每個多路復用器包括第一輸入、第二輸入和輸出，此多路復用器組形成多路復用器鏈，因為多路復用器鏈中的后繼多路復用器的第一輸入與測試接口鏈中的前驅測試接口的測試數(shù)據(jù)輸出接觸點相連，多路復用器鏈中的前驅多路復用器的輸出與后繼多路復用器的第二輸入和測試接口鏈中的前驅測試接口的測試數(shù)據(jù)輸入接觸點相連；多路復用器鏈中的第一多路復用器的第一輸入與附加數(shù)據(jù)輸出接觸點相連；多路復用器鏈中的第一多路復用器的第二輸入與測試數(shù)據(jù)輸入相連；以及多路復用器鏈中最末的多路復用器的輸出與旁路多路復用器的第一輸入相連，其中，附加測試數(shù)據(jù)輸出接觸點通過多路復用器鏈與旁路多路復用器的第一輸入相連。
如上所述，在測試接口鏈中插入附加多路復用器鏈為測試接口鏈中各測試接口提供了從測試數(shù)據(jù)輸入接觸點到測試數(shù)據(jù)輸出接觸點的通路，包括附加測試接口的旁路通路。因此，甚至可以將附加測試接口斷開，這提供了創(chuàng)建一種測試或調試狀態(tài)的可能性，在這種測試或調試狀態(tài)下，只選擇測試接口鏈中的一個或多個測試接口。
本發(fā)明的另一實施例的有利特征是附加測試接口包括用于為多路復用器鏈中的多路復用器提供單獨的控制信號以及為旁路多路復用器提供控制信號的數(shù)據(jù)寄存器；測試模式控制單元包括與數(shù)據(jù)寄存器相連的位模式譯碼器；以及具有與附加測試接口的測試模式選擇接觸點相連的第一輸入、與位模式譯碼器相連的第二輸入和多個輸出的邏輯電路，其中，多個輸出中的輸出用于為多個測試接口中的測試接口提供單獨的測試模式選擇信號。
在此配置中，多個測試接口和伴隨的旁路多路復用器是通過使適當?shù)奈荒Ｊ揭莆坏礁郊訙y試接口的數(shù)據(jù)寄存器中而得以控制的。因此，測試配置可以在測試過程中重新進行配置，這提供了一種非常靈活的測試結構，其中，可以包括范圍從一個到所有多個測試接口的任意數(shù)量的測試接口。
本發(fā)明的另一實施例的另一有利特征在于所述電子電路還包括附加接觸點，用于為測試模式控制單元提供測試接口選擇信號，測試模式控制單元用于為多路復用器鏈中的多路復用器提供單獨的控制信號；以及為旁路多路復用器提供控制信號。
為所述電子裝置擴充專用接觸點，以便為測試接口提供專用的測試模式選擇信號，這提供了一種配置，在這種配置下，可以從所述電子裝置外部通過例如外置的測試機，容易地將目標測試接口斷開且將伴隨的多路復用器切換到旁路狀態(tài)。
注意到，US5673276公開了一種多芯片模塊(MCM)，這種多芯片模塊具有n個半導體芯片，n是整數(shù)，且每個芯片具有擴充了旁路電路的邊界掃描體系結構，如該專利文獻中第24-27行第5欄、第35-38行第5欄以及第1-6行第10欄、權利要求1中所述。
這種旁路電路的多路復用器38由外部產(chǎn)生的信號BCE來控制，這允許將該MCM作為一個器件或者作為多芯片結構來測試(其中，n個芯片中的每個芯片在邊界掃描測試期間均有效)。如第17-25行第2欄所述，US5673276的發(fā)明目的是創(chuàng)建一種配置，這種配置作為宏裝置是邊界掃描兼容的。要強調的是，該配置與本發(fā)明有實質上的不同，因為外部控制信號用于控制n個半導體芯片的TAP的每個旁路多路復用器，這與本發(fā)明的旁路控制裝置或附加測試接口控制附加多路復用器相反，其中，可以為測試或調試目的從測試接口鏈中選擇部分測試接口，這是US5673276中不能利用的一個選項，因為采用全局旁路信號導致在測試配置中旁路n-1個TAP或者包括所有n個TAP。由此表明，相比于US5673276，本發(fā)明表現(xiàn)出并非顯而易見但卻具備優(yōu)勢的不同特征。
現(xiàn)在，參照附圖通過非限制性的實例更詳細地描述根據(jù)本發(fā)明的電子裝置，附圖中

圖1顯示了根據(jù)本發(fā)明的電子裝置的一個實施例；圖2顯示了根據(jù)本發(fā)明的電子裝置的另一實施例；圖3顯示了根據(jù)本發(fā)明的電子裝置的又一實施例；圖4顯示了根據(jù)本發(fā)明的電子裝置的另一實施例。
在圖1中，電子裝置100包括若干子裝置120a和120b。顯然，此配置可以加以擴展而不脫離本發(fā)明的范圍。電子裝置100可以是例如承載若干IP核的集成電路、承載若干集成電路(IC)的集成電路板或承載若干半導體芯片的多芯片模塊等。各子裝置120a、120b擴充了各自的測試接口140a、140b，例如測試訪問端口(TAP)，而電子裝置100擴充了與IEEE 1149.1標準如邊界掃描(BS)兼容的附加測試接口160。附加測試接口160通常具有與電子裝置100的測試數(shù)據(jù)輸入110相連的測試數(shù)據(jù)輸入(TDI)接觸點161、測試數(shù)據(jù)輸出(TDO)接觸點162、測試模式選擇(TMS)接觸點163、測試時鐘(TCK)接觸點164和測試復位(TRST)接觸點165。此外，附加測試接口160具有與電子裝置100的若干I/O接觸點相連的指令寄存器170、數(shù)據(jù)寄存器172、旁路寄存器174和邊界掃描寄存器176。寄存器170、172、174和176通過多路復用器178與TDO接觸點162相連，多路復用器178受未示出的與指令寄存器170相連的譯碼邏輯控制?？蛇x地，未顯示的標識寄存器也是存在的。
通常，測試接口140a和140b具有類似于附加測試接口160的部件，如各自的TDI接觸點141a和141b、各自的TDO接觸點142a和142b、各自的TMS接觸點143a和143b、各自的TCK接觸點144a和144b、各自的TRST接觸點145a和145b以及各自的指令寄存器150a和150b、各自的數(shù)據(jù)寄存器152a和152b還有各自的旁路寄存器154a和154b。要強調的是，在本發(fā)明的實施例中，測試接口140a、140b和160的TMS、TCK和TRST接觸點與適當?shù)男盘栆€相連，在各圖中未顯示這些引線只是為了簡潔起見。寄存器150a、152a和154a通過多路復用器158a與TDO接觸點142a相連，多路復用器158a受未顯示的與指令寄存器150a相連的譯碼邏輯的控制，以及寄存器150b、152b和154b通過多路復用器158b與TDO接觸點142b相連，多路復用器158b受未顯示的與指令寄存器150b相連的譯碼邏輯的控制。在圖1所示的實施例中，測試接口140a和140b缺少BS寄存器，因為這種寄存器對于預計的調試目的而言不是絕對必要的。但是，測試接口140a和140b中最好具有BS寄存器，因為它將使測試接口140a和140b與BS標準兼容。
測試接口140a和140b形成測試接口140鏈，其中，前驅測試接口140a的TDO接觸點142a與后繼測試接口140b的TDI接觸點141b相連。對本專業(yè)的技術人員而言，測試接口140鏈顯然可以容易地加以擴充，以便包括更多的測試接口。
附加測試接口160通過使其TDO接觸點162與測試接口140鏈中的第一測試接口140a的TDI接觸點141a相連而添加到測試接口140鏈中。此外，TDO接觸點162還與旁路多路復用器102的第一輸入103相連，旁路多路復用器102的輸出106與電子裝置100的測試數(shù)據(jù)輸出112相連。旁路多路復用器102還具有與測試接口140鏈中最末的測試接口140b的TDO接觸點142b相連的第二輸入104。旁路多路復用器102由與指令寄存器170相連的旁路控制器168控制。旁路控制器168可以是未顯示的、與指令寄存器170相連的譯碼邏輯的組成部分。要求此配置是BS兼容的；電子裝置100可以作為單個裝置加以測試，在此情況下，通過將TDO接觸點162直接連接到旁路多路復用器102的第一輸入103而旁路測試接口140鏈；電子裝置還可以通過將測試接口140鏈包含在TDO接觸點162和旁路多路復用器102之間而作為多個子裝置120a和120b加以測試。通常，測試接口140鏈在指令寄存器170包含某些指令如邊界掃描測試指令或旁路指令時被旁路。
此外，子裝置120a和120b可以單獨或作為一個整體如若干子裝置構成的子集來加以測試或調試。為此，除了分別與子裝置120a和120b相關的測試接口140a和140b的適當?shù)闹噶?，專用的測試用旁路或調試用旁路指令必須移位到指令寄存器170中，以選擇旁路寄存器174而不旁路測試接口140鏈。這是重要的，因為，使測試接口140鏈旁路會妨礙在測試數(shù)據(jù)輸出112上觀測到期望的測試或調試結果。
在備選配置方案中，附加測試接口160還具有與旁路譯碼器168相連的寄存器180，用于存儲測試接口(如測試接口140a和140b)鏈中各測試接口的指令信息。當指令數(shù)據(jù)移位到測試接口140鏈中時，還將其拷貝到寄存器180中。這就不需要專用的測試用旁路或調試用旁路指令，因為現(xiàn)在指令寄存器170中的旁路指令不會自動導致測試接口140鏈的旁路。僅當如寄存器180的內容所示，沒有選擇測試接口140鏈中的任一測試接口140a和140b用于測試或調試時，才會將旁路多路復用器102設置為使測試接口140鏈旁路。寄存器180最好連接到旁路多路復用器102的第三輸入105。這使得可從外通過數(shù)據(jù)輸入110和測試數(shù)據(jù)輸出112測試寄存器180。
現(xiàn)在同時參照圖1及其詳細說明來說明其余圖。對應的參考標號除非另外說明，否則具有類似的含義。要強調的是，子裝置120a和120b仍然存在，只是為簡潔起見已在下圖中將其省略。
在圖2中，測試模式控制單元190集成在附加測試接口160中。為簡潔起見，已從附加測試接口160中將寄存器172、174和176省略；但它們仍然在根據(jù)本發(fā)明的電子裝置的這一特定實施例中存在。這里，測試模式控制單元具有邏輯電路192，如一個“與”門，它具有與測試接口140鏈中的各測試接口140a和140b的各TMS接觸點143a和143b相連的輸出?！芭c”門192通過其第一輸入與附加測試接口的TMS接觸點163相連。此外，測試模式控制單元具有連在指令寄存器172和“與”門192的第二輸入之間的位模式譯碼器194。位模式譯碼器194用于對指令寄存器170中的指令操作碼的部分位模式進行譯碼。要強調的是，當譯碼的位模式由一個比特構成時，位模式譯碼器可以簡單如反相器或只是將寄存器170的對應的數(shù)據(jù)存儲單元與“與”門192的第二輸入相連的連線。如果通過附加測試接口160的TMS接觸點163為其提供了TMS信號，則測試接口140鏈中的測試接口140a和140b可以包括在測試配置中或從測試配置中排除掉，例如通過將指令寄存器170中適當?shù)奈荒Ｊ金佀徒o測試模式控制單元190而使其切換到功能模式。從測試配置中排除測試接口140a和140b防止仍然可以將JTAG指令裝入對應測試接口的指令寄存器且隨后執(zhí)行(這可能影響電子裝置100的操作)。因此，這就具有如下優(yōu)點被測試或調試的子裝置不會在被動模式如旁路或測試模式下受其它子裝置的干擾，這有助于改善電子裝置100的可測性和調試功能。所以，電子裝置100可以作為宏裝置加以測試或調試，例如測試接口140a、140b和160均在測試模式下，或者通過使用具有專用位模式的指令迫使測試接口140a和140b在它們的功能模式下而從測試或調試配置中排除所有子裝置120a；120b。此外，很清楚，對本專業(yè)的技術人員而言，可以用等效邏輯門或其組合容易地替換“與”門192而不背離本發(fā)明范圍。
反向參照圖2及其詳細說明來對圖3進行說明。規(guī)定僅為簡潔起見，相對于圖2從圖3中省略了測試接口140a的寄存器142a、144a和146a、測試接口140b的寄存器142b、144b和146b以及TCK接觸點144a和144b和TRST接觸點145a和145b。同樣地，指令寄存器170已由數(shù)據(jù)寄存器172替換的事實并不意味著附加測試接口160中不存在指令寄存器170。在本發(fā)明的此特定實施例中，位模式譯碼器194與數(shù)據(jù)寄存器172和邏輯電路192相連。此外，測試接口140鏈以如下方式與多路復用器220鏈間插。測試接口140鏈中的前驅測試接口140a的TDI接觸點141a與多路復用器220鏈中的前驅多路復用器220a的輸出226a相連。測試接口140鏈中的前驅測試接口140a的TDO接觸點142a與多路復用器220鏈中的后繼多路復用器220b的第一輸入222b相連。此外，前驅多路復用器220a的輸出還與后繼多路復用器220b的第二輸入224b相連，從而形成圍繞前驅測試接口140a的旁路通路。多路復用器220鏈中的第一多路復用器220a的第一輸入222a與TDI接觸點162相連，而多路復用器220鏈中的第一多路復用器220a的第二輸入224a與測試數(shù)據(jù)輸入110相連，從而亦為附加測試接口160提供了一條旁路通路。最后，多路復用器220鏈中最末的多路復用器220b的輸出226b與旁路多路復用器102的第一輸入103相連?，F(xiàn)在，TDO接觸點162通過多路復用器220鏈與旁路多路復用器102的第一輸入103相連。再次強調，測試接口140鏈和伴隨的多路復用器220鏈可以容易地加以擴充而又不背離本發(fā)明范圍。此外，明確規(guī)定，測試接口140鏈可包括不可旁路的測試接口，例如在多路復用器220鏈中不具有伴隨的多路復用器的測試接口。因此，這種測試接口不能從選定的測試配置中排除。
多路復用器220鏈中的每個多路復用器以及旁路多路復用器102通過數(shù)據(jù)寄存器172的內容來控制。因此，可以從圖3所示的實施例中省略旁路譯碼單元168。換言之，數(shù)據(jù)寄存器172設置用于為多路復用器220鏈中的各多路復用器220a和220b提供單獨的控制信號以及為旁路多路復用器102提供控制信號。此外，位模式譯碼器194用于為邏輯電路192提供多個用于從目標測試配置中選擇或去選擇測試接口140a、140b和160的信號。邏輯電路192可包括多個“與”門，其中每個“與”門具有與TMS接觸點163相連的第一輸入、用于接收位模式譯碼器194的多個信號之一的第二輸入和與目標測試接口相連的輸出。測試模式選擇單元190和測試接口140鏈中的測試接口之間的連接最后通過數(shù)據(jù)通信總線來實現(xiàn)。對本專業(yè)的技術人員而言，顯然在不背離本發(fā)明范圍的前提下就可容易地得到邏輯電路192的其它實施例。此外，位模式譯碼器194可以簡單如線集合、反相器集合或它們的組合。
此配置結構允許進行非常靈活的測試或調試設置；通過在數(shù)據(jù)寄存器172中插入適當?shù)臄?shù)據(jù)模式，就可以通過多路復用器220鏈包括旁路多路復用器102以及通過測試模式選擇單元190，分別使各測試接口140a、140b和160從存在的多個測試接口中旁路并切換到功能模式或包括在測試或調試設置中。這種設置還可以在運行時加以改動；通過將新的位模式移入數(shù)據(jù)寄存器172中，測試接口140鏈和多路復用器220鏈相應地重新配置自己。規(guī)定如果附加測試接口160切換到功能模式，如測試空閑模式，則電子裝置100的工作方式只能通過在TRST接觸點165上為附加測試接口160提供測試復位信號而改變。
在圖4中，顯示了一種用于為測試或調試目的而選擇電子裝置100的各部分的配置。反向參照圖3及其詳細說明來說明圖4。此外，約定為僅為簡潔起見從附加測試接口160中省略數(shù)據(jù)寄存器172；它不一定表示附加測試接口160中不存在數(shù)據(jù)寄存器172。
電子裝置100擴增測試模式選擇單元190，以便通過測試接口140鏈中的各測試接口140a和140b和附加測試接口160的各自的TMS接觸點143a、143b和163，為其分別提供專用TMS信號。此外，例如多路復用器220鏈中的多路復用器220a、220b以及旁路多路復用器102還響應測試模式選擇單元190。換言之，測試模式控制單元190設置用于為多路復用器220鏈中的多路復用器提供單獨的控制信號以及為旁路多路復用器102提供控制信號。專用TMS信號通過電子裝置100的TMS接觸點饋送到測試模式控制單元190。此外，通過電子裝置100的專用接觸點為測試模式控制單元190提供測試接口特定的測試選擇信號。例如，可以通過接觸點114為測試模式控制單元190提供適當?shù)臏y試接口選擇信號而選擇或去選擇附加測試接口160?？梢酝ㄟ^接觸點116為測試模式控制單元190提供適當?shù)臏y試接口選擇信號而選擇或去選擇測試接口140a，而測試接口140b的專用測試接口選擇信號則通過接觸點118來接收，如此類推。因此，不通過BS測試端口如測試數(shù)據(jù)輸入110來控制的測試接口可以繼續(xù)在測試邏輯復位狀態(tài)，如它們的功能模式下運行，而用于旁路這些測試接口的多路復用器將在測試模式控制單元190的控制下切換到旁路狀態(tài)。用于將測試接口置于其測試邏輯復位狀態(tài)下的測試接口選擇信號最好還用于將對應的旁路多路復用器切換到旁路狀態(tài)。要強調的是；IEEE 1149.1標準允許增加接觸點114和116，這使得圖2所示的配置與BS標準兼容。
應注意，上述實施例用于說明而非限制本發(fā)明，本專業(yè)的技術人員可以在不脫離本發(fā)明所附權利要求書范圍的前提下設計出許多備選實施例。在權利要求書中，置于括號之間的任何參考符號不應視為對權利要求進行限制。單詞“包括”不排除權利要求中存在不同于所列舉的單元或步驟。單元之前的單詞“一個”不排除存在多個這樣的單元。本發(fā)明可以通過包括若干不同單元的硬件和通過適當編程的計算機來實現(xiàn)。在枚舉若干部件的裝置權利要求中，這些部件中的若干部件可以通過同一項硬件來實現(xiàn)?；ゲ幌嗤膹膶贆嗬笾辛信e一定措施這一事實并不表示不可以利用這些措施的組合。
權利要求
1.一種電子裝置(100)，它包括多個子裝置(120a，120b)；具有第一輸入(103)、第二輸入(104)和輸出(106)的旁路多路復用器(102)；測試數(shù)據(jù)輸入(110)；與所述旁路多路復用器(102)的所述輸出(106)相連的測試數(shù)據(jù)輸出(112)；多個測試接口(140a，140b，160)，包括一組測試接口(140a，140b)，所述測試接口(140a，140b)組中的各測試接口(140a；140b)與所述多個子裝置(120a，120b)中的一個子裝置(120a；120b)相連，所述測試接口(140a，140b)組形成測試接口(140)鏈，因為所述測試接口(140)鏈中的前驅測試接口(140a)的測試數(shù)據(jù)輸出接觸點(142a)與所述測試接口(140)鏈中的后繼測試接口(140b)的測試數(shù)據(jù)輸入接觸點(141b)相連；以及與邊界掃描兼容的附加測試接口(160)，用于控制所述旁路多路復用器(102)，所述附加測試接口(160)具有與所述測試數(shù)據(jù)輸入(110)相連的附加測試數(shù)據(jù)輸入接觸點(161)；以及與所述旁路多路復用器(102)的所述第一輸入(103)相連的附加測試數(shù)據(jù)輸出接觸點(162)；所述電子裝置的特征在于所述測試接口(140)鏈中最末的測試接口(140b)的測試數(shù)據(jù)輸出接觸點(142b)與所述旁路多路復用器(102)的所述第二輸入(104)相連；以及所述附加測試數(shù)據(jù)輸出接觸點(162)還與所述測試接口(140)鏈中第一測試接口(140a)的測試數(shù)據(jù)輸入接觸點(141a)相連。
2.如權利要求1所述的電子裝置(100)，其特征在于，所述附加測試接口(160)包括旁路控制器(168)，所述旁路控制器(168)與所述附加測試接口(160)的指令寄存器(170)相連，用于控制所述旁路多路復用器(102)。
3.如權利要求2所述的電子裝置(100)，其特征在于，所述附加測試接口(160)包括與所述旁路控制器(168)相連的寄存器(180)，用于存儲所述測試接口(140a，140b)組中各測試接口(140a；140b)的指令信息。
4.如權利要求3所述的電子裝置(100)，其特征在于，所述寄存器(180)還連接到所述旁路多路復用器(102)的第三輸入(105)。
5.如權利要求1所述的電子裝置(100)，其特征在于，它還包括測試模式控制單元(190)，用于控制所述測試接口(140)鏈中測試接口(140a；140b)的測試模式，所述測試模式控制單元(190)包括與所述附加測試接口(160)的指令寄存器(170)相連的位模式譯碼器(194)；以及邏輯電路(192)，此邏輯電路具有與所述附加測試接口(160)的測試模式選擇接觸點(163)相連的第一輸入；與所述位模式譯碼器(194)相連的第二輸入；以及與所述測試接口(140)鏈相連的輸出。
6.如權利要求5所述的電子裝置(100)，其特征在于，所述邏輯電路(192)包括“與”門。
7.如權利要求1所述的電子裝置(100)，其特征在于包括測試模式控制單元(190)，用于為所述多個測試接口(140a，140b，160)的測試接口(140a，140b，160)提供單獨的測試模式選擇信號；一組多路復用器(220a，220b)，所述多路復用器(220a，220b)組中的各多路復用器(220a；220b)包括第一輸入(222a；222b)、第二輸入(224a；224b)和輸出(226a；226b)；所述多路復用器(220a，220b)組形成多路復用器(220)鏈，因為所述多路復用器(220)鏈中的后繼多路復用器(220b)的所述第一輸入(222b)與所述測試接口(140)鏈中的所述前驅測試接口(140a)的所述測試數(shù)據(jù)輸出接觸點(142a)相連；所述多路復用器(220)鏈中的前驅多路復用器(220a)的所述輸出(226a)與后繼多路復用器(220b)的所述第二輸入(224b)以及所述測試接口(140)鏈中的所述前驅測試接口(140a)的測試數(shù)據(jù)輸入接觸點(141a)相連所述多路復用器(220)鏈中的所述第一多路復用器(220a)的所述第一輸入(222a)與所述附加數(shù)據(jù)輸出接觸點(162)相連；所述多路復用器(220)鏈中的所述第一多路復用器(220a)的所述第二輸入(224a)與所述測試數(shù)據(jù)輸入(110)相連；以及所述多路復用器(220)鏈中所述最末的多路復用器(220b)的所述輸出(226b)與所述旁路多路復用器(102)的所述第一輸入(103)相連，其中，所述附加測試數(shù)據(jù)輸出接觸點(162)通過所述多路復用器(120)鏈與所述旁路多路復用器(102)的所述第一輸入(103)相連。
8.如權利要求7所述的電子裝置(100)，其特征在于，所述附加測試接口包括(160)數(shù)據(jù)寄存器(172)，用于為所述多路復用器(220)鏈的多路復用器(220a；220b)提供單獨的控制信號以及用于為所述旁路多路復用器(102)提供控制信號；以及所述測試模式控制單元(190)包括與所述數(shù)據(jù)寄存器(172)相連的位模式譯碼器(194)；以及邏輯電路(192)，它具有與所述附加測試接口(160)的所述測試模式選擇接觸點(163)相連的第一輸入；與所述位模式譯碼器(194)相連的第二輸入；以及多個輸出，其中，所述多個輸出中的輸出用于為所述多個測試接口(140a，140b，160)的測試接口(140a，140b，160)提供單獨的測試模式選擇信號。
9.如權利要求7所述的電子裝置(100)，其特征在于還包括附加接觸點(114，116，118)，用于為所述測試模式控制單元(190)提供測試接口選擇信號，所述測試模式控制單元(190)用于為所述多路復用器(220)鏈的多路復用器(220a；220b)提供單獨的控制信號；以及為所述旁路多路復用器(102)提供控制信號。
全文摘要
一種具有多個子裝置(120a，120b)的電子裝置(100)，其中各子裝置(120a；120b)與測試接口(140a；140b)相連。測試接口(140a；140b)排列成一個測試接口(140)鏈，方法是通過使鏈(140)中前驅測試接口(140a)的TDO接觸點(142a)與后繼測試接口(140b)的TDI接觸點(141b)相連。此外，在鏈(140)的開始處，為鏈(140)擴充邊界掃描兼容的測試接口(160)，用于測試電子裝置(100)的其它部分。鏈(140)中最末測試接口(140b)的TDO接觸點(142b)以及測試接口(160)的TDO接觸點(162)均與旁路多路復用器(102)相連，這樣形成從測試數(shù)據(jù)輸入(110)到測試數(shù)據(jù)輸出(112)的兩條可能的路徑貫穿全鏈(140、160)或只貫穿測試接口(160)。因此，電子裝置(100)可以作為宏裝置或子裝置(120a，120b)的集合來加以測試或調試。
文檔編號G01R31/28GK1555491SQ02818281
公開日2004年12月15日 申請日期2002年9月4日 優(yōu)先權日2001年9月20日
發(fā)明者H·G·H·維穆倫, T·F·瓦亞耶斯, G·E·A·洛斯伯格, A 洛斯伯格, H G H 維穆倫, 瓦亞耶斯 申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司