專利名稱：揭示目標的方法與有關(guān)設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種方法與有關(guān)設(shè)備，可在目標經(jīng)受獨特條件時通過測繪其輻射放射而識別隱藏的目標。
更具體地說，本發(fā)明涉及在目標經(jīng)受初始的尤其是熱輻射時，用合適的傳感器檢測任何材料制作的目標所發(fā)出的輻射，所述檢測依賴于預(yù)定義的被揭示材料合理地進行，所述檢測考慮了在檢測瞬間插入被揭示目標的材料的特性。
一種特定的目標檢測技術(shù)是熱分析術(shù)。眾所周知，熱分析術(shù)是一種能提供材料的表面熱測繪的技術(shù)，可檢測材料自身發(fā)出的紅外輻射。
信息來自幾厘米深處，可揭示臨界狀態(tài)，如在修復(fù)操作中，能涉及存在的隱藏的構(gòu)成元件、破裂、涂層分離、金屬夾、濕度停滯。
根據(jù)情況，在熱圖內(nèi)可用相對于被研究目標部分的熱背景較熱或較冷的區(qū)域識別這些特定情況。為了理解包括碑石在內(nèi)的不同材料的技術(shù)特性，即使少量的表面熱量不連續(xù)性(0.1℃量級)也能提供有用的信息。
近年來，熱分析術(shù)在若干醫(yī)療診斷領(lǐng)域中也有了應(yīng)用(腫瘤學(xué)、眼科學(xué)、婦科學(xué)等)。在美國，該技術(shù)被用作預(yù)防性診斷工具作大樓監(jiān)視，以評估墻壁可能的熱泄漏量和出現(xiàn)的裂縫與漏水。近年發(fā)現(xiàn)該技術(shù)還可用來管理國家級建筑結(jié)構(gòu)和一些歷史古跡。已作處理的方面例如有建筑結(jié)構(gòu)的滲水、灰泥脫落、拱頂開裂等。
物體輻射能量主要取決于它的表面溫度，繼而受控于熱導(dǎo)率和比熱值。熱能傳輸現(xiàn)象以通常在紅外區(qū)內(nèi)的電磁輻射形式發(fā)生。物體表面受輻射時，一部分輻射朝源裝置反射，另一部分被物體吸收，其余部分穿過物體本身。在反射、吸收和透射分量之間的相對分布則取決于輻射體的表面的輻射波長、溫度與特征。
熱分析術(shù)正基于上述的物理原理。解釋熱分析研究結(jié)果，需要了解不同被分析材料的放射、反射與吸收特性。
熱分析檢測所應(yīng)用的設(shè)備一般由一腔室構(gòu)成，腔室轉(zhuǎn)換被放大電子信號的紅外輻射，而電子信號則用不同灰度的圖像、黑白映像或偽色彩作圖示表示。
因而這種技術(shù)和有關(guān)設(shè)備只應(yīng)用于表面或準表面檢測(幾厘米深)，被研究材料往往與表面下面的材料一樣。
在目標被深埋入(幾米深)由不同于一種目標本身的材料所構(gòu)成的環(huán)境時，這些目標就稱為“隱藏”目標，熱分析技術(shù)至今還未獲有效應(yīng)用。
這是因為包圍或覆蓋被揭示目標的材料常常起著熱穩(wěn)定劑的作用，由于所尋找目標與(隱藏)表面間過分的退耦作用，使得熱分析(或紅外)攝像法提供的靜態(tài)圖像僅揭示出覆蓋有關(guān)目標的材料的表面變化。
舉一例子，若尋找農(nóng)村里被埋的遺址，表面開墾和假設(shè)的考古地點下面的土壤的產(chǎn)生的效果，使所述考古地點根據(jù)當(dāng)今現(xiàn)有設(shè)備得到的任何紅外照相形成的任何靜態(tài)熱測繪總是得不出結(jié)果。
由于整天有太陽輻射，強度變化極慢，地表溫度的空間分布顯示不出任何地表向空中和地表向土壤下層的熱發(fā)射跡象；地上溫度在整個表面是均一的(因在整天和/或季節(jié)內(nèi)均勻的時間增加和/或減少)，故顯示不出目標可能正好埋在地下的任何跡象。
一般來說，上面所述的即使對發(fā)射不同于熱輻射的輻射的目標也是有效的。
在考古地點和醫(yī)療診斷領(lǐng)域，尤其在低電壓(X線)學(xué)(senology)，搜尋隱藏目標特別重要。
因此，本發(fā)明旨在提供一種揭示隱藏目標的方法和有關(guān)設(shè)備，即使出現(xiàn)以特別強烈的方式減弱源自目標及其特征的輻射信號的環(huán)境，本方法仍可利用輻射測繪獲取所述隱藏目標的痕跡，所述方法還考慮了該環(huán)境特有的實際理化狀態(tài)。
因此，本發(fā)明的目的即目標遙感法的特征在于，所述目標處于隨時間變化的熱放射條件下，而且包括以下諸階段A、至少在第一時刻t1與第二時刻t2獲取源自被檢目標被認為是在空間部分表面的內(nèi)部或后面的輻射圖，這些時刻相互連續(xù)；B、視為在不同于所述至少兩個時刻t1與t2的第三瞬間t*獲取源自所述空間部分表面的輻射圖；C、把得自階段A的所述至少兩個時刻t1與t2的輻射圖相加；D、從階段C得出的和值里減去在所述時刻t*由階段B得出的輻射圖；E、比較從階段D得出的各部分圖區(qū)值和搜尋目標材料的輻射強度閾值；
F、用搜尋的材料識別被研究目標的材料，當(dāng)階段E的比較結(jié)果表明存在至少數(shù)量為n的所述空間部分的區(qū)域部分，且n≥1時，所述輻射值就大于所述閾值。
根據(jù)本發(fā)明揭示的方法，在所述階段A之前，可以通過輻射一預(yù)定的頻率與功率的輻射能量先執(zhí)行階段A1的被檢目標內(nèi)或后面區(qū)域部分的能量輻射。
另按本發(fā)明，在階段F之后，在搜尋的材料識別不出目標的材料時，可定義一新的輻射功率和新的輻射頻率，再回到新的階段A1。
仍按本發(fā)明，所述輻射由一組一個或多個輻射的時間間隔組成，所述間隔在時段內(nèi)鄰接或不鄰接，在不鄰接的情況下，在任意兩個所述間隔之間的時間跨度內(nèi)，輻射功率幾乎為零。
再按本發(fā)明，階段A的所述至少兩個時刻t1與t2和階段B的所述至少一個時刻t*，能與所述輻射間隔組的第一時間間隔連續(xù)。
根據(jù)本發(fā)明揭示的方法，階段A的所述至少兩個時刻t1與t2和階段B的所述至少一個時刻t*，能包含在所述輻射間隔組的第一與最后時間間隔之間。
再根據(jù)本發(fā)明，階段A的所述至少兩個時刻t1與t2和階段B的所述至少一個時刻t*，能與所述輻射間隔組的最后時間間隔連續(xù)。
較佳地，根據(jù)本發(fā)明，除了階段A或A1到F外，或替代階段E或F，所述方法還包括下列連續(xù)的階段G、在階段F識別被研究目標的材料時，對每一部分被研究的區(qū)域應(yīng)進行階段A與B得到的三個值和搜尋目標材料輻射的響應(yīng)曲線的比較；H、在階段G的比較結(jié)果為負時，即被研究目標材料的輻射的響應(yīng)曲線與階段A和B得到的值的走向明顯不符，則定義新的輻射功率和新的輻射頻率，再回到階段A1；I、在階段H的比較結(jié)果為負時，即被研究目標的材料輻射響應(yīng)曲線與階段A和B得到的值的走向明顯相符，則用對應(yīng)于階段G和H所應(yīng)用的輻射的響應(yīng)曲線的材料來識別該材料。
仍然較佳地，根據(jù)本發(fā)明，在階段A或A1之前，先執(zhí)行下列預(yù)備階段限定所述一個或多個搜尋目標的最小尺度，平均為1cm2的表面；用其特征物理參數(shù)值規(guī)定被識別材料；用為搜尋目標選擇的同樣的特征物理參數(shù)值定義背景；
用采集傳感器把檢測特征輸入設(shè)備，即i)所述連續(xù)輻射組之間的時間跨度值和/或?qū)儆谒龈鬏椛溟g隔組的時間間隔之間的時間跨度值；ii)被測量的成組M個參數(shù)P1，P2……Pm(M≥1)；iii)階段A的所述至少兩個采集時刻t1與t2值和階段B的所述至少一個采集時刻t*值；iv)輻射所使用的J個頻率f1，f2……fJ的值(J≥1)；v)檢測或測繪使用的L個頻率f’1，f’2……f’L的值(L≥1)；較佳地，根據(jù)本發(fā)明，輻射功率包含在0.1與1000倍之間的間隔內(nèi)，更佳地包含在0.5與600倍之間的間隔內(nèi)，該輻射功率由所述一個或多個目標以均衡狀態(tài)提供。
較佳地，根據(jù)本發(fā)明，單一輻射出現(xiàn)在1～30ms時間內(nèi)。
較佳地，根據(jù)本發(fā)明，從第一輻射間隔開始或結(jié)束時起，在0.5～60秒更佳地在0.8～8秒以后，所述至少兩次在時刻t1與t2的采集對第一輻射間隔連續(xù)發(fā)生。
根據(jù)本發(fā)明，輻射頻率較佳地包含在350μm～10μm之間，更佳為0.1～50μm之間。
較佳地，根據(jù)本發(fā)明，所述在時刻t*的采集與所述至少兩次在時刻t1與t2的采集相連續(xù)。
根據(jù)本發(fā)明，所述時刻t*的輻射放射值的采集較佳地安排在假設(shè)的目標材料的響應(yīng)曲線尾部相應(yīng)之處，所述尾部放射基本上是背景放射。
較佳地，根據(jù)本發(fā)明，接收波長為350μm～10μm之間，更佳為0.1μm～50μm之間。
根據(jù)本發(fā)明，在熱檢測場合中，熱攝像機離被研究區(qū)最遠為30m。
另根據(jù)本發(fā)明，個別化目標可由金屬材料和/或塑料組成。
較佳地，根據(jù)本發(fā)明，被研究面積為0.5～500m2，更佳為1～30cm2。
本發(fā)明另一特定目的是一電子設(shè)備，它被設(shè)計成執(zhí)行用于上述熱遙感目標的方法。
本發(fā)明又一特定目的是一含代碼手段的計算機程序，當(dāng)在電子系統(tǒng)上操作時，用于執(zhí)行上述熱遙感測目標的方法。
本發(fā)明的另一目的是一計算機可讀、里面存有所述程序的存儲器支持件，其特征在于該程序就是上述的程序。
本發(fā)明的目的是一目標檢測設(shè)備，其特征在于它執(zhí)行一種目標檢測方法，所述方法就是上述的方法。
下面將參照附圖以示例目的更詳細地描述本發(fā)明，但不限于特定選用的實例，其中

圖1示出原有技術(shù)中兩目標和熱背景的靜態(tài)測繪圖；圖2示出本發(fā)明提出的技術(shù)中兩目標和背景的動態(tài)測繪圖；圖3示出執(zhí)行本發(fā)明方法的設(shè)備的框圖；圖4示出第一女病人1的胸部原圖像；圖5示出處理過的女病人1的胸部圖像，其中中心區(qū)域示出極小的黑色部分，指明存在極小的球結(jié)節(jié)，綠色指示乳房topatic塊；圖6示出第二女病人2的胸部原圖像；圖7示出處理過的女病人2的胸部圖像，示出中央癌塊的結(jié)構(gòu)；圖8示出第三女病人3的胸部原圖像；圖9示出處理過的病人3的胸部圖像，其中癌塊為黑色，球節(jié)塊呈紅色；圖10示出普通攝像機從上方拍攝的地面部分第一圖像；圖11示出普通攝像機從上方拍攝后再濾色的地面部分第二圖像；圖12示出通過本發(fā)明方法研究的區(qū)部第一圖像(黑色)，內(nèi)含埋藏的遺址(黑底染色)；圖13示出通過本發(fā)明方法研究的區(qū)部第二圖像(背景朦朧，像普通照片)，內(nèi)含埋藏的遺址(灰底染色)。
以下描述中將用同樣標號指示圖中同樣單元。
具體參照圖1和2，標號1指被揭示的第一目標，2指被揭示的第二目標，3指熱背景。
根據(jù)本發(fā)明方法，圖2的a、b、c分別指數(shù)據(jù)采集的第一、第二、第三時刻。
現(xiàn)在應(yīng)用本領(lǐng)域已知的一方法，假定要揭示一埋置的如由金屬材料構(gòu)成的目標。傳統(tǒng)技術(shù)的靜態(tài)測繪只揭示表面溫度，因而在圖1曲線中，對第一觀測目標1有一常量函數(shù)，第二觀測目標2有一常量函數(shù)，以及背景有一常量函數(shù)。正經(jīng)說過，由于熱發(fā)散，在目標上方的土壤厚度足夠大時(幾厘米以上)，這類恒定溫度將是相符的。
現(xiàn)在應(yīng)用本發(fā)明方法，例如假定用燈泡對小的地面區(qū)域提供熱能，燈泡接通一小段時間間隔，接著是由預(yù)定函數(shù)規(guī)定的時間脈動。
這樣產(chǎn)生一種不穩(wěn)定狀態(tài)，對地表產(chǎn)生熱不平衡。終止加熱階段后，在地面冷卻階段內(nèi)土壤本身不同區(qū)域之間形成溫差，它是先前受光輻射照射表面下面土層成分的函數(shù)。
在以吸收、反射與折射的觀點分析得到的電磁譜時，在諸工作范圍內(nèi)，運用以頻率與幅值對信號作自動(或人工)掃描的設(shè)備(或一系列設(shè)備)，在接收階段得到可讀的被分析地點的電磁回波。
應(yīng)用的技術(shù)為“閃耀”技術(shù)，對同樣使用的能量有不同的功率峰，一般大于平均放射閾值電平的20倍。
對應(yīng)于一能量峰的每次放射一般被分為具有優(yōu)化反比例的三個頻率，這樣上述的前兩個頻率就造成不同的散射，一個在地表上，另一個在深處的金屬自身的表面。
上述第三頻率與另兩個頻率發(fā)生干擾，同時給出有關(guān)同一被觀測金屬系統(tǒng)其它參數(shù)的附加信息。
本發(fā)明系統(tǒng)工作于兩個專用頻段(在近中紅外、可見光與紫外領(lǐng)域的頻區(qū)內(nèi))。
根據(jù)有關(guān)范圍的靶-目標/背景/應(yīng)用場合，按滲透、反差和所需的最終分辨度選擇放射頻率。
接收頻率另作選擇，與噪聲減小、目標識別分辨最大效率和目標的材料有關(guān)。
例如在實踐中，檢測系統(tǒng)在地上用普通地面車輛移動，通過執(zhí)行以下操作分析同樣內(nèi)容獲取被分析地區(qū)部分(或一般為空間面積/容積)的第一圖像，將其直接存入海量存儲器等待以后處理；向適合“加熱活化”地面和里面目標的被觀測地面部分發(fā)射信號束；這一階段極其重要，因為觀測操作結(jié)果主要取決于它在該階段內(nèi)，實際上要決定是觀測微生物、細菌等放射的熒光還是事前知道的其它搜尋目標的詳情；以較快的順序繪制一幅或多幅連續(xù)圖像，經(jīng)修改、比較和/或相互合并，得到目標和周圍裝置受激后的瞬時行為過程。
圖2示出以時間為函數(shù)的兩目標熱放射和背景的試驗。
實踐中，通過啟用與搜尋目標和搜尋材料本身有關(guān)的特定參數(shù)/參數(shù)組，這里提出的方法對管理和識別存在的搜尋目標及其組成材料，采用了一種新的信息采集法。
如在低電壓(X線)攝影的場合中，所述參數(shù)可能是溫差ΔT、提供的熱量差ΔQ和LDB發(fā)光度等級。
在考古學(xué)中，有用的可測參數(shù)可以是溫差輻射圖T、放射率ε和LDB發(fā)光度等級。
一般地對實際獲取有利于識別的圖像，本方法提出下列諸階段規(guī)定最小目標尺度，表面平均為1cm2；按其的特征物理參數(shù)值規(guī)定識別的材料；按對靶目標選用的同樣物理參數(shù)規(guī)定背景；用采集傳感器把檢測特征輸入設(shè)備，即i)兩次不同放射間的時間間隔輻射圖t；ii)按上述三次放射的結(jié)果揭示M個參數(shù)P1，P2……Pm；iii)前兩次放射使用的頻率f1與f2。
如在低電壓(X線)攝影和考古學(xué)中，使用的頻率屬于可見光和近中紅外，考古學(xué)的放射與接收為50～600MHZ，在深度研究中，每一場合的深度均為1～15m。
在這些階段之后，就采集一連串?dāng)?shù)據(jù)(上面規(guī)定的)并作預(yù)處理。之后處理得到的圖像并如如權(quán)利要求1(和2及以下)那樣進行下去。
對應(yīng)于圖2中時刻a與b的兩映像相加，再從該和值中減去對應(yīng)于時刻c的映像。
在數(shù)量至少為n的映像點的輻射值大于某一閾值(取決于被研究材料)時，認為有目標存在。
把被研究區(qū)各點三個測量值與已知材料響應(yīng)特性曲線函數(shù)作連續(xù)比較，就肯定實際處理了所述材料。
然后，用合適的數(shù)學(xué)濾波器識別搜尋目標。
給出兩個不同的應(yīng)用上述映像的實例，圖4～9用于診斷肺癌/球結(jié)節(jié)，圖10～13用于檢測掩埋的遺跡。
在飛機場出入口行李管理的特殊場合中，假定有三種要檢測的材料金屬(M)、塑料(P)和爆炸物(E)，下表列出了特征物理參數(shù)值(近似值)
表中λ是平均熱導(dǎo)率系數(shù)，C是恒壓下平均比熱，ε是平均總放射系數(shù)，α為熱擴散系數(shù)，ρ為單位容積質(zhì)量，χ是磁敏感性，β為下式定義的系數(shù)β＝k/(C·D)式中D為熱擴散率，k為電導(dǎo)率，除了溫度單位為℃外，所述量的值都用國際制式單位給出。
顯然，在紅外區(qū)內(nèi)研究時，運用使參數(shù)β與溫度T相關(guān)的已知理論-實驗函數(shù)，得出的反差(對被研究區(qū)域或“像素”而言，黑白電平為0～255個電平)量約為M為170，P為60，E為5。
在使參數(shù)β與放射率相關(guān)的函數(shù)中，在X波段即在行李管理中，可對三種材料族獲得同一量級的反差。
圖3示出執(zhí)行本發(fā)明方法的設(shè)備的框圖。
所述設(shè)備包括加熱燈；攝像機；攝像機數(shù)據(jù)采集存儲器；用于燈放射和攝像機采集的同步發(fā)電機；圖像采集計算系統(tǒng)；和圖像處理計算系統(tǒng)。
本發(fā)明的搜索方法適于探測金屬目標和其它目標(如塑料與木制品)，這些目標事先置于地下或水下，因此難以檢測并最終除去和/或消滅，或者花費很大。
設(shè)備成本肯定不高，因為本發(fā)明方法還可將現(xiàn)有的熱攝像機或其它當(dāng)今現(xiàn)有的傳感器拓展成適合該應(yīng)用場合，不必設(shè)計和構(gòu)制更適合本方法自身的傳感器。
用本發(fā)明的設(shè)備開展研究工作迅速而精確，而且分辨度高，現(xiàn)有樣機的分辨度為每像素達1/4mm量級，照相在地上的感受度(sensoristics)約為1m，離傳感器本身的視距約為8米。
本發(fā)明已針對諸示例性實施例作了描述，但本領(lǐng)域的技術(shù)人員將明白，可利用已描述和圖示的特定細節(jié)的各種修改與變化而不違背所附如權(quán)利要求所限定的本發(fā)明的精神與范圍。
權(quán)利要求
1.一種目標遙感法，其特征在于，所述目標處于隨時間變化的熱放射狀態(tài)，且該方法包括以下階段A、至少在第一時刻t1與第二時刻t2獲取源自被檢目標被認為是在空間部分表面的輻射圖，這些時刻相互連續(xù)；B、視為在不同于所述至少兩個時刻t1與t2的第三瞬間t*獲取源自所述空間部分表面的內(nèi)部或后面的輻射圖；C、把得自階段A的所述至少兩個時刻t1與t2的輻射圖相加；D、從階段C得出的和值里減去在所述時刻t*由階段B得出的輻射圖；E、比較從階段D得出的各部分圖區(qū)值和搜尋目標材料的輻射強度閾值；F、用搜尋的材料識別被研究目標的材料，當(dāng)階段E的比較結(jié)果表明存在至少數(shù)量為n的所述空間部分的區(qū)域部分且n≥1時，所述輻射值就大于所述閾值。
2.如權(quán)利要求1的所述方法，其特征在于，在所述階段A之前，可以通過輻射一預(yù)定的頻率與功率的能量先執(zhí)行階段A1的被檢目標被認為是在所述區(qū)域部分的內(nèi)部或后面的能量輻射。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，在階段F之后，在搜尋的材料識別不出目標的材料時，可定義一新的輻射功率和新的輻射頻率，再回到新的階段A1。
4.如權(quán)利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述輻射由一組一個或多個輻射的時間間隔組成，所述間隔在時段內(nèi)鄰接或不鄰接，在不鄰接的情況下，在任意兩個所述間隔之間的時間跨度內(nèi)，輻射功率幾乎為零。
5.如前述權(quán)利要求2～4中任一權(quán)利要求的方法，其特征在于，階段A的所述至少兩個時刻t1與t2和階段B的所述至少一個時刻t*，能與所述輻射間隔組的第一時間間隔連續(xù)。
6.如前述權(quán)利要求2～5中任一權(quán)利要求的方法，其特征在于，階段A的所述至少兩個時刻t1與t2和階段B的所述至少一個時刻t*，能包含在所述輻射間隔組的第一與最后時間間隔之間。
7.如前述權(quán)利要求2～6中任一權(quán)利要求的方法，其特征在于，階段A的所述至少兩個時刻t1與t2和階段B的所述至少一個時刻t*，能與所述輻射間隔組的最后時間間隔連續(xù)。
8.如前述任一如權(quán)利要求的方法，其特征在于，根據(jù)本發(fā)明，除了階段A或A1到F外，或替代階段E或F，所述方法還包括下列連續(xù)的階段G、在階段F識別被研究目標的材料時，對每一部分被研究的區(qū)域應(yīng)進行階段A與B得到的三個值和搜尋目標材料輻射的響應(yīng)曲線的比較；H、在階段G的比較結(jié)果為負時，即被研究目標材料的輻射的響應(yīng)曲線與階段A和B得到的值的走向明顯不符，則定義新的輻射功率和新的輻射頻率，再回到階段A1；I、在階段H的比較結(jié)果為負時，即被研究目標的材料輻射的響應(yīng)曲線與階段A和B得到的值的走向明顯相符，則用對應(yīng)于階段G和H所應(yīng)用的輻射的響應(yīng)曲線的材料來識別該材料。
9.如前述任一權(quán)利要求所述的方法，其特征在于，在階段A或A1之前，先執(zhí)行下列預(yù)備階段限定所述一個或多個搜尋目標的最小尺度；用其特征物理參數(shù)值規(guī)定被識別的材料；用為搜尋目標選擇的同樣的特征物理參數(shù)值定義背景；用采集傳感器把檢測特征輸入設(shè)備，即i)所述連續(xù)輻射組之間的時間跨度值和/或?qū)儆谒龈鬏椛溟g隔組的時間間隔之間的時間跨度值；ii)被測量的成組M個參數(shù)P1，P2......Pm(M≥1)；iii)階段A的所述至少兩個采集時刻t1與t2值和階段B的所述至少一個采集時刻t*值；iv)輻射所使用的J個頻率f1，f2......fJ的值(J≥1)；v)檢測或測繪使用的L個頻率f’1，f’2......f’L的值(L≥1)；
10.如前述權(quán)利要求2～9中任一權(quán)利要求所述的方法，其特征在于，輻射功率包含在所述一個或多個目標以均衡狀態(tài)提供的輻射功率的0.1與1000倍之間的間隔。
11.如前述權(quán)利要求2～10中任一權(quán)利要求所述的方法，其特征在于，輻射功率包含在所述一個或多個目標以均衡狀態(tài)提供的輻射功率的0.5與600倍之間的間隔。
12.如前述權(quán)利要求2～11中任一權(quán)利要求所述的方法，其特征在于，單一輻射在1～30ms時間內(nèi)出現(xiàn)。
13.如前述權(quán)利要求2～12中任一權(quán)利要求所述的方法，其特征在于，從所述間隔開始或結(jié)束時起的0.5～60秒時間后，在時刻t1與t2對第一輻射間隔連續(xù)出現(xiàn)所述至少兩次采集。
14.如前述權(quán)利要求2～13中任一權(quán)利要求所述的方法，其特征在于，從所述間隔開始或結(jié)束時起的0.8～8秒時間后，在時刻t1與t2對第一輻射間隔連續(xù)出現(xiàn)所述至少兩次采集。
15.如前述權(quán)利要求2～14中任一權(quán)利要求所述的方法，其特征在于，輻射頻率為350μm～10m。
16.如前述權(quán)利要求2～15中任一權(quán)利要求所述的方法，其特征在于，輻射頻率為0.1～50μm。
17.如前述任一如權(quán)利要求所述的方法，其特征在于，所述在時刻t*的采集與所述至少兩次在時刻t1和t2的采集相連續(xù)。
18.如前述任一權(quán)利要求所述的方法，其特征在于，所述時刻t*的輻射放射值的采集安排在假設(shè)的目標材料的響應(yīng)曲線尾部的相應(yīng)之處，所述尾部放射基本上是背景放射。
19.如前述任一權(quán)利要求所述的方法，其特征在于，接收波長為350μm～10m。
20.如前述任一權(quán)利要求所述的方法，其特征在于，輻射波長為0.1～50μm。
21.如前述任一權(quán)利要求所述的方法，其特征在于，熱檢測時，熱攝像機置于離被研究區(qū)遠達30m。
22.如前述任一權(quán)利要求所述的方法，其特征在于，個體化目標由金屬材料組成。
23.如前述任一權(quán)利要求所述的方法，其特征在于，個體化目標由塑料組成。
24.如前述任一權(quán)利要求所述的方法，其特征在于，被研究面積為0.5～500m2。
25.如前述任一權(quán)利要求所述的方法，其特征在于，被研究面積為1～30cm2。
26.一種電子設(shè)備，其特征在于，所述電子設(shè)備設(shè)計成執(zhí)行前述如權(quán)利要求1～25中任一權(quán)利要求的熱遙感目標方法。
27.一種計算機程序，其特征在于，所述計算機程序包括代碼手段，當(dāng)在電子系統(tǒng)上操作時，執(zhí)行前述權(quán)利要求1～25中任一權(quán)利要求的熱遙感目標方法。
28.一種計算機可讀、內(nèi)部存有所述程序的存儲器支持件，其特征在于，所述程序是如權(quán)利要求27所述的程序。
29.一種檢測目標設(shè)備，其特征在于，它執(zhí)行一檢測目標方法，所述方法是權(quán)利要求1～25中任一權(quán)利要求的方法。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種目標遙感法和有關(guān)設(shè)備，其特征在于，所述目標處于隨時間變化的熱放射態(tài)，而且包括以下階段A.至少在第一時刻t
文檔編號G01J1/42GK1620617SQ02828226
公開日2005年5月25日 申請日期2002年5月9日 優(yōu)先權(quán)日2002年1月18日
發(fā)明者E·皮拉高斯迪尼 申請人:智能設(shè)備有限公司