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      接觸式mems開關(guān)壽命測試的方法和儀器的制作方法

      文檔序號:5878019閱讀:457來源:國知局
      專利名稱:接觸式mems開關(guān)壽命測試的方法和儀器的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及一種接觸式MEMS開關(guān)壽命測試的方法和儀器,屬接觸式MEMS開關(guān)器件測試技術(shù)領(lǐng)域。
      背景技術(shù)
      MEMS意為微電子-機械系統(tǒng)。接觸式MEMS開關(guān)是一種利用半導(dǎo)體硅加工工藝技術(shù)制成的超微型機械開關(guān)的器件,主要包括硅襯底、上電極、下電極、可動導(dǎo)電片、第一接觸點和第二接觸點。工作時,第一、二接觸點連接在信號電路內(nèi)(一般連接在射頻信號電路內(nèi))。平時,上、下電極間的直流電壓為零,第一、二接觸點處于斷路(常開)狀態(tài)。當直流電壓加于上、下電極之間時,兩者在靜電力作用下相互吸引,相互靠攏,可動導(dǎo)電片隨之跨接在第一、二接觸點之間,令兩者處于接通狀態(tài),信號電流從一個接觸點流向另一個接觸點。當上、下電極之間的直流電壓降為零時,兩者在恢復(fù)力作用下相互分開,可動導(dǎo)電片隨之脫離第一、二接觸點,兩者恢復(fù)成斷路(常開)狀態(tài)。
      接觸式MEMS開關(guān)畢竟是機械開關(guān),開關(guān)動作增多,開關(guān)會因構(gòu)成該開關(guān)的懸臂材料疲勞而失效。這類開關(guān)的估計壽命為開關(guān)次數(shù)不小于106。生產(chǎn)和應(yīng)用均要求對開關(guān)的壽命進行測試和評估。鑒于接觸式MEMS開關(guān)系新器件,至今未見有這類開關(guān)壽命測試的方法和儀器的報道。

      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明要解決的第一個技術(shù)問題是推出一種接觸式MEMS開關(guān)壽命測試的方法。
      本發(fā)明采用以下技術(shù)方案使上述問題得到解決。其特征在于,利用連續(xù)方波脈沖信號驅(qū)動被測接觸式MEMS開關(guān)的上、下電極,在該開關(guān)正常,即第一、二接觸點間有開關(guān)動作時,計數(shù)器計數(shù)連續(xù)方波脈沖信號的脈沖個數(shù),直至該開關(guān)疲勞失效,即第一、二接觸點間無開關(guān)動作時,計數(shù)器停止計數(shù),顯示器顯示的數(shù)字就是該被測開關(guān)的壽命指標。
      為實現(xiàn)上述測試目標,測試儀器應(yīng)具有以下功能1.產(chǎn)生連續(xù)方波脈沖信號;2.連續(xù)方波脈沖信號加至上、下電極前完成幅度轉(zhuǎn)換;3.監(jiān)視第一、二接觸點間的開關(guān)動作,顯示監(jiān)視結(jié)果;4.計數(shù)器根據(jù)監(jiān)視結(jié)果,判斷是否計數(shù);5.每次測試前計數(shù)器應(yīng)完成顯示器的人工清除;6.按測試儀器電路要求向它們供電。
      本發(fā)明要解決的第二個技術(shù)問題是提供一種接觸式MEMS開關(guān)壽命測試的儀器,該儀器按上述的壽命測試方法工作。
      本發(fā)明采用以下技術(shù)方案使上述問題得到解決。其特征在于,由方波發(fā)生器10、脈沖幅度轉(zhuǎn)換器20、測試架30、開關(guān)動作監(jiān)視器40、二輸入端與門50、七位十進計數(shù)器及顯示器60、指示器70和電源80組成,方波發(fā)生器10包括無穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器和分頻器,輸出連續(xù)方波脈沖的頻率介于1~8KHz,脈沖幅度轉(zhuǎn)換器20是供電電壓為0~60V的晶體管單級放大器,開關(guān)動作監(jiān)視器40是能鑒別直流信號和脈沖信號的集成電路,七位十進制計數(shù)器及顯示器60含清除開關(guān)63,指示器70是低位輸入信號驅(qū)動發(fā)光二極管發(fā)光的放大器,電源80是輸出+5V和+60V直流電壓的穩(wěn)壓電源,方波發(fā)生器10的輸出端分別與脈沖幅度轉(zhuǎn)換器20的輸入端和二輸入端與門50的一個輸入端連接,脈沖幅度轉(zhuǎn)換器20的輸出端與測試架3的上、下電極接腳連接,測試架30的第一、二接觸點接腳跨接在開關(guān)動作監(jiān)視器40的輸入端,開關(guān)動作監(jiān)視器40的輸出端分別與指示器70的輸入端和二輸入端與門50的另一個輸入端連接,二輸入端與門50的輸出端與七位十進制計數(shù)器及顯示器60的輸入端連接,方波發(fā)生器10、開關(guān)動作監(jiān)視器40、二輸入端與門50、七位十進制計數(shù)器及顯示器60和指示器70的電源輸入端與電源80的+5V端連接,脈沖幅度轉(zhuǎn)換器20的電源輸入端與電源80的+60V端連接。
      工作原理1、方波發(fā)生器10產(chǎn)生連續(xù)方波脈沖信號,一路傳至二輸入端與門50的一個輸入端,經(jīng)該門的輸出端驅(qū)動七位十進制計數(shù)器及顯示器60,另一路使至脈沖幅度轉(zhuǎn)換器20的輸入端。2、脈沖幅度轉(zhuǎn)換器20輸出幅度適當?shù)倪B續(xù)方波脈沖信號,驅(qū)動插在測試架30上的被測MEMS開關(guān)的上、下電極,該開關(guān)的第一、二接觸點借助測試架30的插腳跨接在開關(guān)動作監(jiān)視器40的輸入端。
      3、開關(guān)動作監(jiān)視器40鑒別該器的輸入信號,平時該信號為直流信號如被測MEMS開關(guān)工作正常,即第一、二接觸點之間無開關(guān)動作,該信號轉(zhuǎn)變?yōu)檫B續(xù)方波脈沖信號;如被測MEMS開關(guān)工作不正常,即第一、二接觸點之間無開關(guān)動作,該信號仍為直流信號。該監(jiān)視器輸出鑒別信號輸入信號為連續(xù)方波脈沖信號,鑒別信號為邏輯1,即高位信號;輸入信號為直流信號,信號為邏輯0,即低位信號。
      4、開關(guān)動作監(jiān)視器40輸出鑒別信號,一路傳至二輸入端與門50的另一個輸入端,另一路傳至指示器70的輸入端。鑒別信號為邏輯1時,相當于被測MEMS開關(guān)正常,第一、二接觸點之間有開關(guān)動作,二輸入端與門50開啟,連續(xù)方波脈沖經(jīng)該門的輸出端傳至七位十進制計數(shù)器及顯示器60,該器計數(shù)并顯示連續(xù)方波脈沖的個數(shù);指示器70的發(fā)光二極管不發(fā)光。鑒別信號為邏輯0時,相當于被測MEMS開關(guān)失常,第一、二接觸點之間無開關(guān)動作,七位十進制計數(shù)器及顯示器60停止計數(shù),顯示器持續(xù)顯示被測MEMS開關(guān)的壽命指標;指示器70的發(fā)光二極管發(fā)光,指示被測MEMS開關(guān)失效。
      5、方波發(fā)生器10、開關(guān)動作監(jiān)視器40、二輸入端與門50、七位十進制計數(shù)器及顯示器60和指示器70從電源80的+5V端得到供電;脈沖幅度轉(zhuǎn)換器20從電源80的+60V端得到供電。
      6、每次開始測試前,按清除開關(guān)63,使顯示器清零。
      本發(fā)明有以下突出優(yōu)點1自動記錄整個測試過程中被測MEMS開關(guān)的工作狀態(tài),無需人工監(jiān)視或值班。
      2僅需增加少量及廉價的硬件,便可擴充壽命測試范圍,擴充范圍原則上是無限的。
      3線路抗干擾性能好,結(jié)構(gòu)簡單,元器件通用。
      4測試效率高,每測試一個開關(guān),時間僅為2~3min。


      圖1是本發(fā)明所涉的壽命測試儀器的電路結(jié)構(gòu)框圖。
      圖2是本發(fā)明所涉的壽命測試儀器的電路圖。
      圖3是本發(fā)明所涉的壽命測試儀器的面板布局示意圖。
      具體實施例方式
      實施例根據(jù)以上所述的接觸式MEMS開關(guān)壽命測試的儀器,其特征在于,方波發(fā)生器10由電阻11,電容12,集成電路13、14和方波頻率調(diào)節(jié)15組成,集成電路13、14的型號分別為CD4069和CD4024,電阻11是阻值為20K的可變電阻,電容12的容量為0.1μF,方波頻率調(diào)節(jié)15是單刀4擲開關(guān),電阻11、電容12和集成電路13組成振蕩頻率為16kHz的無穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器,方波頻率調(diào)節(jié)15和集成電路14組成頻率可在1kHz、2kHz、4kHz和8kHz中任意選擇的分頻器,脈沖幅度轉(zhuǎn)換器20由電阻21、22、23和達林頓管24組成,電阻22、23的阻值分別為2K、10K,電阻22、23和達林頓管24組成晶體管單級放大器,電阻21是阻值為10K的電位器,所述的晶體管單級放大器經(jīng)電阻21的滑臂取得0~60V的供電電壓,開關(guān)動作監(jiān)視器40由集成電路41和電阻42組成,集成電路41的型號是MAX706,電阻42的阻值為5K1,電阻42跨接在+5V與集成電路41的輸入端,即第6腳之間,被測MEMS開關(guān)的第一、二接觸點跨接在集成電路41的輸入端和地線之間,二輸入端與門50是型號為CD4081的集成電路,七位十進制計數(shù)器及顯示器60由十進計數(shù)器及顯示器61、電阻62和清除開關(guān)63組成,十進制計數(shù)器及顯示器61的型號是LC102,共有七片,電阻62的阻值為2K,清除開關(guān)63為按鈕開關(guān),電阻62跨接在十進制計數(shù)器及顯示器61的清零端和地線之間,清除開關(guān)63跨接在+5V和十進計數(shù)器及顯示器61的清零端之間,指示器70由發(fā)光二極管71和集成電路72組成,集成電路72的型號為CD4069,指示器70是低位輸入信號驅(qū)動發(fā)光二極管發(fā)光的放大器,電源80含電源開關(guān)81和電源插頭82,電源80是由交流市電220V~供電的、輸出+5V和+60V的穩(wěn)壓電源。
      權(quán)利要求
      1.一種接觸式MEMS開關(guān)壽命測試的方法,其特征在于,利用連續(xù)方波脈沖信號驅(qū)動被測接觸式MEMS開關(guān)的上、下電極,在該開關(guān)正常,即第一、二接觸點間有開關(guān)動作時,計數(shù)器計數(shù)連續(xù)方波脈沖信號的脈沖個數(shù),直至該開關(guān)疲勞失效,即第一、二接觸點間無開關(guān)動作時,計數(shù)器停止計數(shù),顯示器顯示的數(shù)字就是該被測開關(guān)的壽命指標。
      2.一種按權(quán)利要求1所述方法工作的接觸式MEMS開關(guān)壽命測試的儀器,其特征在于,由方波發(fā)生器10、脈沖幅度轉(zhuǎn)換器20、測試架30、開關(guān)動作監(jiān)視器40、二輸入端與門50、七位十進計數(shù)器及顯示器60、指示器70和電源80組成,方波發(fā)生器10包括無穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器和分頻器,輸出連續(xù)方波脈沖的頻率介于1~8KHz,脈沖幅度轉(zhuǎn)換器20是供電電壓為0~60V的晶體管單級放大器,開關(guān)動作監(jiān)視器40是能鑒別直流信號和脈沖信號的集成電路,七位十進制計數(shù)器及顯示器60含清除開關(guān)63,指示器70是低位輸入信號驅(qū)動發(fā)光二極管發(fā)光的放大器,電源80是輸出+5V和+60V直流電壓的穩(wěn)壓電源,方波發(fā)生器10的輸出端分別與脈沖幅度轉(zhuǎn)換器20的輸入端和二輸入端與門50的一個輸入端連接,脈沖幅度轉(zhuǎn)換器20的輸出端與測試架3的上、下電極接腳連接,測試架30的第一、二接觸點接腳跨接在開關(guān)動作監(jiān)視器40的輸入端,開關(guān)動作監(jiān)視器40的輸出端分別與指示器70的輸入端和二輸入端與門50的另一個輸入端連接,二輸入端與門50的輸出端與七位十進制計數(shù)器及顯示器60的輸入端連接,方波發(fā)生器10、開關(guān)動作監(jiān)視器40、二輸入端與門50、七位十進制計數(shù)器及顯示器60和指示器70的電源輸入端與電源80的+5V端連接,脈沖幅度轉(zhuǎn)換器20的電源輸入端與電源80的+60V端連接。
      3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的接觸式MEMS開關(guān)壽命測試的儀器,其特征在于,方波發(fā)生器10由電阻11,電容12,集成電路13、14和方波頻率調(diào)節(jié)15組成,集成電路13、14的型號分別為CD4069和CD4024,電阻11是阻值為20K的可變電阻,電容12的容量為0.1μF,方波頻率調(diào)節(jié)15是單刀4擲開關(guān),電阻11、電容12和集成電路13組成振蕩頻率為16kHz的無穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器,方波頻率調(diào)節(jié)15和集成電路14組成頻率可在1kHz、2kHz、4kHz和8kHz中任意選擇的分頻器,脈沖幅度轉(zhuǎn)換器20由電阻21、22、23和達林頓管24組成,電阻22、23的阻值分別為2K、10K,電阻22、23和達林頓管24組成晶體管單級放大器,電阻21是阻值為10K的電位器,所述的晶體管單級放大器經(jīng)電阻21的滑臂取得0~60V的供電電壓,開關(guān)動作監(jiān)視器40由集成電路41和電阻42組成,集成電路41的型號是MAX706,電阻42的阻值為5K1,電阻42跨接在+5V與集成電路41的輸入端,即第6腳之間,被測MEMS開關(guān)的第一、二接觸點跨接在集成電路41的輸入端和地線之間,二輸入端與門50是型號為CD4081的集成電路,七位十進制計數(shù)器及顯示器60由十進計數(shù)器及顯示器61、電阻62和清除開關(guān)63組成,十進制計數(shù)器及顯示器61的型號是LC102,共有七片,電阻62的阻值為2K,清除開關(guān)63為按鈕開關(guān),電阻62跨接在十進制計數(shù)器及顯示器61的清零端和地線之間,清除開關(guān)63跨接在+5V和十進計數(shù)器及顯示器61的清零端之間,指示器70由發(fā)光二極管71和集成電路72組成,集成電路72的型號為CD4069,指示器70是低位輸入信號驅(qū)動發(fā)光二極管發(fā)光的放大器,電源80含電源開關(guān)81和電源插頭82,電源80是由交流市電220V~供電的、輸出+5V和+60V的穩(wěn)壓電源。
      全文摘要
      一種接觸式MEMS開關(guān)壽命測試的方法和儀器,屬接觸式MEMS開關(guān)器件測試技術(shù)領(lǐng)域,該方法利用連續(xù)方波脈沖信號驅(qū)動被測接觸式MEMS開關(guān)的上、下電極,在該開關(guān)正常,即第一、二接觸點間有開關(guān)動作時,計數(shù)器計數(shù)連續(xù)方波脈沖信號的脈沖個數(shù),直至該開關(guān)疲勞失效,即第一、二接觸點間無開關(guān)動作時,計數(shù)器停止計數(shù),顯示器顯示的數(shù)字就是該被測開關(guān)的壽命指標,該儀器由方波發(fā)生器10、脈沖幅度轉(zhuǎn)換器20、測試架30、開關(guān)動作監(jiān)視器40、二輸入端與門50、七位十進計數(shù)器及顯示器60、指示器70和電源80組成,有線路抗干擾性能好,結(jié)構(gòu)簡單,元器件通用,測試效率高,每測試一個開關(guān),時間僅為2~3min等優(yōu)點,本發(fā)明特別適于用來測試接觸式MEMS開關(guān)的壽命。
      文檔編號G01R31/327GK1460863SQ03116999
      公開日2003年12月10日 申請日期2003年5月16日 優(yōu)先權(quán)日2003年5月16日
      發(fā)明者朱榮錦, 郭方敏, 朱自強, 李存詩, 賴宗聲 申請人:華東師范大學(xué)
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