專利名稱：老化測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明為一種檢測(cè)系統(tǒng)，特別是指一種老化檢測(cè)系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
近年來由于消費(fèi)者的消費(fèi)意識(shí)提高，對(duì)于產(chǎn)品的品質(zhì)要求也愈益嚴(yán)苛，使得液晶顯示器面板的制造業(yè)者不僅要在產(chǎn)品設(shè)計(jì)上下工夫，更要在制造工藝上有所提升才能在如此競(jìng)爭(zhēng)的市場(chǎng)上一爭(zhēng)長(zhǎng)短。對(duì)液晶顯示器面板的制造業(yè)者而言，產(chǎn)品的壽命周期一直是業(yè)者所關(guān)注的對(duì)象，老化測(cè)試(burn-in)提供給制造業(yè)者一種制造工藝認(rèn)證及提升產(chǎn)品可靠度的途徑之一。經(jīng)過老化測(cè)試過后的產(chǎn)品，不只可以確保產(chǎn)品的可靠度與壽命周期，更可使出廠的產(chǎn)品不會(huì)輕易故障。
由于液晶顯示器面板很容易在用過一段不確定的時(shí)間后就會(huì)發(fā)生故障，因此老化檢測(cè)為了解決這種缺陷而發(fā)展出來的一種檢測(cè)方法。為使這些可能有缺陷的產(chǎn)品在老化測(cè)試的過程中加速老化，并在測(cè)試過程中早早就被淘汰，以免這些有缺陷的產(chǎn)品流入客戶手中，所以必要的老化過程可確保制造廠滿足客戶及使用者對(duì)可靠度的要求，且可視檢測(cè)結(jié)果以尋求制造工藝的改進(jìn)并解決之。
隨著科技時(shí)代的進(jìn)步，小尺寸低溫多晶硅薄膜晶體管液晶模塊(LowTemperature Poly Silicon Thin Film Transistor Liquid CrystalModule，LTPS TFT-LCM)已經(jīng)是日常生活中經(jīng)常使用的電子裝置，其主要被應(yīng)用在數(shù)字相機(jī)、移動(dòng)電話等等信息家電產(chǎn)品中。為了檢測(cè)小尺寸低溫多晶硅薄膜晶體管液晶模塊在各種使用環(huán)境及條件的老化狀態(tài)，通常會(huì)在生產(chǎn)測(cè)試時(shí)使用老化檢測(cè)系統(tǒng)加強(qiáng)環(huán)境測(cè)試參數(shù)變化，用以加速小尺寸低溫多晶硅薄膜晶體管液晶模塊老化的速度及縮短老化時(shí)間，進(jìn)而根據(jù)檢測(cè)所得的數(shù)據(jù)來加以分析小尺寸低溫多晶硅薄膜晶體管液晶模塊老化情況。
目前，傳統(tǒng)的老化測(cè)試系統(tǒng)主要包含有具一現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)芯片的印刷電路板，其中該印刷電路板設(shè)置于環(huán)境測(cè)試腔體中并可電連接一平面顯示面板，以提供該平面顯示面板所需要的信號(hào)與驅(qū)動(dòng)電壓，以進(jìn)行老化的檢測(cè)過程。
然而由于目前信息家電(IA)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)非常凌亂，沒有一個(gè)制式規(guī)定，信號(hào)源規(guī)格眾多，所設(shè)計(jì)的大部分也僅止于中尺寸以上的液晶面板使用，而市面上并無法購買到小尺寸低溫多晶硅薄膜晶體管液晶模塊所使用的信號(hào)源規(guī)格，使得業(yè)者必須自行開發(fā)設(shè)計(jì)一現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)芯片以符合小尺寸低溫多晶硅薄膜晶體管液晶模塊所需的信號(hào)源與驅(qū)動(dòng)電壓。此外，目前所使用的單一現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列芯片(FPGA)所能提供的信號(hào)源的驅(qū)動(dòng)能力不足所以只能驅(qū)動(dòng)單一平面顯示面板，并無法同時(shí)驅(qū)動(dòng)許多面板，而現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列芯片(FPGA)的價(jià)格并不便宜，如此亦使得架設(shè)老化測(cè)試系統(tǒng)的成本因而提高許多，而且也因驅(qū)動(dòng)能力不足，致使產(chǎn)能無法增加。
因此，如何提供一種老化測(cè)試系統(tǒng)使其能夠提供小尺寸低溫多晶硅薄膜晶體管液晶模塊所需的信號(hào)源與驅(qū)動(dòng)電壓，及能夠同時(shí)驅(qū)動(dòng)許多平面顯示面板，為發(fā)展本發(fā)明的主要方向。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的一主要目的為提供一種老化測(cè)試系統(tǒng)，使其可利用單一現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)芯片所輸出的信號(hào)源，同時(shí)驅(qū)動(dòng)多個(gè)平面顯示面板。
本發(fā)明的另一主要目的提供一種老化測(cè)試系統(tǒng)，其利用單一現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)芯片與多組信號(hào)調(diào)整電路與升壓電路設(shè)計(jì)以增加系統(tǒng)的驅(qū)動(dòng)能力，進(jìn)而達(dá)到驅(qū)動(dòng)許多面板的需求，以增加產(chǎn)能及節(jié)省成本。
為達(dá)上述目的，本發(fā)明提供一種老化測(cè)試系統(tǒng)，其與多個(gè)平面顯示面板電連接，用以對(duì)平面顯示面板進(jìn)行老化測(cè)試。本發(fā)明的老化測(cè)試系統(tǒng)至少包含一信號(hào)發(fā)生器，用以產(chǎn)生一電源信號(hào)及一第一控制信號(hào)；至少一信號(hào)調(diào)節(jié)電路，其電連接于信號(hào)發(fā)生器，用以根據(jù)一檢測(cè)條件而將第一控制信號(hào)調(diào)整成一第二控制信號(hào)輸出；以及至少一升壓電路，其電連接于一對(duì)應(yīng)的信號(hào)調(diào)節(jié)電路，用以提升電源信號(hào)及第二控制信號(hào)的信號(hào)電平及驅(qū)動(dòng)能力，進(jìn)而利用升壓實(shí)現(xiàn)的電源信號(hào)驅(qū)動(dòng)平面顯示面板及第二控制信號(hào)對(duì)平面顯示面板進(jìn)行老化測(cè)試。
根據(jù)本發(fā)明，其中信號(hào)發(fā)生器為一現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)芯片，用以產(chǎn)生電源信號(hào)及第一控制信號(hào)。
根據(jù)本發(fā)明，其中老化測(cè)試系統(tǒng)配置于一環(huán)境測(cè)試腔體內(nèi)。
根據(jù)本發(fā)明，其中信號(hào)發(fā)生器還產(chǎn)生一第一參考信號(hào)，其為平面顯示面板內(nèi)部電路所需的參考信號(hào)。
根據(jù)本發(fā)明，其中信號(hào)調(diào)節(jié)電路包含一運(yùn)算放大(OPA)電路，用以調(diào)整第一參考信號(hào)的電壓電平以產(chǎn)生一第二參考信號(hào)輸出。
根據(jù)本發(fā)明，其中信號(hào)調(diào)節(jié)電路包含一電流放大電路，其調(diào)節(jié)第一控制信號(hào)的電流增益，用以增加老化測(cè)試系統(tǒng)所能驅(qū)動(dòng)的平面顯示面板數(shù)量。
根據(jù)本發(fā)明，其中升壓電路為一直流向直流轉(zhuǎn)換電路。
根據(jù)本發(fā)明，其中平面顯示面板為一低溫多晶硅薄膜晶體管液晶模塊。
根據(jù)本發(fā)明，其中老化測(cè)試系統(tǒng)具有十組信號(hào)調(diào)節(jié)電路與升壓電路。
根據(jù)本發(fā)明，其中每一組信號(hào)調(diào)節(jié)電路與升壓電路可驅(qū)動(dòng)至少6個(gè)平面顯示面板。
本發(fā)明利用下列附圖及詳細(xì)說明，得以更深入地了解。


圖1其為本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的老化測(cè)試系統(tǒng)的電路方塊示意圖。
圖2其為圖1所示的信號(hào)調(diào)節(jié)電路中的運(yùn)算放大電路的電路示意圖。
附圖符號(hào)說明10老化測(cè)試系統(tǒng) 11信號(hào)發(fā)生器12信號(hào)調(diào)節(jié)電路 13升壓電路14平面顯示面板 20運(yùn)算放大電路21運(yùn)算放大器 Sp電源信號(hào)Sc1第一控制信號(hào)Sc2第二控制信號(hào)Vcom_in第一參考信號(hào)Vcom_out第二參考信號(hào)具體實(shí)施方式
請(qǐng)參閱圖1，其為本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的老化測(cè)試系統(tǒng)的電路方塊示意圖。本發(fā)明圖1所示的實(shí)施例是以驅(qū)動(dòng)60個(gè)的平面顯示面板來舉例說明，但是依據(jù)相同的原理及應(yīng)用，使用者可依需求自行設(shè)計(jì)系統(tǒng)且調(diào)整可平面顯示面板的數(shù)量。
如圖1所示，本發(fā)明的老化測(cè)試系統(tǒng)10可與60個(gè)平面顯示面板14電連接，用來對(duì)這些平面顯示面板14進(jìn)行老化檢測(cè)。本發(fā)明的老化測(cè)試系統(tǒng)10主要由信號(hào)發(fā)生器11、至少一信號(hào)調(diào)節(jié)電路12與至少一升壓電路13組合而成，其中老化測(cè)試系統(tǒng)10及平面顯示面板14設(shè)置于一環(huán)境測(cè)試腔體內(nèi)(未示出)。
于上述的實(shí)施例中，信號(hào)發(fā)生器11可為一現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)芯片，其可由使用者自行撰寫檢測(cè)條件，且可用來產(chǎn)生多個(gè)信號(hào)源包括一電源信號(hào)Sp、一第一控制信號(hào)Sc1以及一第一參考信號(hào)(Vcom_in)。另外，多個(gè)信號(hào)調(diào)節(jié)電路12則分別電連接于信號(hào)發(fā)生器11，且每一信號(hào)調(diào)節(jié)電路12主要包含有一運(yùn)算放大(OPA)電路及一電流放大電路。
每一信號(hào)調(diào)節(jié)電路12的運(yùn)算放大(OPA)電路及電流放大電路為業(yè)界所熟知的電路設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)。請(qǐng)參閱圖2，其為圖1所示的信號(hào)調(diào)節(jié)電路中的運(yùn)算放大電路的電路示意圖。如圖2所示，運(yùn)算放大(OPA)電路20根據(jù)不同的檢測(cè)條件的需求，而利用可變電阻R1及R3、電阻R2以及運(yùn)算放大器21以將信號(hào)發(fā)生器11輸出的第一參考信號(hào)(Vcom_in)調(diào)整其電壓電平而產(chǎn)生第二參考信號(hào)(Vcom_out)輸出，以提供給平面顯示面板14使用。
另外，電流放大電路(未圖示)可為多個(gè)晶體管組成的電路，可用以增加信號(hào)發(fā)生器11輸出的第一控制信號(hào)Sc1的電流增益而產(chǎn)生第二控制信號(hào)Sc2，使老化檢測(cè)系統(tǒng)10可同時(shí)驅(qū)動(dòng)更多數(shù)量的平面顯示面板14。由于電流放大電路的設(shè)計(jì)為業(yè)界所熟知，因此不再贅述。
請(qǐng)?jiān)賲㈤唸D1，多個(gè)升壓電路13則分別與一對(duì)應(yīng)的信號(hào)調(diào)節(jié)電路12電連接，且每一升壓電路13可與多個(gè)平面顯示面板14電連接，以進(jìn)行老化測(cè)試。當(dāng)然，于此實(shí)施例中以每個(gè)升壓電路13配合對(duì)應(yīng)的信號(hào)調(diào)整電路12可同時(shí)驅(qū)動(dòng)6個(gè)平面顯示面板14為最佳。每一升壓電路13可為一直流向直流轉(zhuǎn)換電路(DC/DC converter)，其主要用來提升信號(hào)發(fā)生器11與信號(hào)調(diào)節(jié)電路12輸出的電源信號(hào)Sp及第二控制信號(hào)Sc2的信號(hào)電平及驅(qū)動(dòng)能力(例如將信號(hào)從3.3V提升至平面顯示面板所需的12V)，進(jìn)而利用升壓實(shí)現(xiàn)的電源信號(hào)驅(qū)動(dòng)這些平面顯示面板14以及將第二控制信號(hào)Sc2輸入這些平面顯示面板14，以進(jìn)行老化測(cè)試。
由上述實(shí)施例可知，本發(fā)明的老化測(cè)試系統(tǒng)10主要是由一現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)芯片提供的信號(hào)源，再利用10組信號(hào)調(diào)節(jié)電路12與升壓電路13的信號(hào)調(diào)節(jié)與升壓以增加驅(qū)動(dòng)能力，進(jìn)而各驅(qū)動(dòng)至少6個(gè)的平面顯示面板，使總平面顯示面板數(shù)可達(dá)到60個(gè)。當(dāng)然，本發(fā)明適用的平面顯示面板以小尺寸低溫多晶硅薄膜晶體管液晶模塊(LTPS TFT-LCM)為最佳。
綜上所述，本發(fā)明所提供的老化測(cè)試系統(tǒng)利用信號(hào)調(diào)節(jié)電路及升壓電路確實(shí)能夠提供對(duì)平面顯示面板進(jìn)行老化檢測(cè)所需的信號(hào)源與驅(qū)動(dòng)電壓，且所提升的信號(hào)電平及驅(qū)動(dòng)能力能夠驅(qū)動(dòng)更多數(shù)量的平面顯示面板。本發(fā)明的老化檢測(cè)系統(tǒng)只需利用一個(gè)現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列芯片即可對(duì)多個(gè)檢測(cè)面板進(jìn)行老化測(cè)試，可節(jié)省生產(chǎn)成本及提升產(chǎn)能，因此本發(fā)明極具產(chǎn)業(yè)的價(jià)值。
故本發(fā)明在不脫離權(quán)利要求所要求保護(hù)范圍的情況下，本領(lǐng)域技術(shù)人員可對(duì)本發(fā)明的老化測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行修改。
權(quán)利要求
1.一種老化測(cè)試系統(tǒng)，其與多個(gè)平面顯示面板電連接，用以對(duì)這些平面顯示面板進(jìn)行老化測(cè)試，該老化測(cè)試系統(tǒng)至少包含一信號(hào)發(fā)生器，用以產(chǎn)生一電源信號(hào)及一第一控制信號(hào)；至少一信號(hào)調(diào)節(jié)電路，其電連接于該信號(hào)發(fā)生器，用以根據(jù)一檢測(cè)條件而將該第一控制信號(hào)調(diào)整成一第二控制信號(hào)輸出；以及至少一升壓電路，其電連接于一對(duì)應(yīng)的該信號(hào)調(diào)節(jié)電路，用以提升該電源信號(hào)及該第二控制信號(hào)的信號(hào)電平及驅(qū)動(dòng)能力，進(jìn)而利用該升壓實(shí)現(xiàn)的該電源信號(hào)驅(qū)動(dòng)這些平面顯示面板及該第二控制信號(hào)對(duì)這些平面顯示面板進(jìn)行老化測(cè)試。
2.如權(quán)利要求1所述的老化測(cè)試系統(tǒng)，其中該信號(hào)發(fā)生器為一現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)芯片，用以產(chǎn)生該電源信號(hào)及該第一控制信號(hào)。
3.如權(quán)利要求1所述的老化測(cè)試系統(tǒng)，其中該信號(hào)發(fā)生器還產(chǎn)生一第一參考信號(hào)，其為該平面顯示面板內(nèi)部電路所需的參考信號(hào)。
4.如權(quán)利要求3所述的老化測(cè)試系統(tǒng)，其中該信號(hào)調(diào)節(jié)電路包含一運(yùn)算放大(OPA)電路，用以調(diào)整該第一參考信號(hào)的電壓電平而產(chǎn)生一第二參考信號(hào)輸出。
5.如權(quán)利要求1所述的老化測(cè)試系統(tǒng)，其中該信號(hào)調(diào)節(jié)電路包含一電流放大電路，其調(diào)節(jié)該第一控制信號(hào)的電流增益，用以增加該老化測(cè)試系統(tǒng)所能驅(qū)動(dòng)的平面顯示面板數(shù)量。
6.如權(quán)利要求1所述的老化測(cè)試系統(tǒng)，其中該升壓電路為一直流向直流轉(zhuǎn)換電路。
7.如權(quán)利要求1所述的老化測(cè)試系統(tǒng)，其中這些平面顯示面板為一低溫多晶硅薄膜晶體管液晶模塊。
8.如權(quán)利要求1所述的老化測(cè)試系統(tǒng)，其中該老化測(cè)試系統(tǒng)具有十組該信號(hào)調(diào)節(jié)電路與該升壓電路。
9.如權(quán)利要求8所述的老化測(cè)試系統(tǒng)，其中每一組信號(hào)調(diào)節(jié)電路與升壓電路可驅(qū)動(dòng)至少6個(gè)平面顯示面板。
全文摘要
本發(fā)明為一種老化測(cè)試系統(tǒng)，其與多個(gè)平面顯示面板電連接，用以對(duì)平面顯示面板進(jìn)行老化測(cè)試，該老化測(cè)試系統(tǒng)至少包含一信號(hào)發(fā)生器，用以產(chǎn)生一電源信號(hào)及一第一控制信號(hào)；至少一信號(hào)調(diào)節(jié)電路，其電連接于信號(hào)發(fā)生器，用以根據(jù)一檢測(cè)條件而將第一控制信號(hào)調(diào)整成第二控制信號(hào)輸出；以及至少一升壓電路，其電連接于信號(hào)調(diào)節(jié)電路，用以提升電源信號(hào)及第二控制信號(hào)的信號(hào)電平及驅(qū)動(dòng)能力，進(jìn)而利用升壓實(shí)現(xiàn)的電源信號(hào)驅(qū)動(dòng)平面顯示面板及第二控制信號(hào)對(duì)平面顯示面板進(jìn)行老化測(cè)試。
文檔編號(hào)G01R31/28GK1566980SQ03149060
公開日2005年1月19日 申請(qǐng)日期2003年6月20日 優(yōu)先權(quán)日2003年6月20日
發(fā)明者徐有運(yùn) 申請(qǐng)人:統(tǒng)寶光電股份有限公司